Your Search Results
Use materials by this author in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content such as case studies and journal articles for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!

Author: Bhat, R.
Results
2014 / IEEE
By: Hindson, L.; Johnston-Hollitt, M.; Williams, C.; Williams, A.; Whitney, A.; Webster, R.; Waterson, M.; Tingay, S.; Hurley-Walker, N.; Morgan, J.; Buckley, K.; Carretti, E.; Dwarakanath, K.S.; Bell, M.; Bernardi, G.; Bhat, R.; Briggs, F.; Deshpande, A. A.; Ewall-Wice, A.; Feng, L.; Hazelton, B.; Jacobs, D.; Kaplan, D.; Kudryavtseva, N.; Lenc, E.; McKinley, B.; Mitchell, D.; Pindor, B.; Procopio, P.; Oberoi, D.; Offringa, A. R.; Ord, S.; Riding, J.; Bowman, J. D.; Cappallo, R.; Corey, B.; Emrich, D.; Gaensler, B. M.; Goeke, R.; Greenhill, L.; Kasper, J.; Kratzenberg, E.; Lonsdale, C.; Lynch, M.; McWhirter, R.; Morales, M.; Morgan, E.; Prabu, T.; Rogers, A.; Roshi, A.; Shankar, U.; Srivani, K.; Subrahmanyan, R.;
By: Hindson, L.; Johnston-Hollitt, M.; Williams, C.; Williams, A.; Whitney, A.; Webster, R.; Waterson, M.; Tingay, S.; Hurley-Walker, N.; Morgan, J.; Buckley, K.; Carretti, E.; Dwarakanath, K.S.; Bell, M.; Bernardi, G.; Bhat, R.; Briggs, F.; Deshpande, A. A.; Ewall-Wice, A.; Feng, L.; Hazelton, B.; Jacobs, D.; Kaplan, D.; Kudryavtseva, N.; Lenc, E.; McKinley, B.; Mitchell, D.; Pindor, B.; Procopio, P.; Oberoi, D.; Offringa, A. R.; Ord, S.; Riding, J.; Bowman, J. D.; Cappallo, R.; Corey, B.; Emrich, D.; Gaensler, B. M.; Goeke, R.; Greenhill, L.; Kasper, J.; Kratzenberg, E.; Lonsdale, C.; Lynch, M.; McWhirter, R.; Morales, M.; Morgan, E.; Prabu, T.; Rogers, A.; Roshi, A.; Shankar, U.; Srivani, K.; Subrahmanyan, R.;
1989 / IEEE
By: Jackel, J.L.; Florez, L.T.; Gmitter, T.J.; Chan, W.K.; Yablonovitch, E.; Yi-Yan, A.; Harbison, J.P.; Bhat, R.;
By: Jackel, J.L.; Florez, L.T.; Gmitter, T.J.; Chan, W.K.; Yablonovitch, E.; Yi-Yan, A.; Harbison, J.P.; Bhat, R.;
1989 / IEEE
By: Schumacher, H.; Koza, M.A.; Yablonovitch, E.; Bhat, R.; LeBlanc, H.P.; Gmitter, T.J.;
By: Schumacher, H.; Koza, M.A.; Yablonovitch, E.; Bhat, R.; LeBlanc, H.P.; Gmitter, T.J.;
1989 / IEEE
By: Bhat, R.; Yablonovitch, E.; Florez, L.T.; Jackel, J.L.; Harbison, J.P.; Gmitter, T.; Yi-Yan, A.; Chan, W.K.;
