Your Search Results
Use materials by this author in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content such as case studies and journal articles for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!

Author: Ferrari, M.
Results
2011 / IEEE / 978-1-61284-264-6
By: Suhaimi, N.F.M.; Abd-Rahmana, M.K.; Ferrari, M.; Chiasera, A.; Bhaktha, S.N.B.; Jais, U.S.; Razaki, N.I.;
By: Suhaimi, N.F.M.; Abd-Rahmana, M.K.; Ferrari, M.; Chiasera, A.; Bhaktha, S.N.B.; Jais, U.S.; Razaki, N.I.;
2012 / IEEE / 978-1-4673-0818-2
By: Maddens, M.; Hammond, R.; Harrison, B.; Ferrari, M.; Rawashdeh, O.; Rawashdeh, M.; Sa'deh, W.; Guangzhi Qu;
By: Maddens, M.; Hammond, R.; Harrison, B.; Ferrari, M.; Rawashdeh, O.; Rawashdeh, M.; Sa'deh, W.; Guangzhi Qu;
2012 / IEEE
By: Venturello, A.; Boetti, N.; Lousteau, J.; Milanese, D.; Chiasera, A.; Scarciglia, G.; Abrate, S.; Ferrari, M.;
By: Venturello, A.; Boetti, N.; Lousteau, J.; Milanese, D.; Chiasera, A.; Scarciglia, G.; Abrate, S.; Ferrari, M.;
2012 / IEEE
By: Guddala, S.; Bhaktha, S. N. B.; Armellini, C.; Chiappini, A.; Tran, T. Van; Turrell, S.; Righini, G. C.; Rao, D. Narayana; Ferrari, M.;
By: Guddala, S.; Bhaktha, S. N. B.; Armellini, C.; Chiappini, A.; Tran, T. Van; Turrell, S.; Righini, G. C.; Rao, D. Narayana; Ferrari, M.;
2014 / IEEE
By: Di Stefano, A.; Belluomo, F.; Boulard, B.; Ferrari, M.; Bouajaj, A.; Armellini, C.; Normani, S.; Britel, M.; Belmokhtar, S.; Enrichi, F.;
By: Di Stefano, A.; Belluomo, F.; Boulard, B.; Ferrari, M.; Bouajaj, A.; Armellini, C.; Normani, S.; Britel, M.; Belmokhtar, S.; Enrichi, F.;
2014 / IEEE
By: Moreac, A.; Kishi, T.; Nazabal, V.; Yano, T.; De Palma, L.; Ferrari, M.; Prudenzano, F.; Conti, G. Nunzi; Righini, G. C.; Lukowiak, A.; Ristic, D.; Palma, G.;
By: Moreac, A.; Kishi, T.; Nazabal, V.; Yano, T.; De Palma, L.; Ferrari, M.; Prudenzano, F.; Conti, G. Nunzi; Righini, G. C.; Lukowiak, A.; Ristic, D.; Palma, G.;
2014 / IEEE
By: Kong, A.; Azencott, R.; Tasciotti, E.; Bouamrani, A.; Bedin, C.; Agostini, M.; Ferrari, M.; Gupta, C.;
By: Kong, A.; Azencott, R.; Tasciotti, E.; Bouamrani, A.; Bedin, C.; Agostini, M.; Ferrari, M.; Gupta, C.;
1995 / IEEE / 0-7803-2969-4
By: Di Carlo, F.; Ferrari, M.; Talarico, C.; Simbolotti, G.; Furrer, M.;
By: Di Carlo, F.; Ferrari, M.; Talarico, C.; Simbolotti, G.; Furrer, M.;
1997 / IEEE / 0-7803-4226-7
