Your Search Results
Use materials by this author in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content such as case studies and journal articles for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!

Author: Dohler, G.H.
Results
1993 / IEEE
By: Linder, N.; Dankowski, S.; Kneissl, M.; Kiesel, P.; Knupfer, B.; Dohler, G.H.; Weimann, G.;
By: Linder, N.; Dankowski, S.; Kneissl, M.; Kiesel, P.; Knupfer, B.; Dohler, G.H.; Weimann, G.;
1995 / IEEE
By: Kneissl, M.; Kiesel, P.; Linder, N.; Trankle, G.; Dohler, G.H.; Quassowski, S.; Knupfer, B.;
By: Kneissl, M.; Kiesel, P.; Linder, N.; Trankle, G.; Dohler, G.H.; Quassowski, S.; Knupfer, B.;
1997 / IEEE
By: Kiesel, P.; Hilburger, U.; Welker, M.; Dankowski, S.U.; Kneissl, M.; Muller, N.; Knupfer, B.; Dohler, G.H.;
By: Kiesel, P.; Hilburger, U.; Welker, M.; Dankowski, S.U.; Kneissl, M.; Muller, N.; Knupfer, B.; Dohler, G.H.;
1997 / IEEE / 0-7803-4125-2
By: Dankowski, S.U.; Dohler, G.H.; Keil, U.D.; Seichter, H.; Hilburger, U.; Streb, D.; Ruff, M.; Tautz, S.; Kiesel, P.;
By: Dankowski, S.U.; Dohler, G.H.; Keil, U.D.; Seichter, H.; Hilburger, U.; Streb, D.; Ruff, M.; Tautz, S.; Kiesel, P.;
1997 / IEEE / 0-7803-4125-2
By: Schmiedel, G.; Kiesel, P.; Dohler, G.H.; Moser, M.; GuIden, K.H.; Greger, E.; Kippenberg, T.;
By: Schmiedel, G.; Kiesel, P.; Dohler, G.H.; Moser, M.; GuIden, K.H.; Greger, E.; Kippenberg, T.;
1997 / IEEE / 0-7803-3895-2
By: Dohler, G.H.; Seilmaier, A.; Hauenstein, H.; Welker, M.; Knupfer, B.; Streb, D.; Malzer, S.; Kiesel, P.;
By: Dohler, G.H.; Seilmaier, A.; Hauenstein, H.; Welker, M.; Knupfer, B.; Streb, D.; Malzer, S.; Kiesel, P.;
1994 / IEEE / 0-7803-1789-0
By: ankowski, S.U.; Kiesel, P.; Dohler, G.H.; Riel, P.; Kneissl, M.; Quassowski, S.; Knupfer, B.; Linder, N.;
By: ankowski, S.U.; Kiesel, P.; Dohler, G.H.; Riel, P.; Kneissl, M.; Quassowski, S.; Knupfer, B.; Linder, N.;
1994 / IEEE / 0-7803-1789-0
By: Keil, U.D.; Kiesel, P.; Kneissl, M.; Knupfer, B.; Kopf, R.F.; Dohler, G.H.; Dykaar, D.R.; Dankowski, S.U.;
By: Keil, U.D.; Kiesel, P.; Kneissl, M.; Knupfer, B.; Kopf, R.F.; Dohler, G.H.; Dykaar, D.R.; Dankowski, S.U.;
1997 / IEEE / 0-7803-3895-2
By: Dohler, G.H.; Malzer, S.; Knupfer, B.; Welker, M.; Riel, P.; Moser, M.; Gulden, K.H.;
By: Dohler, G.H.; Malzer, S.; Knupfer, B.; Welker, M.; Riel, P.; Moser, M.; Gulden, K.H.;
1998 / IEEE / 1-55752-339-0
By: Keil, U.D.; Seichter, H.; Kiesel, P.; Dankowski, S.U.; Krause, M.; Tautz, S.; Dohler, G.H.;
