Your Search Results
Use materials by this author in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content such as case studies and journal articles for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!
Not an educator but still interested in using this content? No problem! Visit our provider's page to contact the publisher and get permission directly.
Author: Bewley, W.W.
Results
2014 / IEEE
By: Bowers, J.E.; Stanton, E.J.; Vurgaftman, I.; Kim, C.S.; Bewley, W.W.; Merritt, C.D.; Abell, J.; Canedy, C.L.; Meyer, R.; Bovington, J.T.; Liu, A.Y.; Davenport, M.L.; Spott, A.; Heck, M.J.;
By: Bowers, J.E.; Stanton, E.J.; Vurgaftman, I.; Kim, C.S.; Bewley, W.W.; Merritt, C.D.; Abell, J.; Canedy, C.L.; Meyer, R.; Bovington, J.T.; Liu, A.Y.; Davenport, M.L.; Spott, A.; Heck, M.J.;
1997 / IEEE / 0-7803-3895-2
By: Aifer, E.H.; Vurgaftman, I.; Bewley, W.W.; Felix, C.L.; Pei, S.-S.; Meyer, J.R.; Yang, R.Q.; Murry, S.J.; Zhang, D.; Lin, C.-H.;
By: Aifer, E.H.; Vurgaftman, I.; Bewley, W.W.; Felix, C.L.; Pei, S.-S.; Meyer, J.R.; Yang, R.Q.; Murry, S.J.; Zhang, D.; Lin, C.-H.;
1997 / IEEE
By: Pei, S.S.; Yang, R.Q.; Lin, C.-H.; Zhang, D.; Felix, C.L.; Meyer, J.R.; Vurgaftman, I.; Bewley, W.W.;
By: Pei, S.S.; Yang, R.Q.; Lin, C.-H.; Zhang, D.; Felix, C.L.; Meyer, J.R.; Vurgaftman, I.; Bewley, W.W.;
1998 / IEEE
By: Bewley, W.W.; Selvig, E.; Chow, D.H.; Lindle, J.R.; Felix, C.L.; Meyer, J.R.; Aifer, E.H.; Vurgaftman, I.; Goldberg, L.;
By: Bewley, W.W.; Selvig, E.; Chow, D.H.; Lindle, J.R.; Felix, C.L.; Meyer, J.R.; Aifer, E.H.; Vurgaftman, I.; Goldberg, L.;
1998 / IEEE / 1-55752-339-0
By: Felix, C.L.; Bewley, W.W.; Aifer, E.H.; Olafsen, L.J.; Vurgaftman, I.; Meyer, J.R.; Murry, S.J.; Pei, S.S.; Zhang, D.; Lin, C.-H.;
By: Felix, C.L.; Bewley, W.W.; Aifer, E.H.; Olafsen, L.J.; Vurgaftman, I.; Meyer, J.R.; Murry, S.J.; Pei, S.S.; Zhang, D.; Lin, C.-H.;
1998 / IEEE / 1-55752-339-0
By: Bewley, W.W.; Lindle, J.R.; Goldberg, L.; Meyer, J.R.; Aifer, E.H.; Vurgaftman, I.; Felix, C.L.;
By: Bewley, W.W.; Lindle, J.R.; Goldberg, L.; Meyer, J.R.; Aifer, E.H.; Vurgaftman, I.; Felix, C.L.;
1998 / IEEE / 0-7803-4947-4
By: Connolly, J.C.; Martinelli, R.U.; Lee, H.; Meyer, J.R.; Olafsen, L.J.; Sugg, A.R.; Aifer, E.A.; Felix, C.L.; Bewley, W.W.; Vurgaftman, I.; Olsen, G.H.;
