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Author: Atienza, D.
Results
2012 / IEEE / 978-1-4577-2145-8
By: Dogan, A.Y.; Atienza, D.; Burg, A.; Ruggiero, M.; Constantin, J.;
By: Dogan, A.Y.; Atienza, D.; Burg, A.; Ruggiero, M.; Constantin, J.;
2012 / IEEE / 978-1-4503-1199-1
By: Atienza, D.; Rana, V.; Grassi, P.R.; Khaled, N.; Rincon, F.; Beretta, I.;
By: Atienza, D.; Rana, V.; Grassi, P.R.; Khaled, N.; Rincon, F.; Beretta, I.;
2012 / IEEE / 978-1-4503-1199-1
By: Vincenzi, A.; Ranieri, J.; Vetterli, M.; Atienza, D.; Chebira, A.;
By: Vincenzi, A.; Ranieri, J.; Vetterli, M.; Atienza, D.; Chebira, A.;
2003 / IEEE / 0-7803-7795-8
By: Lauwereins, R.; De Florio, V.; Deconinck, G.; Leeman, M.; Atienza, D.; Catthoor, F.; Ykman, C.; Mendias, J.M.;
By: Lauwereins, R.; De Florio, V.; Deconinck, G.; Leeman, M.; Atienza, D.; Catthoor, F.; Ykman, C.; Mendias, J.M.;
2004 / IEEE / 0-7695-2085-5
By: Mamagkakis, S.; Atienza, D.; Soudris, D.; Mendias, J.M.; Catthoor, F.;
By: Mamagkakis, S.; Atienza, D.; Soudris, D.; Mendias, J.M.; Catthoor, F.;
2004 / IEEE / 0-7695-2061-8
By: Olcoz, K.; Tirado, F.; Catthoor, F.; Atienza, D.; Velasco, J.M.; Mendias, J.M.;
By: Olcoz, K.; Tirado, F.; Catthoor, F.; Atienza, D.; Velasco, J.M.; Mendias, J.M.;
2004 / IEEE / 1-51183-828-8
By: Atienza, D.; Marchal, P.; Francesco, P.; Mendias, J.M.; Catthoor, F.; Benini, L.;
By: Atienza, D.; Marchal, P.; Francesco, P.; Mendias, J.M.; Catthoor, F.; Benini, L.;
2004 / IEEE / 0-7803-8631-0
By: Atienza, D.; Soudris, D.; Mendias, J.M.; Catthoor, F.; Mamagkakis, S.;
By: Atienza, D.; Soudris, D.; Mendias, J.M.; Catthoor, F.; Mamagkakis, S.;
2004 / IEEE / 0-7803-8504-7
By: Mamagkakis, S.; Mendias, J.M.; Soudris, D.; Catthoor, F.; Poucet, C.; Atienza, D.;
By: Mamagkakis, S.; Mendias, J.M.; Soudris, D.; Catthoor, F.; Poucet, C.; Atienza, D.;
2004 / IEEE / 0-7803-8603-5
By: Mendias, J.M.; Deconinck, G.; Catthoor, F.; Leeman, M.; Atienza, D.; Lauwereins, R.; De Florio, V.;
By: Mendias, J.M.; Deconinck, G.; Catthoor, F.; Leeman, M.; Atienza, D.; Lauwereins, R.; De Florio, V.;
2005 / IEEE / 0-7695-2288-2
By: Atienza, D.; Genko, N.; Catthoor, F.; Hermida, R.; Mendias, J.M.; De Micheli, G.;
By: Atienza, D.; Genko, N.; Catthoor, F.; Hermida, R.; Mendias, J.M.; De Micheli, G.;
2005 / IEEE / 0-7803-8834-8
By: De Micheli, G.; Atienza, D.; Genko, N.; Catthoor, F.; Hermida, R.; Mendias, J.M.; Benini, L.;
By: De Micheli, G.; Atienza, D.; Genko, N.; Catthoor, F.; Hermida, R.; Mendias, J.M.; Benini, L.;
2005 / IEEE / 0-7695-2483-4
By: Atienza, D.; Ayala, J.L.; Lopez-Barrio, C.A.; Hermida, R.; Mendias, J.M.; Lopez-Vallejo, M.;
By: Atienza, D.; Ayala, J.L.; Lopez-Barrio, C.A.; Hermida, R.; Mendias, J.M.; Lopez-Vallejo, M.;
2006 / IEEE / 3-9810801-1-4
By: Mamagkakis, S.; Bartzas, A.; Thanailakis, A.; Soudris, D.; Catthoor, F.; Atienza, D.; Pouiklis, G.;
By: Mamagkakis, S.; Bartzas, A.; Thanailakis, A.; Soudris, D.; Catthoor, F.; Atienza, D.; Pouiklis, G.;
