Your Search Results
Use materials by this author in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content such as case studies and journal articles for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!

Author: Carmel, Y.
Results
1992 / IEEE / 000-0-0000-0000-0
By: Abe, D.K.; Bromborsky, A.; Miller, S.M.; Levush, B.; Carmel, Y.; Antonsen, T.;
By: Abe, D.K.; Bromborsky, A.; Miller, S.M.; Levush, B.; Carmel, Y.; Antonsen, T.;
1990 / IEEE
By: Bidwell, S.W.; Antonsen, T.M., Jr.; Radack, D.J.; Booske, J.H.; Serbeto, A.; Mayergoyz, I.D.; Carmel, Y.; Levush, B.; Latham, P.E.; Granatstein, V.L.; Freund, H.P.; Destler, W.W.;
By: Bidwell, S.W.; Antonsen, T.M., Jr.; Radack, D.J.; Booske, J.H.; Serbeto, A.; Mayergoyz, I.D.; Carmel, Y.; Levush, B.; Latham, P.E.; Granatstein, V.L.; Freund, H.P.; Destler, W.W.;
1990 / IEEE
By: Rodgers, J.; Lou, W.; Minami, K.; Carmel, Y.; Kehs, R.A.; Abe, D.K.; Granatstein, V.L.; Destler, W.W.;
By: Rodgers, J.; Lou, W.; Minami, K.; Carmel, Y.; Kehs, R.A.; Abe, D.K.; Granatstein, V.L.; Destler, W.W.;
1990 / IEEE
By: Granatstein, V.L.; Carmel, Y.; Minami, K.; Watanabe, T.; Ogura, K.; Destler, W.W.; Hosokawa, T.; Ali, M.M.; Kehs, R.A.; Abe, D.K.; Lou, W.;
By: Granatstein, V.L.; Carmel, Y.; Minami, K.; Watanabe, T.; Ogura, K.; Destler, W.W.; Hosokawa, T.; Ali, M.M.; Kehs, R.A.; Abe, D.K.; Lou, W.;
1989 / IEEE
By: Latham, P.E.; Carmel, Y.; Lawson, W.; Calame, J.; Striffler, C.D.; Granatstein, V.L.; Miller, S.; Read, M.E.; Naiman, M.; Hogan, B.; Skopec, M.; Welsh, D.;
By: Latham, P.E.; Carmel, Y.; Lawson, W.; Calame, J.; Striffler, C.D.; Granatstein, V.L.; Miller, S.; Read, M.E.; Naiman, M.; Hogan, B.; Skopec, M.; Welsh, D.;
Demonstration of efficiency enhancement in a high power backward wave oscillator by plasma injection
1989 / IEEEBy: Destler, W.W.; Carmel, Y.; Kehs, R.A.; Lou, W.R.; Abe, D.; Minami, K.; Granatstein, V.L.;
1992 / IEEE
By: Guo, H.; Granatstein, V.L.; Destler, W.; Bromborsky, A.; Abe, D.K.; Rodgers, J.; Chen, L.; Lou, W.R.; Carmel, Y.;
By: Guo, H.; Granatstein, V.L.; Destler, W.; Bromborsky, A.; Abe, D.K.; Rodgers, J.; Chen, L.; Lou, W.R.; Carmel, Y.;
1992 / IEEE / 0-7803-0611-2
By: Destler, W.W.; Tate, J.; Levush, B.; Rodgers, J.; Granatstein, V.L.; Lou, W.R.; Carmel, Y.; Antonsen, T.M., Jr.;
By: Destler, W.W.; Tate, J.; Levush, B.; Rodgers, J.; Granatstein, V.L.; Lou, W.R.; Carmel, Y.; Antonsen, T.M., Jr.;
