Your Search Results
Use materials by this author in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content such as case studies and journal articles for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!

Author: Dagenais, M.
Results
2011 / IEEE / 978-1-4244-8939-8
By: Kwangsik Choi; Yesilkoy, F.; Dagenais, M.; Peckerar, M.; Mittal, S.;
By: Kwangsik Choi; Yesilkoy, F.; Dagenais, M.; Peckerar, M.; Mittal, S.;
1993 / IEEE / 0-7803-1263-5
By: Shijun Jiang; Pan, G.Z.; Guth, G.D.; Focht, M.W.; Dagenais, M.; Leibenguth, R.E.; Asom, M.T.; Kojima, K.; Morgan, R.A.;
By: Shijun Jiang; Pan, G.Z.; Guth, G.D.; Focht, M.W.; Dagenais, M.; Leibenguth, R.E.; Asom, M.T.; Kojima, K.; Morgan, R.A.;
1995 / IEEE / 0-7803-2450-1
By: Vusirikala, V.; Gopalan, B.; Kareenahalli, S.; Dagenais, M.; Wood, C.E.C.; Stone, D.;
By: Vusirikala, V.; Gopalan, B.; Kareenahalli, S.; Dagenais, M.; Wood, C.E.C.; Stone, D.;
1996 / IEEE
By: Chen, Y.-J.; Hady, F.; Burns, D.; Minnich, R.; Hoffmeister, D.C.; Dagenais, M.; Perreault, J.; Dowd, P.; Chu, J.; Stone, D.;
By: Chen, Y.-J.; Hady, F.; Burns, D.; Minnich, R.; Hoffmeister, D.C.; Dagenais, M.; Perreault, J.; Dowd, P.; Chu, J.; Stone, D.;
1996 / IEEE
By: Merritt, S.A.; Kareenahalli, S.; Gopalan, B.P.; Vusirikala, V.; Stone, D.; Wood, C.E.C.; Dagenais, M.;
By: Merritt, S.A.; Kareenahalli, S.; Gopalan, B.P.; Vusirikala, V.; Stone, D.; Wood, C.E.C.; Dagenais, M.;
1997 / IEEE
By: Stone, D.R.; Wilson, R.A.; Dagenais, M.; King, O.; Johnson, F.G.; Agarwala, S.; Tabatabaei, S.A.; Merritt, S.A.; Chen, Y.J.; Porkolab, G.A.;
By: Stone, D.R.; Wilson, R.A.; Dagenais, M.; King, O.; Johnson, F.G.; Agarwala, S.; Tabatabaei, S.A.; Merritt, S.A.; Chen, Y.J.; Porkolab, G.A.;
1994 / IEEE / 0-7803-1470-0
By: Heim, P.; Merritt, S.; Lu, C.C.; Yeh, P.S.; Cho, S.H.; Wood, C.E.C.; Dagenais, M.; Fox, S.; Dauga, C.;
By: Heim, P.; Merritt, S.; Lu, C.C.; Yeh, P.S.; Cho, S.H.; Wood, C.E.C.; Dagenais, M.; Fox, S.; Dauga, C.;
1997 / IEEE / 0-7803-4125-2
By: Cho, S.H.; Dagenais, M.; Stone, D.; Johnson, F.G.; Song, J.H.; Vusirikala, V.; Nam, K.; Hovinen, M.; Lu, C.C.;
By: Cho, S.H.; Dagenais, M.; Stone, D.; Johnson, F.G.; Song, J.H.; Vusirikala, V.; Nam, K.; Hovinen, M.; Lu, C.C.;
1997 / IEEE / 0-7803-4125-2
By: Nam, K.; Heim, P.; Fan, Z.F.; Johnson, F.G.; Dagenais, M.; Cho, S.H.;
By: Nam, K.; Heim, P.; Fan, Z.F.; Johnson, F.G.; Dagenais, M.; Cho, S.H.;
1997 / IEEE / 0-7803-4125-2