By: Donne, M.D.; De Stefanis, L.; Cepraga, D.; Cheyne, A.; Celentano, G.; Bianchi, A.; Danner, W.; Ferrari, M.; Zacchia, F.; Sherwood, D.; Scaffidi-Argentina, F.; Roccella, M.; Poitevin, Y.; Pizuto, A.; Pirozzi, M.; Pinna, T.; Petrizzi, L.; Mustoe, J.; Mazzone, G.; Masson, X.; Lucca, F.; Jahn, H.; Gulden, W.; Gay, J.-M.; Eid, M.;
By: Donne, M.D.; De Stefanis, L.; Cepraga, D.; Cheyne, A.; Celentano, G.; Bianchi, A.; Danner, W.; Ferrari, M.; Zacchia, F.; Sherwood, D.; Scaffidi-Argentina, F.; Roccella, M.; Poitevin, Y.; Pizuto, A.; Pirozzi, M.; Pinna, T.; Petrizzi, L.; Mustoe, J.; Mazzone, G.; Masson, X.; Lucca, F.; Jahn, H.; Gulden, W.; Gay, J.-M.; Eid, M.;
1999 / IEEE / 0-7803-5829-5
By: Cucchiaro, A.; Crisanti, F.; Barbaro, E.; Gasparotto, M.; Semeraro, L.; Ferrari, M.; Roccella, M.; Papastergiou, S.; Mazzone, G.; Maddahmo, G.;
By: Cucchiaro, A.; Crisanti, F.; Barbaro, E.; Gasparotto, M.; Semeraro, L.; Ferrari, M.; Roccella, M.; Papastergiou, S.; Mazzone, G.; Maddahmo, G.;
2002 / IEEE
By: Capsoni, C.; Paraboni, A.; Bonifazi, C.; Salome, A.; Ruggieri, M.; Matricciani, E.; Ferrari, M.; Bosisio, A.;
By: Capsoni, C.; Paraboni, A.; Bonifazi, C.; Salome, A.; Ruggieri, M.; Matricciani, E.; Ferrari, M.; Bosisio, A.;
2002 / IEEE / 1-55617-834-4
By: Marioli, D.; Flammini, A.; Ferrari, V.; Ferrari, P.; Ferrari, M.; Depari, A.; Taroni, A.;
By: Marioli, D.; Flammini, A.; Ferrari, V.; Ferrari, P.; Ferrari, M.; Depari, A.; Taroni, A.;
2003 / IEEE / 0-7803-8133-5
By: Ferrari, V.; Ferrari, M.; Dalcanale, E.; Suman, M.; Taroni, A.; Marioli, D.;
By: Ferrari, V.; Ferrari, M.; Dalcanale, E.; Suman, M.; Taroni, A.; Marioli, D.;
2003 / IEEE / 0-7803-8170-X
By: Giordano, A.; Scanferlato, J.L.; Roma, M.; Maestri, R.; Pinna, G.D.; Comazzi, F.; Capomolla, S.; Mortara, A.; Johnson, P.; Andrews, D.; Ferrari, M.;
By: Giordano, A.; Scanferlato, J.L.; Roma, M.; Maestri, R.; Pinna, G.D.; Comazzi, F.; Capomolla, S.; Mortara, A.; Johnson, P.; Andrews, D.; Ferrari, M.;
2003 / IEEE / 0-7803-7734-6
By: Martino, M.; Shen, S.; Jha, A.; Ferrari, M.; Mattarelli, M.; Resta, V.;
By: Martino, M.; Shen, S.; Jha, A.; Ferrari, M.; Mattarelli, M.; Resta, V.;
2003 / IEEE / 0-7803-7734-6
By: Martino, M.; Caricalo, A.P.; Zampedri, L.L.; Ferrari, M.; Righini, G.C.; Pelli, S.; Duverger, C.; Boulard, B.; Porfales, H.; Montagna, M.; Mattarelli, M.; Shen, S.; Jha, A.; Resta, V.;
By: Martino, M.; Caricalo, A.P.; Zampedri, L.L.; Ferrari, M.; Righini, G.C.; Pelli, S.; Duverger, C.; Boulard, B.; Porfales, H.; Montagna, M.; Mattarelli, M.; Shen, S.; Jha, A.; Resta, V.;
2004 / IEEE / 0-7803-8248-X