By: Connolly, J.C.; Martinelli, R.U.; Lee, H.; Meyer, J.R.; Olafsen, L.J.; Sugg, A.R.; Aifer, E.A.; Felix, C.L.; Bewley, W.W.; Vurgaftman, I.; Olsen, G.H.;
1999 / IEEE
By: Vurgaftman, I.; Aifer, E.H.; Olafsen, L.J.; Stokes, D.W.; Meyer, J.R.; Bewley, W.W.; Felix, C.L.; Yang, M.J.;
By: Vurgaftman, I.; Aifer, E.H.; Olafsen, L.J.; Stokes, D.W.; Meyer, J.R.; Bewley, W.W.; Felix, C.L.; Yang, M.J.;
1999 / IEEE
By: Bewley, W.W.; Lee, H.; Yang, M.J.; Meyer, J.R.; Aifer, E.H.; Olafsen, L.J.; Vurgaftman, I.; Stokes, D.W.; Felix, C.L.;
By: Bewley, W.W.; Lee, H.; Yang, M.J.; Meyer, J.R.; Aifer, E.H.; Olafsen, L.J.; Vurgaftman, I.; Stokes, D.W.; Felix, C.L.;
1999 / IEEE / 0-7803-5634-9
By: Meyer, J.R.; Stokes, D.W.; Olafsen, L.J.; Vurgaftman, I.; Bewley, W.W.; Felix, C.L.; Yang, M.J.;
By: Meyer, J.R.; Stokes, D.W.; Olafsen, L.J.; Vurgaftman, I.; Bewley, W.W.; Felix, C.L.; Yang, M.J.;
High-temperature continuous-wave operation of optically-pumped type-II W lasers from 3-6.3 /spl mu/m
1999 / IEEE / 1-55752-595-1By: Martinelli, R.U.; Lee, H.; Shanabrook, B.V.; Yang, M.J.; Meyer, J.R.; Aifer, E.H.; Connolly, J.C.; Stokes, D.W.; Vurgaftman, I.; Felix, C.L.; Bewley, W.W.; Olafsen, L.J.; Sugg, A.R.;
2000 / IEEE
By: Martinelli, R.U.; Lee, H.; Meyer, J.R.; Stokes, D.W.; Vurgaftman, I.; Felix, C.L.; Bewley, W.W.;
By: Martinelli, R.U.; Lee, H.; Meyer, J.R.; Stokes, D.W.; Vurgaftman, I.; Felix, C.L.; Bewley, W.W.;
2000 / IEEE / 0-7803-6259-4
By: Bewley, W.W.; Olsen, G.H.; Vurgaftman, I.; Bartolo, R.E.; Stokes, D.W.; Jurkovic, M.J.; Lindle, J.R.; Meyer, J.R.; Yang, M.-J.; Lee, H.; Menna, R.J.; Martinelli, R.U.; Garbuzov, D.Z.; Connolly, J.C.; Maiorov, M.; Sugg, A.R.; Felix, C.L.;
By: Bewley, W.W.; Olsen, G.H.; Vurgaftman, I.; Bartolo, R.E.; Stokes, D.W.; Jurkovic, M.J.; Lindle, J.R.; Meyer, J.R.; Yang, M.-J.; Lee, H.; Menna, R.J.; Martinelli, R.U.; Garbuzov, D.Z.; Connolly, J.C.; Maiorov, M.; Sugg, A.R.; Felix, C.L.;
2000 / IEEE / 0-7803-5947-X
By: Bewley, W.W.; Bartolo, R.E.; Turner, G.W.; Manfra, M.J.; Martinelli, R.U.; Vurgaftman, I.; Lee, H.; Yang, M.-J.; Meyer, J.R.; Jurkovic, M.J.; Felix, C.L.;
By: Bewley, W.W.; Bartolo, R.E.; Turner, G.W.; Manfra, M.J.; Martinelli, R.U.; Vurgaftman, I.; Lee, H.; Yang, M.-J.; Meyer, J.R.; Jurkovic, M.J.; Felix, C.L.;
2000 / IEEE / 1-55752-634-6
