Your Search Results
Use materials by this author in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content such as case studies and journal articles for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!

Author: Dzurak, A.S.
Results
1996 / IEEE / 0-7803-3374-8
By: Clark, R.G.; Dzurak, A.S.; Kane, B.E.; Facer, G.R.; West, K.W.; Pfeiffer, L.N.; Lumpkin, N.E.;
By: Clark, R.G.; Dzurak, A.S.; Kane, B.E.; Facer, G.R.; West, K.W.; Pfeiffer, L.N.; Lumpkin, N.E.;
1996 / IEEE / 0-7803-3374-8
By: Miura, N.; Takamasu, T.; Brooks, J.S.; Lumpkin, N.E.; Engel, L.W.; Skougarevsky, A.; Starrett, R.P.; Clark, R.G.; Facer, G.R.; Dzurak, A.S.; Kane, B.E.; Dolotenko, M.I.; Tatsenko, O.M.; Fowler, C.M.; Rickel, D.G.; Goettee, J.D.; West, K.W.; Pfeiffer, L.; Yokoi, H.;
By: Miura, N.; Takamasu, T.; Brooks, J.S.; Lumpkin, N.E.; Engel, L.W.; Skougarevsky, A.; Starrett, R.P.; Clark, R.G.; Facer, G.R.; Dzurak, A.S.; Kane, B.E.; Dolotenko, M.I.; Tatsenko, O.M.; Fowler, C.M.; Rickel, D.G.; Goettee, J.D.; West, K.W.; Pfeiffer, L.; Yokoi, H.;
1998 / IEEE / 0-7803-4513-4
By: Facer, G.R.; Dzurak, A.S.; Kane, B.E.; Clark, R.G.; Lumpkin, N.E.; Pfeiffer, L.N.; West, K.W.; Reilly, D.J.;
By: Facer, G.R.; Dzurak, A.S.; Kane, B.E.; Clark, R.G.; Lumpkin, N.E.; Pfeiffer, L.N.; West, K.W.; Reilly, D.J.;
2000 / IEEE / 0-7803-5814-7
By: Ckark, R.G.; Dzurak, A.S.; Puzzer, T.; Lumpkin, N.E.; Aberle, A.G.; Vogl, B.; Gauja, E.; Wu, J.E.;
By: Ckark, R.G.; Dzurak, A.S.; Puzzer, T.; Lumpkin, N.E.; Aberle, A.G.; Vogl, B.; Gauja, E.; Wu, J.E.;
2001 / IEEE / 0-7803-7215-8
By: Brenner, R.; McKinnon, R.P.; Buehler, T.M.; Clark, R.G.; Curson, N.J.; Reilly, D.J.; Schofield, S.R.; Simmons, M.Y.; Hamilton, A.R.; O'Brien, J.L.; Dzurak, A.S.;
By: Brenner, R.; McKinnon, R.P.; Buehler, T.M.; Clark, R.G.; Curson, N.J.; Reilly, D.J.; Schofield, S.R.; Simmons, M.Y.; Hamilton, A.R.; O'Brien, J.L.; Dzurak, A.S.;
2004 / IEEE / 0-7803-8536-5
By: Clark, R.G.; Chan, V.; Greentree, A.D.; Lee, K.H.; Buehler, T.M.; Hamilton, A.R.; Dzurak, A.S.; Brenner, R.;
By: Clark, R.G.; Chan, V.; Greentree, A.D.; Lee, K.H.; Buehler, T.M.; Hamilton, A.R.; Dzurak, A.S.; Brenner, R.;
2006 / IEEE / 1-4244-0452-5
By: Gauja, E.; Prawer, S.; Hearne, S.M.; Rubanov, S.; Pakes, C.I.; Hopf, T.; Dzurak, A.S.; Yang, C.; Andresen, S.E.; Hudson, F.E.; Chan, V.; Jamieson, D.N.; Clark, R.G.;
By: Gauja, E.; Prawer, S.; Hearne, S.M.; Rubanov, S.; Pakes, C.I.; Hopf, T.; Dzurak, A.S.; Yang, C.; Andresen, S.E.; Hudson, F.E.; Chan, V.; Jamieson, D.N.; Clark, R.G.;
Development of a single ion detection system for the implantation of donors with nanoscale precision
