Your Search Results
Use materials by this author in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content such as case studies and journal articles for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!

Author: Ferguson, P.
Results
1990 / IEEE
By: Kaluzniacki, A.; Kolanoski, H.; Cartiglia, N.; Bacigalupi, J.; DeWitt, J.; Sommer, W.F.; Milner, C.; Kinnison, W.W.; Holtkamp, D.; Hoffman, C.M.; Ziock, H.J.; Sartori, S.; Giubellino, P.; Ferguson, P.; Tenenbaum, P.; Spencer, E.; Sadrozinski, H.F.-W.; Rowe, W.A.; Pitzl, D.;
By: Kaluzniacki, A.; Kolanoski, H.; Cartiglia, N.; Bacigalupi, J.; DeWitt, J.; Sommer, W.F.; Milner, C.; Kinnison, W.W.; Holtkamp, D.; Hoffman, C.M.; Ziock, H.J.; Sartori, S.; Giubellino, P.; Ferguson, P.; Tenenbaum, P.; Spencer, E.; Sadrozinski, H.F.-W.; Rowe, W.A.; Pitzl, D.;
1992 / IEEE
By: Ho, T.; Foisy, M.; Ferguson, P.; Huang, H.; Pande, K.; Lee, T.; Cornfeld, A.; Metze, G.;
By: Ho, T.; Foisy, M.; Ferguson, P.; Huang, H.; Pande, K.; Lee, T.; Cornfeld, A.; Metze, G.;
1993 / IEEE
By: Skinner, D.; Matthews, J.A.J.; Frautschi, M.A.; Ferguson, P.; Wimpenny, S.J.; Reed, E.; Lietzke, C.; Joyce, D.; Jerger, S.; Fleming, J.K.; Ellison, J.A.; Wilder, M.; Spencer, E.; Seiden, A.; Sadrozinski, H.F.-W.; Rowe, W.A.; Pitzl, D.; Leslie, J.; Cartiglia, N.; Barberis, E.; Sondheim, W.E.; Palounek, A.P.T.; Kapustinsky, J.S.; Holzscheiter, K.; Boissevain, J.G.; Ziock, H.J.;
By: Skinner, D.; Matthews, J.A.J.; Frautschi, M.A.; Ferguson, P.; Wimpenny, S.J.; Reed, E.; Lietzke, C.; Joyce, D.; Jerger, S.; Fleming, J.K.; Ellison, J.A.; Wilder, M.; Spencer, E.; Seiden, A.; Sadrozinski, H.F.-W.; Rowe, W.A.; Pitzl, D.; Leslie, J.; Cartiglia, N.; Barberis, E.; Sondheim, W.E.; Palounek, A.P.T.; Kapustinsky, J.S.; Holzscheiter, K.; Boissevain, J.G.; Ziock, H.J.;
1991 / IEEE / 0-7803-0513-2
By: Matthews, J.A.J.; Ferguson, P.; Wimpenny, S.; Lietzke, C.; Joyce, D.; Jerger, S.; Ellison, J.A.; Spencer, E.; Seiden, A.; Sadrozinski, H.F.-W.; Rowe, W.A.; Pitzl, D.; O'Shaughnessy, K.F.; Leslie, J.; Hubbard, B.; Dorfan, D.; DeWitt, J.; Cartiglia, N.; Wagner, R.S.; Sondheim, W.E.; Sommer, W.F.; Sailor, W.C.; Lee, D.M.; Kinnison, W.W.; Kapustinsky, J.S.; Holzscheiter, K.; Boissevain, J.G.; Ziock, H.J.; Skinner, D.;
By: Matthews, J.A.J.; Ferguson, P.; Wimpenny, S.; Lietzke, C.; Joyce, D.; Jerger, S.; Ellison, J.A.; Spencer, E.; Seiden, A.; Sadrozinski, H.F.-W.; Rowe, W.A.; Pitzl, D.; O'Shaughnessy, K.F.; Leslie, J.; Hubbard, B.; Dorfan, D.; DeWitt, J.; Cartiglia, N.; Wagner, R.S.; Sondheim, W.E.; Sommer, W.F.; Sailor, W.C.; Lee, D.M.; Kinnison, W.W.; Kapustinsky, J.S.; Holzscheiter, K.; Boissevain, J.G.; Ziock, H.J.; Skinner, D.;
1991 / IEEE
By: Ziock, H.J.; Giubellino, P.; Sommer, W.F.; Cartiglia, N.; DeWitt, J.; Dorfan, D.; Hubbard, B.; Leslie, J.; O'Shaughnessy, K.F.; Pitzl, D.; Rowe, W.A.; Sadrozinski, H.F.-W.; Seiden, A.; Spencer, E.; Tennenbaum, P.; Ellison, J.; Jerger, S.; Lietzke, C.; Wimpenny, S.J.; Ferguson, P.; Milner, C.;