By: Bhat, R.; Yablonovitch, E.; Florez, L.T.; Jackel, J.L.; Harbison, J.P.; Gmitter, T.; Yi-Yan, A.; Chan, W.K.;
1990 / IEEE
By: Lee, T.P.; Menocal, S.G.; Bhat, R.; Zah, C.E.; Andreadakis, N.; Koza, M.A.; Caneau, C.; Favire, F.;
By: Lee, T.P.; Menocal, S.G.; Bhat, R.; Zah, C.E.; Andreadakis, N.; Koza, M.A.; Caneau, C.; Favire, F.;
1990 / IEEE
By: Bhat, R.; Deri, R.J.; Lo, Y.H.; Koza, M.; Harbison, J.P.; Florez, L.T.; Yi-Yan, A.; Seto, M.;
By: Bhat, R.; Deri, R.J.; Lo, Y.H.; Koza, M.; Harbison, J.P.; Florez, L.T.; Yi-Yan, A.; Seto, M.;
1990 / IEEE
By: Florez, L.T.; Chan, W.K.; Gmitter, T.J.; Yi-Yan, A.; Jackel, J.L.; Harbison, J.P.; Bhat, R.; Yablonovitch, E.; Hwang, D.M.;
By: Florez, L.T.; Chan, W.K.; Gmitter, T.J.; Yi-Yan, A.; Jackel, J.L.; Harbison, J.P.; Bhat, R.; Yablonovitch, E.; Hwang, D.M.;
1990 / IEEE
By: Hong, W.P.; Chang, G.-K.; Young, J.C.; Sasaki, G.; Nguyen, C.K.; Bhat, R.; Gimlett, J.L.;
By: Hong, W.P.; Chang, G.-K.; Young, J.C.; Sasaki, G.; Nguyen, C.K.; Bhat, R.; Gimlett, J.L.;
1990 / IEEE
By: Favire, F.; Lee, T.P.; Menocal, S.G.; Bhat, R.; Zah, C.E.; Andreadakis, N.C.; Lo, Y.; Schwarz, S.A.; Caneau, C.; Koza, M.A.;
By: Favire, F.; Lee, T.P.; Menocal, S.G.; Bhat, R.; Zah, C.E.; Andreadakis, N.C.; Lo, Y.; Schwarz, S.A.; Caneau, C.; Koza, M.A.;
1990 / IEEE
By: Gozdz, A.S.; Grabbe, P.; Lo, Y.H.; Lee, T.P.; Koza, M.A.; Iqbal, M.Z.; Lin, P.S.D.; Young, J.C.; Gimlett, J.L.; Bhat, R.;
By: Gozdz, A.S.; Grabbe, P.; Lo, Y.H.; Lee, T.P.; Koza, M.A.; Iqbal, M.Z.; Lin, P.S.D.; Young, J.C.; Gimlett, J.L.; Bhat, R.;
1990 / IEEE
By: Andreadakis, N.C.; Favire, F.J.; Menocal, S.G.; Bhat, R.; Hwang, D.M.; Zah, C.E.; Lee, T.P.; Koza, M.;
By: Andreadakis, N.C.; Favire, F.J.; Menocal, S.G.; Bhat, R.; Hwang, D.M.; Zah, C.E.; Lee, T.P.; Koza, M.;
1989 / IEEE / 0-7803-0817-4
By: Sasaki, G.; Nguyen, C.K.; Gimlett, J.L.; Bhat, R.; Chang, G.-K.; Hong, W.P.; Koza, M.;
By: Sasaki, G.; Nguyen, C.K.; Gimlett, J.L.; Bhat, R.; Chang, G.-K.; Hong, W.P.; Koza, M.;
1991 / IEEE
By: Zah, C.-E.; Lee, T.-P.; Koza, M.A.; Hwang, D.-M.D.; Cheung, K.-W.; Andreadakis, N.C.; Menocal, S.G.; Favire, F.J., Jr.; Bhat, R.;
By: Zah, C.-E.; Lee, T.-P.; Koza, M.A.; Hwang, D.-M.D.; Cheung, K.-W.; Andreadakis, N.C.; Menocal, S.G.; Favire, F.J., Jr.; Bhat, R.;
1991 / IEEE
