Your Search Results
Use materials by this author in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content such as case studies and journal articles for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!

Author: Feng, M.
Results
1991 / IEEE
By: Ito, C.; Hwang, T.; Lepkowski, T.; Brusen, P.; Schellenberg, J.; Feng, M.; Lau, C.L.;
By: Ito, C.; Hwang, T.; Lepkowski, T.; Brusen, P.; Schellenberg, J.; Feng, M.; Lau, C.L.;
1990 / IEEE
By: Lau, C.L.; Schellenberg, J.; Hodges, N.; Dunn, V.; Ito, C.; Chang, Y.; Lepkowski, T.; Wang, G.W.; Feng, M.;
By: Lau, C.L.; Schellenberg, J.; Hodges, N.; Dunn, V.; Ito, C.; Chang, Y.; Lepkowski, T.; Wang, G.W.; Feng, M.;
1991 / IEEE / 0-7803-0491-8
By: Kolodzey, J.; Feng, M.; Adesida, I.; Ketterson, A.; Kruse, J.; Maranowski, S.; Laskar, J.;
By: Kolodzey, J.; Feng, M.; Adesida, I.; Ketterson, A.; Kruse, J.; Maranowski, S.; Laskar, J.;
1988 / IEEE
By: Rohlicek, J.; Price, P.; Makhoul, J.; Feng, M.; Kimball, O.; Roucos, S.; Derr, A.; Chow, Y.; Kubala, F.; Vandegrift, J.; Schwartz, R.;
By: Rohlicek, J.; Price, P.; Makhoul, J.; Feng, M.; Kimball, O.; Roucos, S.; Derr, A.; Chow, Y.; Kubala, F.; Vandegrift, J.; Schwartz, R.;
1993 / IEEE
By: Feng, M.; Laskar, J.; Kruse, J.; Van Harlingen, D.J.; Schweinfurth, R.A.; Teepe, M.R.; Platt, C.E.;
By: Feng, M.; Laskar, J.; Kruse, J.; Van Harlingen, D.J.; Schweinfurth, R.A.; Teepe, M.R.; Platt, C.E.;
1993 / IEEE
By: Middleton, J.; Apostolakis, P.J.; Lepore, A.N.; Feng, M.; Barlage, D.; Scherrer, D.; Kruse, J.;
By: Middleton, J.; Apostolakis, P.J.; Lepore, A.N.; Feng, M.; Barlage, D.; Scherrer, D.; Kruse, J.;
1993 / IEEE / 0-7803-1209-0
By: Apostolakis, P.J.; Middleton, J.; Chang, W.H.; Shih, C.G.; Wang, J.S.; Feng, M.;
By: Apostolakis, P.J.; Middleton, J.; Chang, W.H.; Shih, C.G.; Wang, J.S.; Feng, M.;
1994 / IEEE / 0-7803-1778-5
By: Apostolakis, P.J.; Scherrer, D.; Feng, M.; Kruse, J.; Middleton, J.;
By: Apostolakis, P.J.; Scherrer, D.; Feng, M.; Kruse, J.; Middleton, J.;
1995 / IEEE
By: Apostolakis, P.J.; Scherrer, D.R.; Feng, M.; Oliver, J.D., Jr.; Lautenvasser, B.D.; McPartlin, M.J.; Middleton, J.R.;
By: Apostolakis, P.J.; Scherrer, D.R.; Feng, M.; Oliver, J.D., Jr.; Lautenvasser, B.D.; McPartlin, M.J.; Middleton, J.R.;
1995 / IEEE
By: Forse, R.; Cardona, A.; Scharen, M.; Feng, M.; Kruse, J.; Scherrer, D.; Chang, W.H.; Gao, F.;
By: Forse, R.; Cardona, A.; Scharen, M.; Feng, M.; Kruse, J.; Scherrer, D.; Chang, W.H.; Gao, F.;
1996 / IEEE
By: Feng, M.; Mares, P.J.; Barlage, D.W.; Hartmann, Q.J.; Fresina, M.T.; Ahmari, D.A.; Stillman, G.E.;
