Author: Doria, A.

2011 / IEEE / 978-1-4577-0509-0
By: Seracini, M.; More, A.C.; Spassovsky, I.; Messina, G.; Giovenale, E.; Doria, A.; Gallerano, G.P.;

2011 / IEEE / 978-1-4577-0509-0
By: Gallerano, G.P.; Doria, A.; Spassovsky, I.; Messina, G.; Giovenale, E.;

2012 / IEEE / 978-1-4673-1233-2
By: Doria, A.; Carracciuolo, L.; Bottalico, D.; Boccia, V.; Barone, G.B.; Laccetti, G.;

2014 / IEEE
By: Sabia, E.; Doria, A.; Di Palma, E.; Dattoli, G.; Tuccillo, A.; Ceccuzzi, S.; Spassovsky, I.;

1991 / IEEE
By: Raimondi, P.; Kimmitt, M.F.; Gallerano, G.P.; Doria, A.; Dipace, A.; Sabia, E.; Renieri, A.;

1991 / IEEE / 0-7803-0132-3
By: Doria, A.; Monari, M.; Gnesotto, F.;

1993 / IEEE
By: Bartolini, R.; Doria, A.; Pantell, R.H.; Gallerano, G.P.; Feinstein, J.;

1995 / IEEE / 0-7803-2934-1
By: Bulfone, D.; Cargnello, F.; Cutolo, A.; Cevenini, F.; Tazzioli, F.; Tazzari, S.; Patteri, P.; Castellano, M.; Torre, A.; Segreto, A.; Sabia, E.; Renieri, A.; Ottaviani, P.L.; Mezi, L.; Giovenale, E.; Giannessi, L.; Garosi, F.; Gallerano, G.P.; Doria, A.; Dipace, A.; De Angelis, A.; Dattoli, G.; Ciocci, F.; Zangrando, D.; Wrulich, A.; Walker, R.P.; D'Auria, G.; Daclon, F.; Ferianis, M.; Giannini, M.; Margaritondo, G.; Massarotti, A.; Rindi, A.; Rosei, R.; Rubbia, C.; Visintini, R.;

1997 / IEEE / 0-7803-3987-8
By: Worster, T.; Doria, A.;

1994 / IEEE / 0-7803-1789-0
By: Giovenale, E.; Gallerano, G.P.; Doria, A.;

1989 / IEEE
By: Torre, A.; Sabia, E.; Renieri, A.; Gallerano, G.P.; Giannessi, L.; Doria, A.; Dipace, A.; De Angelis, A.; Dattoli, G.; Ciocci, F.; Jaroszynski, D.A.;

1989 / IEEE
By: Kimmitt, M.F.; Torre, A.; Sabia, E.; Renieri, A.; Gallerano, G.P.; Doria, A.; Dipace, A.; De Angelis, A.; Dattoli, G.; Ciocci, F.; Walsh, J.E.;

1989 / IEEE
By: Kimmitt, M.F.; Renieri, A.; Doria, A.; Gallerano, G.P.; Xu, Y.; Price, E.; Marshall, E.; Jackson, J.; Fisch, E.; Walsh, J.;

2001 / IEEE
By: Latour-Henner, A.; Lundberg, T.; Jiang, Y.; Bjorkman, N.; Doria, A.;

2001 / IEEE / 0-7803-7191-7
By: Steininger, R.; Rossmanith, R.; Pellegrin, E.; Hesch, K.; Moser, H.O.; Ottaviani, P.L.; Saile, V.; Giannessi, L.; Gallerano, G.P.; Doria, A.; Dattoli, G.; Wust, J.;

2002 / IEEE / 4-88552-184-X
By: Olsson, D.; Doria, A.; Yong Jiang; Pettersson, F.;

2003 / IEEE / 0-7803-7738-9
By: Alesini, D.; Bertolucei, S.; Biagini, M.E.; Biscari, C.; Boni, R.; Boscolo, M.; Castellano, M.; Clozza, A.; Di Pirro, G.; Drago, A.; Esposito, A.; Ferrario, M.; Fusco, V.; Gallo, A.; Ghigo, A.; Guiducci, S.; Incurvati, M.; Ligi, C.; Marcellini, F.; Migliorati, M.; Milardi, C.; Palunibo, L.; Pellegrino, L.; Preger, M.; Raimondi, P.; Ricci, R.; Sanelli, C.; Serio, M.; Sgamma, F.; Spataro, B.; Steechi, A.; Stella, A.; Tazzioli, F.; Vaccarezza, C.; Vescovi, M.; Vicario, C.; Zobov, M.; Alessandria, F.; Bacci, A.; Boscolo, I.; Broggi, F.; Cialdi, S.; DeMartinis, C.; Giove, D.; Maroli, C.; Petrillo, V.; Rome, M.; Serafini, L.; Levi, D.; Mattioli, M.; Medici, G.; Catani, L.; Chiadroni, E.; Tazzari, S.; Bartolini, R.; Ciocci, F.; Dattoli, G.; Doria, A.; Fiora, F.; Gallerano, G.P.; Giannessi, L.; Giovenale, E.; Messina, G.; Mezi, L.; Ottaviani, P.L.; Picardi, L.; Quattromini, M.; Renieri, A.; Ronsivalle, C.; Cianchi, A.; D'Angelo, A.; Di Salvo, R.; Fantini, A.; Morieciani, D.; Schaerf, C.; Rosenzweig, J.B.;

