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Author: Canali, C.
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2013 / IEEE
By: Gligorova, A.; Aghion, S.; Ahlen, O.; Belov, A. S.; Bonomi, G.; Braunig, P.; Bremer, J.; Brusa, R. S.; Burghart, G.; Cabaret, L.; Caccia, M.; Canali, C.; Caravita, R.; Castelli, F.; Cerchiari, G.; Cialdi, S.; Comparat, D.; Consolati, G.; Derking, J. H.; Da Via, C.; Di Domizio, S.; Di Noto, L.; Doser, M.; Dudarev, A.; Ferragut, R.; Fontana, A.; Genova, P.; Giammarchi, M.; Gninenko, S. N.; Haider, S.; Huse, T.; Jordan, E.; Jorgensen, L. V.; Kaltenbacher, T.; Kellerbauer, A.; Knecht, A.; Krasnicky, D.; Lagomarsino, V.; Lehner, S.; Magnani, A.; Malbrunot, C.; Mariazzi, S.; Matveev, V. A.; Moia, F.; Nellist, C.; Nebbia, G.; Nedelec, P.; Oberthaler, M.; Pacifico, N.; Petracek, V.; Prelz, F.; Prevedelli, M.; Regenfus, C.; Riccardi, C.; Rohne, O.; Rotondi, A.; Sandaker, H.; Subieta Vasquez, M. A.; Spacek, M.; Testera, G.; Widmann, E.; Yzombard, P.; Zavatarelli, S.; Zmeskal, J.;
By: Gligorova, A.; Aghion, S.; Ahlen, O.; Belov, A. S.; Bonomi, G.; Braunig, P.; Bremer, J.; Brusa, R. S.; Burghart, G.; Cabaret, L.; Caccia, M.; Canali, C.; Caravita, R.; Castelli, F.; Cerchiari, G.; Cialdi, S.; Comparat, D.; Consolati, G.; Derking, J. H.; Da Via, C.; Di Domizio, S.; Di Noto, L.; Doser, M.; Dudarev, A.; Ferragut, R.; Fontana, A.; Genova, P.; Giammarchi, M.; Gninenko, S. N.; Haider, S.; Huse, T.; Jordan, E.; Jorgensen, L. V.; Kaltenbacher, T.; Kellerbauer, A.; Knecht, A.; Krasnicky, D.; Lagomarsino, V.; Lehner, S.; Magnani, A.; Malbrunot, C.; Mariazzi, S.; Matveev, V. A.; Moia, F.; Nellist, C.; Nebbia, G.; Nedelec, P.; Oberthaler, M.; Pacifico, N.; Petracek, V.; Prelz, F.; Prevedelli, M.; Regenfus, C.; Riccardi, C.; Rohne, O.; Rotondi, A.; Sandaker, H.; Subieta Vasquez, M. A.; Spacek, M.; Testera, G.; Widmann, E.; Yzombard, P.; Zavatarelli, S.; Zmeskal, J.;
1990 / IEEE
By: Paccagnella, A.; Magistrali, F.; Gabrielli, B.; Corti, E.; Canali, C.; Tedesco, C.; Sangalli, M.;
By: Paccagnella, A.; Magistrali, F.; Gabrielli, B.; Corti, E.; Canali, C.; Tedesco, C.; Sangalli, M.;
1990 / IEEE
By: Magistrali, F.; Bigliardi, S.; Lugli, P.; Capelletti, R.; Manfredi, M.; Zanoni, E.; Canali, C.; Testa, N.; Paccagnella, A.;
By: Magistrali, F.; Bigliardi, S.; Lugli, P.; Capelletti, R.; Manfredi, M.; Zanoni, E.; Canali, C.; Testa, N.; Paccagnella, A.;
1991 / IEEE
By: Spiazzi, G.; Zanoni, E.; Canali, C.; Muschitiello, M.; Bonati, B.; Dalla Libera, G.;