By: Marioli, D.; Ferrari, V.; Ferrari, M.; Dalcanale, E.; Suman, M.; Taroni, A.;
By: Marioli, D.; Ferrari, V.; Ferrari, M.; Dalcanale, E.; Suman, M.; Taroni, A.;
2004 / IEEE / 0-7803-8248-X
By: Ferrari, M.; Quaresima, V.; Taroni, P.; Spinelli, L.; Pifferi, A.; Torricelli, A.; Cubeddu, R.;
By: Ferrari, M.; Quaresima, V.; Taroni, P.; Spinelli, L.; Pifferi, A.; Torricelli, A.; Cubeddu, R.;
2004 / IEEE / 0-7803-8692-2
By: Suman, M.; Taroni, A.; Marioli, D.; Ferrari, V.; Ferrari, M.; Dalcanale, E.;
By: Suman, M.; Taroni, A.; Marioli, D.; Ferrari, V.; Ferrari, M.; Dalcanale, E.;
2006 / IEEE
By: Cubeddu, R.; Ferrari, M.; Quaresima, V.; Taroni, P.; Contini, D.; Pifferi, A.; Torricelli, A.; Spinelli, L.;
By: Cubeddu, R.; Ferrari, M.; Quaresima, V.; Taroni, P.; Contini, D.; Pifferi, A.; Torricelli, A.; Spinelli, L.;
2005 / IEEE / 0-7803-9056-3
By: Ferrari, V.; Doerner, S.; Hirsch, S.; Ferrari, M.; Salazar Velez, D.J.; Hauptmann, P.R.; Schmidt, B.; Lucklum, R.;
By: Ferrari, V.; Doerner, S.; Hirsch, S.; Ferrari, M.; Salazar Velez, D.J.; Hauptmann, P.R.; Schmidt, B.; Lucklum, R.;
2005 / IEEE / 0-7803-9382-1
By: Hirsch, S.; Doerner, S.; Ferrari, M.; Ferrari, V.; Hauptmann, P.R.; Schmidt, B.; Lucklum, R.;
By: Hirsch, S.; Doerner, S.; Ferrari, M.; Ferrari, V.; Hauptmann, P.R.; Schmidt, B.; Lucklum, R.;
2006 / IEEE / 0-7803-9360-0
By: Ferrari, M.; Casas, O.; Casanella, R.; Pallas-Areny, R.; Ferrari, V.;
By: Ferrari, M.; Casas, O.; Casanella, R.; Pallas-Areny, R.; Ferrari, V.;
2007 / IEEE / 1-4244-1248-X
By: Montagna, M.; Moser, E.; Huy, P.H.; Jestin, Y.; Ferrari, M.; Chiasera, A.; Chiappini, A.; Armellini, C.; Ngoc, K.T.; Tosello, C.; Speranza, G.; Mattarelli, M.; Righini, G.C.; Pelli, S.; Conti, G.N.; Minati, L.;
By: Montagna, M.; Moser, E.; Huy, P.H.; Jestin, Y.; Ferrari, M.; Chiasera, A.; Chiappini, A.; Armellini, C.; Ngoc, K.T.; Tosello, C.; Speranza, G.; Mattarelli, M.; Righini, G.C.; Pelli, S.; Conti, G.N.; Minati, L.;
2007 / IEEE / 978-1-4244-0930-3
By: Pelli, S.; Conti, G.N.; Moser, E.; Montagna, M.; Minotti, A.; Jestin, Y.; Righini, G.C.; Foglietti, V.; Ferrari, M.; Chiasera, A.; Chiappini, A.; Armellini, C.; Tosello, C.;
By: Pelli, S.; Conti, G.N.; Moser, E.; Montagna, M.; Minotti, A.; Jestin, Y.; Righini, G.C.; Foglietti, V.; Ferrari, M.; Chiasera, A.; Chiappini, A.; Armellini, C.; Tosello, C.;
2007 / IEEE / 978-1-4244-0930-3
By: Righini, G.C.; Petti, S.; Conti, G.N.; Moser, E.; Armellini, C.; Ferrari, M.; Chiasera, A.; Chiappini, A.; Jestin, Y.;
