Your Search Results
Use materials by this author in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content such as case studies and journal articles for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!

Author: Assefa, S.
Results
2012 / IEEE
By: Yang, M.; Doany, F.E.; Jahnes, C.V.; Kash, J.A.; Vlasov, Y.A.; Van Campenhout, J.; Assefa, S.; Green, W.M.J.; Lee, B.G.; Schow, C.L.; Rylyakov, A.V.;
By: Yang, M.; Doany, F.E.; Jahnes, C.V.; Kash, J.A.; Vlasov, Y.A.; Van Campenhout, J.; Assefa, S.; Green, W.M.J.; Lee, B.G.; Schow, C.L.; Rylyakov, A.V.;
2011 / IEEE / 978-986-02-8974-9
By: Green, W.M.J.; Horst, F.; Vlasov, Y.A.; Offrein, B.J.; Shank, S.M.; Assefa, S.;
By: Green, W.M.J.; Horst, F.; Vlasov, Y.A.; Offrein, B.J.; Shank, S.M.; Assefa, S.;
2011 / IEEE / 978-1-4244-6051-9
By: Assefa, S.; Vlasov, Y.A.; Horst, F.; Schow, C.; Rylyakov, A.; Green, W.M.J.;
By: Assefa, S.; Vlasov, Y.A.; Horst, F.; Schow, C.; Rylyakov, A.; Green, W.M.J.;
2011 / IEEE / 978-1-61284-166-3
By: Green, W.M.J.; Assefa, S.; Vlasov, Y.A.; Horst, F.; Schow, C.; Rylyakov, A.;
By: Green, W.M.J.; Assefa, S.; Vlasov, Y.A.; Horst, F.; Schow, C.; Rylyakov, A.;
2011 / IEEE / 978-1-4244-8939-8
By: Schow, C.L.; Lee, B.G.; Kash, J.A.; Vlasov, Y.A.; Green, W.M.J.; Assefa, S.; Baks, C.; Rylyakov, A.V.; Pepeljugoski, P.; Kuchta, D.M.; John, R.; Jahnes, C.; Doany, F.E.;
By: Schow, C.L.; Lee, B.G.; Kash, J.A.; Vlasov, Y.A.; Green, W.M.J.; Assefa, S.; Baks, C.; Rylyakov, A.V.; Pepeljugoski, P.; Kuchta, D.M.; John, R.; Jahnes, C.; Doany, F.E.;
2011 / IEEE / 978-1-4244-8939-8
By: Lee, B.G.; Gill, D.M.; Rylyakov, A.V.; Assefa, S.; Schow, C.L.; Jahnes, C.; Green, W.M.J.; Rosenberg, J.C.; Vlasov, Y.A.; Shank, S.M.; Barwicz, T.;
By: Lee, B.G.; Gill, D.M.; Rylyakov, A.V.; Assefa, S.; Schow, C.L.; Jahnes, C.; Green, W.M.J.; Rosenberg, J.C.; Vlasov, Y.A.; Shank, S.M.; Barwicz, T.;
2015 / IEEE
By: Gill, D.M.; Proesel, J.E.; Vlasov, Y.A.; Haensch, W.; Green, W.M.J.; Breslin, C.M.; Kamlapurkar, S.; Kiewra, E.; Ellis-Monaghan, J.; Reinholm, C.; Shank, S.M.; Assefa, S.; Barwicz, T.; Khater, M.H.; Xiong, C.; Orcutt, J.S.; Rosenberg, J.C.;
By: Gill, D.M.; Proesel, J.E.; Vlasov, Y.A.; Haensch, W.; Green, W.M.J.; Breslin, C.M.; Kamlapurkar, S.; Kiewra, E.; Ellis-Monaghan, J.; Reinholm, C.; Shank, S.M.; Assefa, S.; Barwicz, T.; Khater, M.H.; Xiong, C.; Orcutt, J.S.; Rosenberg, J.C.;
2003 / IEEE
By: Lidorikis, E.; Petrich, G.S.; Erchak, A.A.; Shanhui Fan; Johnson, S.G.; Joannopoulos, J.D.; Bryant, R.E.; Povinelli, M.L.; Ippen, E.P.; Assefa, S.; Kolodziejski, L.A.;
