Your Search Results
Use materials by this author in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content such as case studies and journal articles for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!

Author: Atwater, H.A.
Results
2011 / IEEE / 978-1-4244-9965-6
By: van Lare, C.; Verschuuren, M.A.; Ferry, V.E.; Atwater, H.A.; Polman, A.; Schropp, R.E.I.;
By: van Lare, C.; Verschuuren, M.A.; Ferry, V.E.; Atwater, H.A.; Polman, A.; Schropp, R.E.I.;
2011 / IEEE / 978-1-4244-9965-6
By: Lewis, N.S.; Kelzenberg, M.D.; Turner-Evans, D.B.; Warren, E.L.; Chen, C.T.; Tamboli, A.C.; Atwater, H.A.;
By: Lewis, N.S.; Kelzenberg, M.D.; Turner-Evans, D.B.; Warren, E.L.; Chen, C.T.; Tamboli, A.C.; Atwater, H.A.;
2011 / IEEE / 978-1-4244-9965-6
By: Woo, R.L.; Law, D.C.; Atwater, H.A.; Leite, M.S.; Mesropian, S.; Hong, W.D.;
By: Woo, R.L.; Law, D.C.; Atwater, H.A.; Leite, M.S.; Mesropian, S.; Hong, W.D.;
1998 / IEEE / 0-7803-4518-5
By: Bell, L.D.; Santamore, D.H.; Flagan, R.C.; Atwater, H.A.; Vahala, K.J.; Boer, E.A.;
By: Bell, L.D.; Santamore, D.H.; Flagan, R.C.; Atwater, H.A.; Vahala, K.J.; Boer, E.A.;
2000 / IEEE / 0-7803-6438-4
By: De Blauwe, J.; Ostraat, M.; Atwater, H.A.; Flagan, R.C.; Hillenius, S.J.; Lee, J.T.C.; Bude, J.; Mansfield, W.; Kim, Y.; Baumann, F.; Grazul, J.L.; Ferry, E.; Cirelli, R.; Klemens, F.; Kerber, A.; Sorsch, T.; Weber, G.; Green, M.L.;
By: De Blauwe, J.; Ostraat, M.; Atwater, H.A.; Flagan, R.C.; Hillenius, S.J.; Lee, J.T.C.; Bude, J.; Mansfield, W.; Kim, Y.; Baumann, F.; Grazul, J.L.; Ferry, E.; Cirelli, R.; Klemens, F.; Kerber, A.; Sorsch, T.; Weber, G.; Green, M.L.;
1980 / IEEE
By: Aikawa, M.; Akiyama, M.; Yamamoto, K.; Ura, K.; Atwater, H.A.; Auckland, D.T.; Baars, R.D.; Bahl, I.J.; Bhartia, P.; Bhat, B.; Chakraborty, A.; Denlinger, E.J.; de Santis, P.; Enegren, T.A.; Freibergs, E.; Fukuda, O.; Gruner, L.; Hara, E.H.; Harrington, R.F.; Helszajn, J.; Horn, R.E.; Ino, M.; Jacobs, H.; Jokela, K.T.; Kato, Y.; Kharadly, M.M.Z.; King, R.W.P.; Kitayama, K.; Klohn, K.; Kumagai, N.; Kurita, O.; Laura, P.A.A.; Levy, R.; MacDonald, R.I.; Makimura, T.; Miyagi, M.; Nagaya, K.; Nisbet, W.T.; Nishida, S.; Ogawa, H.; Ohmori, M.; Prasad, S.; Saleh, A.A.M.; Sandler, B.H.; Sanyal, G.S.; Sarmiento, G.S.; Seikai, S.; Sharma, A.K.; Suzuki, H.; Takaoka, A.; Tsutsumi, M.; Uchida, N.;
By: Aikawa, M.; Akiyama, M.; Yamamoto, K.; Ura, K.; Atwater, H.A.; Auckland, D.T.; Baars, R.D.; Bahl, I.J.; Bhartia, P.; Bhat, B.; Chakraborty, A.; Denlinger, E.J.; de Santis, P.; Enegren, T.A.; Freibergs, E.; Fukuda, O.; Gruner, L.; Hara, E.H.; Harrington, R.F.; Helszajn, J.; Horn, R.E.; Ino, M.; Jacobs, H.; Jokela, K.T.; Kato, Y.; Kharadly, M.M.Z.; King, R.W.P.; Kitayama, K.; Klohn, K.; Kumagai, N.; Kurita, O.; Laura, P.A.A.; Levy, R.; MacDonald, R.I.; Makimura, T.; Miyagi, M.; Nagaya, K.; Nisbet, W.T.; Nishida, S.; Ogawa, H.; Ohmori, M.; Prasad, S.; Saleh, A.A.M.; Sandler, B.H.; Sanyal, G.S.; Sarmiento, G.S.; Seikai, S.; Sharma, A.K.; Suzuki, H.; Takaoka, A.; Tsutsumi, M.; Uchida, N.;
1981 / IEEE
By: Aditya, S.; Archer, J.W.; Symons, R.S.; Strid, E.W.; Atwater, H.A.; Carr, K.L.; Caloccia, E.M.; Chatterjee, I.; El-Mahdi, A.M.; Ferguson, P.E.; Gandhi, O.P.; Hagmann, M.J.; Hansson, E.R.B.; Hegji, S.J.; Ho-Chung Huang; Ikeuchi, M.; Imai, T.; Ito, K.; Jory, H.R.; Kheifets, S.A.; Kumar, M.; Larsson, M.A.; Meyer, W.; Minnis, B.J.; Niki, H.; Nystrom, G.L.; Ogai, M.; Okoshi, T.; Hideo, S.; Shaeffer, J.;