By: Dagenais, M.; Chen, Y.J.; Wenhua Lin; Yen-Ping Ho; Hryniewicz, J.V.; Stone, D.R.; Tabatabaei, S.A.; Towner, F.J.; Liu, Y.C.; Johnson, F.G.; Shih-Hsiang Hsu; Agarwala, S.;
By: Dagenais, M.; Chen, Y.J.; Wenhua Lin; Yen-Ping Ho; Hryniewicz, J.V.; Stone, D.R.; Tabatabaei, S.A.; Towner, F.J.; Liu, Y.C.; Johnson, F.G.; Shih-Hsiang Hsu; Agarwala, S.;
1997 / IEEE
By: Hovinen, M.; Lu, C.C.; Cho, S.H.; Dagenais, M.; Nam, K.; Stone, D.; Johnson, F.G.; Song, J.H.; Vusirikala, V.;
By: Hovinen, M.; Lu, C.C.; Cho, S.H.; Dagenais, M.; Nam, K.; Stone, D.; Johnson, F.G.; Song, J.H.; Vusirikala, V.;
1997 / IEEE / 0-7803-3857-X
By: Dagenais, M.; Vusirikala, V.; Seiferth, F.; Merritt, S.A.; Stone, D.R.; Chen, Y.J.;
By: Dagenais, M.; Vusirikala, V.; Seiferth, F.; Merritt, S.A.; Stone, D.R.; Chen, Y.J.;
1997 / IEEE / 0-7803-3891-X
By: Springthorpe, A.; Stone, D.; Chen, Y.J.; Dagenais, M.; Copeland, D.J.; Didde, S.; Merritt, S.A.; Tabatabaei, S.B.;
By: Springthorpe, A.; Stone, D.; Chen, Y.J.; Dagenais, M.; Copeland, D.J.; Didde, S.; Merritt, S.A.; Tabatabaei, S.B.;
1997 / IEEE
By: Seiferth, F.; Stone, D.R.; Dagenais, M.; Chen, Y.J.; Johnson, F.G.; Fox, S.; Merritt, S.A.; Whaley, R.D.;
By: Seiferth, F.; Stone, D.R.; Dagenais, M.; Chen, Y.J.; Johnson, F.G.; Fox, S.; Merritt, S.A.; Whaley, R.D.;
1997 / IEEE / 0-7803-3895-2
By: Dagenais, M.; Chen, Y.J.; Fox, S.; Whaley, R.D.; Stone, D.R.; Merritt, S.A.; Johnson, F.G.; Seiferth, F.;
By: Dagenais, M.; Chen, Y.J.; Fox, S.; Whaley, R.D.; Stone, D.R.; Merritt, S.A.; Johnson, F.G.; Seiferth, F.;
1997 / IEEE / 0-7803-3895-2
By: Stone, D.; Euliss, G.; Tayag, T.J.; Dagenais, M.; Saini, S.; Kareenahalli, S.;
By: Stone, D.; Euliss, G.; Tayag, T.J.; Dagenais, M.; Saini, S.; Kareenahalli, S.;
1997 / IEEE
By: Bartolo, R.E.; Saini, S.S.; Vusirikala, V.; Stone, D.; Johnson, F.G.; Dagenais, M.; Agarwala, S.; Whaley, R.;
By: Bartolo, R.E.; Saini, S.S.; Vusirikala, V.; Stone, D.; Johnson, F.G.; Dagenais, M.; Agarwala, S.; Whaley, R.;
1997 / IEEE / 0-7803-3895-2
By: Johnson, F.G.; Dagenais, M.; Agrawala, S.; Whaley, R.; Stone, D.; Saini, S.S.; Bartolo, R.E.; Vusirikala, V.;
By: Johnson, F.G.; Dagenais, M.; Agrawala, S.; Whaley, R.; Stone, D.; Saini, S.S.; Bartolo, R.E.; Vusirikala, V.;
1998 / IEEE / 1-55752-521-8
By: Stone, D.; Dagenais, M.; Yung Jui Chen; Shan Zhong; Chau-Han Lee; Haifeng Li;
By: Stone, D.; Dagenais, M.; Yung Jui Chen; Shan Zhong; Chau-Han Lee; Haifeng Li;
1997 / IEEE
By: Saini, S.S.; Vusirikala, V.; Dagenais, M.; Stone, D.R.; Johnson, F.G.; Whaley, R.D.; Agarwala, S.; Bartolo, R.E.;
