Your Search Results
Use materials by this author in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content such as case studies and journal articles for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!

Author: Canedy, C.L.
Results
2014 / IEEE
By: Bowers, J.E.; Stanton, E.J.; Vurgaftman, I.; Kim, C.S.; Bewley, W.W.; Merritt, C.D.; Abell, J.; Canedy, C.L.; Meyer, R.; Bovington, J.T.; Liu, A.Y.; Davenport, M.L.; Spott, A.; Heck, M.J.;
By: Bowers, J.E.; Stanton, E.J.; Vurgaftman, I.; Kim, C.S.; Bewley, W.W.; Merritt, C.D.; Abell, J.; Canedy, C.L.; Meyer, R.; Bovington, J.T.; Liu, A.Y.; Davenport, M.L.; Spott, A.; Heck, M.J.;
1999 / IEEE / 0-7803-5135-5
By: Romanofsky, R.R.; Miranda, F.A.; Mueller, C.H.; Van Keuls, F.W.; Kim, W.J.; Canedy, C.L.; Horwitz, J.S.; Chang, W.; Ramesh, R.; Venkatesan, T.; Aggarwal, S.;
By: Romanofsky, R.R.; Miranda, F.A.; Mueller, C.H.; Van Keuls, F.W.; Kim, W.J.; Canedy, C.L.; Horwitz, J.S.; Chang, W.; Ramesh, R.; Venkatesan, T.; Aggarwal, S.;
2000 / IEEE
By: Romanofsky, R.R.; van Keuls, F.; Miranda, F.A.; Subramanyam, G.; Ramesh, R.; Venkatesan, A.T.; Canedy, C.L.;
By: Romanofsky, R.R.; van Keuls, F.; Miranda, F.A.; Subramanyam, G.; Ramesh, R.; Venkatesan, A.T.; Canedy, C.L.;
2000 / IEEE / 0-7803-5687-X
By: Subramanyam, G.; Ramesh, R.; Venkatesan, T.; Aggarval, S.; Canedy, C.L.; Van Keuls, F.W.; Romanofsky, R.R.; Miranda, F.A.;
By: Subramanyam, G.; Ramesh, R.; Venkatesan, T.; Aggarval, S.; Canedy, C.L.; Van Keuls, F.W.; Romanofsky, R.R.; Miranda, F.A.;
2001 / IEEE / 0-7803-7432-0
By: Martinelli, R.U.; Leet, H.; Manfra, M.J.; Turner, G.W.; Meyer, J.R.; Felix, C.L.; Canedy, C.L.; Lindle, J.R.; Bartolo, R.E.; Vurgaftman, I.; Bewley, W.W.;
By: Martinelli, R.U.; Leet, H.; Manfra, M.J.; Turner, G.W.; Meyer, J.R.; Felix, C.L.; Canedy, C.L.; Lindle, J.R.; Bartolo, R.E.; Vurgaftman, I.; Bewley, W.W.;
2003 / IEEE / 0-7803-7888-1
By: Yang, R.Q.; Muller, R.; Echternach, P.M.; Meyer, J.R.; Lindle, J.R.; Kaspi, R.; Canedy, C.L.; Kim, M.; Kim, C.S.; Vurgaftman, I.; Bewley, W.W.;
By: Yang, R.Q.; Muller, R.; Echternach, P.M.; Meyer, J.R.; Lindle, J.R.; Kaspi, R.; Canedy, C.L.; Kim, M.; Kim, C.S.; Vurgaftman, I.; Bewley, W.W.;
2003 / IEEE / 1-55752-748-2
By: Kim, C.S.; Bewley, W.W.; Vurgaftman, I.; Meyer, J.R.; Lindle, J.R.; Canedy, C.L.;
By: Kim, C.S.; Bewley, W.W.; Vurgaftman, I.; Meyer, J.R.; Lindle, J.R.; Canedy, C.L.;
2004 / IEEE / 1-55752-777-6
By: Vurgaftman, I.; Kim, M.; Kim, C.S.; Canedy, C.L.; Bewley, W.W.; Meyer, J.R.; Lindle, J.R.;
By: Vurgaftman, I.; Kim, M.; Kim, C.S.; Canedy, C.L.; Bewley, W.W.; Meyer, J.R.; Lindle, J.R.;
2004 / IEEE / 0-7803-8557-8
By: Vurgaftman, I.; Canedy, C.L.; Bewley, W.W.; Meyer, J.R.; Kim, M.; Kim, C.S.; Lindle, J.R.;
By: Vurgaftman, I.; Canedy, C.L.; Bewley, W.W.; Meyer, J.R.; Kim, M.; Kim, C.S.; Lindle, J.R.;
2005 / IEEE / 1-55752-795-4
By: Kim, M.; Lindle, J.R.; Vurgaftman, I.; Kim, C.S.; Bewley, W.W.; Meyer, J.R.; Canedy, C.L.;
By: Kim, M.; Lindle, J.R.; Vurgaftman, I.; Kim, C.S.; Bewley, W.W.; Meyer, J.R.; Canedy, C.L.;
2006 / IEEE / 0-7803-9560-3
By: Adams, A.R.; O'Brien, K.; Meyer, J.R.; Vurgaftman, I.; Sweeney, S.J.; Canedy, C.L.; Murdin, B.N.; Ahmad, C.N.; Jin, S.R.;
