Your Search Results
Use materials by this author in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content such as case studies and journal articles for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!

Author: Bez, R.
Results
2012 / IEEE / 978-1-4673-1081-9
By: Xiaonan Chen; Holtzclaw, K.; Kinney, W.; Ramaswamy, N.; Prall, K.; Bez, R.; Strand, J.;
By: Xiaonan Chen; Holtzclaw, K.; Kinney, W.; Ramaswamy, N.; Prall, K.; Bez, R.; Strand, J.;
2012 / IEEE / 978-1-4673-1081-9
By: Lavizzari, S.; Tortorelli, I.; Redaelli, A.; Boniardi, M.; Bez, R.; Pirovano, A.; Bresolin, C.; Modelli, A.; Erbetta, D.; Varesi, E.; Pellizzer, F.;
By: Lavizzari, S.; Tortorelli, I.; Redaelli, A.; Boniardi, M.; Bez, R.; Pirovano, A.; Bresolin, C.; Modelli, A.; Erbetta, D.; Varesi, E.; Pellizzer, F.;
1992 / IEEE
By: Bez, R.; Keeney, S.; Lombardi, C.; Ravazzi, L.; Mathewson, A.; Piccinini, F.; Cantarelli, D.;
By: Bez, R.; Keeney, S.; Lombardi, C.; Ravazzi, L.; Mathewson, A.; Piccinini, F.; Cantarelli, D.;
1990 / IEEE
By: Ravazzi, L.; Bez, R.; Lombardi, C.; Mathewson, A.; Cantarelli, D.; Piccinini, F.; Keeney, S.; Morelli, M.;
By: Ravazzi, L.; Bez, R.; Lombardi, C.; Mathewson, A.; Cantarelli, D.; Piccinini, F.; Keeney, S.; Morelli, M.;
An improved test structure to characterize ultra-low hot carrier injection in homogeneous conditions
1996 / IEEE / 0-7803-2783-7By: Bez, R.; Selmi, L.; Sangiorgi, E.;
A 20 MB/s data rate 2.5 V flash memory with current-controlled field erasing for 1 M cycle endurance
1997 / IEEE / 0-7803-3721-2By: Schippers, S.; Caser, F.T.; Villa, C.; Dallabora, M.; Bez, R.; Cantarelli, D.; Sali, M.; Bettini, L.; Bartoli, S.; Cane, M.; Defendi, M.; Geraci, A.; Ortolani, G.;
1998 / IEEE
By: Ortolani, G.; Moioli, L.; Cantarelli, D.; Bez, R.; Dallabora, M.; Villa, C.; Servalli, G.;
By: Ortolani, G.; Moioli, L.; Cantarelli, D.; Bez, R.; Dallabora, M.; Villa, C.; Servalli, G.;
2000 / IEEE / 0-7803-5853-8
By: Kai, Y.; Shimizu, S.; Ohnakado, T.; Sugihara, I.; Bez, R.; Grossi, A.; Modelli, A.; Khouri, P.O.; Torelli, G.; Campardo, G.; Micheloni, R.; Commodaro, S.; Yero, E.; Zammabio, M.; Mognoni, S.; Sacco, A.; Picca, M.; Manstleita, A.; Scotti, M.; Motta, I.; Golla, C.; Pierin, A.; Ohba, A.; Fulatsuya, T.; Makabe, R.; Kawai, S.;
By: Kai, Y.; Shimizu, S.; Ohnakado, T.; Sugihara, I.; Bez, R.; Grossi, A.; Modelli, A.; Khouri, P.O.; Torelli, G.; Campardo, G.; Micheloni, R.; Commodaro, S.; Yero, E.; Zammabio, M.; Mognoni, S.; Sacco, A.; Picca, M.; Manstleita, A.; Scotti, M.; Motta, I.; Golla, C.; Pierin, A.; Ohba, A.; Fulatsuya, T.; Makabe, R.; Kawai, S.;
2000 / IEEE