1991 / IEEE / 0-7803-0243-5
By: Chen, L.; Cai, S.; Antonsen, T.M., Jr.; Levush, B.; Carmel, Y.; Guo, H.; Granatstein, V.L.;
By: Chen, L.; Cai, S.; Antonsen, T.M., Jr.; Levush, B.; Carmel, Y.; Guo, H.; Granatstein, V.L.;
1991 / IEEE / 0-7803-0243-5
By: Granatstein, V.; Rodgers, J.; Carmel, Y.; Miller, S.; Abe, D.; Destler, W.; Bromborsky, A.; Antonsen, T., Jr.; Levush, B.; Lou, W.R.;
By: Granatstein, V.; Rodgers, J.; Carmel, Y.; Miller, S.; Abe, D.; Destler, W.; Bromborsky, A.; Antonsen, T., Jr.; Levush, B.; Lou, W.R.;
1994 / IEEE
By: Ogura, K.; Weaver, J.; Main, W.; Granatstein, V.L.; Destler, W.W.; Minami, K.; Amin, M.R.; Watanabe, S.; Carmel, Y.; Bromborsky, A.; Rodgers, J.; Tate, J.P.; Kobayashi, S.; Nusinovich, G.S.;
By: Ogura, K.; Weaver, J.; Main, W.; Granatstein, V.L.; Destler, W.W.; Minami, K.; Amin, M.R.; Watanabe, S.; Carmel, Y.; Bromborsky, A.; Rodgers, J.; Tate, J.P.; Kobayashi, S.; Nusinovich, G.S.;
1995 / IEEE
By: Weaver, J.; Main, W.; Carmel, Y.; Watanabe, T.; Minami, K.; Destler, W.W.; Ogura, K.; Amin, M.R.; Kitamura, H.; Granatstein, V.L.;
By: Weaver, J.; Main, W.; Carmel, Y.; Watanabe, T.; Minami, K.; Destler, W.W.; Ogura, K.; Amin, M.R.; Kitamura, H.; Granatstein, V.L.;
1995 / IEEE
By: Zheng, X.D.; Ogura, K.; Amin, M.R.; Aiba, Y.; Watanabe, T.; Minami, K.; Granatstein, V.L.; Destler, W.W.; Carmel, Y.;
By: Zheng, X.D.; Ogura, K.; Amin, M.R.; Aiba, Y.; Watanabe, T.; Minami, K.; Granatstein, V.L.; Destler, W.W.; Carmel, Y.;
1995 / IEEE / 0-7803-2669-5
By: Weaver, J.; Kobayashi, S.; Granatstein, V.; Destler, W.; Ogura, K.; Carmel, Y.; Shkuvarnets, A.;
By: Weaver, J.; Kobayashi, S.; Granatstein, V.; Destler, W.; Ogura, K.; Carmel, Y.; Shkuvarnets, A.;
1995 / IEEE / 0-7803-2669-5
By: Rodgers, J.; Carmel, Y.; Shkuvarunets, A.; Kobayashi, S.; Weaver, J.; Granatstein, V.L.; Destler, W.W.;
By: Rodgers, J.; Carmel, Y.; Shkuvarunets, A.; Kobayashi, S.; Weaver, J.; Granatstein, V.L.; Destler, W.W.;
1996 / IEEE
By: Vlasov, A.N.; Antonsen, T.M., Jr.; Levush, B.; Ludeking, L.; Abe, D.K.; Schlesiger, C.; Nusinovich, G.S.; Bromborsky, A.; Destler, W.W.; Granatstein, V.L.; Carmel, Y.; Miller, S.M.;
By: Vlasov, A.N.; Antonsen, T.M., Jr.; Levush, B.; Ludeking, L.; Abe, D.K.; Schlesiger, C.; Nusinovich, G.S.; Bromborsky, A.; Destler, W.W.; Granatstein, V.L.; Carmel, Y.; Miller, S.M.;
1996 / IEEE
