Your Search Results
Use materials by this author in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content such as case studies and journal articles for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!
Not an educator but still interested in using this content? No problem! Visit our provider's page to contact the publisher and get permission directly.
Author: Ferrari, P.
Results
2012 / IEEE
By: Franc, A.-L.; Xiao-Lan Tang; Fournier, J.; Ferrari, P.; Vincent, P.; Siligaris, A.; Pistono, E.;
By: Franc, A.-L.; Xiao-Lan Tang; Fournier, J.; Ferrari, P.; Vincent, P.; Siligaris, A.; Pistono, E.;
2011 / IEEE / 978-1-58537-193-8
By: Arnould, J.-D.; Ferrari, P.; Legrand, C.-A.; Fonteneau, P.; Beckirch-Ros, H.; Romanescu, A.;
By: Arnould, J.-D.; Ferrari, P.; Legrand, C.-A.; Fonteneau, P.; Beckirch-Ros, H.; Romanescu, A.;
2012 / IEEE / 978-1-4577-1772-7
By: Sisinni, E.; Ferrari, P.; De Dominicis, C.M.; Macii, D.; Pivato, P.; Flammini, A.;
By: Sisinni, E.; Ferrari, P.; De Dominicis, C.M.; Macii, D.; Pivato, P.; Flammini, A.;
2013 / IEEE
By: Carbone, P.; Cazzorla, A.; Sisinni, E.; Sauter, T.; Rinaldi, S.; Moschitta, A.; Flammini, A.; Ferrari, P.;
By: Carbone, P.; Cazzorla, A.; Sisinni, E.; Sauter, T.; Rinaldi, S.; Moschitta, A.; Flammini, A.; Ferrari, P.;
2014 / IEEE
By: Cristoloveanu, S.; Wan, J.; Fonteneau, P.; Solaro, Y.; Fenouillet-Beranger, C.; Villalon, A.; Le Royer, C.; Zaslavsky, A.; Navarro, C.; Bawedin, M.; Ferrari, P.;
By: Cristoloveanu, S.; Wan, J.; Fonteneau, P.; Solaro, Y.; Fenouillet-Beranger, C.; Villalon, A.; Le Royer, C.; Zaslavsky, A.; Navarro, C.; Bawedin, M.; Ferrari, P.;
2015 / IEEE
By: Onestas, L.; Dirani, H. El; Fonteneau, P.; Solaro, Y.; Cristoloveneau, S.; Ferrari, P.;
By: Onestas, L.; Dirani, H. El; Fonteneau, P.; Solaro, Y.; Cristoloveneau, S.; Ferrari, P.;
2014 / IEEE
By: Berghella, L.; Vezzoli, A.; Sisinni, E.; Rinaldi, S.; Flammini, A.; Ferrari, P.; Depari, A.;
By: Berghella, L.; Vezzoli, A.; Sisinni, E.; Rinaldi, S.; Flammini, A.; Ferrari, P.; Depari, A.;
1995 / IEEE
By: Alvsvaag, S.J.; Maeland, O.A.; Klovning, A.; Benvenuti, A.C.; Giordano, I.; Guerzoni, M.; Navarria, F.L.; Verardi, M.G.; Camporesi, T.; Vallazza, E.; Bozzo, M.; Cereseto, R.; Barreira, G.; Espirito Santo, M.C.; Maio, A.; Onofre, A.; Peralta, L.; Pimenta, M.; Tome, B.; Carling, H.; Falk, E.; Hedberg, V.; Jarlskog, G.; Kronkvist, I.; Bonesini, M.; Ferrari, P.; Chignoli, B.; Gumenyuk, S.; Leoni, R.; Mazza, R.; Negri, P.; Paganoni, L.; Petrovykh, F.; Dharmasiri, D.R.; Nossum, B.; Read, A.L.; Skaali, B.; Castellani, L.; Pegoraro, M.; Fenyuk, A.; Gouz, Yu.; Ivanyushenkov, Yu.; Karyukhin, A.; Obraztov, V.; Vlasov, E.; Zaitsev, A.; Bigi, M.; Cassio, V.; Gamba, D.; Migliore, E.; Romero, A.; Simonetti, L.; Torassa, E.; Trapani, P.P.; Bari, M.; Della Ricca, G.; Lanceri, L.; Poropat, P.; Prest, M.;
