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Author: Ciattaglia, S.
Results
2011 / IEEE / 978-1-4577-0668-4
By: Denkevitz, A.; Endstrasser, N.; Walsh, M.; Kim, J.; Counsell, G.; Ciattaglia, S.; Le Guern, F.; Xu, Z.; Rohde, V.; Reiter, B.; Redlinger, R.; Neu, R.; Kuznetsov, M.; Kammerloher, L.; Jordan, T.; Gauthier, E.; Eixenberger, H.;
By: Denkevitz, A.; Endstrasser, N.; Walsh, M.; Kim, J.; Counsell, G.; Ciattaglia, S.; Le Guern, F.; Xu, Z.; Rohde, V.; Reiter, B.; Redlinger, R.; Neu, R.; Kuznetsov, M.; Kammerloher, L.; Jordan, T.; Gauthier, E.; Eixenberger, H.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-0668-4
By: Walsh, M.; Andrew, P.; Zvonkov, A.; Watts, C.; Walker, C.; Schunke, B.; Veshchev, E.; Vayakis, G.; Vasu, P.; Utin, Y.; Udintsev, V.S.; Taylor, N.; Simrock, S.; Prakash, A.; Pitcher, C.S.; Patel, K.; Reichle, R.; Okayama, K.; Maquet, P.; Martin, A.; Levesy, B.; Lee, H.G.; Kusama, Y.; Kim, J.; Barnsley, R.; Bertalot, L.; Boivin, R.; Bora, D.; Bouhamou, R.; Ciattaglia, S.; Costley, A.E.; Counsell, G.; Direz, M.F.; Drevon, J.M.; Encheva, A.; Fang, T.; von Hellermann, M.; Johnson, D.;
By: Walsh, M.; Andrew, P.; Zvonkov, A.; Watts, C.; Walker, C.; Schunke, B.; Veshchev, E.; Vayakis, G.; Vasu, P.; Utin, Y.; Udintsev, V.S.; Taylor, N.; Simrock, S.; Prakash, A.; Pitcher, C.S.; Patel, K.; Reichle, R.; Okayama, K.; Maquet, P.; Martin, A.; Levesy, B.; Lee, H.G.; Kusama, Y.; Kim, J.; Barnsley, R.; Bertalot, L.; Boivin, R.; Bora, D.; Bouhamou, R.; Ciattaglia, S.; Costley, A.E.; Counsell, G.; Direz, M.F.; Drevon, J.M.; Encheva, A.; Fang, T.; von Hellermann, M.; Johnson, D.;
1995 / IEEE / 0-7803-2969-4
By: Cocilovo, V.; Crescenzi, C.; Ciattaglia, S.; Cecchini, A.; Bartiromo, R.; Apicella, M.L.; Gasparotto, M.; Sternini, E.; Semeraro, L.; Roccella, M.; Riccardi, B.; Pizzuto, A.; Moriani, A.; Migliori, S.; Mazzitelli, G.; Maddaluno, G.; Lucca, F.; Lovisetto, L.; Cucchiaro, A.; Crisanti, F.;
By: Cocilovo, V.; Crescenzi, C.; Ciattaglia, S.; Cecchini, A.; Bartiromo, R.; Apicella, M.L.; Gasparotto, M.; Sternini, E.; Semeraro, L.; Roccella, M.; Riccardi, B.; Pizzuto, A.; Moriani, A.; Migliori, S.; Mazzitelli, G.; Maddaluno, G.; Lucca, F.; Lovisetto, L.; Cucchiaro, A.; Crisanti, F.;
1997 / IEEE / 0-7803-4226-7
