Your Search Results
Use materials by this author in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content such as case studies and journal articles for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!

Author: Chen, Y.K.
Results
2011 / IEEE / 978-1-55752-932-9
By: Chen, Y.K.; Reyes, R.; Frackoviak, J.; Tate, A.; Zhang, L.; Kopf, R.; Weimann, N.G.; Hu, T.; Houtsma, V.;
By: Chen, Y.K.; Reyes, R.; Frackoviak, J.; Tate, A.; Zhang, L.; Kopf, R.; Weimann, N.G.; Hu, T.; Houtsma, V.;
2011 / IEEE / 978-1-61284-718-4
By: Keller, R.; Earnshaw, M.P.; Gomez, L.T.; Klemens, F.; Chen, E.Y.; Cappuzzo, M.A.; Chen, Y.K.; Rasras, M.S.; Wyrwas, J.M.; Wu, M.C.; DeSalvo, R.; Middleton, C.; Peach, R.; Bolle, C.; Padro, F.;
By: Keller, R.; Earnshaw, M.P.; Gomez, L.T.; Klemens, F.; Chen, E.Y.; Cappuzzo, M.A.; Chen, Y.K.; Rasras, M.S.; Wyrwas, J.M.; Wu, M.C.; DeSalvo, R.; Middleton, C.; Peach, R.; Bolle, C.; Padro, F.;
2011 / IEEE / 978-1-4244-7345-8
By: Houtsma, V.; Zhang, L.; Chen, Y.K.; Reyes, R.; Weimann, N.G.; Frackoviak, J.; Tate, A.; Kopf, R.; Hu, T.;
By: Houtsma, V.; Zhang, L.; Chen, Y.K.; Reyes, R.; Weimann, N.G.; Frackoviak, J.; Tate, A.; Kopf, R.; Hu, T.;
1988 / IEEE
By: Eastman, L.F.; Tasker, P.J.; Chen, Y.K.; Wang, G.W.; Aina, O.A.; Kuang, J.B.; Fathimulla, A.; Hier, H.;
By: Eastman, L.F.; Tasker, P.J.; Chen, Y.K.; Wang, G.W.; Aina, O.A.; Kuang, J.B.; Fathimulla, A.; Hier, H.;
1989 / IEEE
By: Resnick, D.J.; Tennant, D.M.; Chen, Y.K.; Chand, N.; Pearton, S.J.; Hobson, W.S.; Ren, F.;
By: Resnick, D.J.; Tennant, D.M.; Chen, Y.K.; Chand, N.; Pearton, S.J.; Hobson, W.S.; Ren, F.;
1992 / IEEE
By: Wu, M.C.; Choa, F.S.; Tsang, W.T.; Burrus, C.A.; Sergent, A.M.; Logan, R.A.; Chen, Y.K.;
By: Wu, M.C.; Choa, F.S.; Tsang, W.T.; Burrus, C.A.; Sergent, A.M.; Logan, R.A.; Chen, Y.K.;
1993 / IEEE
By: Sciortino, P.F.; Wecht, K.W.; Sergent, A.M.; Tate, A.; Logan, R.A.; Tanbun-Ek, T.; Chen, Y.K.;
By: Sciortino, P.F.; Wecht, K.W.; Sergent, A.M.; Tate, A.; Logan, R.A.; Tanbun-Ek, T.; Chen, Y.K.;
1993 / IEEE / 0-7803-1450-6
By: Cho, A.Y.; Sivco, D.; Tate, A.; Humphrey, D.A.; Fan, L.; Chen, Y.K.;