By: Spiazzi, G.; Zanoni, E.; Canali, C.; Muschitiello, M.; Bonati, B.; Dalla Libera, G.;
1992 / IEEE
By: Pisoni, P.; Paccagnella, A.; Bigliardi, S.; Manfredi, M.; Zanoni, E.; Canali, C.; Tedesco, C.;
By: Pisoni, P.; Paccagnella, A.; Bigliardi, S.; Manfredi, M.; Zanoni, E.; Canali, C.; Tedesco, C.;
1991 / IEEE / 0-87942-680-2
By: Sangalli, M.; Magistrali, F.; Canali, C.; Marchetti, F.; Castellaneta, G.; Zanoni, E.; Tedesco, C.;
By: Sangalli, M.; Magistrali, F.; Canali, C.; Marchetti, F.; Castellaneta, G.; Zanoni, E.; Tedesco, C.;
1993 / IEEE
By: Zanoni, E.; Canali, C.; Vendrame, L.; Verzellesi, G.; Pavan, P.; Stork, J.M.C.; Crabbe, E.F.;
By: Zanoni, E.; Canali, C.; Vendrame, L.; Verzellesi, G.; Pavan, P.; Stork, J.M.C.; Crabbe, E.F.;
1993 / IEEE
By: Anderson, W.T.; Streit, D.C.; Manfredi, M.; Bigliardi, S.; Canali, C.; Zanoni, E.; Tedesco, C.;
By: Anderson, W.T.; Streit, D.C.; Manfredi, M.; Bigliardi, S.; Canali, C.; Zanoni, E.; Tedesco, C.;
1993 / IEEE
By: Canali, C.; Marty, A.; Chantre, A.; Collini, A.; Zanoni, E.; Turetta, R.; Verzellesi, G.; Pavan, P.;
By: Canali, C.; Marty, A.; Chantre, A.; Collini, A.; Zanoni, E.; Turetta, R.; Verzellesi, G.; Pavan, P.;
1993 / IEEE
By: Paccagnella, A.; Gotra, Y.; Fuochi, P.G.; Canali, C.; Bisello, D.; Bacchetta, N.; Verzellesi, G.;
By: Paccagnella, A.; Gotra, Y.; Fuochi, P.G.; Canali, C.; Bisello, D.; Bacchetta, N.; Verzellesi, G.;
1993 / IEEE
By: Gotra, Y.; Giraldo, A.; Fusaro, G.; Da Ros, R.; Fuochi, P.G.; Paccagnella, A.; Canali, C.; Bisello, D.; Bacchetta, N.; Verzellesi, G.;
By: Gotra, Y.; Giraldo, A.; Fusaro, G.; Da Ros, R.; Fuochi, P.G.; Paccagnella, A.; Canali, C.; Bisello, D.; Bacchetta, N.; Verzellesi, G.;
1992 / IEEE / 0-7803-0884-0
By: Fuochi, P.G.; Canali, C.; Verzellesi, G.; Paccagnella, A.; Gotra, Y.; Bisello, D.; Bacchetta, N.;
By: Fuochi, P.G.; Canali, C.; Verzellesi, G.; Paccagnella, A.; Gotra, Y.; Bisello, D.; Bacchetta, N.;
1992 / IEEE / 0-7803-0817-4
By: Crabbe, E.F.; Zanoni, E.; Canali, C.; Vendrame, L.; Verzellesi, G.; Pavan, P.; Stork, J.M.C.;
By: Crabbe, E.F.; Zanoni, E.; Canali, C.; Vendrame, L.; Verzellesi, G.; Pavan, P.; Stork, J.M.C.;
1994 / IEEE
By: Zanoni, E.; Tedesco, C.; Pavan, P.; Neviani, A.; Malik, R.; Capasso, F.; Canali, C.;
By: Zanoni, E.; Tedesco, C.; Pavan, P.; Neviani, A.; Malik, R.; Capasso, F.; Canali, C.;
1994 / IEEE
By: Cho, A.Y.; Sivco, D.L.; Zanoni, E.; Manfredi, M.; Tedesco, C.; Luryi, S.; Canali, C.; Mastrapasqua, M.;
By: Cho, A.Y.; Sivco, D.L.; Zanoni, E.; Manfredi, M.; Tedesco, C.; Luryi, S.; Canali, C.; Mastrapasqua, M.;
1995 / IEEE