By: Ciattaglia, S.; Zerbini, M.; Angelini, B.; Buceti, G.; Cesario, R.; Crisanti, F.; Cocilovo, V.; Frigione, D.; Gravanti, F.; Maddaluno, G.; Mazzitelli, G.; Pieroni, L.; Pericoli-Ridolfini, V.; Sternini, E.; Tuccillo, A.A.; Vitale, V.; Zanza, V.; Alladio, F.; Apicella, M.L.; Apruzzese, G.; Barbato, E.; Bertocchi, A.; Bracco, G.; Bruschi, A.; Buratti, P.; Cardinali, A.; Centioli, C.; Ciotti, M.; Cirant, S.; De Angelis, R.; De Marco, F.; Imparato, A.; Kroegler, H.; Leigheb, M.; Lovisetto, L.; Maffia, G.; Mancuso, A.; Marinucci, M.; Micozzi, P.; Mirizzi, F.; Orsitto, F.P.; Pacella, D.; Panaccione, L.; Panella, M.; Podda, S.; Righetti, G.B.; Romanelli, F.; Santini, F.; Sassi, M.; Simonetto, A.; Sozzi, C.; Tudisco, O.; Vlad, G.;
By: Ciattaglia, S.; Zerbini, M.; Angelini, B.; Buceti, G.; Cesario, R.; Crisanti, F.; Cocilovo, V.; Frigione, D.; Gravanti, F.; Maddaluno, G.; Mazzitelli, G.; Pieroni, L.; Pericoli-Ridolfini, V.; Sternini, E.; Tuccillo, A.A.; Vitale, V.; Zanza, V.; Alladio, F.; Apicella, M.L.; Apruzzese, G.; Barbato, E.; Bertocchi, A.; Bracco, G.; Bruschi, A.; Buratti, P.; Cardinali, A.; Centioli, C.; Ciotti, M.; Cirant, S.; De Angelis, R.; De Marco, F.; Imparato, A.; Kroegler, H.; Leigheb, M.; Lovisetto, L.; Maffia, G.; Mancuso, A.; Marinucci, M.; Micozzi, P.; Mirizzi, F.; Orsitto, F.P.; Pacella, D.; Panaccione, L.; Panella, M.; Podda, S.; Righetti, G.B.; Romanelli, F.; Santini, F.; Sassi, M.; Simonetto, A.; Sozzi, C.; Tudisco, O.; Vlad, G.;
1999 / IEEE / 0-7803-5463-X
By: Neria, C.; Mazzaa, G.; D'Antona, G.; Crisanti, F.; Riva, M.; Centioli, C.; Buceti, G.; Vitale, V.; Ciattaglia, S.;
By: Neria, C.; Mazzaa, G.; D'Antona, G.; Crisanti, F.; Riva, M.; Centioli, C.; Buceti, G.; Vitale, V.; Ciattaglia, S.;
2005 / IEEE / 0-4244-0159-6
By: Sonato, P.; Cox, M.; Angelini, B.M.; Ciattaglia, S.; Gruber, O.; de Baar, M.; Petersen, P.; Kurihara, K.; van Houtte, D.;
By: Sonato, P.; Cox, M.; Angelini, B.M.; Ciattaglia, S.; Gruber, O.; de Baar, M.; Petersen, P.; Kurihara, K.; van Houtte, D.;
2009 / IEEE / 978-1-4244-2635-5
By: Ciattaglia, S.; Cortes, P.; Taylor, N.; Reyes, S.; Hayashi, T.; Sharpe, P.; Rosanvallon, S.; Topilski, L.; Gulden, W.; Elbez-Uzan, J.; Baker, D.; Iseli, M.; Perevezentsev, A.;
By: Ciattaglia, S.; Cortes, P.; Taylor, N.; Reyes, S.; Hayashi, T.; Sharpe, P.; Rosanvallon, S.; Topilski, L.; Gulden, W.; Elbez-Uzan, J.; Baker, D.; Iseli, M.; Perevezentsev, A.;
2010 / IEEE
By: Taylor, N.; Reyes, S.; Sharpe, P.; Gulden, W.; Cortes, P.; Rosanvallon, S.; Perevezentsev, A.; Iseli, M.; Ciattaglia, S.;
By: Taylor, N.; Reyes, S.; Sharpe, P.; Gulden, W.; Cortes, P.; Rosanvallon, S.; Perevezentsev, A.; Iseli, M.; Ciattaglia, S.;
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