By: Righini, G.C.; Petti, S.; Conti, G.N.; Moser, E.; Armellini, C.; Ferrari, M.; Chiasera, A.; Chiappini, A.; Jestin, Y.;
2007 / IEEE / 978-1-4244-1638-7
By: Boulard, B.; Duverger, C.A.; Moser, E.; Feron, P.; Tosello, C.; Prudenzano, F.; Jestin, Y.; Ferrari, M.; Chiasera, A.; Chiappini, A.; Armellini, C.; Righini, G.C.; Pelli, S.; Conti, G.N.; Minati, L.; Speranza, G.;
By: Boulard, B.; Duverger, C.A.; Moser, E.; Feron, P.; Tosello, C.; Prudenzano, F.; Jestin, Y.; Ferrari, M.; Chiasera, A.; Chiappini, A.; Armellini, C.; Righini, G.C.; Pelli, S.; Conti, G.N.; Minati, L.; Speranza, G.;
2008 / IEEE / 978-1-4244-2625-6
By: Bhaktha, S.N.B.; Chiappini, A.; Huy, P.T.; Righini, G.C.; Pelli, S.; Nunzi Conti, G.; Minati, L.; Speranza, G.; Armellini, C.; Boulard, B.; Arfuso, C.D.; Moser, E.; Feron, P.; Jestin, Y.; Ferrari, M.; Chiasera, A.;
By: Bhaktha, S.N.B.; Chiappini, A.; Huy, P.T.; Righini, G.C.; Pelli, S.; Nunzi Conti, G.; Minati, L.; Speranza, G.; Armellini, C.; Boulard, B.; Arfuso, C.D.; Moser, E.; Feron, P.; Jestin, Y.; Ferrari, M.; Chiasera, A.;
2008 / IEEE / 978-2-87487-007-1
By: De Dominicis, M.; Cetronio, A.; Bettidi, A.; Alleva, V.; Romaninf, P.; Ferrari, M.; Megna, A.; Peroni, M.; Limiti, E.; Lanzierf, C.; Giovine, E.;
By: De Dominicis, M.; Cetronio, A.; Bettidi, A.; Alleva, V.; Romaninf, P.; Ferrari, M.; Megna, A.; Peroni, M.; Limiti, E.; Lanzierf, C.; Giovine, E.;
2008 / IEEE / 978-2-87487-007-1
By: Ferrari, M.; di Paolo, F.; Ciccognani, W.; Limiti, E.; Giannini, F.;
By: Ferrari, M.; di Paolo, F.; Ciccognani, W.; Limiti, E.; Giannini, F.;
2008 / IEEE / 978-1-4244-3484-8
By: Armellini, C.; Bhaktha, S.N.B.; Alombert-Goget, G.; Vishnubhatla, K.C.; Speranza, G.; Righini, G.C.; Rao, D.N.; Ramponi, R.; Quandt, A.; Pelli, S.; Osellame, R.; Nunzi Conti, G.; Moser, E.; Monteil, A.; Minati, L.; Khiem, T.N.; Jestin, Y.; Huy, P.T.; Goncalves, R.R.; Ferrari, M.; Feron, P.; Duverger-Arfuso, C.; Chiasera, A.; Chiappini, A.; Boulard, B.;
By: Armellini, C.; Bhaktha, S.N.B.; Alombert-Goget, G.; Vishnubhatla, K.C.; Speranza, G.; Righini, G.C.; Rao, D.N.; Ramponi, R.; Quandt, A.; Pelli, S.; Osellame, R.; Nunzi Conti, G.; Moser, E.; Monteil, A.; Minati, L.; Khiem, T.N.; Jestin, Y.; Huy, P.T.; Goncalves, R.R.; Ferrari, M.; Feron, P.; Duverger-Arfuso, C.; Chiasera, A.; Chiappini, A.; Boulard, B.;
2009 / IEEE / 978-1-4244-4825-8
By: Jestin, Y.; Righini, G.C.; Ferrari, M.; Chiappini, A.; Conti, G.N.; Berneschi, S.;
By: Jestin, Y.; Righini, G.C.; Ferrari, M.; Chiappini, A.; Conti, G.N.; Berneschi, S.;