By: Sugg, A.R.; Olsen, G.H.; Connolly, J.C.; Garbuzov, D.Z.; Martinelli, R.U.; Menna, R.J.; Lee, H.; Yang, M.J.; Stokes, D.W.; Olafsen, L.J.; Felix, C.L.; Vurgaftman, I.; Bewley, W.W.; Meyer, J.R.; Maiorov, M.;
By: Sugg, A.R.; Olsen, G.H.; Connolly, J.C.; Garbuzov, D.Z.; Martinelli, R.U.; Menna, R.J.; Lee, H.; Yang, M.J.; Stokes, D.W.; Olafsen, L.J.; Felix, C.L.; Vurgaftman, I.; Bewley, W.W.; Meyer, J.R.; Maiorov, M.;
2001 / IEEE / 1-55752-662-1
By: Felix, C.L.; Bewley, W.W.; Jurkovic, M.J.; Bartolo, R.E.; Vurgaftman, I.; Meyer, J.R.; Manfra, M.J.; Turner, G.W.; Martinelli, R.U.; Lee, H.;
By: Felix, C.L.; Bewley, W.W.; Jurkovic, M.J.; Bartolo, R.E.; Vurgaftman, I.; Meyer, J.R.; Manfra, M.J.; Turner, G.W.; Martinelli, R.U.; Lee, H.;
2001 / IEEE / 1-55752-662-1
By: Vurgaftman, I.; Felix, C.L.; Bewley, W.W.; Xu, G.; Lindle, J.R.; Wu, H.Z.; Shi, Z.; Khosravani, S.; Meyer, J.R.;
By: Vurgaftman, I.; Felix, C.L.; Bewley, W.W.; Xu, G.; Lindle, J.R.; Wu, H.Z.; Shi, Z.; Khosravani, S.; Meyer, J.R.;
2001 / IEEE
By: Bewley, W.W.; Manfra, M.J.; Turner, G.W.; Martinelli, R.U.; Lee, H.; Vurgaftman, I.; Meyer, J.R.; Felix, C.L.; Jurkovic, M.J.; Bartolo, R.E.;
By: Bewley, W.W.; Manfra, M.J.; Turner, G.W.; Martinelli, R.U.; Lee, H.; Vurgaftman, I.; Meyer, J.R.; Felix, C.L.; Jurkovic, M.J.; Bartolo, R.E.;
2001 / IEEE / 0-7803-7105-4
By: Martinelli, R.U.; Lee, H.; Meyer, J.R.; Lindle, J.R.; Bewley, W.W.; Bartolo, R.E.; Vurgaftman, I.; Felix, C.L.;
By: Martinelli, R.U.; Lee, H.; Meyer, J.R.; Lindle, J.R.; Bewley, W.W.; Bartolo, R.E.; Vurgaftman, I.; Felix, C.L.;
2001 / IEEE / 0-7803-7432-0
By: Martinelli, R.U.; Leet, H.; Manfra, M.J.; Turner, G.W.; Meyer, J.R.; Felix, C.L.; Canedy, C.L.; Lindle, J.R.; Bartolo, R.E.; Vurgaftman, I.; Bewley, W.W.;
By: Martinelli, R.U.; Leet, H.; Manfra, M.J.; Turner, G.W.; Meyer, J.R.; Felix, C.L.; Canedy, C.L.; Lindle, J.R.; Bartolo, R.E.; Vurgaftman, I.; Bewley, W.W.;
2002 / IEEE / 1-55752-706-7
By: Marinelli, R.U.; Lee, H.; Meyer, A.R.; Lindle, T.; Bewley, W.W.; Vurgaftman, I.; Felix, C.L.; Bartolo, R.E.;
By: Marinelli, R.U.; Lee, H.; Meyer, A.R.; Lindle, T.; Bewley, W.W.; Vurgaftman, I.; Felix, C.L.; Bartolo, R.E.;
2003 / IEEE / 0-7803-7888-1
By: Yang, R.Q.; Muller, R.; Echternach, P.M.; Meyer, J.R.; Lindle, J.R.; Kaspi, R.; Canedy, C.L.; Kim, M.; Kim, C.S.; Vurgaftman, I.; Bewley, W.W.;