By: Ziock, H.J.; Giubellino, P.; Sommer, W.F.; Cartiglia, N.; DeWitt, J.; Dorfan, D.; Hubbard, B.; Leslie, J.; O'Shaughnessy, K.F.; Pitzl, D.; Rowe, W.A.; Sadrozinski, H.F.-W.; Seiden, A.; Spencer, E.; Tennenbaum, P.; Ellison, J.; Jerger, S.; Lietzke, C.; Wimpenny, S.J.; Ferguson, P.; Milner, C.;
1992 / IEEE / 0-7803-0884-0
By: Sadrozinski, H.F.-W.; Seiden, A.; Pitzl, D.; Leslie, J.; Cartiglia, N.; Barberis, E.; Sondheim, W.E.; Palounek, A.P.T.; Kapustinsky, J.S.; Holzscheiter, K.; Boissevain, J.G.; Ziock, H.J.; Rowe, W.A.; Skinner, D.; Matthews, J.A.J.; Frautschi, M.A.; Ferguson, P.; Wimpenny, S.J.; Reed, E.; Lietzke, C.; Joyce, D.; Jerger, S.; Fleming, J.K.; Ellison, J.A.; Wilder, M.; Spencer, E.;
By: Sadrozinski, H.F.-W.; Seiden, A.; Pitzl, D.; Leslie, J.; Cartiglia, N.; Barberis, E.; Sondheim, W.E.; Palounek, A.P.T.; Kapustinsky, J.S.; Holzscheiter, K.; Boissevain, J.G.; Ziock, H.J.; Rowe, W.A.; Skinner, D.; Matthews, J.A.J.; Frautschi, M.A.; Ferguson, P.; Wimpenny, S.J.; Reed, E.; Lietzke, C.; Joyce, D.; Jerger, S.; Fleming, J.K.; Ellison, J.A.; Wilder, M.; Spencer, E.;
1998 / IEEE / 0-7803-4792-7
By: Ralph, D.; LaCour, M.; Sena, M.; Ferguson, P.; Haworth, M.; Hendricks, K.; Henley, D.; Clark, C.; Lemke, R.; Arman, M.; Spencer, T.; Shiffler, D.; Englert, T.; O'Loughlin, J.; Loree, D.; Luginsland, J.; Cavasos, T.; Mitchell, M.;
By: Ralph, D.; LaCour, M.; Sena, M.; Ferguson, P.; Haworth, M.; Hendricks, K.; Henley, D.; Clark, C.; Lemke, R.; Arman, M.; Spencer, T.; Shiffler, D.; Englert, T.; O'Loughlin, J.; Loree, D.; Luginsland, J.; Cavasos, T.; Mitchell, M.;
1991 / IEEE / 0-87942-644-6
By: Ferguson, P.; Dattorro, J.; Charpentier, A.; Andreas, D.; Volpe, A.; Libert, R.; Vincelette, S.; Adarns, R.; Ganesan, A.;
By: Ferguson, P.; Dattorro, J.; Charpentier, A.; Andreas, D.; Volpe, A.; Libert, R.; Vincelette, S.; Adarns, R.; Ganesan, A.;
1990 / IEEE / 0-87942-683-7
By: Ziock, H.J.; Milner, C.; Giubellino, P.; Ferguson, P.; Wimpenny, S.J.; Lietzke, C.; Jerger, S.; Ellison, J.; Tennenbaum, P.; Spencer, E.; Seiden, A.; Sadrozinski, H.F.-W.; Rowe, W.A.; Sommer, W.F.; Cartiglia, N.; DeWitt, J.; Dorfan, D.; Hubbard, B.; Leslie, J.; O'Shaughnessy, K.F.; Pitzl, D.;
By: Ziock, H.J.; Milner, C.; Giubellino, P.; Ferguson, P.; Wimpenny, S.J.; Lietzke, C.; Jerger, S.; Ellison, J.; Tennenbaum, P.; Spencer, E.; Seiden, A.; Sadrozinski, H.F.-W.; Rowe, W.A.; Sommer, W.F.; Cartiglia, N.; DeWitt, J.; Dorfan, D.; Hubbard, B.; Leslie, J.; O'Shaughnessy, K.F.; Pitzl, D.;
1999 / IEEE / 0-7803-5224-6
By: Hatfield, L.L.; Krompholz, H.; Hemmert, D.; Hendricks, K.; Ferguson, P.; Neuber, A.; Kristiansen, M.;
By: Hatfield, L.L.; Krompholz, H.; Hemmert, D.; Hendricks, K.; Ferguson, P.; Neuber, A.; Kristiansen, M.;
2003 / IEEE / 0-7803-7738-9
By: Miram, G.; Ives, L.; Ferguson, P.; Liqun Song; Mizuhara, M.; Marsden, D.;