By: Alvsvaag, S.J.; Maeland, O.A.; Klovning, A.; Benvenuti, A.C.; Giordano, I.; Guerzoni, M.; Navarria, F.L.; Verardi, M.G.; Camporesi, T.; Vallazza, E.; Bozzo, M.; Cereseto, R.; Barreira, G.; Espirito Santo, M.C.; Maio, A.; Onofre, A.; Peralta, L.; Pimenta, M.; Tome, B.; Carling, H.; Falk, E.; Hedberg, V.; Jarlskog, G.; Kronkvist, I.; Bonesini, M.; Ferrari, P.; Chignoli, B.; Gumenyuk, S.; Leoni, R.; Mazza, R.; Negri, P.; Paganoni, L.; Petrovykh, F.; Dharmasiri, D.R.; Nossum, B.; Read, A.L.; Skaali, B.; Castellani, L.; Pegoraro, M.; Fenyuk, A.; Gouz, Yu.; Ivanyushenkov, Yu.; Karyukhin, A.; Obraztov, V.; Vlasov, E.; Zaitsev, A.; Bigi, M.; Cassio, V.; Gamba, D.; Migliore, E.; Romero, A.; Simonetti, L.; Torassa, E.; Trapani, P.P.; Bari, M.; Della Ricca, G.; Lanceri, L.; Poropat, P.; Prest, M.;
1996 / IEEE
By: Alvsvaag, S.J.; Macland, O.A.; Klovning, A.; Benvenuti, A.C.; Giordano, V.; Guerzoni, M.; Navarria, F.L.; Perrotta, A.; Camporesi, T.; Obraztsov, V.; Paganoni, M.; Vallazza, E.; Bozzo, M.; Cereseto, R.; Barreira, G.; Espirito Santo, M.C.; Maio, A.; Onofre, A.; Peralta, L.; Pimenta, M.; Tome, B.; Carling, H.; Falk, E.; Hedberg, V.; Jarlskog, G.; Kronkvist, I.; Bonesini, M.; Chignoli, F.; Ferrari, P.; Gumenyuk, S.; Leoni, R.; Mazza, R.; Negri, P.; Petrovykh, L.; Terranova, F.; Dharmasiri, D.R.; Nossum, B.; Read, A.L.; Skaali, B.; Castellani, L.; Pegoraro, M.; Fenyuk, A.; Ivanyushenkov, I.; Karyukhin, A.; Konopliannikov, A.; Shalanda, N.; Sen'ko, V.; Vlasov, E.; Zaitsev, A.; Bigi, M.; Cassio, V.; Gamba, D.; Gouz, I.; Migliore, E.; Romero, A.; Simonetti, L.; Trapani, P.P.; Bari, M.; Della Ricca, G.; Lanceri, L.; Poropat, P.; Prest, M.;
By: Alvsvaag, S.J.; Macland, O.A.; Klovning, A.; Benvenuti, A.C.; Giordano, V.; Guerzoni, M.; Navarria, F.L.; Perrotta, A.; Camporesi, T.; Obraztsov, V.; Paganoni, M.; Vallazza, E.; Bozzo, M.; Cereseto, R.; Barreira, G.; Espirito Santo, M.C.; Maio, A.; Onofre, A.; Peralta, L.; Pimenta, M.; Tome, B.; Carling, H.; Falk, E.; Hedberg, V.; Jarlskog, G.; Kronkvist, I.; Bonesini, M.; Chignoli, F.; Ferrari, P.; Gumenyuk, S.; Leoni, R.; Mazza, R.; Negri, P.; Petrovykh, L.; Terranova, F.; Dharmasiri, D.R.; Nossum, B.; Read, A.L.; Skaali, B.; Castellani, L.; Pegoraro, M.; Fenyuk, A.; Ivanyushenkov, I.; Karyukhin, A.; Konopliannikov, A.; Shalanda, N.; Sen'ko, V.; Vlasov, E.; Zaitsev, A.; Bigi, M.; Cassio, V.; Gamba, D.; Gouz, I.; Migliore, E.; Romero, A.; Simonetti, L.; Trapani, P.P.; Bari, M.; Della Ricca, G.; Lanceri, L.; Poropat, P.; Prest, M.;