2009 / IEEE / 978-1-4244-4825-8
By: Soria, S.; Ferrari, M.; Chiappini, A.; Feron, P.; Palmisano, T.; Righini, G.C.; De Sario, M.; Allegretti, L.; Mescia, L.; Prudenzano, F.; Di Tommaso, A.;
By: Soria, S.; Ferrari, M.; Chiappini, A.; Feron, P.; Palmisano, T.; Righini, G.C.; De Sario, M.; Allegretti, L.; Mescia, L.; Prudenzano, F.; Di Tommaso, A.;
2009 / IEEE / 978-1-4244-4825-8
By: Monteil, A.; Moser, E.; Jestin, Y.; Ferrari, M.; Feron, P.; Duverger-Arfuso, C.; Minati, L.; Chiasera, A.; Chiappini, A.; Boulard, B.; Bhaktha, S.N.B.; Berneschi, S.; Armellini, C.; Alombert-Goget, G.; Speranza, G.; Righini, G.C.; Prudenzano, F.; Pelli, S.; Nunzi Conti, G.;
By: Monteil, A.; Moser, E.; Jestin, Y.; Ferrari, M.; Feron, P.; Duverger-Arfuso, C.; Minati, L.; Chiasera, A.; Chiappini, A.; Boulard, B.; Bhaktha, S.N.B.; Berneschi, S.; Armellini, C.; Alombert-Goget, G.; Speranza, G.; Righini, G.C.; Prudenzano, F.; Pelli, S.; Nunzi Conti, G.;
2010 / IEEE
By: Righini, G.C.; Ferrari, M.; Palmisano, T.; De Sario, M.; Prudenzano, F.; Mescia, L.;
By: Righini, G.C.; Ferrari, M.; Palmisano, T.; De Sario, M.; Prudenzano, F.; Mescia, L.;
2009 / IEEE / 978-1-4244-5745-8
By: Boulard, Brigitte; Ferrari, M.; Duverger-Arfuso, C.; Gao, Y.; Peron, O.; Savelii, Inna; Alombert-Goget, G.;
By: Boulard, Brigitte; Ferrari, M.; Duverger-Arfuso, C.; Gao, Y.; Peron, O.; Savelii, Inna; Alombert-Goget, G.;
2009 / IEEE / 978-1-4244-5745-8
By: Alombert-Goget, G.; Speranza, G.; Righini, G.C.; Rao, D.N.; Pelli, S.; Moser, E.; Guddala, S.; Ferrari, M.; Feron, P.; Duverger-Arfuso, C.; Chiasera, A.; Chiappini, A.; Boulard, B.; Berneschi, S.; Armellini, C.;
By: Alombert-Goget, G.; Speranza, G.; Righini, G.C.; Rao, D.N.; Pelli, S.; Moser, E.; Guddala, S.; Ferrari, M.; Feron, P.; Duverger-Arfuso, C.; Chiasera, A.; Chiappini, A.; Boulard, B.; Berneschi, S.; Armellini, C.;
2010 / IEEE / 978-1-4244-7806-4
By: Fummi, F.; Di Guglielmo, G.; Ferrari, M.; Di Guglielmo, L.; Pravadelli, G.; Bombieri, N.; Venturelli, A.; Stefanni, F.;
By: Fummi, F.; Di Guglielmo, G.; Ferrari, M.; Di Guglielmo, L.; Pravadelli, G.; Bombieri, N.; Venturelli, A.; Stefanni, F.;
2010 / IEEE / 978-1-4244-6404-3
By: Siti, M.; Bellini, S.; Ferrari, M.; Tomasoni, A.; Cupaiuolo, T.;
By: Siti, M.; Bellini, S.; Ferrari, M.; Tomasoni, A.; Cupaiuolo, T.;
2010 / IEEE / 978-1-4244-7798-2
By: Milanese, D.; Lousteau, J.; Ferrari, M.; Barbero, S.; Pittarelli, M.; Boetti, N.; Abrate, S.;