2006 / IEEE / 1-4244-0452-5By: Clark, R.G.; Dzurak, A.S.; Gauja, E.; Andresen, S.E.; Hopf, T.; Jamieson, D.N.; Yang, C.; Tamanyan, G.;
2007 / IEEE / 978-1-4244-0922-8
By: Lim, W.H.; Ziebell, A.L.; Rosenfeld, A.B.; Dzurak, A.S.; Siegele, R.; Prokopovich, D.A.; Cornelius, I.; Reinhard, M.I.;
By: Lim, W.H.; Ziebell, A.L.; Rosenfeld, A.B.; Dzurak, A.S.; Siegele, R.; Prokopovich, D.A.; Cornelius, I.; Reinhard, M.I.;
2007 / IEEE / 978-1-4244-0922-8
By: Reinhard, M.I.; Cornelius, I.; Ziebell, A.L.; Lim, W.H.; Rosenfeld, A.B.; Dzurak, A.S.; Prokopovich, D.A.;
By: Reinhard, M.I.; Cornelius, I.; Ziebell, A.L.; Lim, W.H.; Rosenfeld, A.B.; Dzurak, A.S.; Prokopovich, D.A.;
2008 / IEEE
By: Gauja, E.; Hearne, S.M.; Jamieson, D.N.; Hopf, C.Y.T.; Andresen, S.E.; Dzurak, A.S.;
By: Gauja, E.; Hearne, S.M.; Jamieson, D.N.; Hopf, C.Y.T.; Andresen, S.E.; Dzurak, A.S.;
2008 / IEEE
By: Dzurak, A.S.; Siegele, R.; Prokopovich, D.A.; Cornelius, I.; Rosenfeld, A.B.; Lim, W.H.; Ziebell, A.L.; Reinhard, M.I.;
By: Dzurak, A.S.; Siegele, R.; Prokopovich, D.A.; Cornelius, I.; Rosenfeld, A.B.; Lim, W.H.; Ziebell, A.L.; Reinhard, M.I.;
2008 / IEEE
By: Reinhard, M.I.; Guatelli, S.; Rosenfeld, A.B.; Zaider, M.; Dzurak, A.S.; Prokopovich, D.A.; Mascialino, B.;
By: Reinhard, M.I.; Guatelli, S.; Rosenfeld, A.B.; Zaider, M.; Dzurak, A.S.; Prokopovich, D.A.; Mascialino, B.;
2008 / IEEE / 978-1-4244-2714-7
By: Lim, W.H.; Lai, N.S.; Dzurak, A.S.; Rosenfeld, A.B.; Reinhard, M.I.; Ziebell, A.L.;
By: Lim, W.H.; Lai, N.S.; Dzurak, A.S.; Rosenfeld, A.B.; Reinhard, M.I.; Ziebell, A.L.;
2008 / IEEE / 978-1-4244-2714-7
By: Prokopovich, D.A.; Reinhard, M. I.; Lai, N.S.; Lim, W.H.; Siegele, R.; Ziebell, A.L.; Rosenfeld, A.B; Dzurak, A.S.;
By: Prokopovich, D.A.; Reinhard, M. I.; Lai, N.S.; Lim, W.H.; Siegele, R.; Ziebell, A.L.; Rosenfeld, A.B; Dzurak, A.S.;
2009 / IEEE
By: Reinhard, M.I.; Cornelius, I.; Ziebell, A.L.; Lim, W.H.; Rosenfeld, A.B.; Dzurak, A.S.; Prokopovich, D.A.;
By: Reinhard, M.I.; Cornelius, I.; Ziebell, A.L.; Lim, W.H.; Rosenfeld, A.B.; Dzurak, A.S.; Prokopovich, D.A.;
2009 / IEEE
By: Ziebell, A.L.; Wee Han Lim; Nai Shyan Lai; Dzurak, A.S.; Rosenfeld, A.B.; Reinhard, M.I.;
By: Ziebell, A.L.; Wee Han Lim; Nai Shyan Lai; Dzurak, A.S.; Rosenfeld, A.B.; Reinhard, M.I.;
2009 / IEEE / 978-981-08-3694-8
By: Lai, N.S.; Dzurak, A.S.; Jamieson, D.N.; Morello, A.; Alves, A.; Gauja, E.; Hudson, F.E.; Yang, C.; Van Donkelaar, J.A.;
By: Lai, N.S.; Dzurak, A.S.; Jamieson, D.N.; Morello, A.; Alves, A.; Gauja, E.; Hudson, F.E.; Yang, C.; Van Donkelaar, J.A.;