By: Lidorikis, E.; Petrich, G.S.; Erchak, A.A.; Shanhui Fan; Johnson, S.G.; Joannopoulos, J.D.; Bryant, R.E.; Povinelli, M.L.; Ippen, E.P.; Assefa, S.; Kolodziejski, L.A.;
2003 / IEEE / 1-55752-749-0
By: Bientsman, P.; Assefa, S.; Ippen, E.P.; Kolodziejski, L.A.; Rakich, P.; Petrich, G.S.; Joannopoulos, J.D.; Johnson, S.J.;
By: Bientsman, P.; Assefa, S.; Ippen, E.P.; Kolodziejski, L.A.; Rakich, P.; Petrich, G.S.; Joannopoulos, J.D.; Johnson, S.J.;
2003 / IEEE / 1-55752-748-2
By: Petrich, G.S.; Assefa, S.; Ippen, E.P.; Kolodziejski, L.A.; Bienstman, P.; Joannopoulos, J.D.; Johnson, S.J.; Rakich, P.;
By: Petrich, G.S.; Assefa, S.; Ippen, E.P.; Kolodziejski, L.A.; Bienstman, P.; Joannopoulos, J.D.; Johnson, S.J.; Rakich, P.;
2004 / IEEE / 1-55752-777-6
By: Assefa, S.; Smith, H.I.; Ippen, E.P.; Kolodziejski, L.A.; Bienstman, P.; Petrich, G.S.; Joannopoulos, J.D.; Johnson, S.G.; Rakich, P.;
By: Assefa, S.; Smith, H.I.; Ippen, E.P.; Kolodziejski, L.A.; Bienstman, P.; Petrich, G.S.; Joannopoulos, J.D.; Johnson, S.G.; Rakich, P.;
2005 / IEEE / 0-7803-9058-X
By: Gallagher, W.J.; Abraham, D.; See-Hun Yang; Wright, G.; Worledge, D.; Trouilloud, P.; Robertazzi, R.; Parkin, S.S.P.; O'Sullivan, E.; Samant, M.; Rice, P.; Nowak, J.; Yu Lu; Milkove, K.; Maffit, T.; Lamorey, M.; Kaiser, C.; Kanakasabapathy, S.; Hummel, J.; Hughes, B.; Gow, E.; Galligan, E.; Gaidis, M.; DeBrosse, J.; Brown, S.L.; Assefa, S.;
By: Gallagher, W.J.; Abraham, D.; See-Hun Yang; Wright, G.; Worledge, D.; Trouilloud, P.; Robertazzi, R.; Parkin, S.S.P.; O'Sullivan, E.; Samant, M.; Rice, P.; Nowak, J.; Yu Lu; Milkove, K.; Maffit, T.; Lamorey, M.; Kaiser, C.; Kanakasabapathy, S.; Hummel, J.; Hughes, B.; Gow, E.; Galligan, E.; Gaidis, M.; DeBrosse, J.; Brown, S.L.; Assefa, S.;
2005 / IEEE / 0-7803-8974-3
By: O'Boyle, M.; Assefa, S.; Sekaric, L.; Dulkeith, E.; Vlasov, Yu.A.; McNab, S.J.;
By: O'Boyle, M.; Assefa, S.; Sekaric, L.; Dulkeith, E.; Vlasov, Yu.A.; McNab, S.J.;
2006 / IEEE / 1-4244-1479-2
By: Assefa, S.; Watanabe, N.; Djayaprawira, D.D.; Nagamine, Y.; Gallagher, W.J.; Worledge, D.C.; Ruiz, N.; Sun, J.Z.;
By: Assefa, S.; Watanabe, N.; Djayaprawira, D.D.; Nagamine, Y.; Gallagher, W.J.; Worledge, D.C.; Ruiz, N.; Sun, J.Z.;
2008 / IEEE / 978-1-55752-859-9
By: Osgood, R.M.; Assefa, S.; Xiaogang Chen; Xiaoping Liu; Green, W.; Vlasov, Yu.A.;
By: Osgood, R.M.; Assefa, S.; Xiaogang Chen; Xiaoping Liu; Green, W.; Vlasov, Yu.A.;
2008 / IEEE / 978-1-4244-1769-8
By: Vlasov, Y.A.; Fengnian Xia; Young-Hee Kim; van Campenhout, J.; Assefa, S.; Green, W.M.J.;
