Your Search Results
Use materials by this author in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content such as case studies and journal articles for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!

Author: Brown, R.
Results
2011 / IEEE / 978-1-86218-098-7
By: Ali, J.; Abuhabaya, A.; Andrijanto, E.; Brown, R.; Fieldhouse, J.;
By: Ali, J.; Abuhabaya, A.; Andrijanto, E.; Brown, R.; Fieldhouse, J.;
2013 / IEEE
By: Brown, R.; Ristovski, Z.; Rahimzadeh, H.; Rahman, M. M.; Zare, F.; Davari, P.; Babaie, M.;
By: Brown, R.; Ristovski, Z.; Rahimzadeh, H.; Rahman, M. M.; Zare, F.; Davari, P.; Babaie, M.;
2014 / IEEE
By: Wasige, E.; Thayne, I.; Zhou, H.; Ternent, G.; Li, X.; Al-Khalidi, A.; Macfarlane, D.; Brown, R.;
By: Wasige, E.; Thayne, I.; Zhou, H.; Ternent, G.; Li, X.; Al-Khalidi, A.; Macfarlane, D.; Brown, R.;
1991 / IEEE
By: Talisa, S.H.; Watt, D.H.; Wagner, G.R.; McAvoy, B.R.; Jones, C.K.; Buck, D.C.; Brown, R.; Billing, J.F.; Talvacchio, J.; Moskowitz, C.; Janocko, M.A.;
By: Talisa, S.H.; Watt, D.H.; Wagner, G.R.; McAvoy, B.R.; Jones, C.K.; Buck, D.C.; Brown, R.; Billing, J.F.; Talvacchio, J.; Moskowitz, C.; Janocko, M.A.;
1991 / IEEE
By: Moskowitz, C.; Wagner, G.R.; Talvacchio, J.; McAvoy, B.R.; Jones, C.K.; Buck, D.C.; Talisa, S.H.; Brown, R.; Janocko, M.A.; Billing, J.;
By: Moskowitz, C.; Wagner, G.R.; Talvacchio, J.; McAvoy, B.R.; Jones, C.K.; Buck, D.C.; Talisa, S.H.; Brown, R.; Janocko, M.A.; Billing, J.;
1991 / IEEE / 0-7803-0135-8
By: Hicks, J.; Jenner, D.; Ellison, T.; DuPlantis, D.; Friesel, D.; Dale, D.; Derenchuk, V.; Collins, J.; Brown, R.; Wedekind, M.; Sowinski, J.; Schwandt, P.; Petri, H.; Pei, A.;
By: Hicks, J.; Jenner, D.; Ellison, T.; DuPlantis, D.; Friesel, D.; Dale, D.; Derenchuk, V.; Collins, J.; Brown, R.; Wedekind, M.; Sowinski, J.; Schwandt, P.; Petri, H.; Pei, A.;
1992 / IEEE / 0-7803-0930-8
By: Groseth, J.; Damato, J.; Brown, R.; McGregor, S.; Haddad, N.; Murrill, S.; Scott, T.; Posey, B.;
By: Groseth, J.; Damato, J.; Brown, R.; McGregor, S.; Haddad, N.; Murrill, S.; Scott, T.; Posey, B.;
1993 / IEEE / 0-7803-0934-0
By: Brown, R.; Baldygo, W.; Hennington, L.; Capraro, G.; Antonik, P.; Wicks, M.;
By: Brown, R.; Baldygo, W.; Hennington, L.; Capraro, G.; Antonik, P.; Wicks, M.;
1993 / IEEE / 0-7803-0987-1
By: Sakallah, K.; Mudge, T.; Lomax, R.; Brown, R.; Stanley, T.; Upton, M.; Barker, P.; Sherhart, P.; Huff, T.; McVay, R.;
By: Sakallah, K.; Mudge, T.; Lomax, R.; Brown, R.; Stanley, T.; Upton, M.; Barker, P.; Sherhart, P.; Huff, T.; McVay, R.;