By: Saini, S.S.; Vusirikala, V.; Dagenais, M.; Stone, D.R.; Johnson, F.G.; Whaley, R.D.; Agarwala, S.; Bartolo, R.E.;
1998 / IEEE / 1-55752-339-0
By: Dagenais, M.; Song, J.H.; Cho, S.H.; Heim, P.J.S.; Johnson, F.G.; Fan, Z.F.; Sirkis, J.; Sivanesan, P.;
By: Dagenais, M.; Song, J.H.; Cho, S.H.; Heim, P.J.S.; Johnson, F.G.; Fan, Z.F.; Sirkis, J.; Sivanesan, P.;
1998 / IEEE / 1-55752-339-0
By: Dagenais, M.; Koley, B.; Whaley, R., Jr.; Johnson, F.; Pham, J.; Simonis, G.;
By: Dagenais, M.; Koley, B.; Whaley, R., Jr.; Johnson, F.; Pham, J.; Simonis, G.;
1998 / IEEE / 1-55752-339-0
By: Dagenais, M.; Stone, D.; Johnson, F.G.; Vusirikala, V.; Fox, S.; Cho, S.H.;
By: Dagenais, M.; Stone, D.; Johnson, F.G.; Vusirikala, V.; Fox, S.; Cho, S.H.;
1998 / IEEE
By: Heim, P.J.S.; Fan, Z.F.; Dagenais, M.; Stone, D.R.; Johnson, F.G.; Hu, Y.; Song, J.H.;
By: Heim, P.J.S.; Fan, Z.F.; Dagenais, M.; Stone, D.R.; Johnson, F.G.; Hu, Y.; Song, J.H.;
1998 / IEEE / 0-7803-4947-4
By: Hu, Y.; Song, J.H.; Fox, S.; Cho, S.H.; Dagenais, M.; Fan, Z.F.; Bugge, F.; Erbert, G.; Stone, D.; Johnson, F.G.;
By: Hu, Y.; Song, J.H.; Fox, S.; Cho, S.H.; Dagenais, M.; Fan, Z.F.; Bugge, F.; Erbert, G.; Stone, D.; Johnson, F.G.;
1998 / IEEE / 0-7803-4947-4
By: Koley, B.; Dagenais, M.; Simonis, G.; Johnson, F.G.; Whaley, R., Jr.; Wasiczko, L.;
By: Koley, B.; Dagenais, M.; Simonis, G.; Johnson, F.G.; Whaley, R., Jr.; Wasiczko, L.;
1998 / IEEE / 0-7803-4947-4
By: Stone, D.R.; Johnson, F.G.; Cho, S.H.; Hu, Y.; Dagenais, M.; Heim, P.J.S.; Fan, Z.F.; Song, J.H.;
By: Stone, D.R.; Johnson, F.G.; Cho, S.H.; Hu, Y.; Dagenais, M.; Heim, P.J.S.; Fan, Z.F.; Song, J.H.;
1999 / IEEE
By: Zhu, Y.; Ren, T.; Saini, S.S.; Bartolo, R.E.; Jonson, F.G.; Dagenais, M.; King, O.; Zhou, W.; Pamulapati, J.; Shen, H.;
By: Zhu, Y.; Ren, T.; Saini, S.S.; Bartolo, R.E.; Jonson, F.G.; Dagenais, M.; King, O.; Zhou, W.; Pamulapati, J.; Shen, H.;
1999 / IEEE
By: Dagenais, M.; Zhou, W.; Pamulapati, J.; Shen, H.; Saini, S.S.; Stone, D.; Johnson, F.G.; Bartolo, R.E.; Heim, P.J.S.;
By: Dagenais, M.; Zhou, W.; Pamulapati, J.; Shen, H.; Saini, S.S.; Stone, D.; Johnson, F.G.; Bartolo, R.E.; Heim, P.J.S.;
1999 / IEEE / 0-7695-0440-X
By: Simonis, G.J.; Dagenais, M.; Koley, B.; Shen, P.; Pamulapati, J.; Jiang Liu; Newman, P.; Amarnath, K.; Saini, S.S.; Lawler, W.; Datta, M.; Wasiczko, L.; Mait, J.; Prather, D.; Chang, W.; Pham, J.;