By: Adams, A.R.; O'Brien, K.; Meyer, J.R.; Vurgaftman, I.; Sweeney, S.J.; Canedy, C.L.; Murdin, B.N.; Ahmad, C.N.; Jin, S.R.;
2007 / IEEE
By: Bewley, W.W.; Kim, M.; Kim, C.S.; Meyer, J.R.; Vurgaftman, I.; Lindle, J.R.; Canedy, C.L.;
By: Bewley, W.W.; Kim, M.; Kim, C.S.; Meyer, J.R.; Vurgaftman, I.; Lindle, J.R.; Canedy, C.L.;
2007 / IEEE / 978-1-4244-1101-6
By: Meyer, J.R.; Vurgaftman, I.; Lindle, J.R.; Nolde, J.A.; Chul Soo Kim; Canedy, C.L.; Bewley, W.W.; Mijin Kim; Larrabee, D.C.;
By: Meyer, J.R.; Vurgaftman, I.; Lindle, J.R.; Nolde, J.A.; Chul Soo Kim; Canedy, C.L.; Bewley, W.W.; Mijin Kim; Larrabee, D.C.;
2007 / IEEE / 978-1-4244-0924-2
By: Vurgaftman, I.; Ryan Lindle, J.; Larrabee, D.C.; Nolde, J.A.; Meyer, J.R.; Canedy, C.L.; Bewley, W.W.; Mijin Kim; Chul Soo Kim;
By: Vurgaftman, I.; Ryan Lindle, J.; Larrabee, D.C.; Nolde, J.A.; Meyer, J.R.; Canedy, C.L.; Bewley, W.W.; Mijin Kim; Chul Soo Kim;
2007 / IEEE / 978-1-4244-1891-6
By: Meyer, J.R.; Vurgaftman, I.; Nolde, J.A.; Larrabee, D.C.; Bewley, W.W.; Kim, M.; Kim, C.S.; Canedy, C.L.; Lindle, J.R.;
By: Meyer, J.R.; Vurgaftman, I.; Nolde, J.A.; Larrabee, D.C.; Bewley, W.W.; Kim, M.; Kim, C.S.; Canedy, C.L.; Lindle, J.R.;
2007 / IEEE / 978-1-55752-834-6
By: Kim, C.S.; Canedy, C.L.; Bewley, W.W.; Meyer, J.R.; Kim, M.; Vurgaftman, I.; Lindle, J.R.; Nolde, J.A.; Larrabee, D.C.;
By: Kim, C.S.; Canedy, C.L.; Bewley, W.W.; Meyer, J.R.; Kim, M.; Vurgaftman, I.; Lindle, J.R.; Nolde, J.A.; Larrabee, D.C.;
2008 / IEEE / 978-1-55752-859-9
By: Canedy, C.L.; Bewley, W.W.; Meyer, J.R.; Vurgaftman, I.; Lindle, J.R.; Larrabee, D.C.; Nolde, J.A.; Kim, M.; Kim, C.S.;
By: Canedy, C.L.; Bewley, W.W.; Meyer, J.R.; Vurgaftman, I.; Lindle, J.R.; Larrabee, D.C.; Nolde, J.A.; Kim, M.; Kim, C.S.;
2008 / IEEE / 978-1-4244-1931-9
By: Bewley, W.W.; Kim, M.; Kim, C.S.; Lindle, J.R.; Meyer, J.R.; Vurgaftman, I.; Canedy, C.L.;
By: Bewley, W.W.; Kim, M.; Kim, C.S.; Lindle, J.R.; Meyer, J.R.; Vurgaftman, I.; Canedy, C.L.;
2009 / IEEE / 978-1-55752-869-8
By: Bewley, W.W.; Meyer, J.R.; Vurgaftman, I.; Abell, J.; Canedy, C.L.; Lindle, J.R.; Kim, M.; Kim, C.S.;
By: Bewley, W.W.; Meyer, J.R.; Vurgaftman, I.; Abell, J.; Canedy, C.L.; Lindle, J.R.; Kim, M.; Kim, C.S.;
2010 / IEEE / 978-1-55752-890-2
By: Chul Soo Kim; Zeidel, V.; Tsai, T.R.; Maiorov, M.; Heaps, C.W.; Trofimov, I.; Mijin Kim; Wysocki, G.; Meyer, J.R.; Vurgaftman, I.; Lindle, J.R.; Bewley, W.W.; Canedy, C.L.;
By: Chul Soo Kim; Zeidel, V.; Tsai, T.R.; Maiorov, M.; Heaps, C.W.; Trofimov, I.; Mijin Kim; Wysocki, G.; Meyer, J.R.; Vurgaftman, I.; Lindle, J.R.; Bewley, W.W.; Canedy, C.L.;
2010 / IEEE / 978-1-55752-890-2
By: Kim, C.S.; Canedy, C.L.; Bewley, W.W.; Meyer, J.R.; Kim, M.; Vurgaftman, I.; Abell, J.; Lindle, J.R.;
By: Kim, C.S.; Canedy, C.L.; Bewley, W.W.; Meyer, J.R.; Kim, M.; Vurgaftman, I.; Abell, J.; Lindle, J.R.;
2011 / IEEE
By: Mijin Kim; Bewley, W.W.; Chul Soo Kim; Canedy, C.L.; Lindle, J.R.; Vurgaftman, I.; Meyer, J.R.; Abell, J.; Merritt, C.D.;
By: Mijin Kim; Bewley, W.W.; Chul Soo Kim; Canedy, C.L.; Lindle, J.R.; Vurgaftman, I.; Meyer, J.R.; Abell, J.; Merritt, C.D.;