By: Shkvarunets, A.G.; Destler, W.W.; Granatstein, V.L.; Antonsen, T.M., Jr.; Kobayashi, S.; Rodgers, J.; Carmel, Y.; Weaver, J.;
By: Shkvarunets, A.G.; Destler, W.W.; Granatstein, V.L.; Antonsen, T.M., Jr.; Kobayashi, S.; Rodgers, J.; Carmel, Y.; Weaver, J.;
1996 / IEEE / 0-7803-3322-5
By: Destler, W.W.; Weaver, J.; Kobayashi, S.; Shkvarunets, A.; Carmel, Y.; Granatstein, V.L.; Antonsen, T.M., Jr.; Rodgers, J.;
By: Destler, W.W.; Weaver, J.; Kobayashi, S.; Shkvarunets, A.; Carmel, Y.; Granatstein, V.L.; Antonsen, T.M., Jr.; Rodgers, J.;
1994 / IEEE / 0-7803-2006-9
By: Granatstein, V.L.; Destler, W.W.; Kobayashi, S.; Miller, S.; Weaver, J.; Nusinovich, G.; Levush, B.; Rodgers, J.; Antonsen, T.M., Jr.; Carmel, Y.;
By: Granatstein, V.L.; Destler, W.W.; Kobayashi, S.; Miller, S.; Weaver, J.; Nusinovich, G.; Levush, B.; Rodgers, J.; Antonsen, T.M., Jr.; Carmel, Y.;
1994 / IEEE / 0-7803-2006-9
By: Weaver, J.; Kobayashi, S.; Granatstein, V.L.; Destler, W.W.; Bromborskyt, A.; Tate, J.P.; Minamit, K.; Watanabet, S.; Amint, M.R.; Ogurat, K.; Nusinovich, G.S.; Main, W.; Carmel, Y.;
By: Weaver, J.; Kobayashi, S.; Granatstein, V.L.; Destler, W.W.; Bromborskyt, A.; Tate, J.P.; Minamit, K.; Watanabet, S.; Amint, M.R.; Ogurat, K.; Nusinovich, G.S.; Main, W.; Carmel, Y.;
1994 / IEEE / 0-7803-2006-9
By: Carmel, Y.; Minami, K.; Granatstein, V.L.; Destler, W.W.; Ogura, K.; Watanabe, T.; Amin, M.R.; Aiba, Y.;
By: Carmel, Y.; Minami, K.; Granatstein, V.L.; Destler, W.W.; Ogura, K.; Watanabe, T.; Amin, M.R.; Aiba, Y.;
1994 / IEEE / 0-7803-2006-9
By: Minami, K.; Granatstein, V.L.; Destler, W.W.; Carmel, Y.; University, N.; Watanabe, T.; Ogura, K.; Naito, Y.; Sugawara, A.;
By: Minami, K.; Granatstein, V.L.; Destler, W.W.; Carmel, Y.; University, N.; Watanabe, T.; Ogura, K.; Naito, Y.; Sugawara, A.;
1994 / IEEE / 0-7803-2006-9
By: Levush, B.; Antonsen, T.M., Jr.; Carmel, Y.; Granatstein, V.L.; Destler, W.W.; Nusinovich, G.;
By: Levush, B.; Antonsen, T.M., Jr.; Carmel, Y.; Granatstein, V.L.; Destler, W.W.; Nusinovich, G.;
1993 / IEEE / 0-7803-1360-7
By: Ogura, K.; Carmel, Y.; Main, W.; Granatstein, V.L.; Weaver, J.; Destler, W.W.; Nusinovitch, G.; Watanabe, S.; Tate, J.;
By: Ogura, K.; Carmel, Y.; Main, W.; Granatstein, V.L.; Weaver, J.; Destler, W.W.; Nusinovitch, G.; Watanabe, S.; Tate, J.;
1993 / IEEE / 0-7803-1360-7
By: Antonsen, T., Jr.; Abe, D.K.; Miller, S.M.; Levush, B.; Granatstein, V.L.; Destler, W.W.; Carmel, Y.;