By: Simonis, G.J.; Dagenais, M.; Koley, B.; Shen, P.; Pamulapati, J.; Jiang Liu; Newman, P.; Amarnath, K.; Saini, S.S.; Lawler, W.; Datta, M.; Wasiczko, L.; Mait, J.; Prather, D.; Chang, W.; Pham, J.;
1999 / IEEE / 0-7695-0303-9
By: Lague, B.; Dagenais, M.; Merlo, E.; Balazinska, M.; Kontogiannis, K.;
By: Lague, B.; Dagenais, M.; Merlo, E.; Balazinska, M.; Kontogiannis, K.;
1999 / IEEE / 0-7695-0403-5
By: Merlo, E.; Balazinska, M.; Kontogiannis, K.; Lague, B.; Dagenais, M.;
By: Merlo, E.; Balazinska, M.; Kontogiannis, K.; Lague, B.; Dagenais, M.;
1999 / IEEE / 0-7803-5634-9
By: Koley, B.; Dagenais, M.; Johnson, F.; Grover, R.; King, O.; Saini, S.S.;
By: Koley, B.; Dagenais, M.; Johnson, F.; Grover, R.; King, O.; Saini, S.S.;
1999 / IEEE / 0-7803-5634-9
By: Grover, R.; Zhou, W.; Hu, Y.; Dilli, Z.; Saini, S.S.; Dagenais, M.; Pamulapati, J.; Shen, H.; Stone, D.R.; Johnson, F.G.;
By: Grover, R.; Zhou, W.; Hu, Y.; Dilli, Z.; Saini, S.S.; Dagenais, M.; Pamulapati, J.; Shen, H.; Stone, D.R.; Johnson, F.G.;
1999 / IEEE / 0-7803-5634-9
By: Johnson, F.; Dagenais, M.; Ren, T.; Bartolo, R.; Shen, H.; Zhu, Y.; Saini, S.; Zhou, W.; Pamulapati, J.;
By: Johnson, F.; Dagenais, M.; Ren, T.; Bartolo, R.; Shen, H.; Zhu, Y.; Saini, S.; Zhou, W.; Pamulapati, J.;
2000 / IEEE
By: Heim, P.J.S.; Cho, S.H.; Han, I.K.; Dagenais, M.; Woo, D.H.; Johnson, F.G.; Song, J.H.; Kim, S.H.;
By: Heim, P.J.S.; Cho, S.H.; Han, I.K.; Dagenais, M.; Woo, D.H.; Johnson, F.G.; Song, J.H.; Kim, S.H.;
1999 / IEEE / 1-55752-595-1
By: Zhou, W.; Pamulapati, J.; Shen, H.; Zhu, Y.; Dagenais, M.; King, O.; Ren, T.; Saini, S.S.; Bartolo, R.E.; Johnson, F.G.;
By: Zhou, W.; Pamulapati, J.; Shen, H.; Zhu, Y.; Dagenais, M.; King, O.; Ren, T.; Saini, S.S.; Bartolo, R.E.; Johnson, F.G.;
1999 / IEEE / 1-55752-595-1
By: Cho, P.S.; Hsiao-Yun Yu; Johnson, F.G.; Heim, P.; Mandelberg, H.; Goldhar, J.; Dagenais, M.; Stone, D.R.;
By: Cho, P.S.; Hsiao-Yun Yu; Johnson, F.G.; Heim, P.; Mandelberg, H.; Goldhar, J.; Dagenais, M.; Stone, D.R.;
2000 / IEEE
By: Han, I.K.; Cho, S.H.; Song, J.H.; Dagenais, M.; Hu, Y.; Stone, D.R.; Johnson, F.G.; Heim, P.J.S.;
By: Han, I.K.; Cho, S.H.; Song, J.H.; Dagenais, M.; Hu, Y.; Stone, D.R.; Johnson, F.G.; Heim, P.J.S.;
2000 / IEEE
By: Shaw, H.C.; Johnson, F.G.; Hu, Y.; Saini, S.S.; Dagenais, M.; Stone, D.R.; Ott, M.N.; Pamulapati, J.; Zhou, W.; Shen, H.;
By: Shaw, H.C.; Johnson, F.G.; Hu, Y.; Saini, S.S.; Dagenais, M.; Stone, D.R.; Ott, M.N.; Pamulapati, J.; Zhou, W.; Shen, H.;