Author: Bennett, G.

2004 / IEEE / 978-5-87911-088-3
By: Olson, C.L.; Rochau, G.; Slutz, S.; Morrow, C.; Olson, R.; Parker, A.; Cuneo, M.; Hanson, D.; Bennett, G.; Sanford, T.; Bailey, J.; Stygar, W.; Vesey, R.; Mehlhorn, T.; Struve, K.; Mazarakis, M.; Savage, M.; Owen, A.; Pointon, T.; Kiefer, M.; Rosenthal, S.; Schneider, L.; Glover, S.; Reed, K.; Benevides, G.; Schroen, D.; Krych, W.; Farnum, C.; Modesto, M.; Oscar, D.; Chhabildas, L.; Boyes, J.; Vigil, V.; Keith, R.; Turgeon, M.; Smith, B.; Cipiti, B.; Lindgren, E.; Smith, D.; Peterson, K.; Dandini, V.; McDaniel, D.; Quintenz, J.; Matzen, M.; VanDevender, J.P.; Gauster, W.; Shephard, L.; Walck, M.; Renk, T.; Tanaka, T.; Ulrickson, M.; Peterson, P.; De Groot, J.; Jensen, N.; Peterson, R.; Pollock, G.; Ottinger, P.; Schumer, J.; Kammer, D.; Golovkin, I.; Kulcinski, G.; El-Guebaly, L.; Moses, G.; Mogahed, E.; Sviatoslavsky, I.; Sawan, M.; Anderson, M.; Gallix, R.; Alexander, N.; Rickman, W.; Tran, H.; Panchuk, P.; Meier, W.; Latkowski, J.; Moir, R.; Schmitt, R.; Abbot, R.; Abdou, M.; Ying, A.; Calderoni, P.; Morley, N.; Abdel-Khalik, S.; Welch, D.; Rose, D.; Szaroletta, W.; Curry, R.; McDonald, K.; Louie, D.; Dean, S.; Kim, A.; Nedoseev, S.; Grabovsky, E.; Kingsep, A.; Smirnov, V.;

2011 / IEEE / 978-1-4577-0027-9
By: Bennett, G.; James, R.K.; Mercer, A.J.; Cai, J.; Johnston, C.; Patel, P.;

2011 / IEEE / 978-1-4577-0027-9
By: Bennett, G.; Emond, J.; Uysal, I.;

2011 / IEEE / 978-1-4577-0027-9
By: James, R.K.; Mercer, A.J.; Cai, J.; Johnston, C.; Patel, P.; Bennett, G.;

2014 / IEEE
By: Malik, A.; Kuang-Tsan Wu; Bennett, G.; Awadalla, A.; Roy, S.;

1993 / IEEE / 0-7803-1203-1
By: Semertzidis, Y.; Morse, N.; Larsen, R.; Bennett, G.; Liu, Z.; Yelk, J.;

1996 / IEEE / 0-7803-3160-5
By: Rosker, M.; Ewbank, M.; Bennett, G.; Noblett, P.;

1997 / IEEE / 0-7803-4213-5
By: Reass, B.; Salazar, H.; Kasik, R.; Hosack, K.; Hinckley, W.; Lopez, E.; Hicks, R.; Griego, J.; Gribble, R.; Cochrane, J.; Biehl, F.; Bennett, G.; Bowman, D.W.; Parsons, W.M.; Thompson, M.C.; Scudder, D.; Sandoval, G.;

1989 / IEEE
By: Bennett, G.; Curtin, M.; Madey, J.M.J.; Benson, S.; Metty, P.; Bhowmik, A.; Burke, R.;

1999 / IEEE / 0-7803-5498-2
By: Scudder, D.; Nielsen, K.; Hosack, K.; Hinckley, W.; Bennett, G.; Thompson, C.; Wysocki, F.; Cochrane, J.C., Jr.; Watt, R.; Vigil, B.;

1968 / IEEE
By: Olson, F.; Bennett, G.;

2004 / IEEE / 0-7803-8365-6
By: Grosser, M.; Bennett, G.; Mitchell, A.; Rowe, W.S.T.; Visagathilagar, Y.S.;

2009 / IEEE / 978-1-4244-2606-5
By: Vusirikala, V.; Villamizar, C.; Liou, C.; Bennett, G.; Melle, S.;