By: Antonsen, T., Jr.; Abe, D.K.; Miller, S.M.; Levush, B.; Granatstein, V.L.; Destler, W.W.; Carmel, Y.;
Low cost infrared temperature measurement and optimal process control in microwave sintering systems
1997 / IEEE / 0-7803-3990-8By: Carmel, Y.; Calame, J.P.; Gershon, D.; Pert, E.;
1997 / IEEE / 0-7803-3990-8
By: Destler, W.W.; Levush, B.; Antonsen, T.M., Jr.; Bromborsky, A.; Carmel, Y.; Miller, S.M.; Abe, D.K.;
By: Destler, W.W.; Levush, B.; Antonsen, T.M., Jr.; Bromborsky, A.; Carmel, Y.; Miller, S.M.; Abe, D.K.;
1998 / IEEE / 0-7803-4792-7
By: Vlasov, A.; Shakvanmets, A.; Duan, L.; Granatstein, V.L.; Levush, B.; Rodgers, J.; Antonsen, T.M., Jr.; Carmel, Y.; Botton, M.; Kobayashi, S.;
By: Vlasov, A.; Shakvanmets, A.; Duan, L.; Granatstein, V.L.; Levush, B.; Rodgers, J.; Antonsen, T.M., Jr.; Carmel, Y.; Botton, M.; Kobayashi, S.;
1998 / IEEE / 0-7803-4792-7
By: Antonsen, T.M., Jr.; Carmel, Y.; Nusinovich, G.S.; Santoru, J.; Goebel, D.M.;
By: Antonsen, T.M., Jr.; Carmel, Y.; Nusinovich, G.S.; Santoru, J.; Goebel, D.M.;
1998 / IEEE / 0-7803-4792-7
By: Shkvarunets, A.; Granatstein, V.L.; Antonsen, T.M., Jr.; Rodgers, J.; Carmel, Y.; Kobayashi, S.;
By: Shkvarunets, A.; Granatstein, V.L.; Antonsen, T.M., Jr.; Rodgers, J.; Carmel, Y.; Kobayashi, S.;
1991 / IEEE / 0-7803-0147-1
By: Carmel, Y.; Lou, W.R.; Graatstein, V.I.; Destler, W.W.; Antonsen, T.M.; Levush, B.; Rodgers, J.;
By: Carmel, Y.; Lou, W.R.; Graatstein, V.I.; Destler, W.W.; Antonsen, T.M.; Levush, B.; Rodgers, J.;
1991 / IEEE / 0-7803-0147-1
By: Levush, B.; Latham, P.E.; Granatstein, V.L.; Freundt, H.P.; Destler, W.W.; Carmel, Y.; Antonsen, T.M.; Zhang, Z.X.; Radack, D.J.; Bidwell, S.W.; Mayergoyz, I.D.;
By: Levush, B.; Latham, P.E.; Granatstein, V.L.; Freundt, H.P.; Destler, W.W.; Carmel, Y.; Antonsen, T.M.; Zhang, Z.X.; Radack, D.J.; Bidwell, S.W.; Mayergoyz, I.D.;
1992 / IEEE / 0-7803-0716-X
By: Granatstein, V.L.; Destler, W.W.; Abe, D.; Lou, W.R.; Carmel, Y.; Nusinovich, G.S.; Miller, S.; Bromborsky, A.; Levush, B.; Vlasov, A.;
By: Granatstein, V.L.; Destler, W.W.; Abe, D.; Lou, W.R.; Carmel, Y.; Nusinovich, G.S.; Miller, S.; Bromborsky, A.; Levush, B.; Vlasov, A.;
1992 / IEEE / 0-7803-0716-X
By: Antonsen, T.; Carmel, Y.; Granatstein, V.L.; Destler, W.W.; Levush, B.; Bromborsky, A.; Rodgers, J.; Lou, W.;