By: Keil, U.D.; Seichter, H.; Kiesel, P.; Dankowski, S.U.; Krause, M.; Tautz, S.; Dohler, G.H.;
1998 / IEEE / 1-55752-339-0
By: Moser, M.; Greger, E.; Krauss, J.; Kippenberg, T.; Kiesel, P.; Dohler, G.H.;
By: Moser, M.; Greger, E.; Krauss, J.; Kippenberg, T.; Kiesel, P.; Dohler, G.H.;
1998 / IEEE / 0-7803-4233X
By: Fix, W.; Oehler, C.; Knupfer, B.; Geibelbrecht, W.; Dohler, G.H.; Velling, P.; Prost, W.; Tegude, F.-J.;
By: Fix, W.; Oehler, C.; Knupfer, B.; Geibelbrecht, W.; Dohler, G.H.; Velling, P.; Prost, W.; Tegude, F.-J.;
1998 / IEEE / 0-7803-4233X
By: Welker, M.; Knupfer, B.; Oehler, C.; Geibelbrecht, W.; Dohler, G.H.; Jung, C.; Ebeling, K.-J.; Wiedenmann, D.;
By: Welker, M.; Knupfer, B.; Oehler, C.; Geibelbrecht, W.; Dohler, G.H.; Jung, C.; Ebeling, K.-J.; Wiedenmann, D.;
1997 / IEEE / 4-88552-187-4
By: Dankowski, S.U.; Krause, M.; Dohler, G.H.; Seichter, H.; Keil, U.D.; Tautz, S.; Kiesel, P.;
By: Dankowski, S.U.; Krause, M.; Dohler, G.H.; Seichter, H.; Keil, U.D.; Tautz, S.; Kiesel, P.;
1998 / IEEE / 0-7803-4774-9
By: Heremans, P.; Windisch, R.; Borghs, G.; Dohler, G.H.; Dutta, B.; Knobloch, A.; Potemans, J.;
By: Heremans, P.; Windisch, R.; Borghs, G.; Dohler, G.H.; Dutta, B.; Knobloch, A.; Potemans, J.;
1999 / IEEE
By: Kippenberg, T.; Dohler, G.H.; Moser, M.; Greger, E.; Kiesel, P.; Spieler, J.; Krauss, J.;
By: Kippenberg, T.; Dohler, G.H.; Moser, M.; Greger, E.; Kiesel, P.; Spieler, J.; Krauss, J.;
1999 / IEEE
By: Borghs, G.; Dohler, G.H.; Dutta, B.; Potemans, J.; Knobloch, A.; Windisch, R.H.; Heremans, P.L.;
By: Borghs, G.; Dohler, G.H.; Dutta, B.; Potemans, J.; Knobloch, A.; Windisch, R.H.; Heremans, P.L.;
1999 / IEEE / 1-55752-595-1
By: Velling, P.; Dohler, G.H.; Kiesel, P.; Geisselbrecht, W.; Prost, W.; Fix, W.; Welker, M.; Tegude, F.-J.;
By: Velling, P.; Dohler, G.H.; Kiesel, P.; Geisselbrecht, W.; Prost, W.; Fix, W.; Welker, M.; Tegude, F.-J.;
2000 / IEEE
By: Knobloch, A.; Kuijk, M.; Dutta, B.; Windisch, R.; Heremans, P.; Meinlschmidt, S.; Dohler, G.H.; Borghs, G.; Kiesel, P.; Schoberth, S.;
By: Knobloch, A.; Kuijk, M.; Dutta, B.; Windisch, R.; Heremans, P.; Meinlschmidt, S.; Dohler, G.H.; Borghs, G.; Kiesel, P.; Schoberth, S.;
1996 / IEEE / 1-55752-443-2
By: Kiesel, P.; Dohler, G.H.; Moser, M.; Gulden, K.H.; Greger, E.; Schmiedel, G.;
By: Kiesel, P.; Dohler, G.H.; Moser, M.; Gulden, K.H.; Greger, E.; Schmiedel, G.;
2000 / IEEE
By: Heremans, P.; Dohler, G.H.; Borghs, G.; Kiesel, P.; Windisch, R.; Dutta, B.; Rooman, C.; Kuijk, M.; Knobloch, A.;