1998 / IEEE / 0-7803-4471-5
By: Dominjon, A.; Fuchs, C.; Ferrari, P.; Jrad, A.; Angenieux, G.; Flechet, B.; Tao, J.W.;
By: Dominjon, A.; Fuchs, C.; Ferrari, P.; Jrad, A.; Angenieux, G.; Flechet, B.; Tao, J.W.;
1998 / IEEE / 0-7803-5021-9
By: Alvsvaag, S.J.; Bari, M.; Barreira, G.; Benvenuti, A.C.; Bigi, M.; Bonesini, M.; Bozzo, M.; Camporesi, T.; Carling, H.; Cassio, V.; Castellani, L.; Cereseto, R.; Chignoli, F.; Della Ricca, G.; Dharmasiri, D.R.; Espirito Santo, M.C.; Falk, E.; Fenyuk, A.; Ferrari, P.; Gamba, D.; Giordano, V.; Gouz, Yu.; Guerzoni, M.; Gumenyuk, S.; Hedberg, V.; Jarlskog, G.; Karyukhin, A.; Klovning, A.; Konoplyannikov, A.; Kronkvist, I.; Lanceri, L.; Leoni, R.; Maeland, O.A.; Maio, A.; Mazza, R.; Migliore, E.; Navarria, F.L.; Nossum, B.; Obraztsov, V.; Onofre, A.; Paganoni, M.; Pegoraro, M.; Peralta, L.; Petrovykh, L.; Pimenta, M.; Poropat, P.; Prest, M.; Read, A.L.; Romero, A.; Shalanda, N.; Simonetti, L.; Skaali, T.B.; Stugu, B.; Terranova, F.; Tome, B.; Torassa, E.; Trapani, P.P.; Verardi, M.G.; Vallazza, E.; Vlasov, E.; Zaitsev, A.;
By: Alvsvaag, S.J.; Bari, M.; Barreira, G.; Benvenuti, A.C.; Bigi, M.; Bonesini, M.; Bozzo, M.; Camporesi, T.; Carling, H.; Cassio, V.; Castellani, L.; Cereseto, R.; Chignoli, F.; Della Ricca, G.; Dharmasiri, D.R.; Espirito Santo, M.C.; Falk, E.; Fenyuk, A.; Ferrari, P.; Gamba, D.; Giordano, V.; Gouz, Yu.; Guerzoni, M.; Gumenyuk, S.; Hedberg, V.; Jarlskog, G.; Karyukhin, A.; Klovning, A.; Konoplyannikov, A.; Kronkvist, I.; Lanceri, L.; Leoni, R.; Maeland, O.A.; Maio, A.; Mazza, R.; Migliore, E.; Navarria, F.L.; Nossum, B.; Obraztsov, V.; Onofre, A.; Paganoni, M.; Pegoraro, M.; Peralta, L.; Petrovykh, L.; Pimenta, M.; Poropat, P.; Prest, M.; Read, A.L.; Romero, A.; Shalanda, N.; Simonetti, L.; Skaali, T.B.; Stugu, B.; Terranova, F.; Tome, B.; Torassa, E.; Trapani, P.P.; Verardi, M.G.; Vallazza, E.; Vlasov, E.; Zaitsev, A.;
A simulation technique for the evaluation of random error effects in time-domain measurement systems
2001 / IEEEBy: Angenieux, G.; Ferrari, P.;
2002 / IEEE
By: Ferrari, P.; Canepa, G.; Pincella, C.; Martini, L.; Barberis, F.; Quarantiello, R.; Ottonello, L.; Matrone, A.; Ariante, M.; Mariani, M.; Petrillo, E.; Vivaldi, F.;
By: Ferrari, P.; Canepa, G.; Pincella, C.; Martini, L.; Barberis, F.; Quarantiello, R.; Ottonello, L.; Matrone, A.; Ariante, M.; Mariani, M.; Petrillo, E.; Vivaldi, F.;
2002 / IEEE / 1-55617-834-4
By: Marioli, D.; Flammini, A.; Ferrari, V.; Ferrari, P.; Ferrari, M.; Depari, A.; Taroni, A.;