1993 / IEEE / 0-7803-1203-1
By: Hicks, J.; Friesel, D.; Derenchuk, V.; Brown, R.; Wedekind, M.; Schwandt, P.;
By: Hicks, J.; Friesel, D.; Derenchuk, V.; Brown, R.; Wedekind, M.; Schwandt, P.;
1994 / IEEE / 0-7803-1438-7
By: Brown, R.; Mokry, D.; Urkowitz, H.; Nespor, J.D.; Bucci, N.J.; Baldygo, W.;
By: Brown, R.; Mokry, D.; Urkowitz, H.; Nespor, J.D.; Bucci, N.J.; Baldygo, W.;
1993 / IEEE / 0-7803-1415-8
By: Korzekwa, R.A.; Hutcherson, R.K.; Grothaus, M.G.; Engels, R.; Brown, R.; Roush, R.;
By: Korzekwa, R.A.; Hutcherson, R.K.; Grothaus, M.G.; Engels, R.; Brown, R.; Roush, R.;
1993 / IEEE / 0-8186-3560-6
By: Murphy, T.; Hennessey, A.; Caldwell, C.; Faules, D.; Baladge, L.; Parkerson, P.; Brown, R.; Andrews, D.; Timmerman, R.; Tesch, E.;
By: Murphy, T.; Hennessey, A.; Caldwell, C.; Faules, D.; Baladge, L.; Parkerson, P.; Brown, R.; Andrews, D.; Timmerman, R.; Tesch, E.;
1997 / IEEE / 0-8186-7789-9
By: Basso, T.; Parakh, P.; Rossman, M.; Xiaowen Liu; Farbarik, R.; Brown, R.;
By: Basso, T.; Parakh, P.; Rossman, M.; Xiaowen Liu; Farbarik, R.; Brown, R.;
1993 / IEEE / 0-7803-1360-7
By: Grothaus, M.; Korzekwa, R.; Brown, R.; Engels, R.; Roush, R.; Hutcherson, K.;
By: Grothaus, M.; Korzekwa, R.; Brown, R.; Engels, R.; Roush, R.; Hutcherson, K.;
1995 / IEEE / 0-7803-2791-8
By: Hutcherson, R.K.; Grothaus, M.G.; Ridgeway, R.G.; Pearce, R.; George, M.; Beck, S.E.; Roush, R.; Ingram, M.W.; Brown, R.; Korzekwa, R.A.;
By: Hutcherson, R.K.; Grothaus, M.G.; Ridgeway, R.G.; Pearce, R.; George, M.; Beck, S.E.; Roush, R.; Ingram, M.W.; Brown, R.; Korzekwa, R.A.;
1993 / IEEE / 0-8186-3810-9
By: Stanley, T.; Uhlig, R.; Nagle, D.; Brown, R.; Mudge, T.; Sechrest, S.;
By: Stanley, T.; Uhlig, R.; Nagle, D.; Brown, R.; Mudge, T.; Sechrest, S.;
1998 / IEEE
By: Wang, J.J.; Koga, R.; LaBel, K.A.; McCollum, J.; Brown, R.; Katz, R.; Cronquist, B.; Crain, S.; Scott, T.; Paolini, W.; Sin, B.; Reed, R.A.;
By: Wang, J.J.; Koga, R.; LaBel, K.A.; McCollum, J.; Brown, R.; Katz, R.; Cronquist, B.; Crain, S.; Scott, T.; Paolini, W.; Sin, B.; Reed, R.A.;
1999 / IEEE / 0-7803-5126-6
By: Krasuk, C.; Cerqua, B.; daVeiga, E.; He, H.; Ngai, J.; Aliahmad, M.; Kshonze, K.; Bolte, P.; Chik, R.; Stander, J.; Fitzpatrick, K.K.; Cheng, R.; Hen, K.; Moran, P.; Aronson, S.; Chan, I.; Bishop, A.; Fisher, K.; Ziperovich, P.; Brown, R.;
By: Krasuk, C.; Cerqua, B.; daVeiga, E.; He, H.; Ngai, J.; Aliahmad, M.; Kshonze, K.; Bolte, P.; Chik, R.; Stander, J.; Fitzpatrick, K.K.; Cheng, R.; Hen, K.; Moran, P.; Aronson, S.; Chan, I.; Bishop, A.; Fisher, K.; Ziperovich, P.; Brown, R.;
