Your Search Results
Use materials by this author in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content such as case studies and journal articles for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!

Author: Carlsten, B.E.
Results
1992 / IEEE / 000-0-0000-0000-0
By: Kwan, T.J.; Fazio, M.V.; Faehl, R.J.; Carlsten, B.E.; Stringfield, R.M.; Ryne, R.D.; Rickel, D.G.;
By: Kwan, T.J.; Fazio, M.V.; Faehl, R.J.; Carlsten, B.E.; Stringfield, R.M.; Ryne, R.D.; Rickel, D.G.;
1992 / IEEE / 000-0-0000-0000-0
By: Kinross-Wright, J.; Fazio, M.V.; Brown, D.J.; Wheat, R.M.; Carlsten, B.E.; Hoeberling, R.F.; Stringfield, R.M.; Faehl, R.J.; Rodenz, G.;
By: Kinross-Wright, J.; Fazio, M.V.; Brown, D.J.; Wheat, R.M.; Carlsten, B.E.; Hoeberling, R.F.; Stringfield, R.M.; Faehl, R.J.; Rodenz, G.;
1989 / IEEE
By: Lumpkin, A.H.; Rule, D.W.; Fiorito, R.B.; Carlsten, B.E.; Feldman, D.W.; Feldman, R.B.;
By: Lumpkin, A.H.; Rule, D.W.; Fiorito, R.B.; Carlsten, B.E.; Feldman, D.W.; Feldman, R.B.;
1991 / IEEE
By: Young, L.M.; Carlsten, B.E.; O'Shea, P.G.; Browman, M.J.; Blind, B.; Feldman, R.B.; Feldman, D.W.; Lumpkin, A.H.; Thode, L.E.; Jones, M.E.;
By: Young, L.M.; Carlsten, B.E.; O'Shea, P.G.; Browman, M.J.; Blind, B.; Feldman, R.B.; Feldman, D.W.; Lumpkin, A.H.; Thode, L.E.; Jones, M.E.;
1991 / IEEE
By: Feldman, R.B.; Early, J.; Carlsten, B.E.; Bender, S.C.; Feldman, D.W.; Johnson, W.J.D.; Sheffield, R.L.; Young, L.M.; Stein, W.E.; O'Shea, P.G.; Lumpkin, A.H.;
By: Feldman, R.B.; Early, J.; Carlsten, B.E.; Bender, S.C.; Feldman, D.W.; Johnson, W.J.D.; Sheffield, R.L.; Young, L.M.; Stein, W.E.; O'Shea, P.G.; Lumpkin, A.H.;
1992 / IEEE
By: Faehl, R.J.; Fazio, M.V.; Carlsten, B.E.; Rickel, D.G.; Wasierski, R.F.; Stringfield, R.M.; Kwan, T.J.T.;
By: Faehl, R.J.; Fazio, M.V.; Carlsten, B.E.; Rickel, D.G.; Wasierski, R.F.; Stringfield, R.M.; Kwan, T.J.T.;
1991 / IEEE / 0-7803-0135-8
By: Tallerico, P.J.; Stringfield, R.M.; Rickel, D.G.; Kwan, T.J.; Faehl, R.; Carlsten, B.E.; Fazio, M.V.;
By: Tallerico, P.J.; Stringfield, R.M.; Rickel, D.G.; Kwan, T.J.; Faehl, R.; Carlsten, B.E.; Fazio, M.V.;
1991 / IEEE / 0-7803-0135-8
By: Young, L.M.; Stein, W.E.; Springer, R.W.; Sheffield, R.L.; Lumpkin, A.H.; Johnson, W.J.D.; O'Shea, P.G.; Feldman, R.B.; Feldman, D.W.; Early, J.W.; Carlsten, B.E.; Bender, S.C.;
By: Young, L.M.; Stein, W.E.; Springer, R.W.; Sheffield, R.L.; Lumpkin, A.H.; Johnson, W.J.D.; O'Shea, P.G.; Feldman, R.B.; Feldman, D.W.; Early, J.W.; Carlsten, B.E.; Bender, S.C.;
