Your Search Results
Use materials by this author in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content such as case studies and journal articles for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!

Author: Couny, F.
Results
2004 / IEEE / 1-55752-777-6
By: Couny, F.; Bouwmans, G.; Benabid, F.; Russell, P.St.J.; Knight, J.C.;
By: Couny, F.; Bouwmans, G.; Benabid, F.; Russell, P.St.J.; Knight, J.C.;
2004 / IEEE / 1-55752-777-6
By: Mangan, B.J.; Couny, F.; Russell, P.St.J.; Knight, J.C.; Birks, T.A.; Sabert, H.; Brown, E.A.M.; Murphy, D.F.; Mason, M.W.; Banham, M.; Williams, D.P.; Roberts, P.J.; Langford, A.; Farr, L.;
By: Mangan, B.J.; Couny, F.; Russell, P.St.J.; Knight, J.C.; Birks, T.A.; Sabert, H.; Brown, E.A.M.; Murphy, D.F.; Mason, M.W.; Banham, M.; Williams, D.P.; Roberts, P.J.; Langford, A.; Farr, L.;
2004 / IEEE / 1-55752-772-5
By: Williams, D.P.; Couny, F.; Roberts, P.J.; Langford, A.; Farr, L.; Mangan, B.J.; Russell, P.St.J.; Knight, J.C.; Birks, T.A.; Sabert, H.; Flea, R.; Coupland, S.; Mason, M.; Lawman, M.;
By: Williams, D.P.; Couny, F.; Roberts, P.J.; Langford, A.; Farr, L.; Mangan, B.J.; Russell, P.St.J.; Knight, J.C.; Birks, T.A.; Sabert, H.; Flea, R.; Coupland, S.; Mason, M.; Lawman, M.;
2005 / IEEE / 0-7803-9236-1
By: Tomlinson, A.; Mason, M.W.; Farr, L.; Williams, D.P.; Mangan, B.J.; Knight, J.C.; Sabert, H.; Couny, F.; Roberts, P.J.; Birks, T.A.; Russell, P.S.J.;
By: Tomlinson, A.; Mason, M.W.; Farr, L.; Williams, D.P.; Mangan, B.J.; Knight, J.C.; Sabert, H.; Couny, F.; Roberts, P.J.; Birks, T.A.; Russell, P.S.J.;
2005 / IEEE / 1-55752-795-4
By: Couny, F.; Benabid, F.; Russell, P.St.J.; Birks, T.A.; Knight, J.C.;
By: Couny, F.; Benabid, F.; Russell, P.St.J.; Birks, T.A.; Knight, J.C.;
2005 / IEEE / 1-55752-795-4
By: Farr, L.; Williams, D.P.; Sabert, H.; Mangan, B.J.; Couny, F.; St Russell, P.J.; Knight, J.C.; Birks, T.A.; Roberts, P.J.;
By: Farr, L.; Williams, D.P.; Sabert, H.; Mangan, B.J.; Couny, F.; St Russell, P.J.; Knight, J.C.; Birks, T.A.; Roberts, P.J.;
2007 / IEEE / 978-1-4244-0930-3
By: Leuchs, G.; Marquardt, Ch.; Zhong, W.; Benabid, F.; Couny, F.; Light, P.; Andersen, U.L.;
By: Leuchs, G.; Marquardt, Ch.; Zhong, W.; Benabid, F.; Couny, F.; Light, P.; Andersen, U.L.;
2007 / IEEE / 978-1-55752-834-6
By: Roberts, P.J.; Benabid, F.; Couny, F.; Maier, S.A.; Burnett, M.T.;
By: Roberts, P.J.; Benabid, F.; Couny, F.; Maier, S.A.; Burnett, M.T.;
2007 / IEEE / 978-1-55752-834-6
By: Cordeiro, C.M.B.; Wiederhecker, G.S.; Fragnito, H.L.; Cruz, C.H.B.; Couny, F.; Knight, J.C.; Maier, S.A.; Benabid, F.;
By: Cordeiro, C.M.B.; Wiederhecker, G.S.; Fragnito, H.L.; Cruz, C.H.B.; Couny, F.; Knight, J.C.; Maier, S.A.; Benabid, F.;
Control of the Transient Regime of Stimulated Raman Scattering in Hollow-Core Photonic Crystal Fiber
2007 / IEEE / 978-1-55752-834-6By: Couny, F.; Light, P.S.; Benabid, F.;