By: Commodaro, S.; Yero, E.; Campardo, G.; Torelli, G.; Khouri, O.; Visconti, A.; Modelli, A.; Grossi, A.; Bez, R.; Pierin, A.; Micheloni, R.; Golla, C.; Motta, I.; Scotti, M.; Manstretta, A.; Picca, M.; Sacco, A.; Mognoni, S.; Zammattio, M.;
By: Commodaro, S.; Yero, E.; Campardo, G.; Torelli, G.; Khouri, O.; Visconti, A.; Modelli, A.; Grossi, A.; Bez, R.; Pierin, A.; Micheloni, R.; Golla, C.; Motta, I.; Scotti, M.; Manstretta, A.; Picca, M.; Sacco, A.; Mognoni, S.; Zammattio, M.;
2002 / IEEE / 0-7803-7462-2
By: Benvenuti, A.; Merlani, D.; Lacaita, A.L.; Pirovano, A.; Bez, R.; Pellizzer, F.;
By: Benvenuti, A.; Merlani, D.; Lacaita, A.L.; Pirovano, A.; Bez, R.; Pellizzer, F.;
2004 / IEEE / 0-7803-8315-X
By: Itri, A.; Bez, R.; Pellizzer, E.; Pirovano, A.; Lacaitat, A.L.; Ielmini, D.;
By: Itri, A.; Bez, R.; Pellizzer, E.; Pirovano, A.; Lacaitat, A.L.; Ielmini, D.;
2004 / IEEE / 0-7803-8289-7
By: Pellizzer, F.; Pirovano, A.; Bez, R.; Cappelletti, P.; Casagrande, G.; Lacaita, A.; Lowrey, T.; Varesi, E.; Modelli, A.; Zonca, R.; Spandre, A.; Piva, R.; Morandi, R.; Marangon, T.; Cadeo, S.; Besana, P.; Benvenuti, A.; Tosi, M.; Zuliani, P.; Scaravaggi, M.; Magistretti, M.; Ottogalli, F.;
By: Pellizzer, F.; Pirovano, A.; Bez, R.; Cappelletti, P.; Casagrande, G.; Lacaita, A.; Lowrey, T.; Varesi, E.; Modelli, A.; Zonca, R.; Spandre, A.; Piva, R.; Morandi, R.; Marangon, T.; Cadeo, S.; Besana, P.; Benvenuti, A.; Tosi, M.; Zuliani, P.; Scaravaggi, M.; Magistretti, M.; Ottogalli, F.;
2004 / IEEE / 0-7803-8287-0
By: Bez, R.; Tosi, M.; Pirovano, A.; Ottogalli, F.; Pellizzer, F.; Ferraro, M.; Gastaldi, R.; Costa, L.; Buda, E.; Khouri, O.; Resta, C.; Bedeschi, F.; Casagrande, G.;
By: Bez, R.; Tosi, M.; Pirovano, A.; Ottogalli, F.; Pellizzer, F.; Ferraro, M.; Gastaldi, R.; Costa, L.; Buda, E.; Khouri, O.; Resta, C.; Bedeschi, F.; Casagrande, G.;
2004 / IEEE / 0-7803-8478-4
By: Zuliani, P.; Tosi, M.; Bez, R.; Bonetalli, P.; Pellizzer, F.; Pirovano, A.; Ottogalli, F.;
By: Zuliani, P.; Tosi, M.; Bez, R.; Bonetalli, P.; Pellizzer, F.; Pirovano, A.; Ottogalli, F.;
2004 / IEEE / 0-7803-8480-6
By: Resta, C.; Torelli, G.; Pellizzer, F.; Ottogalli, F.; Khouri, O.; Gastaldi, R.; Pirovano, A.; Ferraro, M.; Costa, L.; Casagrande, G.; Buda, E.; Bonizzoni, E.; Boffino, C.; Bez, R.; Bedeschi, F.; Tosi, M.;
By: Resta, C.; Torelli, G.; Pellizzer, F.; Ottogalli, F.; Khouri, O.; Gastaldi, R.; Pirovano, A.; Ferraro, M.; Costa, L.; Casagrande, G.; Buda, E.; Bonizzoni, E.; Boffino, C.; Bez, R.; Bedeschi, F.; Tosi, M.;
2004 / IEEE
By: Ottogalli, F.; Pirovano, A.; Pellizzer, F.; Redaelli, A.; Tosi, M.; Bez, R.; Lacaita, A.L.; Ielmini, D.;
By: Ottogalli, F.; Pirovano, A.; Pellizzer, F.; Redaelli, A.; Tosi, M.; Bez, R.; Lacaita, A.L.; Ielmini, D.;
2004 / IEEE / 0-7803-8684-1
By: Ielmini, D.; Redaelli, A.; Lacaita, A.L.; Bez, R.; Benvenuti, A.; Pirovano, A.; Pellizzer, F.;