2005 / IEEE / 0-7803-9348-1
By: D'Aquino, L.; Valente, F.; Spassovsky, I.; Germini, M.; Gallerano, G.P.; Messina, G.; Lai, A.; Giovenale, E.; Doria, A.;

2005 / IEEE / 0-7803-8859-3
By: Alesini, D.; Bertolucci, S.; Bellaveglia, M.; Biagini, M.E.; Boni, R.; Boscolo, M.; Castellano, M.; Clozza, A.; di Pirro, G.; Drago, A.; Esposito, A.; Ferrario, M.; Ficcadenti, L.; Filippetto, D.; Fusco, V.; Gallo, A.; Gatti, G.; Ghigo, A.; Guiducci, S.; Incurvati, M.; Ligi, C.; Marcellini, F.; Migliorati, M.; Mostacci, A.; Palumbo, L.; Pellegrino, L.; Preger, M.; Ricci, R.; Sanelli, C.; Serio, M.; Sgamma, F.; Spataro, B.; Stecchi, A.; Stella, A.; Tazzioli, F.; Vaccarezza, C.; Vescovi, M.; Vicario, C.; Alessandria, F.; Bacci, A.; Boscolo, I.; Broggi, F.; Cialdi, S.; DeMartinis, C.; Giove, D.; Maroli, C.; Mauri, M.; Petrillo, V.; Rome, M.; Serafini, L.; Levi, D.; Mattioli, M.; Medici, G.; Musumeci, P.; Pelliccia, D.; Petrarca, M.; Cianchi, A.; Catani, L.; Chiadroni, E.; Gabrielli, E.; Tazzari, S.; Ciocci, F.; Dattoli, G.; Dipace, A.; Doria, A.; Flora, F.; Gallerano, G.P.; Giannessi, L.; Giovenale, E.; Messina, G.; Ottaviani, P.L.; Pagnutti, S.; Parisi, G.; Picardi, L.; Quattromini, M.; Renieri, A.; Ronci, G.; Ronsivalle, C.; Rosetti, M.; Sabia, E.; Sassi, M.; Torre, A.; Zucchini, A.; de Silvestri, S.; Nisoli, M.; Stagira, S.; Rosenzweig, J.B.; Dowell, D.H.; Emma, P.; Limborg, C.; Palmer, D.;

2006 / IEEE / 1-4244-0399-5
By: Messina, G.; Lai, A.; Germini, M.; Giovenale, E.; Spassovsky, I.; Gallerano, G.P.; Doria, A.; d'Aquino, L.;

2007 / IEEE / 0-7695-2911-9
By: Beck, R.; Hinkel, K.; Maffei, A.; Seibert, M.; LeBrun, J.; Freudinger, L.; Small, C.; Groves, S.; Lambert, C.; Scotney, B.; Peoples, C.; Parr, G.; Bathrick, W.; Paulsen, P.; Ivancic, W.; Pleva, D.; Fed, J.; Uden, M.; Doria, A.; Durst, R.; Ellis, B.; Sheehan, G.; Bulger, R.; Torgerson, L.; Burleigh, S.; Smith, S.; Machida, R.; Garuba, M.; Jiang Li; Fall, K.; Eisner, W.; Norda, J.; Ngoc Hoang;

2007 / IEEE
By: Skubal, L.; Schneider, J.F.; Gopalsami, N.; Milton, S.V.; Lewellen, J.W.; Biedron, S.G.; Li Yuelin; Messina, G.; Giovenale, E.; Spassovsky, I.P.; Doria, A.; Gallerano, G.P.; Virgo, M.;