By: Manfredi, M.; Pecchini, M.; Canali, C.; Pavesi, M.; Bahl, S.R.; Zanoni, E.; Berthold, G.; del Alamo, J.A.;
By: Manfredi, M.; Pecchini, M.; Canali, C.; Pavesi, M.; Bahl, S.R.; Zanoni, E.; Berthold, G.; del Alamo, J.A.;
1995 / IEEE / 0-7803-3180-X
By: Canali, C.; Alietti, M.; Nava, F.; Lanzieri, C.; Re, V.; del Papa, C.; Cavallini, A.;
By: Canali, C.; Alietti, M.; Nava, F.; Lanzieri, C.; Re, V.; del Papa, C.; Cavallini, A.;
1996 / IEEE
By: Nava, F.; del Papa, C.; Lanzieri, C.; Re, V.; Alietti, M.; Chiossi, C.; Cavallini, A.; Canali, C.;
By: Nava, F.; del Papa, C.; Lanzieri, C.; Re, V.; Alietti, M.; Chiossi, C.; Cavallini, A.; Canali, C.;
1995 / IEEE / 0-7803-2031-X
By: De Bortoli, E.; Cova, P.; Canali, C.; Zanoni, E.; Menozzi, R.; Meneghesso, G.; Fantini, F.;
By: De Bortoli, E.; Cova, P.; Canali, C.; Zanoni, E.; Menozzi, R.; Meneghesso, G.; Fantini, F.;
1996 / IEEE
By: Canali, C.; Zandler, G.; Zanoni, E.; Loris Vendrame; Neviani, A.; Manfredi, M.; Malik, R.; Lugli, P.; Carlo, A.D.; Pavan, P.;
By: Canali, C.; Zandler, G.; Zanoni, E.; Loris Vendrame; Neviani, A.; Manfredi, M.; Malik, R.; Lugli, P.; Carlo, A.D.; Pavan, P.;
1996 / IEEE / 0-7803-3358-6
By: Brown, J.; Matloubian, M.; Meneghesso, G.; Zanoni, E.; Liu, T.; Neviani, A.; Mion, A.; Canali, C.;
By: Brown, J.; Matloubian, M.; Meneghesso, G.; Zanoni, E.; Liu, T.; Neviani, A.; Mion, A.; Canali, C.;
1996 / IEEE / 0-7803-3393-4
By: Takyiu Liu; Hafizi, M.; Brown, J.; Matloubian, M.; Neviani, A.; Canali, C.; Meneghesso, G.; Zanoni, E.; Mion, A.; Manfredi, M.; Pavesi, M.;
By: Takyiu Liu; Hafizi, M.; Brown, J.; Matloubian, M.; Neviani, A.; Canali, C.; Meneghesso, G.; Zanoni, E.; Mion, A.; Manfredi, M.; Pavesi, M.;
1996 / IEEE / 0-7803-3179-6
By: Castaldini, A.; Nava, F.; del Papa, C.; Canali, C.; Polenta, L.; Cavallini, A.;
By: Castaldini, A.; Nava, F.; del Papa, C.; Canali, C.; Polenta, L.; Cavallini, A.;
1996 / IEEE / 0-7803-3534-1
By: Paccagnella, A.; Meneghesso, G.; Canali, C.; Pessina, G.; Fedyakin, N.; Camin, D.V.; Gasparetto, G.;
By: Paccagnella, A.; Meneghesso, G.; Canali, C.; Pessina, G.; Fedyakin, N.; Camin, D.V.; Gasparetto, G.;
1996 / IEEE / 0-7803-3534-1
By: Vanni, P.; Bertuccio, G.; Nava, F.; Peroni, M.; Cavallini, A.; Canali, C.; Fantacci, M.E.;
By: Vanni, P.; Bertuccio, G.; Nava, F.; Peroni, M.; Cavallini, A.; Canali, C.; Fantacci, M.E.;
1997 / IEEE
By: Camin, D.V.; Paccagnella, A.; Meneghesso, G.; Canali, C.; Pessina, G.; Fedyakin, N.;
By: Camin, D.V.; Paccagnella, A.; Meneghesso, G.; Canali, C.; Pessina, G.; Fedyakin, N.;
1997 / IEEE