By: Marioli, D.; Flammini, A.; Ferrari, V.; Ferrari, P.; Ferrari, M.; Depari, A.; Taroni, A.;
2003 / IEEE
By: Duchamp, J.-M.; Harrison, R.G.; Lippens, D.; Arscott, S.; Fernandez, M.; Junwu Tao; Melique, X.; Jrad, A.; Ferrari, P.;
By: Duchamp, J.-M.; Harrison, R.G.; Lippens, D.; Arscott, S.; Fernandez, M.; Junwu Tao; Melique, X.; Jrad, A.; Ferrari, P.;
2003 / IEEE
By: Arscott, S.; Duchamp, J.-M.; Harrison, R.G.; Lippens, D.; Ferrari, P.; Tao, J.; Melique, X.; Jrad, A.; Fernandez, M.;
By: Arscott, S.; Duchamp, J.-M.; Harrison, R.G.; Lippens, D.; Ferrari, P.; Tao, J.; Melique, X.; Jrad, A.; Fernandez, M.;
2004 / IEEE / 0-7803-8143-2
By: Sisinni, E.; Marioli, D.; Flammini, A.; Ferrari, P.; Depari, A.; Taroni, A.;
By: Sisinni, E.; Marioli, D.; Flammini, A.; Ferrari, P.; Depari, A.; Taroni, A.;
2004 / IEEE / 0-7803-8248-X
By: Ferrari, P.; Depari, A.; Taroni, A.; Marioli, D.; Ghisla, A.; Flammini, A.; Ferrari, V.;
By: Ferrari, P.; Depari, A.; Taroni, A.; Marioli, D.; Ghisla, A.; Flammini, A.; Ferrari, V.;
2004 / IEEE / 0-7803-8584-5
By: Ottonello, L.; Matrone, A.; Martini, L.; Mariani, M.; Ferrari, P.; Guastavino, F.; Torello, E.;
By: Ottonello, L.; Matrone, A.; Martini, L.; Mariani, M.; Ferrari, P.; Guastavino, F.; Torello, E.;
2004 / IEEE / 0-7803-8703-1
By: Coutaz, J.-L.; Ferrari, P.; Duvillaret, L.; Duraz, E.; Estebe, E.; Ghesquiers, J.-P.;
By: Coutaz, J.-L.; Ferrari, P.; Duvillaret, L.; Duraz, E.; Estebe, E.; Ghesquiers, J.-P.;
2004 / IEEE / 0-7803-8703-1
By: Duvillaret, L.; Duraz, E.; Estebe, E.; Ghesquiers, J.-P.; Coutaz, J.-L.; Ferrari, P.;
By: Duvillaret, L.; Duraz, E.; Estebe, E.; Ghesquiers, J.-P.; Coutaz, J.-L.; Ferrari, P.;
2005 / IEEE
By: Basiladze, S.; Abdesselam, A.; Sfyrla, A.; Stanecka, E.; Sandaker, H.; Brenner, R.; Phillips, P.; Mikulec, B.; Ferrari, P.; Codispoti, G.; Llatas, M.C.;
By: Basiladze, S.; Abdesselam, A.; Sfyrla, A.; Stanecka, E.; Sandaker, H.; Brenner, R.; Phillips, P.; Mikulec, B.; Ferrari, P.; Codispoti, G.; Llatas, M.C.;
2006 / IEEE
By: Ferrari, V.; Ferrari, P.; Depari, A.; Taroni, A.; Marioli, D.; Ghisla, A.; Flammini, A.;
By: Ferrari, V.; Ferrari, P.; Depari, A.; Taroni, A.; Marioli, D.; Ghisla, A.; Flammini, A.;
2005 / IEEE / 2-9600551-2-8
By: Estebe, E.; Duchamp, J.-M.; Coutaz, J.-L.; Duvillaret, L.; Ferrari, P.; Duraz, E.; Ghesquiers, J.-P.;
By: Estebe, E.; Duchamp, J.-M.; Coutaz, J.-L.; Duvillaret, L.; Ferrari, P.; Duraz, E.; Ghesquiers, J.-P.;
2005 / IEEE / 2-9600551-2-8
By: Ferrari, P.; Duraz, E.; Ghesquiers, J.-P.; Estebe, E.; Duchamp, J.-M.; Coutaz, J.-L.; Duvillaret, L.;
By: Ferrari, P.; Duraz, E.; Ghesquiers, J.-P.; Estebe, E.; Duchamp, J.-M.; Coutaz, J.-L.; Duvillaret, L.;
2005 / IEEE / 2-9600551-2-8