By: Cho, A.Y.; Sivco, D.; Tate, A.; Humphrey, D.A.; Fan, L.; Chen, Y.K.;
1995 / IEEE
By: Wecht, K.W.; Sergent, A.M.; Sciortino, P.F., Jr.; Tanbun-Ek, T.; Wisk, P.; Sputz, S.K.; Bethea, C.G.; Chen, Y.K.;
By: Wecht, K.W.; Sergent, A.M.; Sciortino, P.F., Jr.; Tanbun-Ek, T.; Wisk, P.; Sputz, S.K.; Bethea, C.G.; Chen, Y.K.;
1995 / IEEE
By: Lin, J.; Ryan, R.W.; Kopf, R.F.; Tate, A.; Chen, Y.K.; Hamm, R.A.; Humphrey, D.A.; Malik, R.J.;
By: Lin, J.; Ryan, R.W.; Kopf, R.F.; Tate, A.; Chen, Y.K.; Hamm, R.A.; Humphrey, D.A.; Malik, R.J.;
1995 / IEEE
By: Tanbun-Ek, T.; Chen, Y.K.; Fang, W.-C.W.; Minch, J.R.; Shun Lien Chuang; Chih-Sheng Chang;
By: Tanbun-Ek, T.; Chen, Y.K.; Fang, W.-C.W.; Minch, J.R.; Shun Lien Chuang; Chih-Sheng Chang;
1995 / IEEE / 0-7803-2700-4
By: King, C.A.; Schwartz, G.P.; Kornblit, A.; Frei, M.R.; Chen, Y.K.; Chin, G.M.; Cirelli, R.A.; Chiu, T.-Y.; Johnson, R.W.;
By: King, C.A.; Schwartz, G.P.; Kornblit, A.; Frei, M.R.; Chen, Y.K.; Chin, G.M.; Cirelli, R.A.; Chiu, T.-Y.; Johnson, R.W.;
1996 / IEEE / 0-7803-3246-6
By: Smith, P.R.; Tate, A.; Kopf, R.F.; Malik, R.J.; Ren, F.; Ryan, R.W.; Humphrey, D.A.; Montgomery, R.K.; Chen, Y.K.; Hamm, R.; Lin, J.;
By: Smith, P.R.; Tate, A.; Kopf, R.F.; Malik, R.J.; Ren, F.; Ryan, R.W.; Humphrey, D.A.; Montgomery, R.K.; Chen, Y.K.; Hamm, R.; Lin, J.;
1994 / IEEE / 0-7803-1754-8
By: Johnson, J.E.; Wecht, K.W.; Sciortino, P.F., Jr.; Sergent, A.M.; Tate, A.; Chu, S.N.G.; Morton, P.A.; Logan, R.A.; Fishman, D.A.; Chen, Y.K.; Tanbun-Ek, T.;
By: Johnson, J.E.; Wecht, K.W.; Sciortino, P.F., Jr.; Sergent, A.M.; Tate, A.; Chu, S.N.G.; Morton, P.A.; Logan, R.A.; Fishman, D.A.; Chen, Y.K.; Tanbun-Ek, T.;
1995 / IEEE / 0-7803-2147-2
By: Cho, A.Y.; Sivco, D.; Humphrey, D.; Chen, Y.K.; Bernescut, R.; Lothian, J.; Tate, A.; Chang, M.F.; Weiner, J.S.; Ren, F.; Kuo, J.M.;
By: Cho, A.Y.; Sivco, D.; Humphrey, D.; Chen, Y.K.; Bernescut, R.; Lothian, J.; Tate, A.; Chang, M.F.; Weiner, J.S.; Ren, F.; Kuo, J.M.;
1995 / IEEE / 0-7803-2147-2
By: Bethea, C.G.; Chen, Y.K.; Wecht, K.W.; Wisk, P.; Sputz, S.K.; Sergent, A.M.; Sciortino, P.F., Jr.; Tanbun-Ek, T.;