2008 / IEEE / 978-1-55752-859-9
By: Corwin, K.L.; Jones, A.; Knabe, K.; Benabid, F.; Light, P.S.; Couny, F.;
By: Corwin, K.L.; Jones, A.; Knabe, K.; Benabid, F.; Light, P.S.; Couny, F.;
2008 / IEEE / 978-1-55752-859-9
By: Couny, F.; Raymer, M.G.; Light, P.S.; Roberts, P.J.; Benabid, F.;
By: Couny, F.; Raymer, M.G.; Light, P.S.; Roberts, P.J.; Benabid, F.;
2009 / IEEE / 978-1-4244-4079-5
By: Vieira, R.J.R.; Wetter, N.U.; Gomes, L.; Benabid, F.; Couny, F.; Cerqueira S, A.; de Matos, C.J.S.;
By: Vieira, R.J.R.; Wetter, N.U.; Gomes, L.; Benabid, F.; Couny, F.; Cerqueira S, A.; de Matos, C.J.S.;
2009 / IEEE / 978-1-55752-869-8
By: Sokolov, A.V.; Jiahui Peng; Roberts, P.J.; Luiten, A.; Biancalana, F.; Light, P.S.; Benabid, F.; Couny, F.;
By: Sokolov, A.V.; Jiahui Peng; Roberts, P.J.; Luiten, A.; Biancalana, F.; Light, P.S.; Benabid, F.; Couny, F.;
2009 / IEEE / 978-1-55752-869-8
By: Jinkang Lim; Washburn, B.R.; Nicholson, J.W.; Corwin, K.L.; Knight, J.C.; Wang, Y.; Benabid, F.; Light, P.S.; Couny, F.; Amezcua-Correa, R.; Knabe, K.;
By: Jinkang Lim; Washburn, B.R.; Nicholson, J.W.; Corwin, K.L.; Knight, J.C.; Wang, Y.; Benabid, F.; Light, P.S.; Couny, F.; Amezcua-Correa, R.; Knabe, K.;
2009 / IEEE / 978-1-55752-869-8
By: Couny, F.; Light, P.S.; Benabid, F.; Roberts, P.J.; Wheeler, N.V.; Ying Ying Wang;
By: Couny, F.; Light, P.S.; Benabid, F.; Roberts, P.J.; Wheeler, N.V.; Ying Ying Wang;
2009 / IEEE / 978-1-55752-869-8
By: Couny, F.; Benabid, F.; Gerome, F.; Wheeler, N.V.; Wang, Y.Y.; Light, P.S.; Beaudou, B.;
By: Couny, F.; Benabid, F.; Gerome, F.; Wheeler, N.V.; Wang, Y.Y.; Light, P.S.; Beaudou, B.;
2010 / IEEE / 978-1-55752-890-2
By: Benabid, F.; Birks, T.A.; Couny, F.; Bradley, T.D.; Grogan, M.D.W.; Wheeler, N.V.;
By: Benabid, F.; Birks, T.A.; Couny, F.; Bradley, T.D.; Grogan, M.D.W.; Wheeler, N.V.;
2010 / IEEE / 978-1-55752-890-2
By: Wang, Y.Y.; Couny, F.; Benabid, F.; Aoki, H.; Shiraga, K.; Kanaka, R.P.; Katsuragawa, M.;
By: Wang, Y.Y.; Couny, F.; Benabid, F.; Aoki, H.; Shiraga, K.; Kanaka, R.P.; Katsuragawa, M.;
2010 / IEEE / 978-1-55752-890-2
By: Yingying Wang; Raymer, M.G.; Mondloch, E.; Chunbai Wu; Benabid, F.; Couny, F.;
By: Yingying Wang; Raymer, M.G.; Mondloch, E.; Chunbai Wu; Benabid, F.; Couny, F.;
2010 / IEEE / 978-1-4244-7798-2
By: Benabid, F.; Couny, F.; Wheeler, N.; Corwin, K.L.; Washburn, B.R.; Kadel, R.; Jones, A.; Ratanavis, A.; Nampoothiri, A.V.V.; Rudolph, W.;
By: Benabid, F.; Couny, F.; Wheeler, N.; Corwin, K.L.; Washburn, B.R.; Kadel, R.; Jones, A.; Ratanavis, A.; Nampoothiri, A.V.V.; Rudolph, W.;
2011 / IEEE / 978-1-55752-911-4
By: Washburn, B.R.; Corwin, K.L.; Rudolph, W.; Benabid, F.; Couny, F.; Nampoothiri, A.V.V.; Wheeler, N.; Hageman, W.; Kadel, R.; Fiedler, T.; Jones, A.M.;
By: Washburn, B.R.; Corwin, K.L.; Rudolph, W.; Benabid, F.; Couny, F.; Nampoothiri, A.V.V.; Wheeler, N.; Hageman, W.; Kadel, R.; Fiedler, T.; Jones, A.M.;