By: Miram, G.; Ives, L.; Ferguson, P.; Liqun Song; Mizuhara, M.; Marsden, D.;
2004 / IEEE / 0-7803-8261-7
By: Russell, S.J.; Carlsten, B.E.; Humphries, S.; Ferguson, P.; Potter, J.M.; Earley, L.M.;
By: Russell, S.J.; Carlsten, B.E.; Humphries, S.; Ferguson, P.; Potter, J.M.; Earley, L.M.;
2004 / IEEE / 0-7803-8261-7
By: Miram, G.; Ives, R.L.; Ferguson, P.; Song, L.; Neilson, J.; Mizuhara, M.; Marsden, D.;
By: Miram, G.; Ives, R.L.; Ferguson, P.; Song, L.; Neilson, J.; Mizuhara, M.; Marsden, D.;
2004 / IEEE / 0-7803-8334-6
By: Earley, L.M.; Russell, S.J.; Carlsten, B.E.; Humphries, S.; Ferguson, P.; Potter, J.M.;
By: Earley, L.M.; Russell, S.J.; Carlsten, B.E.; Humphries, S.; Ferguson, P.; Potter, J.M.;
2005 / IEEE
By: Krawczyk, F.L.; Earley, L.M.; Russell, S.J.; Carlsten, B.E.; Humphries, S., Jr.; Ferguson, P.; Potter, J.M.;
By: Krawczyk, F.L.; Earley, L.M.; Russell, S.J.; Carlsten, B.E.; Humphries, S., Jr.; Ferguson, P.; Potter, J.M.;
2004 / IEEE / 0-7803-8586-1
By: Smirnova, E.I.; Sigler, F.E.; Russell, S.J.; Kirbie, H.C.; Haynes, W.B.; Wheat, R.M.; Carlson, R.L.; Brown, R.W.; Earley, L.M.; Ferguson, P.;
By: Smirnova, E.I.; Sigler, F.E.; Russell, S.J.; Kirbie, H.C.; Haynes, W.B.; Wheat, R.M.; Carlson, R.L.; Brown, R.W.; Earley, L.M.; Ferguson, P.;
1984 / IEEE
By: Thorington, C.; Tancredi, J.; Schmitt, M.; Sandoval, J.; Matranga, V.; Krycuk, A.; Hart, S.; Ferguson, P.; Eldridge, J.; DeHope, W.; Wozniak, M.;
By: Thorington, C.; Tancredi, J.; Schmitt, M.; Sandoval, J.; Matranga, V.; Krycuk, A.; Hart, S.; Ferguson, P.; Eldridge, J.; DeHope, W.; Wozniak, M.;
2006 / IEEE / 1-4244-0108-9
By: Smirnova, E.L.; Wheat, R.M.; Romero, F.P.; Krawczyk, F.L.; Kirbie, H.C.; Sigler, F.E.; Haynes, W.B.; Earley, L.M.; Carlsten, B.E.; Brown, R.W.; Bishofberger, K.A.; Russell, S.J.; Ferguson, P.; Humphries, S.; Wang, Z.-F.;
By: Smirnova, E.L.; Wheat, R.M.; Romero, F.P.; Krawczyk, F.L.; Kirbie, H.C.; Sigler, F.E.; Haynes, W.B.; Earley, L.M.; Carlsten, B.E.; Brown, R.W.; Bishofberger, K.A.; Russell, S.J.; Ferguson, P.; Humphries, S.; Wang, Z.-F.;
2006 / IEEE / 1-4244-0108-9
By: Read, M.; Fazio, M.; Carlsten, B.; Liqun Song; Ives, L.; Ferguson, P.;
By: Read, M.; Fazio, M.; Carlsten, B.; Liqun Song; Ives, L.; Ferguson, P.;
2008 / IEEE / 978-1-4244-1929-6
By: Korringa, M.; Humphries, S.; Whittick, D.; Ferguson, P.; Schrager, A.; Lillis, K.;
By: Korringa, M.; Humphries, S.; Whittick, D.; Ferguson, P.; Schrager, A.; Lillis, K.;
2009 / IEEE / 978-1-4244-3500-5
By: Marsden, D.; Ferguson, P.; Ives, L.; Ivanov, V.; Liqun Song; Krasnykh, A.; Collins, G.; Miram, G.; Read, M.;
By: Marsden, D.; Ferguson, P.; Ives, L.; Ivanov, V.; Liqun Song; Krasnykh, A.; Collins, G.; Miram, G.; Read, M.;
2009 / IEEE / 978-1-4244-5231-6
By: Heeseon Park; Yoon-Hee Choi; O'Connor, N.E.; Smeaton, A.F.; Ferguson, P.; Sav, S.; Hyowon Lee; Gurrin, C.;
By: Heeseon Park; Yoon-Hee Choi; O'Connor, N.E.; Smeaton, A.F.; Ferguson, P.; Sav, S.; Hyowon Lee; Gurrin, C.;