By: Heremans, P.; Dohler, G.H.; Borghs, G.; Kiesel, P.; Windisch, R.; Dutta, B.; Rooman, C.; Kuijk, M.; Knobloch, A.;
2000 / IEEE / 0-7803-5814-7
By: Malzer, S.; Steen, C.; Kramer, S.; Pfeiffer, K.-F.; Tautz, S.; Kiesel, P.; Dohler, G.H.;
By: Malzer, S.; Steen, C.; Kramer, S.; Pfeiffer, K.-F.; Tautz, S.; Kiesel, P.; Dohler, G.H.;
2002 / IEEE
By: Dutta, B.; Rooman, C.; Windisch, R.; Heremans, P.; Dohler, G.H.; Borghs, G.; Knobloch, A.;
By: Dutta, B.; Rooman, C.; Windisch, R.; Heremans, P.; Dohler, G.H.; Borghs, G.; Knobloch, A.;
2002 / IEEE / 0-7803-7320-0
By: Kiesel, P.; Blache, R.; Spieler, J.; Neumann, S.; Tegude, F.-J.; Dohler, G.H.; Prost, W.;
By: Kiesel, P.; Blache, R.; Spieler, J.; Neumann, S.; Tegude, F.-J.; Dohler, G.H.; Prost, W.;
2002 / IEEE / 0-7803-7630-7
By: Gossard, A.C.; Hanson, M.; Driscoll, D.; Dohler, G.H.; Malzer, S.; Kiesel, P.; Eckardt, M.; Pohl, P.; Friedrich, A.; Robledo, L.; Renner, F.; Schwanhausser, A.;
By: Gossard, A.C.; Hanson, M.; Driscoll, D.; Dohler, G.H.; Malzer, S.; Kiesel, P.; Eckardt, M.; Pohl, P.; Friedrich, A.; Robledo, L.; Renner, F.; Schwanhausser, A.;
2002 / IEEE / 0-7803-7571-8
By: Kiesel, P.; Eckardt, M.; Dohler, G.H.; Gossard, A.C.; Hanson, M.; Driscoll, D.; Schwanhauber, A.; Malzer, S.; Pohl, P.; Friedrich, A.; Robledo, L.; Renner, F.;
By: Kiesel, P.; Eckardt, M.; Dohler, G.H.; Gossard, A.C.; Hanson, M.; Driscoll, D.; Schwanhauber, A.; Malzer, S.; Pohl, P.; Friedrich, A.; Robledo, L.; Renner, F.;
2002 / IEEE / 0-7803-7418-5
By: Schmidt, R.; Dohler, G.H.; Renner, F.; Johnson, N.M.; Van de Walle, C.G.; Kneissl, M.; Kiesel, P.;
By: Schmidt, R.; Dohler, G.H.; Renner, F.; Johnson, N.M.; Van de Walle, C.G.; Kneissl, M.; Kiesel, P.;
2002 / IEEE / 0-7803-7418-5
By: Friedrich, A.; Kiesel, P.; Dohler, G.H.; Pohl, P.; Renner, F.; Robledo, L.; Schwanhausser, A.; Eckardt, M.;
By: Friedrich, A.; Kiesel, P.; Dohler, G.H.; Pohl, P.; Renner, F.; Robledo, L.; Schwanhausser, A.; Eckardt, M.;
2003 / IEEE / 0-7803-7824-5
By: Gossard, A.C.; Kiesel, P.; Hanson, M.; Driscoll, D.; Pohl, P.; Dohler, G.H.; Renner, F.; Schwanhausser, A.; Eckardt, M.; Malzer, S.; Friedrich, A.;
By: Gossard, A.C.; Kiesel, P.; Hanson, M.; Driscoll, D.; Pohl, P.; Dohler, G.H.; Renner, F.; Schwanhausser, A.; Eckardt, M.; Malzer, S.; Friedrich, A.;
2004 / IEEE / 0-7803-8490-3
By: Krozer, V.; Gossard, A.C.; Hansen, M.; Driscoll, D.; Dohler, G.H.; Schwanhausser, A.; Loata, G.; Eckardt, M.; Klar, O.; Renner, F.H.; Roskos, H.G.; Loffler, T.;