By: Antonsen, T.; Carmel, Y.; Granatstein, V.L.; Destler, W.W.; Levush, B.; Bromborsky, A.; Rodgers, J.; Lou, W.;
1998 / IEEE
By: Bromborsky, A.; Miller, S.M.; Carmel, Y.; Abe, D.K.; Destler, W.W.; Antonsen, T.M.; Levush, B.;
By: Bromborsky, A.; Miller, S.M.; Carmel, Y.; Abe, D.K.; Destler, W.W.; Antonsen, T.M.; Levush, B.;
1998 / IEEE
By: Shkvarunets, A.G.; Kobayashi, S.; Carmel, Y.; Rodgers, J.; Antonsen, T.M.; Duan, L.; Granatstein, V.L.;
By: Shkvarunets, A.G.; Kobayashi, S.; Carmel, Y.; Rodgers, J.; Antonsen, T.M.; Duan, L.; Granatstein, V.L.;
1998 / IEEE
By: Tanaka, K.; Minami, K.; Xiaodong Zheng; Carmel, Y.; Vlasov, A.N.; Granatstein, V.L.;
By: Tanaka, K.; Minami, K.; Xiaodong Zheng; Carmel, Y.; Vlasov, A.N.; Granatstein, V.L.;
1998 / IEEE
By: Duan, L.; Botton, M.; Kobayashi, S.; Granatstein, V.L.; Carmel, Y.; Vlasov, A.N.; Shkvarunets, A.G.; Rodgers, J.; Antonsen, T.M.;
By: Duan, L.; Botton, M.; Kobayashi, S.; Granatstein, V.L.; Carmel, Y.; Vlasov, A.N.; Shkvarunets, A.G.; Rodgers, J.; Antonsen, T.M.;
1989 / IEEE
By: Booske, J.H.; Granatstein, V.l.; Freund, H.P.; Zhang, Z.X.; Mayergoyz, I.D.; Levush, B.; Latham, P.E.; Destler, W.W.; Carmel, Y.; Bidwell, S.W.; Antonsen, T.M.; Radack, D.J.;
By: Booske, J.H.; Granatstein, V.l.; Freund, H.P.; Zhang, Z.X.; Mayergoyz, I.D.; Levush, B.; Latham, P.E.; Destler, W.W.; Carmel, Y.; Bidwell, S.W.; Antonsen, T.M.; Radack, D.J.;
1999 / IEEE / 0-7803-5224-6
By: Antonsen, T.M., Jr.; Nusinovich, G.S.; Rodgers, J.; Kobayashi, S.; Shkvarunets, A.; Carmel, Y.; Granatstein, V.L.;
By: Antonsen, T.M., Jr.; Nusinovich, G.S.; Rodgers, J.; Kobayashi, S.; Shkvarunets, A.; Carmel, Y.; Granatstein, V.L.;
1999 / IEEE / 0-7803-5224-6
By: Carmel, Y.; Shkvarunets, A.; Kobayashi, S.; Granatstein, V.L.; Antonsen, T.M., Jr.; Rodgers, J.;
By: Carmel, Y.; Shkvarunets, A.; Kobayashi, S.; Granatstein, V.L.; Antonsen, T.M., Jr.; Rodgers, J.;
1999 / IEEE / 0-7803-5224-6
By: Gershon, D.; Calame, J.; Olorunyolemi, T.; Lloyd, I.; Carmel, Y.; Pert, E.; Wilson, O., Jr.; Birnboim, A.; Jaworski, A.; Walter, M.; Xu, G.;
By: Gershon, D.; Calame, J.; Olorunyolemi, T.; Lloyd, I.; Carmel, Y.; Pert, E.; Wilson, O., Jr.; Birnboim, A.; Jaworski, A.; Walter, M.; Xu, G.;
1999 / IEEE / 0-7803-5224-6
By: Gershon, D.; Calame, J.; Pert, E.; Olorunyolemi, T.; Wilson, O.; Lloyd, I.; Carmel, Y.;
By: Gershon, D.; Calame, J.; Pert, E.; Olorunyolemi, T.; Wilson, O.; Lloyd, I.; Carmel, Y.;