By: Gimlett, J.L.; Wang, L.; Bhat, R.; Shirokmann, H.; Nguyen, C.K.; Young, J.; Hong, W.P.; Chang, G.-K.; Hayes, J.R.; Lin, C.;
By: Gimlett, J.L.; Wang, L.; Bhat, R.; Shirokmann, H.; Nguyen, C.K.; Young, J.; Hong, W.P.; Chang, G.-K.; Hayes, J.R.; Lin, C.;
1992 / IEEE
By: Poguntke, K.; Soole, J.B.D.; Koza, M.A.; Caneau, C.; Bhat, R.; Hayes, J.R.; Chang-Hasnain, C.; LeBlanc, H.P.; Scherer, A.;
By: Poguntke, K.; Soole, J.B.D.; Koza, M.A.; Caneau, C.; Bhat, R.; Hayes, J.R.; Chang-Hasnain, C.; LeBlanc, H.P.; Scherer, A.;
1992 / IEEE / 0-7803-0167-6
By: Pathak, B.; Favire, F.; Curtis, L.; Andreadakis, N.C.; Mahoney, D.D.; Caneau, C.; Shah, V.; Young, W.C.; Zah, C.E.; Bhat, R.;
By: Pathak, B.; Favire, F.; Curtis, L.; Andreadakis, N.C.; Mahoney, D.D.; Caneau, C.; Shah, V.; Young, W.C.; Zah, C.E.; Bhat, R.;
1991 / IEEE / 0-7803-0243-5
By: Lee, H.P.; Nguyen, C.; Lin, P.S.D.; Bhat, R.; Yang, D.; Hong, W.-P.; Hayes, J.R.; Bhattacharya, P.K.;
By: Lee, H.P.; Nguyen, C.; Lin, P.S.D.; Bhat, R.; Yang, D.; Hong, W.-P.; Hayes, J.R.; Bhattacharya, P.K.;
1992 / IEEE / 0-7803-0522-1
By: Pathak, B.; Favire, F.J.; Hwang, D.-M.D.; Koza, M.A.; Zah, C.E.; Bhat, R.;
By: Pathak, B.; Favire, F.J.; Hwang, D.-M.D.; Koza, M.A.; Zah, C.E.; Bhat, R.;
1990 / IEEE
By: Cheung, K.W.; Bhat, R.; Zah, C.E.; Lee, T.P.; Hwang, D.M.; Andreadakis, N.C.; Xoza, M.; Favire, F.J.; Wu, T.C.; Menocal, S.G.;
By: Cheung, K.W.; Bhat, R.; Zah, C.E.; Lee, T.P.; Hwang, D.M.; Andreadakis, N.C.; Xoza, M.; Favire, F.J.; Wu, T.C.; Menocal, S.G.;
1994 / IEEE
By: Uomi, K.; Lee, T.P.; Koza, M.A.; Zah, C.E.; Yoo, S.J.B.; Andreadakis, N.C.; Bhat, R.; Scherer, A.;
By: Uomi, K.; Lee, T.P.; Koza, M.A.; Zah, C.E.; Yoo, S.J.B.; Andreadakis, N.C.; Bhat, R.; Scherer, A.;
1994 / IEEE / 0-7803-1476-X
By: Grundmann, M.; Bhat, R.; Caneau, C.; Hwang, D.M.; Kapon, E.; Bimberg, D.; Stier, O.; Schnabel, R.F.; Christen, J.; Tuerck, V.;
By: Grundmann, M.; Bhat, R.; Caneau, C.; Hwang, D.M.; Kapon, E.; Bimberg, D.; Stier, O.; Schnabel, R.F.; Christen, J.; Tuerck, V.;
1993 / IEEE / 0-7803-0993-6
By: Lin, P.S.D.; Caneau, C.; Curtis, L.; Pathak, B.; Bhat, R.; Zah, C.E.; Lee, T.P.; Young, W.C.; Koza, M.A.; Favire, F.; Mahoney, D.D.; Andreadakis, N.C.; Lin, W.; Gozdz, A.S.;