2006 / IEEE / 3-9810801-1-4
By: Catthoor, F.; Poucet, C.; Atienza, D.; Mamagkakis, S.; Mendias, J.M.; Soudris, D.;
By: Catthoor, F.; Poucet, C.; Atienza, D.; Mamagkakis, S.; Mendias, J.M.; Soudris, D.;
2006 / IEEE / 1-59593-381-6
By: De Micheli, G.; Benini, L.; Poletti, F.; Paci, G.; Del Valle, P.G.; Atienza, D.; Mendias, J.M.;
By: De Micheli, G.; Benini, L.; Poletti, F.; Paci, G.; Del Valle, P.G.; Atienza, D.; Mendias, J.M.;
2006 / IEEE / 0-7803-9389-9
By: Peon, M.; Bartzas, A.; Mendias, M.; Soudris, D.; Catthoort, F.; Atienza, D.; Mamagkakis, S.;
By: Peon, M.; Bartzas, A.; Mendias, M.; Soudris, D.; Catthoort, F.; Atienza, D.; Mamagkakis, S.;
2006 / IEEE / 0-7695-2689-6
By: Atienza, D.; Ayala, J.L.; Catthoor, F.; Lopez-Vallejo, M.; Raghavan, P.;
By: Atienza, D.; Ayala, J.L.; Catthoor, F.; Lopez-Vallejo, M.; Raghavan, P.;
2006 / IEEE / 3-901882-19-7
By: Benini, L.; Mendias, J.M.; Perez, E.A.; Flores, J.G.; De Micheli, G.; Atienza, D.; Del Valle, P.G.; Magan, I.;
By: Benini, L.; Mendias, J.M.; Perez, E.A.; Flores, J.G.; De Micheli, G.; Atienza, D.; Del Valle, P.G.; Magan, I.;
2006 / IEEE / 3-901882-19-7
By: Raffo, L.; De Micheli, G.; Benini, L.; Carta, S.; Murali, S.; Angiolini, F.; Meloni, P.; Atienza, D.;
By: Raffo, L.; De Micheli, G.; Benini, L.; Carta, S.; Murali, S.; Angiolini, F.; Meloni, P.; Atienza, D.;
2006 / IEEE / 1-59593-389-1
By: Raffo, L.; De Micheli, G.; Benini, L.; Carta, S.; Murali, S.; Angiolini, F.; Meloni, P.; Atienza, D.;
By: Raffo, L.; De Micheli, G.; Benini, L.; Carta, S.; Murali, S.; Angiolini, F.; Meloni, P.; Atienza, D.;
2006 / IEEE / 1-4244-0621-8
By: Pulling, A.; Angiolini, F.; Tamhankar, R.; Murali, S.; De Micheli, G.; Benini, L.; Atienza, D.;
By: Pulling, A.; Angiolini, F.; Tamhankar, R.; Murali, S.; De Micheli, G.; Benini, L.; Atienza, D.;
2007 / IEEE / 0-7695-2773-6
By: Atienza, D.; Meloni, P.; Angiolini, F.; Pullini, A.; Srinivasan Murali; Benini, L.; De Micheli, G.; Raffo, L.;
By: Atienza, D.; Meloni, P.; Angiolini, F.; Pullini, A.; Srinivasan Murali; Benini, L.; De Micheli, G.; Raffo, L.;
2007 / IEEE / 978-3-9810801-2-4
By: Jamaa, M.H.B.; Angiolini, F.; De Micheli, G.; Benini, L.; Atienza, D.;
By: Jamaa, M.H.B.; Angiolini, F.; De Micheli, G.; Benini, L.; Atienza, D.;
2007 / IEEE / 1-4244-0920-9
By: Atienza, D.; Ayala, J.L.; Raghavan, P.; Lopez-Vallejo, M.; De Micheli, G.; Catthoor, F.;
By: Atienza, D.; Ayala, J.L.; Raghavan, P.; Lopez-Vallejo, M.; De Micheli, G.; Catthoor, F.;
2007 / IEEE
By: Raffo, L.; De Micheli, G.; Benini, L.; Carta, S.; Meloni, P.; Atienza, D.; Murali, S.;
By: Raffo, L.; De Micheli, G.; Benini, L.; Carta, S.; Meloni, P.; Atienza, D.; Murali, S.;
2006 / IEEE / 978-0-7803-9706-4
By: Benini, L.; Murali, S.; Atienza, D.; Angiolini, F.; De Micheli, G.;
By: Benini, L.; Murali, S.; Atienza, D.; Angiolini, F.; De Micheli, G.;
2008 / IEEE / 978-1-4244-1921-0
By: Narayanan, V.; DeBole, M.; Del Valle, P.G.; Ayala, J.L.; Benini, L.; De Micheli, G.; Atienza, D.;