By: Peroni, M.; Cavallini, A.; Canali, C.; Fantacci, M.E.; Vanni, P.; Bertuccio, G.; Nava, F.;
By: Peroni, M.; Cavallini, A.; Canali, C.; Fantacci, M.E.; Vanni, P.; Bertuccio, G.; Nava, F.;
1997 / IEEE / 0-7803-4258-5
By: Nava, F.; Rudello, V.; Egeni, G.; Vittone, E.; Polesello, P.; Manfredotti, C.; Canali, C.; Vanni, P.;
By: Nava, F.; Rudello, V.; Egeni, G.; Vittone, E.; Polesello, P.; Manfredotti, C.; Canali, C.; Vanni, P.;
1998 / IEEE
By: Manfredotti, C.; Apostolo, G.; Canali, C.; Vanni, P.; Nava, F.; Vittone, E.; Polesello, P.;
By: Manfredotti, C.; Apostolo, G.; Canali, C.; Vanni, P.; Nava, F.; Vittone, E.; Polesello, P.;
1998 / IEEE
By: Ghezzi, C.; Manfredi, M.; Pavesi, M.; Menozzi, R.; Canali, C.; Peroni, M.; Lanzieri, C.;
By: Ghezzi, C.; Manfredi, M.; Pavesi, M.; Menozzi, R.; Canali, C.; Peroni, M.; Lanzieri, C.;
1998 / IEEE / 0-7803-4995-4
By: Meneghesso, G.; Di Carlo, A.; Zanoni, E.; Pavesi, M.; Canali, C.; Manfredi, M.;
By: Meneghesso, G.; Di Carlo, A.; Zanoni, E.; Pavesi, M.; Canali, C.; Manfredi, M.;
1998 / IEEE / 0-7803-4774-9
By: Zanoni, E.; Canali, C.; Castaldini, A.; Cavallini, A.; Verzellesi, G.; Bartolini, A.; Meneghesso, G.;
By: Zanoni, E.; Canali, C.; Castaldini, A.; Cavallini, A.; Verzellesi, G.; Bartolini, A.; Meneghesso, G.;
1999 / IEEE / 0-7803-5220-3
By: Lanzieri, C.; Dieci, D.; Menozzi, R.; Gaddi, R.; Zanoni, E.; Canali, C.; Meneghesso, G.;
By: Lanzieri, C.; Dieci, D.; Menozzi, R.; Gaddi, R.; Zanoni, E.; Canali, C.; Meneghesso, G.;
1999 / IEEE / 0-7803-5585-7
By: Lanzieri, C.; Sozzi, G.; Messori, M.; Dieci, D.; Menozzi, R.; Canali, C.;
By: Lanzieri, C.; Sozzi, G.; Messori, M.; Dieci, D.; Menozzi, R.; Canali, C.;
1999 / IEEE / 0-7803-5298-X
By: Tomasi, T.; Dieci, D.; Zanoni, E.; Canali, C.; Meneghesso, G.; Buttari, D.;
By: Tomasi, T.; Dieci, D.; Zanoni, E.; Canali, C.; Meneghesso, G.; Buttari, D.;
2000 / IEEE / 0-7803-5860-0
By: Canali, C.; Lanzieri, C.; Sozzi, G.; Tomasi, T.; Menozzi, R.; Dieci, D.;
By: Canali, C.; Lanzieri, C.; Sozzi, G.; Tomasi, T.; Menozzi, R.; Dieci, D.;
2000 / IEEE / 0-7803-5939-9
By: Canali, C.; Nava, F.; Polenta, L.; Cavallini, A.; Castaldini, A.; Lanzieri, C.;
By: Canali, C.; Nava, F.; Polenta, L.; Cavallini, A.; Castaldini, A.; Lanzieri, C.;
2000 / IEEE / 0-7908-0102-7
By: Canali, C.; Lanzieri, C.; Dieci, D.; Tediosi, E.; Sozzi, G.; Menozzi, R.;
By: Canali, C.; Lanzieri, C.; Dieci, D.; Tediosi, E.; Sozzi, G.; Menozzi, R.;
2001 / IEEE / 0-7803-7049-X
By: Lanzieri, C.; Zanoni, E.; Meneghesso, G.; Chini, A.; Canali, C.; Vicini, L.; Verzellesi, G.; Mazzanti, A.;
