Author: Cuneo, M.

2004 / IEEE / 978-5-87911-088-3
By: Olson, C.L.; Rochau, G.; Slutz, S.; Morrow, C.; Olson, R.; Parker, A.; Cuneo, M.; Hanson, D.; Bennett, G.; Sanford, T.; Bailey, J.; Stygar, W.; Vesey, R.; Mehlhorn, T.; Struve, K.; Mazarakis, M.; Savage, M.; Owen, A.; Pointon, T.; Kiefer, M.; Rosenthal, S.; Schneider, L.; Glover, S.; Reed, K.; Benevides, G.; Schroen, D.; Krych, W.; Farnum, C.; Modesto, M.; Oscar, D.; Chhabildas, L.; Boyes, J.; Vigil, V.; Keith, R.; Turgeon, M.; Smith, B.; Cipiti, B.; Lindgren, E.; Smith, D.; Peterson, K.; Dandini, V.; McDaniel, D.; Quintenz, J.; Matzen, M.; VanDevender, J.P.; Gauster, W.; Shephard, L.; Walck, M.; Renk, T.; Tanaka, T.; Ulrickson, M.; Peterson, P.; De Groot, J.; Jensen, N.; Peterson, R.; Pollock, G.; Ottinger, P.; Schumer, J.; Kammer, D.; Golovkin, I.; Kulcinski, G.; El-Guebaly, L.; Moses, G.; Mogahed, E.; Sviatoslavsky, I.; Sawan, M.; Anderson, M.; Gallix, R.; Alexander, N.; Rickman, W.; Tran, H.; Panchuk, P.; Meier, W.; Latkowski, J.; Moir, R.; Schmitt, R.; Abbot, R.; Abdou, M.; Ying, A.; Calderoni, P.; Morley, N.; Abdel-Khalik, S.; Welch, D.; Rose, D.; Szaroletta, W.; Curry, R.; McDonald, K.; Louie, D.; Dean, S.; Kim, A.; Nedoseev, S.; Grabovsky, E.; Kingsep, A.; Smirnov, V.;

2003 / IEEE
By: Sanguineti, M.; Pagnan, S.; Cuneo, M.; Cirimele, G.; Alessandri, A.;

2003 / IEEE / 0-7803-7924-1
By: Pagnan, S.; Cuneo, M.; Alessandri, A.; Sanguineti, M.;

2006 / IEEE / 1-4244-0125-9
By: Lau, Y.Y.; Tang, W.; Mehlhorn, T.A.; Cuneo, M.; Gilgenbach, R.M.; Strickler, T.; Garasi, C.; Gomez, M.; Zier, J.; Yu, E.;

2005 / IEEE / 0-7803-9300-7
By: Cuneo, M.; Starck, J.L.; Won, K.; Afeyan, B.; Stephens, R.; Bennet, G.;

2007 / IEEE / 978-1-4244-0915-0
By: Velikovich, A.; Safronova, A.; Kantsyrev, V.; Esaulov, A.; Struve, K.; Mehlhorn, T.; Cuneo, M.;

2007 / IEEE / 978-1-4244-0915-0
By: Le Galloudec, B.; Nalajala, V.; Batie, S.; Osborne, G.; Quart, N.; Yilmaz, F.; Shrestha, I.; Williamson, K.; Esaulov, A.; Safronova, A.; Rudakov, L.; Kantsyrev, V.; Astanovitsky, A.; Velikovich, A.; Chuvatin, A.; Coverdale, C.; Jones, B.; Cuneo, M.;

2007 / IEEE / 978-1-4244-0915-0
By: Mehlhorn, T.A.; Cuneo, M.; Garasi, C.; Yu, E.; Gomez, M.; Tang, W.; Zier, J.; Gilgenbach, R.M.; Lau, Y.Y.; Strickler, T.;

2008 / IEEE / 978-1-4244-1929-6
By: Jordan, N.; Cruz, E.; French, D.; Hoff, B.W.; Tang, W.; Zier, J.; Gomez, M.R.; Gilgenbach, R.M.; Sinebryukhov, V.A.; Kim, A.A.; Mehlhorn, T.A.; Oliver, B.V.; Johnston, M.D.; Cuneo, M.; Mazarakis, M.G.; Lau, Y.Y.;

2008 / IEEE
By: Soncin, G.; Gaggero, M.; Cuneo, M.; Cervellera, C.; Alessandri, A.;

2008 / IEEE / 978-1-4244-3123-6
By: Alessandri, A.; Gaggero, M.; Cuneo, M.; Cervellera, C.;

2009 / IEEE / 978-1-4244-3871-6
By: Punta, E.; Cuneo, M.; Alessandri, A.;

2010 / IEEE / 978-1-4244-5476-1
By: Giuliani, J.; Coleman, P.L.; Madden, R.; Elliott, K.W.; Krishnaru, M.; Coverdale, C.; Velikovich, A.; Ampleford, D.; Cuneo, M.; Waisman, E.; Jones, B.; Clark, R.; Thornhill, W.;

2010 / IEEE / 978-1-4244-5476-1
By: Bailey, J.; Mazarakis, M.; Lopez, M.; Cuneo, M.; Lau, Y.Y.; Patel, S.; Rochau, G.; Zier, J.C.; Gilgenbach, R.M.; Gomez, M.R.; French, D.M.; Lake, P.;

2010 / IEEE / 978-1-4244-5831-8
By: Punta, E.; Cuneo, M.; Alessandri, A.;