By: Narayanan, V.; DeBole, M.; Del Valle, P.G.; Ayala, J.L.; Benini, L.; De Micheli, G.; Atienza, D.;
2008 / IEEE / 978-3-9810801-3-1
By: De Micheli, G.; Benini, L.; Boyd, S.; Gupta, R.; Atienza, D.; Mutapcic, A.; Murali, S.;
By: De Micheli, G.; Benini, L.; Boyd, S.; Gupta, R.; Atienza, D.; Mutapcic, A.; Murali, S.;
2008 / IEEE / 978-3-9810801-3-1
By: Atienza, D.; Benini, L.; Acquaviva, A.; Carta, S.; De Micheli, G.; Pittau, M.; Mulas, F.; Buttu, M.;
By: Atienza, D.; Benini, L.; Acquaviva, A.; Carta, S.; De Micheli, G.; Pittau, M.; Mulas, F.; Buttu, M.;
2008 / IEEE / 978-3-9810801-3-1
By: Sanchez-Elez, M.; Qin Zhao; Recas, J.; Paselli, M.; Atienza, D.; De Micheli, G.; Rincon, F.J.; Penders, J.;
By: Sanchez-Elez, M.; Qin Zhao; Recas, J.; Paselli, M.; Atienza, D.; De Micheli, G.; Rincon, F.J.; Penders, J.;
2008 / IEEE
By: Ben Jamaa, M.H.; De Micheli, G.; Leblebici, Y.; Ionescu, A.M.; Bouvet, D.; Atienza, D.; Moselund, K.E.;
By: Ben Jamaa, M.H.; De Micheli, G.; Leblebici, Y.; Ionescu, A.M.; Bouvet, D.; Atienza, D.; Moselund, K.E.;
2009 / IEEE / 978-1-4244-2748-2
By: Leblebici, Y.; Atienza, D.; Haykel Ben Jamaa, M.; De Micheli, G.;
By: Leblebici, Y.; Atienza, D.; Haykel Ben Jamaa, M.; De Micheli, G.;
2009 / IEEE / 978-1-4244-3781-8
By: Coskun, A.K.; Leblebici, Y.; Rosing, T.S.; Atienza, D.; Ayala, J.L.;
By: Coskun, A.K.; Leblebici, Y.; Rosing, T.S.; Atienza, D.; Ayala, J.L.;
2009 / IEEE / 978-1-4244-5816-5
By: Sciuto, D.; Santambrogio, M.D.; Atienza, D.; Rana, V.; Beretta, I.;
By: Sciuto, D.; Santambrogio, M.D.; Atienza, D.; Rana, V.; Beretta, I.;
2010 / IEEE / 978-3-9810801-6-2
By: Brunschwiler, T.; Rosing, T.S.; Atienza, D.; Coskun, A.K.; Michel, B.;
By: Brunschwiler, T.; Rosing, T.S.; Atienza, D.; Coskun, A.K.; Michel, B.;
2010 / IEEE / 978-1-4244-6830-0
By: Atienza, D.; Ruggiero, M.; Raghav, S.; Benini, L.; Marongiu, A.; Pinto, C.;
By: Atienza, D.; Ruggiero, M.; Raghav, S.; Benini, L.; Marongiu, A.; Pinto, C.;
2010 / IEEE / 978-1-4244-7320-5
By: Hidalgo, J.I.; Ayala, J.L.; Cuesta, D.; Macii, E.; Acquaviva, A.; Atienza, D.;
By: Hidalgo, J.I.; Ayala, J.L.; Cuesta, D.; Macii, E.; Acquaviva, A.; Atienza, D.;
2010 / IEEE / 978-1-4244-8194-1
By: Atienza, D.; Brunschwiler, T.; Ruggiero, M.; Vincenzi, A.; Sridhar, A.;
By: Atienza, D.; Brunschwiler, T.; Ruggiero, M.; Vincenzi, A.; Sridhar, A.;
2007 / IEEE / 978-1-5959-3824-4
By: Mutapcic, A.; Murali, S.; De Micheli, G.; Boyd, S.; Gupta, R.; Atienza, D.;
By: Mutapcic, A.; Murali, S.; De Micheli, G.; Boyd, S.; Gupta, R.; Atienza, D.;
2011 / IEEE / 978-3-9810801-8-6
By: Nacci, A.A.; Beretta, I.; Akin, A.; Atienza, D.; Santambrogio, M.D.; Rana, V.;
By: Nacci, A.A.; Beretta, I.; Akin, A.; Atienza, D.; Santambrogio, M.D.; Rana, V.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-0129-0
By: Atienza, D.; Ruggiero, M.; Marongiu, A.; Raghav, S.; Pinto, C.; Benini, L.;
By: Atienza, D.; Ruggiero, M.; Marongiu, A.; Raghav, S.; Pinto, C.; Benini, L.;