Your Search Results
Use materials by this author in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content such as case studies and journal articles for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!

Author: Connolly, J.
Results
1994 / IEEE
By: Wells, K.; Tappern, G.; Connolly, J.; Stephenson, R.; Bateman, J.E.; Zweit, J.; Ott, R.J.; Visvikis, D.;
By: Wells, K.; Tappern, G.; Connolly, J.; Stephenson, R.; Bateman, J.E.; Zweit, J.; Ott, R.J.; Visvikis, D.;
1995 / IEEE
By: Ott, R.J.; Wells, K.; Visvikis, D.; Tappern, G.; Connolly, J.; Bateman, J.E.; Stephenson, R.;
By: Ott, R.J.; Wells, K.; Visvikis, D.; Tappern, G.; Connolly, J.; Bateman, J.E.; Stephenson, R.;
1994 / IEEE / 0-7803-2544-3
By: Wells, K.; Visvikis, D.; Tappern, G.; Connolly, J.; Bateman, J.E.; Stephenson, R.; Ott, R.J.; Suckling, J.;
By: Wells, K.; Visvikis, D.; Tappern, G.; Connolly, J.; Bateman, J.E.; Stephenson, R.; Ott, R.J.; Suckling, J.;
1995 / IEEE / 0-7803-2450-1
By: Taskent, D.; Griffel, G.; Morris, N.A.; Connolly, J.; Serpenguzel, A.; Arnold, S.;
By: Taskent, D.; Griffel, G.; Morris, N.A.; Connolly, J.; Serpenguzel, A.; Arnold, S.;
1996 / IEEE / 0-7803-3160-5
By: Forrest, S.; Garbuzov, D.; Xu, L.; Connolly, J.; Martinelli, R.; Menna, R.;
By: Forrest, S.; Garbuzov, D.; Xu, L.; Connolly, J.; Martinelli, R.; Menna, R.;
1997 / IEEE / 0-7803-3889-8
By: Shi, H.; Gee, S.; Delfyett, P.J.; Connolly, J.; Alphonse, G.; Mathason, B.;
By: Shi, H.; Gee, S.; Delfyett, P.J.; Connolly, J.; Alphonse, G.; Mathason, B.;
1997 / IEEE / 0-7803-4258-5
By: Ott, R.J.; Wells, K.; Visvikis, D.; Connolly, J.; Stephenson, R.; Bateman, J.E.;
By: Ott, R.J.; Wells, K.; Visvikis, D.; Connolly, J.; Stephenson, R.; Bateman, J.E.;
1998 / IEEE / 0-7803-4233X
By: Garbuzov, D.; Lee, H.; Khalfin, V.; Martinelli, R.; Menna, R.; Connolly, J.;
By: Garbuzov, D.; Lee, H.; Khalfin, V.; Martinelli, R.; Menna, R.; Connolly, J.;
1999 / IEEE
By: Khalfin, V.; Menna, R.; Maiorov, M.; Connolly, J.; Garbuzov, D.; Matarese, R.; Milgazo, H.;
By: Khalfin, V.; Menna, R.; Maiorov, M.; Connolly, J.; Garbuzov, D.; Matarese, R.; Milgazo, H.;
1999 / IEEE / 4-930813-93-X
By: Ng, H.; Ray, A.; Greco, S.; Crowder, S.; Davari, B.; Su, L.; Goldblatt, R.; Agnello, P.; Crabbe, E.; McGahay, V.; Wagner, T.; Tallman, K.; Ryan, D.; Barth, E.; Oberschmidt, J.; Logan, R.; Purtell, R.; McLaughlin, P.; Nowak, E.; Hargrove, M.; Chen, X.; Ferguson, R.; DeWan, C.; Connolly, J.; Biery, G.; Beyer, K.;
By: Ng, H.; Ray, A.; Greco, S.; Crowder, S.; Davari, B.; Su, L.; Goldblatt, R.; Agnello, P.; Crabbe, E.; McGahay, V.; Wagner, T.; Tallman, K.; Ryan, D.; Barth, E.; Oberschmidt, J.; Logan, R.; Purtell, R.; McLaughlin, P.; Nowak, E.; Hargrove, M.; Chen, X.; Ferguson, R.; DeWan, C.; Connolly, J.; Biery, G.; Beyer, K.;
2000 / IEEE / 0-7803-6320-5
By: Donetsky, D.; Trussell, W.; Belenky, G.; Shterengas, L.; Maiorov, M.; Menna, R.; Garbuzov, D.; Connolly, J.;
By: Donetsky, D.; Trussell, W.; Belenky, G.; Shterengas, L.; Maiorov, M.; Menna, R.; Garbuzov, D.; Connolly, J.;
2000 / IEEE / 0-7803-6305-1
By: Smeys, P.; Chen, T.C.; Yang, I.; Adkisson, J.; Beyer, K.; Bula, O.; Chen, Z.; Chu, B.; Culp, J.; Das, S.; Eckert, A.; Hadel, L.; Hargrove, M.; Herman, J.; Lin, L.; Mann, R.; Maciejewski, E.; Narasimha, S.; O'Neil, P.; Rauch, S.; Ryan, D.; Toomey, J.; Tsou, L.; Varekamp, P.; Wachnik, R.; Wagner, T.; Wu, S.; Yu, C.; Agnello, P.; Connolly, J.; Crowder, S.; Davis, C.; Ferguson, R.; Sekiguchi, A.; Su, L.; Goldblatt, R.; McGahay, V.;