By: Bethea, C.G.; Chen, Y.K.; Wecht, K.W.; Wisk, P.; Sputz, S.K.; Sergent, A.M.; Sciortino, P.F., Jr.; Tanbun-Ek, T.;
1995 / IEEE / 0-7803-2147-2
By: Chen, Y.K.; Humphrey, D.A.; Fan, L.; Tate, A.; Hamm, R.A.; Sivco, D.; Cho, A.Y.; Lin, J.;
By: Chen, Y.K.; Humphrey, D.A.; Fan, L.; Tate, A.; Hamm, R.A.; Sivco, D.; Cho, A.Y.; Lin, J.;
1996 / IEEE / 0-7803-3358-6
By: Hamm, R.A.; Malik, R.J.; Chen, Y.K.; Tate, A.; Humphrey, D.A.; Lin, J.; Montgomery, R.K.; Ryan, R.W.; Kopf, R.F.;
By: Hamm, R.A.; Malik, R.J.; Chen, Y.K.; Tate, A.; Humphrey, D.A.; Lin, J.; Montgomery, R.K.; Ryan, R.W.; Kopf, R.F.;
1996 / IEEE / 0-7803-3393-4
By: Hong, M.W.; Ren, F.; Cho, A.Y.; Chen, Y.K.; Hobson, W.S.; Kwo, J.; Mannaerts, J.P.; Lothian, J.R.; Kuo, J.M.;
By: Hong, M.W.; Ren, F.; Cho, A.Y.; Chen, Y.K.; Hobson, W.S.; Kwo, J.; Mannaerts, J.P.; Lothian, J.R.; Kuo, J.M.;
1994 / IEEE / 0-7803-1470-0
By: Wecht, K.; Sciortino, P.F., Jr; Tate, A.; Logan, R.A.; Sargent, A.M.; Tanbun-Ek, T.; Chen, Y.K.; Johnson, A.M.; Raybon, G.; Froberg, N.; Chien, M.; Young, M.G.; Miller, B.I.; Koren, U.;
By: Wecht, K.; Sciortino, P.F., Jr; Tate, A.; Logan, R.A.; Sargent, A.M.; Tanbun-Ek, T.; Chen, Y.K.; Johnson, A.M.; Raybon, G.; Froberg, N.; Chien, M.; Young, M.G.; Miller, B.I.; Koren, U.;
1997 / IEEE / 0-7803-4125-2
By: Fang, W.; Tanbun-Ek, T.; Tsang, W.T.; Chen, Y.K.; Nykolak, G.; People, R.; Pawelek, R.; Chu, S.N.G.; Sergent, A.M.; Sciortino, P.J.; Wisk, P.; Bethea, C.G.;
By: Fang, W.; Tanbun-Ek, T.; Tsang, W.T.; Chen, Y.K.; Nykolak, G.; People, R.; Pawelek, R.; Chu, S.N.G.; Sergent, A.M.; Sciortino, P.J.; Wisk, P.; Bethea, C.G.;
1997 / IEEE / 0-7803-3911-8
By: Lothian, J.R.; Kuo, J.M.; Wang, Y.C.; Chen, Y.K.; Mayo, W.E.; Ren, F.; Tate, A.; Lin, J.; Weiner, J.S.; Tsai, H.S.;
By: Lothian, J.R.; Kuo, J.M.; Wang, Y.C.; Chen, Y.K.; Mayo, W.E.; Ren, F.; Tate, A.; Lin, J.; Weiner, J.S.; Tsai, H.S.;
1997 / IEEE / 0-7803-3911-8
By: Kwo, J.; Mannaerts, J.P.; Lothian, J.R.; Tsai, H.S.; Hobson, W.S.; Kuo, J.M.; Chu, S.N.G.; Ren, F.; Cho, A.Y.; Hong, M.; Chen, Y.K.; Lin, J.;