By: Vlasov, Y.A.; Fengnian Xia; Young-Hee Kim; van Campenhout, J.; Assefa, S.; Green, W.M.J.;
2008 / IEEE / 978-1-4244-1931-9
By: Kim, Y.-H.; Van Campenhout, J.; Assefa, S.; Green, W.; Vlasov, Y.A.; Xia, F.;
By: Kim, Y.-H.; Van Campenhout, J.; Assefa, S.; Green, W.; Vlasov, Y.A.; Xia, F.;
2009 / IEEE / 978-1-4244-2606-5
By: Ying Zhang; Bedell, S.W.; Fengnian Xia; Assefa, S.; Vlasov, Y.A.; Rice, P.M.; Topuria, T.;
By: Ying Zhang; Bedell, S.W.; Fengnian Xia; Assefa, S.; Vlasov, Y.A.; Rice, P.M.; Topuria, T.;
2009 / IEEE / 978-1-4244-4102-0
By: Fengnian Xia; Assefa, S.; Vlasov, Y.A.; Rice, P.M.; Topuria, T.; Ying Zhang; Bedell, S.W.;
By: Fengnian Xia; Assefa, S.; Vlasov, Y.A.; Rice, P.M.; Topuria, T.; Ying Zhang; Bedell, S.W.;
2009 / IEEE / 978-1-55752-869-8
By: Vlasov, Y.A.; Green, W.M.J.; Shepard, K.L.; Chee Wei Wong; Assefa, S.; Meric, I.; Husko, C.A.; Chen, C.J.;
By: Vlasov, Y.A.; Green, W.M.J.; Shepard, K.L.; Chee Wei Wong; Assefa, S.; Meric, I.; Husko, C.A.; Chen, C.J.;
2009 / IEEE / 978-1-55752-869-8
By: Vlasov, Y.A.; Rice, P.M.; Topuria, T.; Ying Zhang; Bedell, S.W.; Fengnian Xia; Assefa, S.;
By: Vlasov, Y.A.; Rice, P.M.; Topuria, T.; Ying Zhang; Bedell, S.W.; Fengnian Xia; Assefa, S.;
2009 / IEEE / 978-1-55752-869-8
By: Green, W.M.J.; Van Campenhout, J.; Osgood, R.M.; Xiaoping Liu; Vlasov, Y.A.; Assefa, S.;
By: Green, W.M.J.; Van Campenhout, J.; Osgood, R.M.; Xiaoping Liu; Vlasov, Y.A.; Assefa, S.;
2010 / IEEE / 978-1-55752-884-1
By: Yang, M.; Green, W.; Assefa, S.; Doany, F.E.; Lee, B.G.; Vlasov, Y.A.; Schow, C.L.; Kopp, V.I.; Kash, J.A.; Singer, J.; Zhang, S.; Jahnes, C.V.;
By: Yang, M.; Green, W.; Assefa, S.; Doany, F.E.; Lee, B.G.; Vlasov, Y.A.; Schow, C.L.; Kopp, V.I.; Kash, J.A.; Singer, J.; Zhang, S.; Jahnes, C.V.;
2010 / IEEE / 978-1-55752-890-2
By: Murray, C.B.; Weon-kyu Koh; Gesuele, F.; Jie Gao; Chee Wei Wong; Assefa, S.;
By: Murray, C.B.; Weon-kyu Koh; Gesuele, F.; Jie Gao; Chee Wei Wong; Assefa, S.;
2010 / IEEE / 978-1-55752-890-2
By: Gupta, G.; Green, W.M.J.; Assefa, S.; Fengnian Xia; Vlasov, Y.A.; Mookherjea, S.; Cooper, M.L.;
By: Gupta, G.; Green, W.M.J.; Assefa, S.; Fengnian Xia; Vlasov, Y.A.; Mookherjea, S.; Cooper, M.L.;
2010 / IEEE / 978-1-55752-890-2
By: Schow, C.L.; Rylyakov, A.V.; Assefa, S.; Yang, M.; Doany, F.E.; Jahnes, C.V.; John, R.A.; Kash, J.A.; Vlasov, Y.A.; Green, W.; Van Campenhout, J.; Lee, B.G.;
By: Schow, C.L.; Rylyakov, A.V.; Assefa, S.; Yang, M.; Doany, F.E.; Jahnes, C.V.; John, R.A.; Kash, J.A.; Vlasov, Y.A.; Green, W.; Van Campenhout, J.; Lee, B.G.;