By: Yang, R.Q.; Muller, R.; Echternach, P.M.; Meyer, J.R.; Lindle, J.R.; Kaspi, R.; Canedy, C.L.; Kim, M.; Kim, C.S.; Vurgaftman, I.; Bewley, W.W.;
2003 / IEEE / 1-55752-748-2
By: Kim, C.S.; Bewley, W.W.; Vurgaftman, I.; Meyer, J.R.; Lindle, J.R.; Canedy, C.L.;
By: Kim, C.S.; Bewley, W.W.; Vurgaftman, I.; Meyer, J.R.; Lindle, J.R.; Canedy, C.L.;
2004 / IEEE / 1-55752-777-6
By: Vurgaftman, I.; Kim, M.; Kim, C.S.; Canedy, C.L.; Bewley, W.W.; Meyer, J.R.; Lindle, J.R.;
By: Vurgaftman, I.; Kim, M.; Kim, C.S.; Canedy, C.L.; Bewley, W.W.; Meyer, J.R.; Lindle, J.R.;
2004 / IEEE / 0-7803-8557-8
By: Vurgaftman, I.; Canedy, C.L.; Bewley, W.W.; Meyer, J.R.; Kim, M.; Kim, C.S.; Lindle, J.R.;
By: Vurgaftman, I.; Canedy, C.L.; Bewley, W.W.; Meyer, J.R.; Kim, M.; Kim, C.S.; Lindle, J.R.;
2005 / IEEE
By: Meyer, J.R.; Chul Soo Kim; Vurgaftman, I.; Bewley, W.W.; Johnson, J.L.; Tennant, W.E.; Lindle, J.R.; Piquette, E.C.; Thomas, M.L.;
By: Meyer, J.R.; Chul Soo Kim; Vurgaftman, I.; Bewley, W.W.; Johnson, J.L.; Tennant, W.E.; Lindle, J.R.; Piquette, E.C.; Thomas, M.L.;
2005 / IEEE
By: Slivken, S.; Lindle, J.R.; Bewley, W.W.; Razeghi, M.; Chul Soo Kim; Jae Su Yu; Evans, A.J.; Meyer, J.R.; Vurgaftman, I.;
By: Slivken, S.; Lindle, J.R.; Bewley, W.W.; Razeghi, M.; Chul Soo Kim; Jae Su Yu; Evans, A.J.; Meyer, J.R.; Vurgaftman, I.;
2005 / IEEE / 1-55752-795-4
By: Kim, M.; Lindle, J.R.; Vurgaftman, I.; Kim, C.S.; Bewley, W.W.; Meyer, J.R.; Canedy, C.L.;
By: Kim, M.; Lindle, J.R.; Vurgaftman, I.; Kim, C.S.; Bewley, W.W.; Meyer, J.R.; Canedy, C.L.;
2007 / IEEE
By: Bewley, W.W.; Kim, M.; Kim, C.S.; Meyer, J.R.; Vurgaftman, I.; Lindle, J.R.; Canedy, C.L.;
By: Bewley, W.W.; Kim, M.; Kim, C.S.; Meyer, J.R.; Vurgaftman, I.; Lindle, J.R.; Canedy, C.L.;
2007 / IEEE / 978-1-4244-1101-6
By: Meyer, J.R.; Vurgaftman, I.; Lindle, J.R.; Nolde, J.A.; Chul Soo Kim; Canedy, C.L.; Bewley, W.W.; Mijin Kim; Larrabee, D.C.;
By: Meyer, J.R.; Vurgaftman, I.; Lindle, J.R.; Nolde, J.A.; Chul Soo Kim; Canedy, C.L.; Bewley, W.W.; Mijin Kim; Larrabee, D.C.;
2007 / IEEE / 978-1-4244-0924-2
By: Vurgaftman, I.; Ryan Lindle, J.; Larrabee, D.C.; Nolde, J.A.; Meyer, J.R.; Canedy, C.L.; Bewley, W.W.; Mijin Kim; Chul Soo Kim;
By: Vurgaftman, I.; Ryan Lindle, J.; Larrabee, D.C.; Nolde, J.A.; Meyer, J.R.; Canedy, C.L.; Bewley, W.W.; Mijin Kim; Chul Soo Kim;
2007 / IEEE / 978-1-4244-1891-6