1999 / IEEE / 0-7803-5604-7
By: Amey, D.; Wilcox, D.; Slutz, D.; Novak, R.; Brown, R.; London, A.; Horowitz, S.; Gaughan, F.; Barnwell, P.;
By: Amey, D.; Wilcox, D.; Slutz, D.; Novak, R.; Brown, R.; London, A.; Horowitz, S.; Gaughan, F.; Barnwell, P.;
2000 / IEEE
By: Brown, R.; Linderman, M.; Linderman, R.; Varshney, P.; Weiner, D.; Wei-Keng Liao; Choudhary, A.;
By: Brown, R.; Linderman, M.; Linderman, R.; Varshney, P.; Weiner, D.; Wei-Keng Liao; Choudhary, A.;
2000 / IEEE / 0-7803-5908-9
By: Brown, W.; Elshabini, A.; White, W.; Yaz, E.; Yeargan, J.; Ulrich, R.; Olejniczak, K.; Singh, S.; Selvam, R.; Schmidt, W.; Schaper, L.; Salamo, G.; Nutter, D.; Schmitt, N.; Brown, R.; Waite, W.; Jones, R.; Naseem, H.; Martin, T.; Mantooth, A.; Malstrom, R.; Malshe, A.; Coubillion, R.; Barlow, F.; Ang, S.; Balda, J.;
By: Brown, W.; Elshabini, A.; White, W.; Yaz, E.; Yeargan, J.; Ulrich, R.; Olejniczak, K.; Singh, S.; Selvam, R.; Schmidt, W.; Schaper, L.; Salamo, G.; Nutter, D.; Schmitt, N.; Brown, R.; Waite, W.; Jones, R.; Naseem, H.; Martin, T.; Mantooth, A.; Malstrom, R.; Malshe, A.; Coubillion, R.; Barlow, F.; Ang, S.; Balda, J.;
2000 / IEEE / 1-55752-646-X
By: Brown, R.; Grebel, H.; Zhang, Y.; Ajgaonkar, M.; White, C.W.; Jacobson, D.;
By: Brown, R.; Grebel, H.; Zhang, Y.; Ajgaonkar, M.; White, C.W.; Jacobson, D.;
2001 / IEEE / 0-7803-6707-3
By: Brown, R.; Bonneau, R.; Antonik, P.; Wicks, M.; Weiner, D.; Vannicola, V.; Ertan, S.;
By: Brown, R.; Bonneau, R.; Antonik, P.; Wicks, M.; Weiner, D.; Vannicola, V.; Ertan, S.;
2001 / IEEE / 0-7803-6599-2
By: Berger, R.W.; Grant, B.; Stanley, D.; Saari, B.; Rodgers, J.; Moser, D.; Knowles, K.; Kazemzadeh, A.; Doyle, S.; Brown, R.; Bayles, D.;
By: Berger, R.W.; Grant, B.; Stanley, D.; Saari, B.; Rodgers, J.; Moser, D.; Knowles, K.; Kazemzadeh, A.; Doyle, S.; Brown, R.; Bayles, D.;
2002 / IEEE / 0-7803-7536-X
By: Hirose, T.; Polanski, M.; Goodison, B.E.; Brown, R.; LeDrew, E.F.; Piwowar, J.M.;
By: Hirose, T.; Polanski, M.; Goodison, B.E.; Brown, R.; LeDrew, E.F.; Piwowar, J.M.;
1981 / IEEE
By: Brown, R.; Autin, B.; Billinge, R.; Bellanger, A.; Johnson, C.; Umstatter, H.; Sherwood, R.; Jones, E.;
By: Brown, R.; Autin, B.; Billinge, R.; Bellanger, A.; Johnson, C.; Umstatter, H.; Sherwood, R.; Jones, E.;
1981 / IEEE
By: Fietz, W.; Van Alstyne, R.; Brown, R.; Ballou, J.; Foresman, J.; Markiewicz, W.; Wysor, R.; Kenney, W.; Gray, W.;
By: Fietz, W.; Van Alstyne, R.; Brown, R.; Ballou, J.; Foresman, J.; Markiewicz, W.; Wysor, R.; Kenney, W.; Gray, W.;