By: Duchamp, J.-M.; Duvillaret, L.; Ferrari, P.; Pistono, E.; Vilcot, A.;
By: Duchamp, J.-M.; Duvillaret, L.; Ferrari, P.; Pistono, E.; Vilcot, A.;
2006 / IEEE
By: Duchamp, J.-M.; Pistono, E.; Kaddour, D.; Harrison, R.G.; Ferrari, P.; Eusebe, H.; Arnould, J.-D.;
By: Duchamp, J.-M.; Pistono, E.; Kaddour, D.; Harrison, R.G.; Ferrari, P.; Eusebe, H.; Arnould, J.-D.;
2006 / IEEE / 0-7803-9360-0
By: Flammini, A.; Ferrari, P.; Depari, A.; Taroni, A.; Rosa, S.; Marioli, D.;
By: Flammini, A.; Ferrari, P.; Depari, A.; Taroni, A.; Rosa, S.; Marioli, D.;
2001 / IEEE
By: Duchamp, J.M.; Harrison, R.G.; Jrad, A.; Lippens, D.; Arscott, S.; Tao, J.W.; Melique, X.; Fernandez, M.; Ferrari, P.;
By: Duchamp, J.M.; Harrison, R.G.; Jrad, A.; Lippens, D.; Arscott, S.; Tao, J.W.; Melique, X.; Fernandez, M.; Ferrari, P.;
2006 / IEEE / 0-7803-9758-4
By: Flammini, A.; Ferrari, P.; Manduca, C.; Cattaneo, C.; Taroni, A.; Rosa, S.; Marioli, D.;
By: Flammini, A.; Ferrari, P.; Manduca, C.; Cattaneo, C.; Taroni, A.; Rosa, S.; Marioli, D.;
2007 / IEEE / 1-4244-0687-0
By: Ferrari, P.; Duchamp, J.-M.; Amaya, R.E.; Ming Li; Tarr, N.G.; Harrison, R.G.;
By: Ferrari, P.; Duchamp, J.-M.; Amaya, R.E.; Ming Li; Tarr, N.G.; Harrison, R.G.;
2007 / IEEE / 978-1-4244-1063-7
By: Taroni, A.; Rinaldi, S.; Marioli, D.; Flammini, A.; Ferrari, P.;
By: Taroni, A.; Rinaldi, S.; Marioli, D.; Flammini, A.; Ferrari, P.;
2007 / IEEE / 978-1-4244-0850-4
By: Flammini, A.; Ferrari, P.; Venturini, F.; Taroni, A.; Marioli, D.;
By: Flammini, A.; Ferrari, P.; Venturini, F.; Taroni, A.; Marioli, D.;
2007 / IEEE / 978-2-87487-001-9
By: Bailly, P.-E.; Hoarau, C.; Xavier, P.; Ferrari, P.; Arnould, J.-D.;
By: Bailly, P.-E.; Hoarau, C.; Xavier, P.; Ferrari, P.; Arnould, J.-D.;
2007 / IEEE / 978-2-87487-001-9
By: Harrison, R.G.; Ming Li; Tarr, N.G.; Ferrari, P.; Duchamp, J.-M.; Amaya, R.E.;
By: Harrison, R.G.; Ming Li; Tarr, N.G.; Ferrari, P.; Duchamp, J.-M.; Amaya, R.E.;
2007 / IEEE / 978-2-87487-002-6
By: Duchamp, J.-M.; Amaya, R.E.; Harrison, R.G.; Ming Li; Tarr, N.G.; Ferrari, P.;
By: Duchamp, J.-M.; Amaya, R.E.; Harrison, R.G.; Ming Li; Tarr, N.G.; Ferrari, P.;
2007 / IEEE / 978-1-4244-0825-2
By: Ferrari, P.; Venturini, F.; Taroni, A.; Marioli, D.; Flammini, A.;
By: Ferrari, P.; Venturini, F.; Taroni, A.; Marioli, D.; Flammini, A.;
2007 / IEEE / 978-1-4244-1244-0
By: Sisinni, E.; Marioli, D.; Ferrari, P.; Flammini, A.; Taroni, A.;
By: Sisinni, E.; Marioli, D.; Ferrari, P.; Flammini, A.; Taroni, A.;
Next Page
Follow Us
Copyright © 2014 SharedBook. All rights reserved. Customer Service ·
Privacy Policy
·
User Agreement ·
Accessibility ·
Sitemap