1999 / IEEE / 0-7803-5224-6
By: Shkvarunets, A.; Granatstein, V.; Antonsen, T., Jr.; Rodgers, J.; Carmel, Y.; Kobayashi, S.;
By: Shkvarunets, A.; Granatstein, V.; Antonsen, T., Jr.; Rodgers, J.; Carmel, Y.; Kobayashi, S.;
1999 / IEEE / 0-7803-5224-6
By: Carmel, Y.; Ivanov, I.; Strelkov, P.; Loza, O.; Granatstein, V.L.; Antonsen, T., Jr.; Rodgers, J.;
By: Carmel, Y.; Ivanov, I.; Strelkov, P.; Loza, O.; Granatstein, V.L.; Antonsen, T., Jr.; Rodgers, J.;
2000 / IEEE / 0-7803-5987-9
By: Carmel, Y.; Gershon, D.; Pert, E.; Xu, G.; Wilson, O.; Olorunyolemi, T.; Lloyd, I.;
By: Carmel, Y.; Gershon, D.; Pert, E.; Xu, G.; Wilson, O.; Olorunyolemi, T.; Lloyd, I.;
2000 / IEEE / 0-7803-5982-8
By: Granatstein, V.L.; Botton, M.; Nusinovich, G.S.; Cherepenin, V.A.; Lingze, D.; Shkvarunets, A.G.; Abuelfadl, T.M.; Antonsen, T.M., Jr.; Carmel, Y.; Rodgers, J.; Vlasov, A.N.;
By: Granatstein, V.L.; Botton, M.; Nusinovich, G.S.; Cherepenin, V.A.; Lingze, D.; Shkvarunets, A.G.; Abuelfadl, T.M.; Antonsen, T.M., Jr.; Carmel, Y.; Rodgers, J.; Vlasov, A.N.;
2000 / IEEE
By: Shkvarunets, A.G.; Vlasov, A.N.; Granatstein, V.L.; Botton, M.; Nusinovich, G.S.; Rodgers, J.C.; Cherepenin, V.A.; Lingze, D.; Abuelfadl, T.M.; Antonsen, T.M., Jr.; Carmel, Y.;
By: Shkvarunets, A.G.; Vlasov, A.N.; Granatstein, V.L.; Botton, M.; Nusinovich, G.S.; Rodgers, J.C.; Cherepenin, V.A.; Lingze, D.; Abuelfadl, T.M.; Antonsen, T.M., Jr.; Carmel, Y.;
2001 / IEEE / 0-7803-7141-0
By: Goebel, D.; Rodgers, J.; Antonsen, T., Jr.; Abu-Elfadl, T.; Nusinovich, G.S.; Shkvarunets, A.G.; Carmel, Y.;
By: Goebel, D.; Rodgers, J.; Antonsen, T., Jr.; Abu-Elfadl, T.; Nusinovich, G.S.; Shkvarunets, A.G.; Carmel, Y.;
2002 / IEEE / 0-7803-7256-5
By: Wilson, O.C., Jr.; Lloyd, I.K.; Carmel, Y.; Xu, G.; Olorunyolemi, T.;
By: Wilson, O.C., Jr.; Lloyd, I.K.; Carmel, Y.; Xu, G.; Olorunyolemi, T.;
2002 / IEEE / 0-7803-7256-5
By: Shkvarunets, A.G.; Goebel, D.M.; Granatstein, V.; Antonsen, T.M., Jr.; Rodgers, J.; Abu-elfadl, T.M.; Nusinovich, G.S.; Carmel, Y.;
By: Shkvarunets, A.G.; Goebel, D.M.; Granatstein, V.; Antonsen, T.M., Jr.; Rodgers, J.; Abu-elfadl, T.M.; Nusinovich, G.S.; Carmel, Y.;
2002 / IEEE / 0-7803-7407-X
By: Carmel, Y.; Shkvarunets, A.G.; Granatstein, V.; Antonsen, T.M., Jr.; Rodgers, J.; Abuelfadl, T.M.; Nusinovich, G.S.;
By: Carmel, Y.; Shkvarunets, A.G.; Granatstein, V.; Antonsen, T.M., Jr.; Rodgers, J.; Abuelfadl, T.M.; Nusinovich, G.S.;