By: Feng, M.; Mares, P.J.; Barlage, D.W.; Hartmann, Q.J.; Fresina, M.T.; Ahmari, D.A.; Stillman, G.E.;
1996 / IEEE / 0-7803-3283-0
By: Barlage, D.W.; Ahmari, D.A.; Fresina, M.T.; Martino, C.A.; Chang, W.-H.; Thomas, S.; Stillman, G.E.; Feng, M.;
By: Barlage, D.W.; Ahmari, D.A.; Fresina, M.T.; Martino, C.A.; Chang, W.-H.; Thomas, S.; Stillman, G.E.; Feng, M.;
1995 / IEEE / 0-7803-3062-5
By: Ahmari, D.A.; Hartmann, Q.J.; Fresina, M.A.; Feng, M.; Mares, P.J.; Jackson, S.L.; Stillman, G.E.; Stockman, S.A.; Thomas, S.;
By: Ahmari, D.A.; Hartmann, Q.J.; Fresina, M.A.; Feng, M.; Mares, P.J.; Jackson, S.L.; Stillman, G.E.; Stockman, S.A.; Thomas, S.;
1996 / IEEE
By: Forse, R.; Cardona, A.; Scharen, M.; Lithgow, R.; Remillard, S.; Feng, M.; Jianshi Wang; Heins, M.; Kruse, J.; Zhongmin Zhou; Gao, F.;
By: Forse, R.; Cardona, A.; Scharen, M.; Lithgow, R.; Remillard, S.; Feng, M.; Jianshi Wang; Heins, M.; Kruse, J.; Zhongmin Zhou; Gao, F.;
1996 / IEEE
By: Chian-Gauh Shih; Feng, M.; Chih-Chong Teng; Barlage, D.W.; Jianshi Wang; Wei-Heng Chang;
By: Chian-Gauh Shih; Feng, M.; Chih-Chong Teng; Barlage, D.W.; Jianshi Wang; Wei-Heng Chang;
1995 / IEEE / 0-7803-2966-X
By: Middleton, J.R.; Apostolakis, P.J.; Scherrer, D.R.; Feng, M.; Oliver, J.D., Jr.; Lauterwasser, B.D.; McPartlin, M.J.;
By: Middleton, J.R.; Apostolakis, P.J.; Scherrer, D.R.; Feng, M.; Oliver, J.D., Jr.; Lauterwasser, B.D.; McPartlin, M.J.;
1996 / IEEE / 0-7803-3393-4
By: Ahmari, D.A.; Thomas, S.; Hartmann, Q.J.; Fresina, M.T.; Stillman, G.E.; Feng, M.; Caruth, D.;
By: Ahmari, D.A.; Thomas, S.; Hartmann, Q.J.; Fresina, M.T.; Stillman, G.E.; Feng, M.; Caruth, D.;
1995 / IEEE / 0-7803-2475-7
By: Franke, S.J.; Peck, T.L.; Stocker, J.E.; Magin, R.L.; Feng, M.; Kruse, J.;
By: Franke, S.J.; Peck, T.L.; Stocker, J.E.; Magin, R.L.; Feng, M.; Kruse, J.;
1997 / IEEE / 0-7803-4063-9
By: Barlage, D.W.; Heins, M.S.; Feng, M.; Stillman, G.E.; Hartmann, Q.J.; Ahmari, D.A.; Fresina, M.T.;
By: Barlage, D.W.; Heins, M.S.; Feng, M.; Stillman, G.E.; Hartmann, Q.J.; Ahmari, D.A.; Fresina, M.T.;
1997 / IEEE / 0-7803-3898-7
By: Fresina, M.T.; Hartmann, Q.J.; Stillman, G.E.; Feng, M.; Yung, A.; Hwangbo, H.; Barlage, D.; Baker, J.E.; Stockman, S.A.; Ahmari, D.A.;
By: Fresina, M.T.; Hartmann, Q.J.; Stillman, G.E.; Feng, M.; Yung, A.; Hwangbo, H.; Barlage, D.; Baker, J.E.; Stockman, S.A.; Ahmari, D.A.;
1997 / IEEE / 0-7803-3814-6
By: Caruth, D.; Scherrer, D.; Shimon, R.; Feng, M.; Hsia, H.; Middleton, I.;
By: Caruth, D.; Scherrer, D.; Shimon, R.; Feng, M.; Hsia, H.; Middleton, I.;
1997 / IEEE / 0-7803-3814-6