2010 / IEEE / 978-1-4244-6346-6
By: Vlasov, Y.; Baets, R.; Van Thourhout, D.; Vandoorne, K.; Keyvaninia, S.; Roelkens, G.; Assefa, S.; Green, W.M.J.; Raz, O.; Tassaert, M.;
By: Vlasov, Y.; Baets, R.; Van Thourhout, D.; Vandoorne, K.; Keyvaninia, S.; Roelkens, G.; Assefa, S.; Green, W.M.J.; Raz, O.; Tassaert, M.;
2011 / IEEE
By: Schow, C.L.; Lee, B.G.; Vlasov, Y.A.; Kash, J.A.; Jahnes, C.V.; Van Campenhout, J.V.; Rylyakov, A.V.; Min Yang; Doany, F.E.; Assefa, S.; Green, W.M.J.; John, R.A.;
By: Schow, C.L.; Lee, B.G.; Vlasov, Y.A.; Kash, J.A.; Jahnes, C.V.; Van Campenhout, J.V.; Rylyakov, A.V.; Min Yang; Doany, F.E.; Assefa, S.; Green, W.M.J.; John, R.A.;
2011 / IEEE / 978-1-55752-906-0
By: Assefa, S.; Kash, J.A.; Min Yang; Green, W.M.J.; Vlasov, Y.A.; Van Campenhout, J.; Schow, C.L.; Doany, F.E.; Jahnes, C.V.; Lee, B.G.;
By: Assefa, S.; Kash, J.A.; Min Yang; Green, W.M.J.; Vlasov, Y.A.; Van Campenhout, J.; Schow, C.L.; Doany, F.E.; Jahnes, C.V.; Lee, B.G.;
2011 / IEEE / 978-1-55752-906-0
By: Lee, B.G.; Assefa, S.; Rylyakov, A.V.; Schow, C.L.; Jahnes, C.; Green, W.M.J.; Rosenberg, J.C.; Vlasov, Y.A.;
By: Lee, B.G.; Assefa, S.; Rylyakov, A.V.; Schow, C.L.; Jahnes, C.; Green, W.M.J.; Rosenberg, J.C.; Vlasov, Y.A.;
2011 / IEEE / 978-1-55752-911-4
By: Mookherjea, S.; Vlasov, Y.A.; Fengnian Xia; Assefa, S.; Jun Rong Ong; Green, W.M.J.; Gupta, G.; Cooper, M.L.;
By: Mookherjea, S.; Vlasov, Y.A.; Fengnian Xia; Assefa, S.; Jun Rong Ong; Green, W.M.J.; Gupta, G.; Cooper, M.L.;
2011 / IEEE / 978-1-55752-911-4
By: Gupta, G.; Cooper, M.L.; Mookherjea, S.; Vlasov, Y.A.; Schneider, M.A.; Fengnian Xia; Assefa, S.; Green, W.M.J.; Shen, Y.;
By: Gupta, G.; Cooper, M.L.; Mookherjea, S.; Vlasov, Y.A.; Schneider, M.A.; Fengnian Xia; Assefa, S.; Green, W.M.J.; Shen, Y.;
2011 / IEEE / 978-1-55752-911-4
By: Junrong Ong; Gupta, G.; Cooper, M.L.; Mookherjea, S.; Green, W.M.J.; Vlasov, Y.A.; Fengnian Xia; Assefa, S.;
By: Junrong Ong; Gupta, G.; Cooper, M.L.; Mookherjea, S.; Green, W.M.J.; Vlasov, Y.A.; Fengnian Xia; Assefa, S.;
2011 / IEEE / 978-1-55752-911-4
By: Barwicz, T.; Assefa, S.; Green, W.M.J.; Sacher, W.D.; Poon, J.K.S.; Vlasov, Y.A.; Shank, S.M.;
By: Barwicz, T.; Assefa, S.; Green, W.M.J.; Sacher, W.D.; Poon, J.K.S.; Vlasov, Y.A.; Shank, S.M.;
2011 / IEEE / 978-1-55752-911-4
By: Shank, S.M.; Yang, M.; Barwicz, T.; Assefa, S.; Green, W.M.J.; Rosenberg, J.C.; Vlasov, Y.A.;
By: Shank, S.M.; Yang, M.; Barwicz, T.; Assefa, S.; Green, W.M.J.; Rosenberg, J.C.; Vlasov, Y.A.;