By: Kwo, J.; Mannaerts, J.P.; Lothian, J.R.; Tsai, H.S.; Hobson, W.S.; Kuo, J.M.; Chu, S.N.G.; Ren, F.; Cho, A.Y.; Hong, M.; Chen, Y.K.; Lin, J.;
1997 / IEEE
By: Chen, Y.K.; Tanbun-Ek, T.; Chuang, S.L.; Fang, W.; Sergent, M.; Chang, C.S.; Minch, J.; Enders, P.; Keating, T.;
By: Chen, Y.K.; Tanbun-Ek, T.; Chuang, S.L.; Fang, W.; Sergent, M.; Chang, C.S.; Minch, J.; Enders, P.; Keating, T.;
1997 / IEEE / 0-7803-4083-3
By: Ren, F.; Hong, M.; Kuo, J.M.; Hobson, W.S.; Lothian, J.R.; Cho, A.Y.; Lin, J.; Mannaerts, J.P.; Kwo, J.; Chu, S.N.G.; Chen, Y.K.; Tsai, H.S.;
By: Ren, F.; Hong, M.; Kuo, J.M.; Hobson, W.S.; Lothian, J.R.; Cho, A.Y.; Lin, J.; Mannaerts, J.P.; Kwo, J.; Chu, S.N.G.; Chen, Y.K.; Tsai, H.S.;
1997 / IEEE
By: Wang, Y.C.; Lothian, J.R.; Ren, F.; Kuo, J.M.; Weiner, J.S.; Chen, Y.K.; Mayo, W.E.; Lin, J.;
By: Wang, Y.C.; Lothian, J.R.; Ren, F.; Kuo, J.M.; Weiner, J.S.; Chen, Y.K.; Mayo, W.E.; Lin, J.;
1997 / IEEE / 0-7803-3970-3
By: Hamm, R.A.; Kopf, R.F.; Malik, R.J.; Burm, J.; Ryan, R.W.; Chen, Y.K.; Tsai, H.S.; Tate, A.;
By: Hamm, R.A.; Kopf, R.F.; Malik, R.J.; Burm, J.; Ryan, R.W.; Chen, Y.K.; Tsai, H.S.; Tate, A.;
1998 / IEEE / 1-55752-521-8
By: Wu, Y.R.; Chen, Y.K.; Tu, Y.K.; Wang, C.S.; Tsai, F.Y.; Lee, C.C.; Chang, C.H.;
By: Wu, Y.R.; Chen, Y.K.; Tu, Y.K.; Wang, C.S.; Tsai, F.Y.; Lee, C.C.; Chang, C.H.;
1998 / IEEE / 1-55752-521-8
By: Chen, Y.K.; Tu, Y.K.; Wang, C.S.; Tsai, F.Y.; Lee, C.C.; Chang, C.H.; Wu, Y.R.;
By: Chen, Y.K.; Tu, Y.K.; Wang, C.S.; Tsai, F.Y.; Lee, C.C.; Chang, C.H.; Wu, Y.R.;
1992 / IEEE / 0-87942-652-7
By: Lopata, J.L.; Pearton, S.J.; Hobson, W.S.; Chen, Y.K.; Wu, M.C.; Dutta, N.K.;
By: Lopata, J.L.; Pearton, S.J.; Hobson, W.S.; Chen, Y.K.; Wu, M.C.; Dutta, N.K.;
1992 / IEEE / 0-87942-652-7
By: Tsang, W.T.; Burrus, C.A.; Magill, P.; Sergent, A.M.; Chu, S.N.G.; Logan, R.A.; Chen, Y.K.; Wu, M.C.; Choa, F.S.;
By: Tsang, W.T.; Burrus, C.A.; Magill, P.; Sergent, A.M.; Chu, S.N.G.; Logan, R.A.; Chen, Y.K.; Wu, M.C.; Choa, F.S.;
1992 / IEEE / 0-7803-0526-4