By: Lin, P.S.D.; Caneau, C.; Curtis, L.; Pathak, B.; Bhat, R.; Zah, C.E.; Lee, T.P.; Young, W.C.; Koza, M.A.; Favire, F.; Mahoney, D.D.; Andreadakis, N.C.; Lin, W.; Gozdz, A.S.;
1993 / IEEE / 0-7803-0993-6
By: Hong, W.-P.; Hwang, J.C.M.; Wei, C.J.; Sugeng, B.; Song, J.I.; Hayes, J.R.; Chough, K.B.; Bhat, R.;
By: Hong, W.-P.; Hwang, J.C.M.; Wei, C.J.; Sugeng, B.; Song, J.I.; Hayes, J.R.; Chough, K.B.; Bhat, R.;
1995 / IEEE / 0-7803-2450-1
By: Rajhel, A.; Favire, F.; Amersfoort, M.; Zah, C.E.; Lee, T.P.; Gamelin, J.; Lin, P.S.D.; Pathak, B.; Koza, M.A.; Caneau, C.; Bhat, R.; Andreadakis, N.C.;
By: Rajhel, A.; Favire, F.; Amersfoort, M.; Zah, C.E.; Lee, T.P.; Gamelin, J.; Lin, P.S.D.; Pathak, B.; Koza, M.A.; Caneau, C.; Bhat, R.; Andreadakis, N.C.;
Long wavelength VCSELs using wafer-fused GaAs/AlAs Bragg mirror and strain-compensated quantum wells
1995 / IEEE / 0-7803-2450-1By: Lo, Y.H.; Zhu, Z.H.; Chua, C.L.; Bhat, R.; Hong, M.;
1996 / IEEE
By: Favire, F.; Koza, M.A.; Pathak, B.; Amersfoort, M.R.; Zah, C.E.; Lin, P.S.D.; Caneau, C.; Bhat, R.; Andreadakis, N.C.; Rajhel, A.;
By: Favire, F.; Koza, M.A.; Pathak, B.; Amersfoort, M.R.; Zah, C.E.; Lin, P.S.D.; Caneau, C.; Bhat, R.; Andreadakis, N.C.; Rajhel, A.;
1996 / IEEE
By: Mahoney, D.D.; Lepore, A.; Gamelin, J.K.; Koza, M.; Rahjel, A.W.; Caneau, C.; Andreadakis, N.C.; Lin, P.S.D.; Favire, F.; Pathak, B.; Young, W.C.; Bhat, R.; Zah, C.E.; Lee, T.-P.; Curtis, L.;
By: Mahoney, D.D.; Lepore, A.; Gamelin, J.K.; Koza, M.; Rahjel, A.W.; Caneau, C.; Andreadakis, N.C.; Lin, P.S.D.; Favire, F.; Pathak, B.; Young, W.C.; Bhat, R.; Zah, C.E.; Lee, T.-P.; Curtis, L.;
1994 / IEEE / 0-7803-1754-8
By: Flanders, D.; Darby, D.; Wang, Z.; Chuang, S.L.; Hsieh, J.J.; Lee, T.P.; Bhat, R.; Wang, M.C.; Zah, C.E.;
By: Flanders, D.; Darby, D.; Wang, Z.; Chuang, S.L.; Hsieh, J.J.; Lee, T.P.; Bhat, R.; Wang, M.C.; Zah, C.E.;
1996 / IEEE
By: Caneau, C.; Rajhel, A.; Andreadakis, N.C.; Leblanc, H.P.; Amersfoort, M.R.; Bhat, R.; Adesida, I.; Soole, J.B.D.; Youtsey, C.; Koza, M.A.;
By: Caneau, C.; Rajhel, A.; Andreadakis, N.C.; Leblanc, H.P.; Amersfoort, M.R.; Bhat, R.; Adesida, I.; Soole, J.B.D.; Youtsey, C.; Koza, M.A.;
1996 / IEEE / 0-7803-3163-X
By: Lin, P.S.D.; Favire, F.; Amersfoort, M.R.; Pathak, B.; Zah, C.E.; Andreadakis, N.C.; Koza, M.A.; Curtis, L.; Caneau, C.; Bhat, R.; Rajhel, A.;