By: Milanese, D.; Lousteau, J.; Ferrari, M.; Barbero, S.; Pittarelli, M.; Boetti, N.; Abrate, S.;
2010 / IEEE / 978-1-4244-7798-2
By: Guddala, S.; Alombert-Goget, G.; Rao, D.N.; Turrell, S.; Bhaktha, S.N.B.; Arfuso, C.D.; Boulard, B.; Moser, E.; Speranza, G.; Righini, G.C.; Berneschi, S.; Mazzola, M.; Ferrari, M.; Chiasera, A.; Chiappini, A.; Armellini, C.;
By: Guddala, S.; Alombert-Goget, G.; Rao, D.N.; Turrell, S.; Bhaktha, S.N.B.; Arfuso, C.D.; Boulard, B.; Moser, E.; Speranza, G.; Righini, G.C.; Berneschi, S.; Mazzola, M.; Ferrari, M.; Chiasera, A.; Chiappini, A.; Armellini, C.;
2010 / IEEE / 978-1-4244-7187-4
By: Ferrari, M.; Chiasera, A.; Jais, U.S.; Razaki, N.I.; Kamil Abd-Rahman, M.;
By: Ferrari, M.; Chiasera, A.; Jais, U.S.; Razaki, N.I.; Kamil Abd-Rahman, M.;
2011 / IEEE / 978-1-4244-4140-2
By: Bianchi, A.M.; Cerutti, S.; Cimolin, V.; Preatoni, E.; Ferrari, M.; Molteni, E.;
By: Bianchi, A.M.; Cerutti, S.; Cimolin, V.; Preatoni, E.; Ferrari, M.; Molteni, E.;
2011 / IEEE / 978-953-233-059-5
By: Feron, P.; Ferrari, M.; Chiappini, A.; Carpentiero, A.; Chiasera, A.; Boulard, B.; Biljanovic, P.; Berneschi, S.; Armellini, C.; Duverger, C.A.; Goget, G.A.; Varas, S.; Speranza, G.; Righini, G.C.; Ristic, D.; Pelli, S.; Conti, G.N.; Moser, E.; Minati, L.; Mazzola, M.; Ivanda, M.;
By: Feron, P.; Ferrari, M.; Chiappini, A.; Carpentiero, A.; Chiasera, A.; Boulard, B.; Biljanovic, P.; Berneschi, S.; Armellini, C.; Duverger, C.A.; Goget, G.A.; Varas, S.; Speranza, G.; Righini, G.C.; Ristic, D.; Pelli, S.; Conti, G.N.; Moser, E.; Minati, L.; Mazzola, M.; Ivanda, M.;
2011 / IEEE / 978-953-233-059-5
By: Gamulin, O.; Ristic, M.; Marcius, M.; Bogdanovic-Rakovic, I.; Ivanda, M.; Ristic, D.; Music, S.; Righini, G.C.; Ferrari, M.; Tijanic, Z.; Chiasera, A.; Furic, K.;
By: Gamulin, O.; Ristic, M.; Marcius, M.; Bogdanovic-Rakovic, I.; Ivanda, M.; Ristic, D.; Music, S.; Righini, G.C.; Ferrari, M.; Tijanic, Z.; Chiasera, A.; Furic, K.;
2011 / IEEE / 978-953-233-059-5
By: Ivanda, M.; Ristic, D.; Ferrari, M.; Moser, E.; Chiasera, A.; Furic, K.;
By: Ivanda, M.; Ristic, D.; Ferrari, M.; Moser, E.; Chiasera, A.; Furic, K.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-0882-4
By: Duverger, C.A.; Ristic, D.; Goget, G.A.; Ferrari, M.; Boulard, B.; Righini, G.C.; Dieudonne, B.; Monteil, A.; Ivanda, M.; Berneschi, S.; Varas, S.; Moser, E.;
By: Duverger, C.A.; Ristic, D.; Goget, G.A.; Ferrari, M.; Boulard, B.; Righini, G.C.; Dieudonne, B.; Monteil, A.; Ivanda, M.; Berneschi, S.; Varas, S.; Moser, E.;