By: Choa, F.S.; Tsang, W.T.; Sciortino, P.F.; Chen, Y.K.; Wu, M.C.; Burrus, C.A.; Reichmann, K.C.; Magill, P.D.; Koch, T.L.; Koren, U.; Nall, R.P.; Logan, R.A.;
By: Choa, F.S.; Tsang, W.T.; Sciortino, P.F.; Chen, Y.K.; Wu, M.C.; Burrus, C.A.; Reichmann, K.C.; Magill, P.D.; Koch, T.L.; Koren, U.; Nall, R.P.; Logan, R.A.;
1998 / IEEE
By: Tsai, H.S.; Lin, J.; Kuo, J.M.; Lothian, J.R.; Hobson, W.S.; Hong, M.; Mannaerts, J.P.; Ren, F.; Cho, A.Y.; Chen, Y.K.; Chu, S.N.G.; Kwo, J.;
By: Tsai, H.S.; Lin, J.; Kuo, J.M.; Lothian, J.R.; Hobson, W.S.; Hong, M.; Mannaerts, J.P.; Ren, F.; Cho, A.Y.; Chen, Y.K.; Chu, S.N.G.; Kwo, J.;
1998 / IEEE / 0-7503-0556-8
By: Lothian, J.R.; Mannaerts, J.P.; Kwo, J.; Kuo, J.M.; Hobson, W.S.; Ren, F.; Marcus, M.A.; Chen, Y.K.; Lay, T.S.; Hong, M.; Sergent, A.M.; Liu, C.T.;
By: Lothian, J.R.; Mannaerts, J.P.; Kwo, J.; Kuo, J.M.; Hobson, W.S.; Ren, F.; Marcus, M.A.; Chen, Y.K.; Lay, T.S.; Hong, M.; Sergent, A.M.; Liu, C.T.;
1998 / IEEE / 0-7803-4774-9
By: Cho, A.Y.; Chen, Y.K.; Krajewski, J.J.; Tsai, H.S.; Hong, M.; Kwo, J.; Mannaerts, J.P.; Kuo, J.M.; Wang, Y.C.;
By: Cho, A.Y.; Chen, Y.K.; Krajewski, J.J.; Tsai, H.S.; Hong, M.; Kwo, J.; Mannaerts, J.P.; Kuo, J.M.; Wang, Y.C.;
1992 / IEEE / 4-930813-51-4
By: Reichmann, K.; Magi, P.; Sergent, A.M.; Chu, S.N.G.; Tanbun-Ek, T.; Logan, R.A.; Chen, Y.K.; Wu, M.C.; Choa, F.S.; Tsang, W.T.; Burrus, C.A.;
By: Reichmann, K.; Magi, P.; Sergent, A.M.; Chu, S.N.G.; Tanbun-Ek, T.; Logan, R.A.; Chen, Y.K.; Wu, M.C.; Choa, F.S.; Tsang, W.T.; Burrus, C.A.;
1999 / IEEE / 1-55752-582-X
By: Guo, W.Y.; Lee, C.C.; Su, J.H.; Chen, Y.K.; Tu, Y.k.; Wang, C.S.; Tsai, F.Y.;
By: Guo, W.Y.; Lee, C.C.; Su, J.H.; Chen, Y.K.; Tu, Y.k.; Wang, C.S.; Tsai, F.Y.;
1999 / IEEE / 1-55752-582-X
By: Tsai, F.Y.; Chen, Y.K.; Su, J.H.; Lee, C.C.; Chi, S.; Tu, Y.K.; Wang, C.S.;
By: Tsai, F.Y.; Chen, Y.K.; Su, J.H.; Lee, C.C.; Chi, S.; Tu, Y.K.; Wang, C.S.;
1999 / IEEE
By: Chen, Y.K.; Krajewski, J.J.; Tsai, H.S.; Kwo, J.; Cho, A.Y.; Kuo, J.M.; Hong, M.; Wang, Y.C.; Mannaerts, J.P.;
By: Chen, Y.K.; Krajewski, J.J.; Tsai, H.S.; Kwo, J.; Cho, A.Y.; Kuo, J.M.; Hong, M.; Wang, Y.C.; Mannaerts, J.P.;