1993 / IEEE / 0-7803-1203-1
By: Rodenz, G.; Carlsten, B.E.; Fazio, M.V.; Kinross-Wright, J.; Faehl, R.J.; Brown, D.J.; Wheat, R.M.; Stringfield, R.M.; Hoeberling, R.F.;
By: Rodenz, G.; Carlsten, B.E.; Fazio, M.V.; Kinross-Wright, J.; Faehl, R.J.; Brown, D.J.; Wheat, R.M.; Stringfield, R.M.; Hoeberling, R.F.;
1994 / IEEE
By: Fazio, M.V.; Faehl, R.J.; Carlsten, B.E.; Stringfield, R.M.; Ryne, R.D.; Haynes, W.B.;
By: Fazio, M.V.; Faehl, R.J.; Carlsten, B.E.; Stringfield, R.M.; Ryne, R.D.; Haynes, W.B.;
1995 / IEEE / 0-7803-2934-1
By: Russell, S.; Plato, J.G.; Feldman, D.W.; Kinross-Wright, J.M.; Milder, M.L.; Carlsten, B.E.; Williams, M.; Sturges, R.; Cooper, R.; Timmer, C.; Warren, D.; Lovato, R.; Studebaker, J.; Sherwood, B.; Shapiro, A.;
By: Russell, S.; Plato, J.G.; Feldman, D.W.; Kinross-Wright, J.M.; Milder, M.L.; Carlsten, B.E.; Williams, M.; Sturges, R.; Cooper, R.; Timmer, C.; Warren, D.; Lovato, R.; Studebaker, J.; Sherwood, B.; Shapiro, A.;
1993 / IEEE / 0-7803-1360-7
By: Speciale, R.A.; Sar, D.R.; Kato, K.G.; Crouch, D.D.; Carlsten, B.E.; Stringfield, R.M.; Garate, E.P.; Kwan, T.J.T.; Fazio, M.V.;
By: Speciale, R.A.; Sar, D.R.; Kato, K.G.; Crouch, D.D.; Carlsten, B.E.; Stringfield, R.M.; Garate, E.P.; Kwan, T.J.T.; Fazio, M.V.;
1989 / IEEE
By: Young, L.M.; Carlsten, B.E.; Thode, L.E.; Chan, K.C.D.; Svaton, E.M.; Blind, B.; Jones, M.E.;
By: Young, L.M.; Carlsten, B.E.; Thode, L.E.; Chan, K.C.D.; Svaton, E.M.; Blind, B.; Jones, M.E.;
1997 / IEEE / 0-7803-4376-X
By: Fortgang, C.M.; Fazio, M.V.; Carlsten, B.E.; Earley, L.M.; Haynes, W.B.; Haddock, P.C.;
By: Fortgang, C.M.; Fazio, M.V.; Carlsten, B.E.; Earley, L.M.; Haynes, W.B.; Haddock, P.C.;
1999 / IEEE / 0-7803-5573-3
By: Carlsten, B.E.; Burns, M.J.; Westenskow, G.; Sampayan, S.; Chen, Y.-J.; Chen, Y.-J.; Kwan, T.J.T.; Caporaso, G.J.; Rutkowski, H.L.; Burgess, E.L.; Watson, S.A.; Prono, D.S.; Moir, D.C.;
By: Carlsten, B.E.; Burns, M.J.; Westenskow, G.; Sampayan, S.; Chen, Y.-J.; Chen, Y.-J.; Kwan, T.J.T.; Caporaso, G.J.; Rutkowski, H.L.; Burgess, E.L.; Watson, S.A.; Prono, D.S.; Moir, D.C.;
2001 / IEEE / 0-7803-7191-7
By: Davis, H.A.; Caporaso, G.J.; Carlsten, B.E.; Bums, M.J.; Hughes, T.P.; Westenskow, G.A.; Watson, J.A.; Sampayan, S.; Cook, E.G.; Chen, Y.-J.; Ekdahl, C.A.; Yu, S.S.; Waldron, W.L.; Rutkowski, H.L.; Fawley, W.M.; Chow, K.P.; Wilkinson, C.A.; Nielsen, K.E.; Merrill, F.E.; McCuistian, B.T.; Fortgang, C.M.;