By: Krozer, V.; Gossard, A.C.; Hansen, M.; Driscoll, D.; Dohler, G.H.; Schwanhausser, A.; Loata, G.; Eckardt, M.; Klar, O.; Renner, F.H.; Roskos, H.G.; Loffler, T.;
1999 / IEEE / 2-86332-245-1
By: Knobloch, A.; Windisch, R.; Dohler, G.H.; Kiesel, P.; Heremans, P.; Borghs, G.; Kuijk, M.; Dutta, B.;
By: Knobloch, A.; Windisch, R.; Dohler, G.H.; Kiesel, P.; Heremans, P.; Borghs, G.; Kuijk, M.; Dutta, B.;
1999 / IEEE / 2-86332-245-1
By: Kiesel, P.; Knobloch, A.; Heremans, P.; Borghs, G.; Dutta, B.; Windisch, R.; Dohler, G.H.;
By: Kiesel, P.; Knobloch, A.; Heremans, P.; Borghs, G.; Dutta, B.; Windisch, R.; Dohler, G.H.;
2007 / IEEE / 978-1-4244-0930-3
By: Gossard, A.C.; Malzer, S.; Wilkinson, T.L.J.; Hanson, M.; Brown, E.R.; Preu, S.; Wang, L.J.; Renner, F.; Dohler, G.H.;
By: Gossard, A.C.; Malzer, S.; Wilkinson, T.L.J.; Hanson, M.; Brown, E.R.; Preu, S.; Wang, L.J.; Renner, F.; Dohler, G.H.;
2007 / IEEE / 978-1-4244-1438-3
By: Renner, F.H.; Preu, S.; Brown, E.R.; Wilkinson, T.L.J.; Malzer, S.; Gossard, A.C.; Hanson, M.; Wang, L.J.; Dohler, G.H.;
By: Renner, F.H.; Preu, S.; Brown, E.R.; Wilkinson, T.L.J.; Malzer, S.; Gossard, A.C.; Hanson, M.; Wang, L.J.; Dohler, G.H.;
2008 / IEEE / 978-1-55752-859-9
By: Preu, S.; Wang, L.J.; Dohler, G.H.; Gossard, A.C.; Malzer, S.; Zimmerman, J.D.; Hanson, M.;
By: Preu, S.; Wang, L.J.; Dohler, G.H.; Gossard, A.C.; Malzer, S.; Zimmerman, J.D.; Hanson, M.;
2009 / IEEE / 978-1-4244-3848-8
By: Dohler, G.H.; Malzer, S.; Preu, S.; Gossard, A.C.; Hong Lu; Lijun Wang;
By: Dohler, G.H.; Malzer, S.; Preu, S.; Gossard, A.C.; Hong Lu; Lijun Wang;
2009 / IEEE / 978-1-4244-3848-8
By: Bauerschmidt, S.; Gossard, A.C.; Hong Lu; Lijun Wang; Dohler, G.H.; Malzer, S.; Preu, S.;
By: Bauerschmidt, S.; Gossard, A.C.; Hong Lu; Lijun Wang; Dohler, G.H.; Malzer, S.; Preu, S.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-0532-8
By: Sedlmeir, F.; Leuchs, G.; Dohler, G.H.; Malzer, S.; Preu, S.; Bauerschmidt, S.; Strekalov, D.V.; Schwefel, H.G.L.;
By: Sedlmeir, F.; Leuchs, G.; Dohler, G.H.; Malzer, S.; Preu, S.; Bauerschmidt, S.; Strekalov, D.V.; Schwefel, H.G.L.;
2011 / IEEE
By: Andres-Garcia, B.; Segovia-Vargas, D.; Lijun Wang; Dohler, G.H.; Malzer, S.; Preu, S.; Bauerschmidt, S.; Garcia-Munoz, E.;
By: Andres-Garcia, B.; Segovia-Vargas, D.; Lijun Wang; Dohler, G.H.; Malzer, S.; Preu, S.; Bauerschmidt, S.; Garcia-Munoz, E.;