1999 / IEEE / 0-7803-5585-7
By: Mattia, J.P.; Stanchina, W.; Nguyen, L.; Sokolich, M.; Groepper, C.; Reinhold, M.; Georgieu, G.; Winkler Von Mohrenfels, T.; Dorschky, C.; Chen, Y.K.; Tsai, H.S.; Baeyens, Y.; Pullela, R.;
By: Mattia, J.P.; Stanchina, W.; Nguyen, L.; Sokolich, M.; Groepper, C.; Reinhold, M.; Georgieu, G.; Winkler Von Mohrenfels, T.; Dorschky, C.; Chen, Y.K.; Tsai, H.S.; Baeyens, Y.; Pullela, R.;
1999 / IEEE / 0-7803-5298-X
By: Pullela, R.; Baeyens, Y.; Chen, Y.K.; Wang, Y.C.; Kopf, R.F.; Hamm, R.A.; Georgiou, G.; Tsai, H.S.; Mattia, J.P.;
By: Pullela, R.; Baeyens, Y.; Chen, Y.K.; Wang, Y.C.; Kopf, R.F.; Hamm, R.A.; Georgiou, G.; Tsai, H.S.; Mattia, J.P.;
1996 / IEEE / 1-55752-443-2
By: Tanbun-Ek, T.; Chen, Y.K.; Chuang, S.L.; Fang, W.; Chang, C.S.; Minch, J.;
By: Tanbun-Ek, T.; Chen, Y.K.; Chuang, S.L.; Fang, W.; Chang, C.S.; Minch, J.;
2000 / IEEE
By: Hu, C.J.; Chen, Y.K.; Tzeng, S.L.; Tu, Y.K.; Lee, C.C.; Chang, C.H.; Lu, M.K.; Feng, K.M.;
By: Hu, C.J.; Chen, Y.K.; Tzeng, S.L.; Tu, Y.K.; Lee, C.C.; Chang, C.H.; Lu, M.K.; Feng, K.M.;
2000 / IEEE / 1-55752-634-6
By: Feng, K.M.; Chang, C.H.; Lee, C.C.; Chen, Y.K.; Tu, Y.K.; Liaw, J.W.; Tzeng, S.L.;
By: Feng, K.M.; Chang, C.H.; Lee, C.C.; Chen, Y.K.; Tu, Y.K.; Liaw, J.W.; Tzeng, S.L.;
2001 / IEEE / 0-7803-6663-8
By: Frackoviak, J.; Georgiou, G.; Baeyens, Y.; Chen, Y.K.; Liu, C.T.; Chen, C.; Weiner, J.; Kopf, R.; Leven, A.; Lee, Q.; Paschke, P.; Houtsma, V.;
By: Frackoviak, J.; Georgiou, G.; Baeyens, Y.; Chen, Y.K.; Liu, C.T.; Chen, C.; Weiner, J.; Kopf, R.; Leven, A.; Lee, Q.; Paschke, P.; Houtsma, V.;
1993 / IEEE
By: Tanbun-Ek, T.; Chen, Y.K.; Sciortino, P.F.; Wecht, K.W.; Sergent, A.M.; Tate, A.; Logan, R.A.;
By: Tanbun-Ek, T.; Chen, Y.K.; Sciortino, P.F.; Wecht, K.W.; Sergent, A.M.; Tate, A.; Logan, R.A.;
2002 / IEEE / 1-55752-701-6
By: Chen, Y.K.; Koc, U.; Liu, C.-T.; Kopf, R.; Chen, C.; Yang, Y.; Frackoviak, J.; Tate, A.; Leven, A.; Paschke, P.; Berger, M.; Weiner, J.; Tu, K.; Georgiou, G.; Roux, P.; Houstma, V.; Baeyens, Y.;