By: Smeys, P.; Chen, T.C.; Yang, I.; Adkisson, J.; Beyer, K.; Bula, O.; Chen, Z.; Chu, B.; Culp, J.; Das, S.; Eckert, A.; Hadel, L.; Hargrove, M.; Herman, J.; Lin, L.; Mann, R.; Maciejewski, E.; Narasimha, S.; O'Neil, P.; Rauch, S.; Ryan, D.; Toomey, J.; Tsou, L.; Varekamp, P.; Wachnik, R.; Wagner, T.; Wu, S.; Yu, C.; Agnello, P.; Connolly, J.; Crowder, S.; Davis, C.; Ferguson, R.; Sekiguchi, A.; Su, L.; Goldblatt, R.; McGahay, V.;
2000 / IEEE / 0-7803-5947-X
By: Donetsky, D.; Menna, R.; Trussell, W.; Shterengas, L.; Belenky, G.; Garbuzov, D.; Connolly, J.;
By: Donetsky, D.; Menna, R.; Trussell, W.; Shterengas, L.; Belenky, G.; Garbuzov, D.; Connolly, J.;
2000 / IEEE / 1-55752-634-6
By: Khalfin, V.; Martinelli, R.; Menna, R.; Maiorov, M.; Connolly, J.; Garbuzov, D.; Harvey, M.;
By: Khalfin, V.; Martinelli, R.; Menna, R.; Maiorov, M.; Connolly, J.; Garbuzov, D.; Harvey, M.;
2000 / IEEE / 1-55752-634-6
By: Park, E.; Nitta, I.; DePreist, C.; Delfyett, P.J.; Connolly, J.; Abeles, J.;
By: Park, E.; Nitta, I.; DePreist, C.; Delfyett, P.J.; Connolly, J.; Abeles, J.;
2001 / IEEE / 1-55752-662-1
By: Maiorov, M.; Komissarov, A.; Tsekoun, A.; Khalfin, V.; Menna, R.; Garbuzov, D.; Connolly, J.; Todorov, S.;
By: Maiorov, M.; Komissarov, A.; Tsekoun, A.; Khalfin, V.; Menna, R.; Garbuzov, D.; Connolly, J.; Todorov, S.;
2001 / IEEE / 0-7803-6705-7
By: Menna, R.; Garbuzov, D.; Connolly, J.; Todorov, S.; Komissarov, A.; Tsekoun, A.; Khalfin, V.; Maiorov, M.;
By: Menna, R.; Garbuzov, D.; Connolly, J.; Todorov, S.; Komissarov, A.; Tsekoun, A.; Khalfin, V.; Maiorov, M.;
2002 / IEEE / 1-55752-706-7
By: Maiorov, M.; Kudryashov, I.; Morris, N.; Komissarav, A.; Connolly, J.; Alphonse, G.; Braun, A.; Khalfin, V.; Garbuzov, D.;
By: Maiorov, M.; Kudryashov, I.; Morris, N.; Komissarav, A.; Connolly, J.; Alphonse, G.; Braun, A.; Khalfin, V.; Garbuzov, D.;
2002 / IEEE / 1-55752-701-6
By: Maiorov, M.; Roff, W.; Tsekoun, A.; Komissarov, A.; Menna, R.; Kudryashov, I.; Garbuzov, D.; Connolly, J.; Lunev, A.;
By: Maiorov, M.; Roff, W.; Tsekoun, A.; Komissarov, A.; Menna, R.; Kudryashov, I.; Garbuzov, D.; Connolly, J.; Lunev, A.;
2003 / IEEE / 1-55752-746-6
By: Maiorov, M.; Kudryashov, I.; Komissar, A.; Garbuzov, D.; Connolly, J.; Roff, R.;
By: Maiorov, M.; Kudryashov, I.; Komissar, A.; Garbuzov, D.; Connolly, J.; Roff, R.;
2003 / IEEE / 1-55752-746-6
By: Kudryashov, I.; Komissarov, A.; Maiorov, M.; Garbuzov, D.; Connolly, J.; Lunev, A.;
By: Kudryashov, I.; Komissarov, A.; Maiorov, M.; Garbuzov, D.; Connolly, J.; Lunev, A.;
2004 / IEEE
By: Sang Jun Choi; Djordjev, K.; Choi, S.J.; Connolly, J.; Dapkus, P.D.; Menna, R.; Griffel, G.; Lin, W.;
By: Sang Jun Choi; Djordjev, K.; Choi, S.J.; Connolly, J.; Dapkus, P.D.; Menna, R.; Griffel, G.; Lin, W.;
2003 / IEEE / 4-9901816-0-3
By: Connolly, J.; Bushnell, D.B.; Ekins-Daukes, N.; Barnham, K.W.J.; Mazzer, M.;
By: Connolly, J.; Bushnell, D.B.; Ekins-Daukes, N.; Barnham, K.W.J.; Mazzer, M.;
2004 / IEEE / 0-7803-8439-3
By: Connolly, J.; Edwards, H.; Shoeb, A.; Guttag, J.; Treves, T.; Bourgeois, B.;
By: Connolly, J.; Edwards, H.; Shoeb, A.; Guttag, J.; Treves, T.; Bourgeois, B.;