By: Davis, H.A.; Caporaso, G.J.; Carlsten, B.E.; Bums, M.J.; Hughes, T.P.; Westenskow, G.A.; Watson, J.A.; Sampayan, S.; Cook, E.G.; Chen, Y.-J.; Ekdahl, C.A.; Yu, S.S.; Waldron, W.L.; Rutkowski, H.L.; Fawley, W.M.; Chow, K.P.; Wilkinson, C.A.; Nielsen, K.E.; Merrill, F.E.; McCuistian, B.T.; Fortgang, C.M.;
2004 / IEEE / 0-7803-8261-7
By: Russell, S.J.; Carlsten, B.E.; Humphries, S.; Ferguson, P.; Potter, J.M.; Earley, L.M.;
By: Russell, S.J.; Carlsten, B.E.; Humphries, S.; Ferguson, P.; Potter, J.M.; Earley, L.M.;
2004 / IEEE / 0-7803-8334-6
By: Earley, L.M.; Russell, S.J.; Carlsten, B.E.; Humphries, S.; Ferguson, P.; Potter, J.M.;
By: Earley, L.M.; Russell, S.J.; Carlsten, B.E.; Humphries, S.; Ferguson, P.; Potter, J.M.;
2005 / IEEE
By: Krawczyk, F.L.; Earley, L.M.; Russell, S.J.; Carlsten, B.E.; Humphries, S., Jr.; Ferguson, P.; Potter, J.M.;
By: Krawczyk, F.L.; Earley, L.M.; Russell, S.J.; Carlsten, B.E.; Humphries, S., Jr.; Ferguson, P.; Potter, J.M.;
2006 / IEEE / 1-4244-0108-9
By: Smirnova, E.L.; Wheat, R.M.; Romero, F.P.; Krawczyk, F.L.; Kirbie, H.C.; Sigler, F.E.; Haynes, W.B.; Earley, L.M.; Carlsten, B.E.; Brown, R.W.; Bishofberger, K.A.; Russell, S.J.; Ferguson, P.; Humphries, S.; Wang, Z.-F.;
By: Smirnova, E.L.; Wheat, R.M.; Romero, F.P.; Krawczyk, F.L.; Kirbie, H.C.; Sigler, F.E.; Haynes, W.B.; Earley, L.M.; Carlsten, B.E.; Brown, R.W.; Bishofberger, K.A.; Russell, S.J.; Ferguson, P.; Humphries, S.; Wang, Z.-F.;
2006 / IEEE / 1-4244-0108-9
By: Haynes, W.B.; Wang, Z.F.; Carlsten, B.E.; Smirnova, E.I.; Krawczyk, F.L.; Earley, L.M.; Russell, S.J.;
By: Haynes, W.B.; Wang, Z.F.; Carlsten, B.E.; Smirnova, E.I.; Krawczyk, F.L.; Earley, L.M.; Russell, S.J.;
2006 / IEEE / 1-4244-0108-9
By: Carlsten, B.E.; Earley, L.M.; Larsen, P.B.; Booske, J.H.; Wheat, R.M.;
By: Carlsten, B.E.; Earley, L.M.; Larsen, P.B.; Booske, J.H.; Wheat, R.M.;
2006 / IEEE
By: Zhi-Fu Wang; Smirnova, E.I.; Russell, S.J.; Romero, F.P.; Carlsten, B.E.; Haynes, W.B.; Earley, L.M.; Krawczyk, F.L.;
By: Zhi-Fu Wang; Smirnova, E.I.; Russell, S.J.; Romero, F.P.; Carlsten, B.E.; Haynes, W.B.; Earley, L.M.; Krawczyk, F.L.;
2009 / IEEE / 978-1-4244-3500-5
By: Bishofberger, K.; Carlsten, B.E.; Faehl, R.J.; Svimonishvili, T.;
By: Bishofberger, K.; Carlsten, B.E.; Faehl, R.J.; Svimonishvili, T.;
2010 / IEEE / 978-1-4244-5476-1
By: Carlsten, B.E.; Faehl, R.J.; Bishofberger, K.; Svimonishvili, T.;
By: Carlsten, B.E.; Faehl, R.J.; Bishofberger, K.; Svimonishvili, T.;