2007 / IEEE / 978-1-4244-0916-7
By: Vaccarezza, C.; Alesini, D.; Bellaveglia, M.; Bertolucci, S.; Boni, R.; Boscolo, M.; Castellano, M.; Clozza, A.; Cultrera, L.; Di Pirro, G.; Drago, A.; Esposito, A.; Ferrario, M.; Ficcadenti, L.; Filippetto, D.; Fusco, V.; Gallo, A.; Gatti, G.; Ghigo, A.; Ligi, C.; Marinelli, A.; Migliorati, M.; Mostacci, A.; Pace, E.; Palumbo, L.; Pellegrino, L.; Preger, M.; Ricci, R.; Sanelli, C.; Serio, M.; Sgamma, F.; Spataro, B.; Stella, A.; Tazzioli, F.; Vescovi, M.; Vicario, C.; Ciocci, F.; Dattoli, G.; Dipace, A.; Doria, A.; Flora, F.; Gallerano, G.P.; Giannessi, L.; Giovenale, E.; Messina, G.; Ottaviani, P.L.; Pagnutti, S.; Parisi, G.; Picardi, L.; Quattromini, M.; Renieri, A.; Ronci, G.; Ronsivalle, C.; Rosetti, M.; Sabia, E.; Sassi, M.; Torre, A.; Zucchini, A.; Mattioli, M.; Pelliccia, D.; Catani, L.; Chiadroni, E.; Cianchi, A.; Gabrielli, E.; Schaerf, C.; Musumeci, P.; Petrarca, M.; Alessandria, F.; Bacci, A.; Bonifacio, R.; Boscolo, I.; Broggi, F.; De Martinis, C.; Castelli, F.; Cialdi, S.; Giove, D.; Flacco, A.; Maroli, C.; Petrillo, V.; Rossi, A.R.; Serafini, L.; Perrone, A.; Labat, M.; Tcherbakoff, O.; Lambert, G.; Garzella, D.; Bougeard, M.; Breger, P.; Monchicourt, P.; Merdji, H.; Salieres, P.; Carre, B.; Couprie, M.E.; Emma, P.; Pellegrini, C.; Reiche, S.; Rosenzweig, J.;

2008 / IEEE / 978-1-4244-1702-5
By: Mazzaro, D.; Doria, A.; Cossaltcr, V.; Buja, G.; Bertoluzzo, M.;

2007 / IEEE / 978-1-4244-1438-3
By: Giovenale, E.; Gallerano, G.P.; Doria, A.; Spassovsky, I.; Messina, G.;

2008 / IEEE
By: Mazzaro, D.; Doria, A.; Cossalter, V.; Buja, G.; Bertoluzzo, M.;

2008 / IEEE / 978-1-4244-2119-0
By: Messina, G.; Gallerano, G.P.; Giovenale, E.; Giovine, E.; Doria, A.; Evangelisti, F.; Spassovsky, I.; Di Gaspare, A.; Ortolani, M.; Foglietti, V.; Peroni, M.; Lanzieri, C.; Cetronio, A.;

2009 / IEEE / 978-1-4244-3500-5
By: Doria, A.; Spassovsky, I.; Petralia, A.; Messina, G.; Giovenale, E.; Gallerano, G.P.;

2009 / IEEE / 978-1-4244-3500-5
By: Spassovsky, I.; Messina, G.; Giovenale, E.; Gallerano, G.P.; Doria, A.; Fukunaga, K.; Petralia, A.; Foglietti, V.; Ortolani, M.; Ramundo, A.; d'Aquino, L.; Gupta, L.;

2009 / IEEE / 978-1-4244-3961-4
By: Vilucchi, E.; Andreazza, A.; Zappi, R.; Vaccarossa, L.; Salomoni, D.; Rinaldi, L.; Resconi, S.; Rebatto, D.; Pistolese, M.; Perini, L.; Musto, E.; Merola, L.; Martini, A.; Martelli, B.; Magnoni, L.; Luminari, L.; Italiano, A.; Forti, A.; Ferrer, M.L.; Doria, A.; Di Girolamo, A.; De Salvo, A.; dell'Agnello, L.; Curatolo, M.; Corosu, M.; Ciocca, C.; Carlino, G.; Campana, S.; Brunengo, A.; Barberis, D.; Anzellotti, D.;

2010 / IEEE / 978-1-4244-6657-3
By: Petralia, A.; Messina, G.; Giovenale, E.; Gallerano, G.P.; Doria, A.; Bisceglia, B.; Spassovsky, I.;

2010 / IEEE / 978-1-4244-6657-3
By: Miceli, G.; Messina, G.; Doria, A.; Giovenale, E.; Gallerano, G.P.; Spassovsky, I.; Petralia, A.; Guarneri, E.; Vinci, L.M.; Surrenti, V.;

2010 / IEEE / 978-1-4244-6657-3
By: Petralia, A.; Gallerano, G.P.; Giovenale, E.; Doria, A.; Soldovieri, F.; Scarfi, M.R.; Crocco, L.; Catapano, I.;

2010 / IEEE / 978-1-4244-6657-3
By: Petralia, A.; Giovenale, E.; Doria, A.; Peroni, M.; Lanzieri, C.; Cetronio, A.; Scamarcio, G.; Vitiello, M.S.; Foglietti, V.; Evangelisti, F.; Torrioli, G.; Leoni, R.; Cibella, S.; Di Gaspare, A.; Giovine, E.; Ortolani, M.; Gallerano, G.P.;

2010 / IEEE / 978-1-4244-6657-3
By: Peroni, M.; Lanzieri, C.; Dominijanni, D.; Cetronio, A.; Evangelisti, F.; Foglietti, V.; Doria, A.; Ortolani, M.; Di Gaspare, A.; Giovine, E.; Gallerano, G.P.; Spassovsky, I.; Giovenale, E.;