2002 / IEEE / 0-7803-7407-X
By: Nusinovich, G.S.; Abuelfadl, T.M.; Goebel, D.M.; Granatstein, V.L.; Antonsen, T.M., Jr.; Carmel, Y.; Shkvarunets, A.G.;
By: Nusinovich, G.S.; Abuelfadl, T.M.; Goebel, D.M.; Granatstein, V.L.; Antonsen, T.M., Jr.; Carmel, Y.; Shkvarunets, A.G.;
1984 / IEEE
By: Kammerer, E.; Chu, K.R.; Carmel, Y.; Mourier, G.; Read, M.E.; Boulanger, P.; Faillon, G.; Granatstein, V.L.;
By: Kammerer, E.; Chu, K.R.; Carmel, Y.; Mourier, G.; Read, M.E.; Boulanger, P.; Faillon, G.; Granatstein, V.L.;
2002 / IEEE
By: Nusinovich, G.S.; Abu-elfadl, T.A.; Goebel, D.A.; Granatstein, V.L.; Antonsen, T.M., Jr.; Carmel, Y.; Shkvarunets, A.G.;
By: Nusinovich, G.S.; Abu-elfadl, T.A.; Goebel, D.A.; Granatstein, V.L.; Antonsen, T.M., Jr.; Carmel, Y.; Shkvarunets, A.G.;
2004 / IEEE / 0-7803-8261-7
By: Carmel, Y.; Rodgers, J.; Shkvarunets, A.G.; Nusinovich, G.S.; Goebel, D.M.; Bliokh, Y.;
By: Carmel, Y.; Rodgers, J.; Shkvarunets, A.G.; Nusinovich, G.S.; Goebel, D.M.; Bliokh, Y.;
2004 / IEEE / 0-7803-8334-6
By: Carmel, Y.; Verboncoeur, J.P.; Bliokh, Y.; Shkvarunets, A.G.; Nusinovich, G.S.;
By: Carmel, Y.; Verboncoeur, J.P.; Bliokh, Y.; Shkvarunets, A.G.; Nusinovich, G.S.;
2004 / IEEE / 0-7803-8334-6
By: Rodgers, J.; Shkvarunets, A.G.; Abu-Elfadl, T.M.; Nusinovich, G.S.; Carmel, Y.; Antonsen, T.M., Jr.; Verboncoeur, J.P.; Goebel, D.M.; Bliokh, Y.; Granatstein, V.;
By: Rodgers, J.; Shkvarunets, A.G.; Abu-Elfadl, T.M.; Nusinovich, G.S.; Carmel, Y.; Antonsen, T.M., Jr.; Verboncoeur, J.P.; Goebel, D.M.; Bliokh, Y.; Granatstein, V.;
2005 / IEEE
By: Goebel, D.M.; Bliokh, Y.P.; Granatstein, V.L.; Antonsen, T.M., Jr.; Verboncoeur, J.P.; Shkvarunets, A.G.; Carmel, Y.; Nusinovich, G.S.; Rodgers, J.C.;
By: Goebel, D.M.; Bliokh, Y.P.; Granatstein, V.L.; Antonsen, T.M., Jr.; Verboncoeur, J.P.; Shkvarunets, A.G.; Carmel, Y.; Nusinovich, G.S.; Rodgers, J.C.;
1982 / IEEE
By: Chu, K.R.; Carmel, Y.; Granatstein, V.L.; Levine, J.S.; Ganguly, A.K.; Read, M.; Seeley, R.; Dialetis, D.;
By: Chu, K.R.; Carmel, Y.; Granatstein, V.L.; Levine, J.S.; Ganguly, A.K.; Read, M.; Seeley, R.; Dialetis, D.;
2005 / IEEE / 0-7803-9348-1
By: Carmel, Y.; Nusinovich, G.S.; Antonsen, T.M., Jr.; Granatstein, V.L.; Chang, R.; Rodgers, J.;
By: Carmel, Y.; Nusinovich, G.S.; Antonsen, T.M., Jr.; Granatstein, V.L.; Chang, R.; Rodgers, J.;