By: Aditya, S.; Archer, J.W.; Symons, R.S.; Strid, E.W.; Atwater, H.A.; Carr, K.L.; Caloccia, E.M.; Chatterjee, I.; El-Mahdi, A.M.; Ferguson, P.E.; Gandhi, O.P.; Hagmann, M.J.; Hansson, E.R.B.; Hegji, S.J.; Ho-Chung Huang; Ikeuchi, M.; Imai, T.; Ito, K.; Jory, H.R.; Kheifets, S.A.; Kumar, M.; Larsson, M.A.; Meyer, W.; Minnis, B.J.; Niki, H.; Nystrom, G.L.; Ogai, M.; Okoshi, T.; Hideo, S.; Shaeffer, J.;
1987 / IEEE
By: Manfra, M.J.; Mahoney, L.J.; Courtney, W.E.; Chang-Lee Chen; Atwater, H.A.; Chu, A.;
By: Manfra, M.J.; Mahoney, L.J.; Courtney, W.E.; Chang-Lee Chen; Atwater, H.A.; Chu, A.;
2002 / IEEE / 0-7803-7471-1
By: Chang-Geun Ahn; Fontcuberta i Morral, A.; Zahler, J.M.; Iles, P.A.; Chu, C.; Wanlass, M.W.; Atwater, H.A.;
By: Chang-Geun Ahn; Fontcuberta i Morral, A.; Zahler, J.M.; Iles, P.A.; Chu, C.; Wanlass, M.W.; Atwater, H.A.;
2005 / IEEE / 0-7803-9240-X
By: Sweatlock, L.A.; Atwater, H.A.; Lezec, H.; Sungjee Kim; Biteen, J.S.; Walters, R.J.; Dionne, J.A.;
By: Sweatlock, L.A.; Atwater, H.A.; Lezec, H.; Sungjee Kim; Biteen, J.S.; Walters, R.J.; Dionne, J.A.;
2006 / IEEE / 1-4244-0016-3
By: Spurgeon, J.M.; Kayes, B.M.; Atwater, H.A.; Lewis, N.S.; Sadler, T.C.;
By: Spurgeon, J.M.; Kayes, B.M.; Atwater, H.A.; Lewis, N.S.; Sadler, T.C.;
2006 / IEEE / 1-4244-0016-3
By: Atwater, H.A.; Morral, A.F.; Wanlass, M.W.; Aiken, D.J.; Tanabe, K.; Watson, T.J.;
By: Atwater, H.A.; Morral, A.F.; Wanlass, M.W.; Aiken, D.J.; Tanabe, K.; Watson, T.J.;
2006 / IEEE / 1-4244-0016-3
By: Ackerman, A.C.; King, R.R.; Law, D.C.; Griggs, M.J.; Atwater, H.A.; Zahler, J.M.;
By: Ackerman, A.C.; King, R.R.; Law, D.C.; Griggs, M.J.; Atwater, H.A.; Zahler, J.M.;
2008 / IEEE / 978-1-4244-1640-0
By: Lewis, N.S.; Scherer, A.; Plass, K.E.; Spurgeon, J.M.; Putnam, M.C.; Kelzenberg, M.D.; Maiolo III, J.R.; Henry, M.D.; Filler, M.A.; Kayes, B.M.; Atwater, H.A.;
By: Lewis, N.S.; Scherer, A.; Plass, K.E.; Spurgeon, J.M.; Putnam, M.C.; Kelzenberg, M.D.; Maiolo III, J.R.; Henry, M.D.; Filler, M.A.; Kayes, B.M.; Atwater, H.A.;
2009 / IEEE / 978-1-4244-2606-5
By: Scherer, A.; Atwater, H.A.; Diest, K.A.; Ghaffari, A.; Yariv, A.; Shearn, M.J.; Zadok, A.; Xiankai Sun;
By: Scherer, A.; Atwater, H.A.; Diest, K.A.; Ghaffari, A.; Yariv, A.; Shearn, M.J.; Zadok, A.; Xiankai Sun;
2009 / IEEE / 978-1-4244-3680-4
By: Dicken, M.J.; Pryce, I.M.; Burgos, S.; Aydin, K.; Dionne, J.A.; Polman, A.; Atwater, H.A.; de Waele, R.; Diest, K.;
By: Dicken, M.J.; Pryce, I.M.; Burgos, S.; Aydin, K.; Dionne, J.A.; Polman, A.; Atwater, H.A.; de Waele, R.; Diest, K.;
2010 / IEEE / 978-1-55752-890-2
By: Scherer, A.; Atwater, H.A.; Steger, S.T.; Leite, M.S.; Yariv, A.; Shearn, M.J.; Xiankai Sun; Zadok, A.;
By: Scherer, A.; Atwater, H.A.; Steger, S.T.; Leite, M.S.; Yariv, A.; Shearn, M.J.; Xiankai Sun; Zadok, A.;
2010 / IEEE / 978-1-4244-5892-9
By: Polman, A.; Atwater, H.A.; Schropp, R.E.I.; Walters, R.J.; Ferry, V.E.; Li, H.B.T.; Verschuuren, M.A.; Verhagen, E.;
By: Polman, A.; Atwater, H.A.; Schropp, R.E.I.; Walters, R.J.; Ferry, V.E.; Li, H.B.T.; Verschuuren, M.A.; Verhagen, E.;