By: Meyer, J.R.; Vurgaftman, I.; Nolde, J.A.; Larrabee, D.C.; Bewley, W.W.; Kim, M.; Kim, C.S.; Canedy, C.L.; Lindle, J.R.;
By: Meyer, J.R.; Vurgaftman, I.; Nolde, J.A.; Larrabee, D.C.; Bewley, W.W.; Kim, M.; Kim, C.S.; Canedy, C.L.; Lindle, J.R.;
2007 / IEEE / 978-1-55752-834-6
By: Kim, C.S.; Canedy, C.L.; Bewley, W.W.; Meyer, J.R.; Kim, M.; Vurgaftman, I.; Lindle, J.R.; Nolde, J.A.; Larrabee, D.C.;
By: Kim, C.S.; Canedy, C.L.; Bewley, W.W.; Meyer, J.R.; Kim, M.; Vurgaftman, I.; Lindle, J.R.; Nolde, J.A.; Larrabee, D.C.;
2008 / IEEE / 978-1-55752-859-9
By: Canedy, C.L.; Bewley, W.W.; Meyer, J.R.; Vurgaftman, I.; Lindle, J.R.; Larrabee, D.C.; Nolde, J.A.; Kim, M.; Kim, C.S.;
By: Canedy, C.L.; Bewley, W.W.; Meyer, J.R.; Vurgaftman, I.; Lindle, J.R.; Larrabee, D.C.; Nolde, J.A.; Kim, M.; Kim, C.S.;
2008 / IEEE / 978-1-4244-1931-9
By: Bewley, W.W.; Kim, M.; Kim, C.S.; Lindle, J.R.; Meyer, J.R.; Vurgaftman, I.; Canedy, C.L.;
By: Bewley, W.W.; Kim, M.; Kim, C.S.; Lindle, J.R.; Meyer, J.R.; Vurgaftman, I.; Canedy, C.L.;
2009 / IEEE / 978-1-55752-869-8
By: Bewley, W.W.; Meyer, J.R.; Vurgaftman, I.; Abell, J.; Canedy, C.L.; Lindle, J.R.; Kim, M.; Kim, C.S.;
By: Bewley, W.W.; Meyer, J.R.; Vurgaftman, I.; Abell, J.; Canedy, C.L.; Lindle, J.R.; Kim, M.; Kim, C.S.;
2010 / IEEE / 978-1-55752-890-2
By: Chul Soo Kim; Zeidel, V.; Tsai, T.R.; Maiorov, M.; Heaps, C.W.; Trofimov, I.; Mijin Kim; Wysocki, G.; Meyer, J.R.; Vurgaftman, I.; Lindle, J.R.; Bewley, W.W.; Canedy, C.L.;
By: Chul Soo Kim; Zeidel, V.; Tsai, T.R.; Maiorov, M.; Heaps, C.W.; Trofimov, I.; Mijin Kim; Wysocki, G.; Meyer, J.R.; Vurgaftman, I.; Lindle, J.R.; Bewley, W.W.; Canedy, C.L.;
2010 / IEEE / 978-1-55752-890-2
By: Kim, C.S.; Canedy, C.L.; Bewley, W.W.; Meyer, J.R.; Kim, M.; Vurgaftman, I.; Abell, J.; Lindle, J.R.;
By: Kim, C.S.; Canedy, C.L.; Bewley, W.W.; Meyer, J.R.; Kim, M.; Vurgaftman, I.; Abell, J.; Lindle, J.R.;
2011 / IEEE
By: Mijin Kim; Bewley, W.W.; Chul Soo Kim; Canedy, C.L.; Lindle, J.R.; Vurgaftman, I.; Meyer, J.R.; Abell, J.; Merritt, C.D.;
By: Mijin Kim; Bewley, W.W.; Chul Soo Kim; Canedy, C.L.; Lindle, J.R.; Vurgaftman, I.; Meyer, J.R.; Abell, J.; Merritt, C.D.;
Follow Us
Copyright © 2014 SharedBook. All rights reserved. Customer Service ·
Privacy Policy
·
User Agreement ·
Accessibility ·
Sitemap