By: Ielmini, D.; Redaelli, A.; Lacaita, A.L.; Bez, R.; Benvenuti, A.; Pirovano, A.; Pellizzer, F.;
2005 / IEEE
By: Pirovano, A.; Resta, C.; Ottogalli, F.; Khouri, O.; Gastaldi, R.; Ferraro, M.; Costa, L.; Casagrande, G.; Buda, E.C.; Bonizzoni, E.; Boffino, C.; Bez, R.; Bedeschi, F.; Pellizzer, F.; Tosi, M.; Torelli, G.;
By: Pirovano, A.; Resta, C.; Ottogalli, F.; Khouri, O.; Gastaldi, R.; Ferraro, M.; Costa, L.; Casagrande, G.; Buda, E.C.; Bonizzoni, E.; Boffino, C.; Bez, R.; Bedeschi, F.; Pellizzer, F.; Tosi, M.; Torelli, G.;
2005 / IEEE
By: Masson, P.; Chanemougame, D.; Villaret, A.; Monfray, S.; Mazoyer, P.; Regnier, A.; Ranica, R.; Skotnicki, T.; Bez, R.; Dray, C.N.;
By: Masson, P.; Chanemougame, D.; Villaret, A.; Monfray, S.; Mazoyer, P.; Regnier, A.; Ranica, R.; Skotnicki, T.; Bez, R.; Dray, C.N.;
2005 / IEEE / 0-7803-9203-5
By: Redaelli, A.; Petruzza, P.; Pellizzer, F.; Pirovano, A.; Bez, R.; Lacaita, A.L.; Ielmini, D.; Modelli, A.; Marangon, T.; Bedeschi, F.; Tortorelli, I.; Mazzone, G.; Scaravaggi, M.; Magistretti, M.; Piva, R.; Cecchini, R.; Besana, P.; Tosi, M.; Ottogalli, F.; Varesi, E.;
By: Redaelli, A.; Petruzza, P.; Pellizzer, F.; Pirovano, A.; Bez, R.; Lacaita, A.L.; Ielmini, D.; Modelli, A.; Marangon, T.; Bedeschi, F.; Tortorelli, I.; Mazzone, G.; Scaravaggi, M.; Magistretti, M.; Piva, R.; Cecchini, R.; Besana, P.; Tosi, M.; Ottogalli, F.; Varesi, E.;
2005 / IEEE / 0-7803-9268-X
By: Lacaita, A.L.; Ielmini, D.; Redaelli, A.; Bez, R.; Pirovano, A.; Pellizzer, F.;
By: Lacaita, A.L.; Ielmini, D.; Redaelli, A.; Bez, R.; Pirovano, A.; Pellizzer, F.;
2006 / IEEE / 1-4244-0005-8
By: Gleixner, B.; Benvenuti, A.; Pellizzer, F.; Atwood, G.; Bez, R.; Kim, Y.; Pirovano, A.; Marangon, T.; Magistretti, M.; Johnson, B.;
By: Gleixner, B.; Benvenuti, A.; Pellizzer, F.; Atwood, G.; Bez, R.; Kim, Y.; Pirovano, A.; Marangon, T.; Magistretti, M.; Johnson, B.;
2006 / IEEE / 1-4244-0438-X
By: Mantegazza, D.; Bez, R.; Pellizzer, F.; Varesi, E.; Ielmini, D.; Lacaita, A.L.; Gleixner, B.; Pirovano, A.;
By: Mantegazza, D.; Bez, R.; Pellizzer, F.; Varesi, E.; Ielmini, D.; Lacaita, A.L.; Gleixner, B.; Pirovano, A.;
2007 / IEEE / 1-4244-0918-7
By: Pirovano, A.; Gleixner, B.; Bez, R.; Tosi, M.; Tortorelli, E.; Ottogalli, F.; Sarkar, J.;
By: Pirovano, A.; Gleixner, B.; Bez, R.; Tosi, M.; Tortorelli, E.; Ottogalli, F.; Sarkar, J.;
2007 / IEEE / 978-1-4244-0930-3
By: Wiemer, C.; Pirovano, A.; Bez, R.; Afonso, C.N.; Solis, J.; Puerto, D.; Siegel, J.;
By: Wiemer, C.; Pirovano, A.; Bez, R.; Afonso, C.N.; Solis, J.; Puerto, D.; Siegel, J.;
2007 / IEEE / 978-1-4244-1123-8