By: Chen, Y.K.; Koc, U.; Liu, C.-T.; Kopf, R.; Chen, C.; Yang, Y.; Frackoviak, J.; Tate, A.; Leven, A.; Paschke, P.; Berger, M.; Weiner, J.; Tu, K.; Georgiou, G.; Roux, P.; Houstma, V.; Baeyens, Y.;
2002 / IEEE / 0-7803-7447-9
By: Baeyens, Y.; Houtsma, V.; Leven, A.; Weiner, J.S.; Paschke, P.; Chen, Y.K.;
By: Baeyens, Y.; Houtsma, V.; Leven, A.; Weiner, J.S.; Paschke, P.; Chen, Y.K.;
2002 / IEEE / 0-7803-7447-9
By: Chua, L.-L.; Sung, W.J.; Liu, C.T.; Frackoviak, J.; Yang, Y.; Chen, Y.K.; Baeyens, Y.; Weiner, J.S.; Georgiou, G.; Houtsma, V.; Chen, C.J.; Werder, D.; Ruel, R.; Kopf, R.; Reyes, R.; Tong, J.; Tate, A.;
By: Chua, L.-L.; Sung, W.J.; Liu, C.T.; Frackoviak, J.; Yang, Y.; Chen, Y.K.; Baeyens, Y.; Weiner, J.S.; Georgiou, G.; Houtsma, V.; Chen, C.J.; Werder, D.; Ruel, R.; Kopf, R.; Reyes, R.; Tong, J.; Tate, A.;
2002 / IEEE / 0-7803-7447-9
By: Chen, C.; Chen, Y.K.; Baeyens, Y.; Leven, A.; Lee, J.; Yang, Y.; Kopf, R.; Chua, L.; Frackvoiak, J.; Liu, C.-T.; Sung, W.J.;
By: Chen, C.; Chen, Y.K.; Baeyens, Y.; Leven, A.; Lee, J.; Yang, Y.; Kopf, R.; Chua, L.; Frackvoiak, J.; Liu, C.-T.; Sung, W.J.;
1987 / IEEE
By: Radulescu, D.C.; Wang, G.W.; Chen, Y.K.; Strid, E.; Eastman, L.F.; Tasker, P.J.; Lepore, A.N.;
By: Radulescu, D.C.; Wang, G.W.; Chen, Y.K.; Strid, E.; Eastman, L.F.; Tasker, P.J.; Lepore, A.N.;
2002 / IEEE / 0-7803-7478-9
By: Chang, M.F.; Zhu, E.J.; Chen, J.; Chen, Y.K.; Sung, W.J.; Liu, C.T.; Werder, D.J.; Kopf, R.F.;
By: Chang, M.F.; Zhu, E.J.; Chen, J.; Chen, Y.K.; Sung, W.J.; Liu, C.T.; Werder, D.J.; Kopf, R.F.;
2003 / IEEE / 0-7803-7704-4
By: Weimann, N.G.; Sung, W.J.; Kopf, R.F.; Yang, Y.; Houtsma, V.; Chen, Y.K.;
By: Weimann, N.G.; Sung, W.J.; Kopf, R.F.; Yang, Y.; Houtsma, V.; Chen, Y.K.;
2003 / IEEE / 0-7803-7695-1
By: Houtsma, V.; Baeyens, Y.; Roux, P.; Chen, Y.K.; Benz, A.; Weiner, J.; Leven, A.;
By: Houtsma, V.; Baeyens, Y.; Roux, P.; Chen, Y.K.; Benz, A.; Weiner, J.; Leven, A.;
2003 / IEEE / 0-7803-7694-3
By: Paschke, P.; Baeyens, Y.; Roux, P.; Chen, Y.K.; Houtsma, V.; Weisser, S.; Hocke, R.; Leven, A.;
By: Paschke, P.; Baeyens, Y.; Roux, P.; Chen, Y.K.; Houtsma, V.; Weisser, S.; Hocke, R.; Leven, A.;