By: Lin, P.S.D.; Favire, F.; Amersfoort, M.R.; Pathak, B.; Zah, C.E.; Andreadakis, N.C.; Koza, M.A.; Curtis, L.; Caneau, C.; Bhat, R.; Rajhel, A.;
1996 / IEEE / 0-7803-3160-5
By: Christenson, G.L.; Bhat, R.; Mannaerts, J.P.; Hong, M.; Lo, Y.H.; Zhu, Z.H.; Tran, A.T.T.D.;
By: Christenson, G.L.; Bhat, R.; Mannaerts, J.P.; Hong, M.; Lo, Y.H.; Zhu, Z.H.; Tran, A.T.T.D.;
1997 / IEEE
By: Bhat, R.; Mannaerts, J.P.; Hong, M.; Lo, Y.H.; Zhu, Z.H.; Tran, A.T.T.D.; Christenson, G.L.;
By: Bhat, R.; Mannaerts, J.P.; Hong, M.; Lo, Y.H.; Zhu, Z.H.; Tran, A.T.T.D.; Christenson, G.L.;
1994 / IEEE / 0-7803-1470-0
By: Ejeckam, F.E.; Bhat, R.; Zhua, Z.-H.; Chua, C.L.; Lin, C.H.; Lo, Y.H.; Wu, T.C.;
By: Ejeckam, F.E.; Bhat, R.; Zhua, Z.-H.; Chua, C.L.; Lin, C.H.; Lo, Y.H.; Wu, T.C.;
1994 / IEEE / 0-7803-1470-0
By: Lin, C.H.; Chua, C.L.; Bhat, R.; Mannaerts, J.P.; Hong, M.; Lo, Y.H.; Zhu, Z.H.;
By: Lin, C.H.; Chua, C.L.; Bhat, R.; Mannaerts, J.P.; Hong, M.; Lo, Y.H.; Zhu, Z.H.;
1997 / IEEE
By: Bhattacharya, P.; Klotzkin, D.; Gutierrez-Aitken, A.; Zhang, X.; Bhat, R.; Caneau, C.;
By: Bhattacharya, P.; Klotzkin, D.; Gutierrez-Aitken, A.; Zhang, X.; Bhat, R.; Caneau, C.;
1997 / IEEE
By: Chung-En Zah; Gamelin, J.; Koza, M.A.; Caneau, C.; Bhat, R.; Pathak, B.N.; Rajhel, A.W.; Andreadakis, N.C.; Lin, P.S.D.; Favire, F.J., Jr.; Amersfoort, M.R.;
By: Chung-En Zah; Gamelin, J.; Koza, M.A.; Caneau, C.; Bhat, R.; Pathak, B.N.; Rajhel, A.W.; Andreadakis, N.C.; Lin, P.S.D.; Favire, F.J., Jr.; Amersfoort, M.R.;
1997 / IEEE / 0-7803-3891-X
By: Rajhel, A.; Koza, M.A.; Bhat, R.; Caneau, C.; Yoo, S.J.B.; Ringo, J.;
By: Rajhel, A.; Koza, M.A.; Bhat, R.; Caneau, C.; Yoo, S.J.B.; Ringo, J.;
1997 / IEEE / 0-7803-3895-2
By: Kamath, K.; Gebretsadik, H.; Bhat, R.; Caneau, C.; Bhattacharya, P.; Linder, K.;
By: Kamath, K.; Gebretsadik, H.; Bhat, R.; Caneau, C.; Bhattacharya, P.; Linder, K.;
1991 / IEEE / 0-87942-618-7
By: Kasukawa, A.; Lee, T.P.; Koza, M.A.; Zah, C.E.; Pathak, B.; Andreadakis, N.; Caneau, C.; Bhat, R.;
By: Kasukawa, A.; Lee, T.P.; Koza, M.A.; Zah, C.E.; Pathak, B.; Andreadakis, N.; Caneau, C.; Bhat, R.;
1991 / IEEE / 0-87942-618-7
By: Lee, H.; Soole, J.; Scherer, A.; Bhat, R.; Orenstein, M.; Beebe, E.;
By: Lee, H.; Soole, J.; Scherer, A.; Bhat, R.; Orenstein, M.; Beebe, E.;