By: Stillman, G.E.; Hartmann, Q.J.; Ahmari, D.A.; Fresina, M.T.; Barlage, D.W.; Heins, M.S.; Feng, M.;
By: Stillman, G.E.; Hartmann, Q.J.; Ahmari, D.A.; Fresina, M.T.; Barlage, D.W.; Heins, M.S.; Feng, M.;
1997 / IEEE
By: Fresina, M.T.; Ahmari, D.A.; Stillman, G.E.; Feng, M.; Barlage, D.W.; Hartmann, Q.J.;
By: Fresina, M.T.; Ahmari, D.A.; Stillman, G.E.; Feng, M.; Barlage, D.W.; Hartmann, Q.J.;
1998 / IEEE / 0-7503-0556-8
By: Heins, M.S.; Barlage, D.W.; Feng, M.; Stillman, G.E.; Hartman, Q.J.; Ahmari, D.A.; Fresina, M.T.; Mu, J.H.;
By: Heins, M.S.; Barlage, D.W.; Feng, M.; Stillman, G.E.; Hartman, Q.J.; Ahmari, D.A.; Fresina, M.T.; Mu, J.H.;
1998 / IEEE
By: Gunapala, S.; Feng, M.; Shun Lien Chuang; Yia-Chung Chang; Kwong-Chi Hseih; Apostolakis, P.; Malin, J.; Weich Fang; Sangsig Kim; Jandhyala, V.; Sengupta, D.; Stillman, G.; Bandara, S.; Michielssen, E.;
By: Gunapala, S.; Feng, M.; Shun Lien Chuang; Yia-Chung Chang; Kwong-Chi Hseih; Apostolakis, P.; Malin, J.; Weich Fang; Sangsig Kim; Jandhyala, V.; Sengupta, D.; Stillman, G.; Bandara, S.; Michielssen, E.;
1999 / IEEE
By: Hattendorf, M.L.; Hartmann, Q.J.; Raghavan, G.; Ahmari, D.A.; Stillman, G.E.; Feng, M.;
By: Hattendorf, M.L.; Hartmann, Q.J.; Raghavan, G.; Ahmari, D.A.; Stillman, G.E.; Feng, M.;
1999 / IEEE / 0-7803-5135-5
By: Stillman, G.E.; Hattendorf, M.; Yang, Q.; Scott, D.; Feng, M.; Mu, J.; Fendrich, J.A.; Juneja, T.; Heins, M.S.;
By: Stillman, G.E.; Hattendorf, M.; Yang, Q.; Scott, D.; Feng, M.; Mu, J.; Fendrich, J.A.; Juneja, T.; Heins, M.S.;
2000 / IEEE / 0-7803-5687-X
By: Feng, M.; Heins, M.S.; Shimon, R.L.; Caruth, D.C.; Hsia, H.; Huang, J.J.; Becher, D.; Shen, S.C.; Tang, Z.;
By: Feng, M.; Heins, M.S.; Shimon, R.L.; Caruth, D.C.; Hsia, H.; Huang, J.J.; Becher, D.; Shen, S.C.; Tang, Z.;
2000 / IEEE / 0-7803-5687-X
By: Hein, M.S.; Heins, M.S.; Feng, M.; Hattendorf, M.; Caruth, D.; Juneja, T.;
By: Hein, M.S.; Heins, M.S.; Feng, M.; Hattendorf, M.; Caruth, D.; Juneja, T.;
2001 / IEEE
By: Dupuis, R.D.; Feng, M.; Benarama, M.; Liliental-Weber, Z.; Kwon, H.K.; Lambert, D.J.H.; Ting Gang Zhu; Chowdhury, U.; Wong, M.M.; Jian Jang Huang; Shelton, B.S.;
By: Dupuis, R.D.; Feng, M.; Benarama, M.; Liliental-Weber, Z.; Kwon, H.K.; Lambert, D.J.H.; Ting Gang Zhu; Chowdhury, U.; Wong, M.M.; Jian Jang Huang; Shelton, B.S.;
2001 / IEEE
By: Kwon, H.K.; Zhu, T.G.; Chowdhury, U.; Wong, M.M.; Shelton, B.S.; Dupuis, R.D.; Feng, M.; Hattendorf, M.; Huang, J.J.; Lambert, D.J.H.;
By: Kwon, H.K.; Zhu, T.G.; Chowdhury, U.; Wong, M.M.; Shelton, B.S.; Dupuis, R.D.; Feng, M.; Hattendorf, M.; Huang, J.J.; Lambert, D.J.H.;