2006 / IEEE / 966-322-006-6
By: Granatstein, V.L.; Rodgers, J.C.; Shkvarunets, A.G.; Carmel, Y.; Felsteiner, J.; Nusinovich, G.S.; Bliokh, Yu.P.;
By: Granatstein, V.L.; Rodgers, J.C.; Shkvarunets, A.G.; Carmel, Y.; Felsteiner, J.; Nusinovich, G.S.; Bliokh, Yu.P.;
2005 / IEEE / 0-7803-9300-7
By: Antonsen, T.; Granatstein, V.; Ran Chang; Rodgers, J.; Nusinovich, G.; Carmel, Y.;
By: Antonsen, T.; Granatstein, V.; Ran Chang; Rodgers, J.; Nusinovich, G.; Carmel, Y.;
2005 / IEEE / 0-7803-9300-7
By: Shkvarunets, A.; Rodgers, J.; Antonsen, T.; Nusinovich, G.; Carmel, Y.;
By: Shkvarunets, A.; Rodgers, J.; Antonsen, T.; Nusinovich, G.; Carmel, Y.;
2007 / IEEE / 978-1-4244-0915-0
By: Sinitsyn, O.V.; Carmel, Y.; Shkvarunets, A.G.; Rodgers, J.; Nusinovich, G.S.;
By: Sinitsyn, O.V.; Carmel, Y.; Shkvarunets, A.G.; Rodgers, J.; Nusinovich, G.S.;
2008 / IEEE
By: Nusinovich, G.S.; Bliokh, Y.P.; Felsteiner, J.; Carmel, Y.; Shkvarunets, A.G.; Rodgers, J.C.;
By: Nusinovich, G.S.; Bliokh, Y.P.; Felsteiner, J.; Carmel, Y.; Shkvarunets, A.G.; Rodgers, J.C.;
1990 / IEEE
By: Destler, W.W.; Carmel, Y.; Bromborsky, A.; Abe, D.K.; Kehs, R.A.; Granatstein, V.L.;
By: Destler, W.W.; Carmel, Y.; Bromborsky, A.; Abe, D.K.; Kehs, R.A.; Granatstein, V.L.;
1990 / IEEE
By: Granatstein, V.L.; Destler, W.W.; Lou, W.R.; Carmel, Y.; Minami, K.; Kehs, R.A.; Rodgers, J.;
By: Granatstein, V.L.; Destler, W.W.; Lou, W.R.; Carmel, Y.; Minami, K.; Kehs, R.A.; Rodgers, J.;
Absolute instability for enhanced radiation from a high-power plasma filled backward wave oscillator
1990 / IEEEBy: Minami, K.; Ali, M.M.; Abe, D.; Lou, W.R.; Carmel, Y.; Kehs, R.A.; Destler, W.W.; Granatstien, V.L.; Watanabe, T.; Ozawa, T.; Kazama, H.; Hosokawa, T.; Ogura, K.;
1990 / IEEE
By: Levush, B.; Marable, W.P.; Granatstein, V.L.; Freund, H.P.; Latham, P.E.; Destler, W.W.; Carmel, Y.; Booske, J.H.; Antonsen, T.M.; Bidwell, S.W.; Radack, D.J.; Zhang, Z.X.; Rodgers, J.; Mayergoyz, I.D.;
By: Levush, B.; Marable, W.P.; Granatstein, V.L.; Freund, H.P.; Latham, P.E.; Destler, W.W.; Carmel, Y.; Booske, J.H.; Antonsen, T.M.; Bidwell, S.W.; Radack, D.J.; Zhang, Z.X.; Rodgers, J.; Mayergoyz, I.D.;
2011 / IEEE / 978-1-4244-9879-6
By: Barkol, O.; Banner, R.; Zilinsky, O.; Ish-Hurwitz, I.; Carmel, Y.; Golan, S.; Bergman, R.;
By: Barkol, O.; Banner, R.; Zilinsky, O.; Ish-Hurwitz, I.; Carmel, Y.; Golan, S.; Bergman, R.;