By: Pirovano, A.; Bez, R.; Atwood, G.; Fackenthal, R.; Bedeschi, F.; Marangon, T.; Erbetta, D.; Varesi, E.; Petruzza, P.; Magistretti, M.; Harrigan, R.; Tortorelli, I.; Pellizzer, F.;
By: Pirovano, A.; Bez, R.; Atwood, G.; Fackenthal, R.; Bedeschi, F.; Marangon, T.; Erbetta, D.; Varesi, E.; Petruzza, P.; Magistretti, M.; Harrigan, R.; Tortorelli, I.; Pellizzer, F.;
2008 / IEEE / 978-1-4244-2361-3
By: Bez, R.; Pellizzer, F.; Tortorelli, I.; Annunziata, R.; Zuliani, P.; Bettini, L.; Borghi, M.; Pasotti, M.; Giacomi, G.; Calvetti, E.; De Sandre, G.;
By: Bez, R.; Pellizzer, F.; Tortorelli, I.; Annunziata, R.; Zuliani, P.; Bettini, L.; Borghi, M.; Pasotti, M.; Giacomi, G.; Calvetti, E.; De Sandre, G.;
2009 / IEEE / 978-1-4244-3762-7
By: Csaba, G.; Arcari, M.; Spiga, S.; Kutrzeba-Kotowska, B.; Lugli, P.; Tallarida, G.; Bez, R.; Huby, N.; Redaelli, A.;
By: Csaba, G.; Arcari, M.; Spiga, S.; Kutrzeba-Kotowska, B.; Lugli, P.; Tallarida, G.; Bez, R.; Huby, N.; Redaelli, A.;
1993 / IEEE / 2863321358
By: Keeney, S.; Lombardi, C.; Mathewson, A.; Concannon, A.; Piccinini, F.; Cantarelli, D.; Ravazzi, L.; Bez, R.;
By: Keeney, S.; Lombardi, C.; Mathewson, A.; Concannon, A.; Piccinini, F.; Cantarelli, D.; Ravazzi, L.; Bez, R.;
1994 / IEEE / 863321579
By: Lanzoni, M.; Pieracci, A.; Selmi, L.; Sangiorgi, E.; Bez, R.; Pavesi, M.;
By: Lanzoni, M.; Pieracci, A.; Selmi, L.; Sangiorgi, E.; Bez, R.; Pavesi, M.;
1994 / IEEE / 863321579
By: Piccinini, F.; Mathewson, A.; Concannon, A.; Lombardi, C.; Bez, R.; Mei, G.L.;
By: Piccinini, F.; Mathewson, A.; Concannon, A.; Lombardi, C.; Bez, R.; Mei, G.L.;
1996 / IEEE / 286332196X
By: Losavio, A.; Bez, R.; Auricchio, C.; Zabberoni, P.; Sala, C.; Maurelli, A.;
By: Losavio, A.; Bez, R.; Auricchio, C.; Zabberoni, P.; Sala, C.; Maurelli, A.;
2010 / IEEE / 978-1-4244-6721-1
By: Pellizzer, F.; Bez, R.; Modelli, A.; Erbetta, D.; Bresolin, C.; Magistretti, M.; Varesi, E.; Allegra, M.; Tortorelli, I.; Pirovano, A.; Redaelli, A.; Lacaita, A.L.; Ielmini, D.; Boniardi, M.;
By: Pellizzer, F.; Bez, R.; Modelli, A.; Erbetta, D.; Bresolin, C.; Magistretti, M.; Varesi, E.; Allegra, M.; Tortorelli, I.; Pirovano, A.; Redaelli, A.; Lacaita, A.L.; Ielmini, D.; Boniardi, M.;
2010 / IEEE / 978-1-4244-6721-1
By: Pirovano, A.; Pellizzer, F.; Gleixner, B.; Bossi, S.; Bez, R.; Tosi, M.; Servalli, G.;
By: Pirovano, A.; Pellizzer, F.; Gleixner, B.; Bossi, S.; Bez, R.; Tosi, M.; Servalli, G.;
2011 / IEEE
By: Mastracchio, G.; Scotti, L.; Zuliani, P.; Mattavelli, P.; Borghi, M.; Pasotti, M.; Bedeschi, F.; Pirola, A.; Bettini, L.; De Sandre, G.; Bez, R.; Marmonier, L.; Gastaldi, R.;
By: Mastracchio, G.; Scotti, L.; Zuliani, P.; Mattavelli, P.; Borghi, M.; Pasotti, M.; Bedeschi, F.; Pirola, A.; Bettini, L.; De Sandre, G.; Bez, R.; Marmonier, L.; Gastaldi, R.;