By: Lanzieri, C.; Zanoni, E.; Meneghesso, G.; Chini, A.; Canali, C.; Vicini, L.; Verzellesi, G.; Mazzanti, A.;
2001 / IEEE / 0-7908-0066-7
By: Verzellesi, G.; Sozzi, G.; Menozzi, R.; Canali, C.; Lanzieri, C.; Borgarino, M.;
By: Verzellesi, G.; Sozzi, G.; Menozzi, R.; Canali, C.; Lanzieri, C.; Borgarino, M.;
1994 / IEEE
By: Canali, C.; Berthold, G.; Bahl, S.; del Alamo, J.A.; Neviani, A.; Pavesi, M.; Manfredi, M.; Zanoni, E.;
By: Canali, C.; Berthold, G.; Bahl, S.; del Alamo, J.A.; Neviani, A.; Pavesi, M.; Manfredi, M.; Zanoni, E.;
1986 / IEEE
By: Mazzi, G.; Carnera, A.; Canali, C.; Barety, J.; Ostrowsky, D.; de Micheli, M.; Papuchon, M.;
By: Mazzi, G.; Carnera, A.; Canali, C.; Barety, J.; Ostrowsky, D.; de Micheli, M.; Papuchon, M.;
2002 / IEEE / 0-7803-7530-0
By: Mazzanti, A.; Basile, A.F.; Lanzieri, C.; Pierobon, R.; Canali, C.; Verzellesi, G.; Manzini, E.;
By: Mazzanti, A.; Basile, A.F.; Lanzieri, C.; Pierobon, R.; Canali, C.; Verzellesi, G.; Manzini, E.;
2002 / IEEE / 0-7803-7462-2
By: Verzellesi, G.; Zanoni, E.; Canali, C.; Mishra, U.K.; Chini, A.; Meneghesso, G.; Rampazzo, F.; Pierobon, R.;
By: Verzellesi, G.; Zanoni, E.; Canali, C.; Mishra, U.K.; Chini, A.; Meneghesso, G.; Rampazzo, F.; Pierobon, R.;
2003 / IEEE / 0-7803-7904-7
By: Castaldini, A.; Cavallini, A.; Basile, A.F.; Verzellesi, G.; Canali, C.; Lanzieri, C.;
By: Castaldini, A.; Cavallini, A.; Basile, A.F.; Verzellesi, G.; Canali, C.; Lanzieri, C.;
2004 / IEEE
By: Mishra, U.K.; Chini, A.; Pierobon, R.; Rampazzo, F.; Canali, C.; Verzellesi, G.; Meneghesso, G.; Zanoni, E.;
By: Mishra, U.K.; Chini, A.; Pierobon, R.; Rampazzo, F.; Canali, C.; Verzellesi, G.; Meneghesso, G.; Zanoni, E.;
2005 / IEEE / 0-7695-2262-9
By: Colajanni, M.; Cardellini, V.; Canali, C.; Yu, P.S.; Lancellotti, R.;
By: Colajanni, M.; Cardellini, V.; Canali, C.; Yu, P.S.; Lancellotti, R.;
2003 / IEEE / 0-7908-0104-3
By: Canali, C.; Mazzanti, A.; Verzellesi, G.; Zanoni, E.; Chini, A.; Meneghesso, G.;
By: Canali, C.; Mazzanti, A.; Verzellesi, G.; Zanoni, E.; Chini, A.; Meneghesso, G.;
1997 / IEEE / 2-86332-221-4
By: Shur, M.; Meneghesso, G.; Zanoni, E.; Canali, C.; Neviani, A.; Peatman, W.C.B.; Hurt, M.; Pavesi, M.;
By: Shur, M.; Meneghesso, G.; Zanoni, E.; Canali, C.; Neviani, A.; Peatman, W.C.B.; Hurt, M.; Pavesi, M.;
1999 / IEEE / 2-86332-245-1
By: Dieci, D.; Menozzi, R.; Cova, P.; Meneghesso, G.; Pavesi, M.; Canali, C.;
By: Dieci, D.; Menozzi, R.; Cova, P.; Meneghesso, G.; Pavesi, M.; Canali, C.;
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