Your Search Results
Use materials by this author in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content such as case studies and journal articles for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!

Author: Aoki, Y.
Results
2011 / IEEE / 978-1-55752-932-9
By: Oda, S.; Sasaki, T.; Yamamoto, Y.; Rasmussen, J.C.; Zhenning Tao; Meng Yan; Aoki, Y.; Sone, K.; Ohshima, C.; Nakashima, H.; Akiyama, Y.; Hoshida, T.; Yinwen Cao; Tanimura, T.;
By: Oda, S.; Sasaki, T.; Yamamoto, Y.; Rasmussen, J.C.; Zhenning Tao; Meng Yan; Aoki, Y.; Sone, K.; Ohshima, C.; Nakashima, H.; Akiyama, Y.; Hoshida, T.; Yinwen Cao; Tanimura, T.;
2011 / IEEE / 978-1-55752-932-9
By: Ji, P.N.; Aoki, Y.; Shaoliang Zhang; Ming-Fang Huang; Dayou Qian; Yin Shao; Ogata, T.; Inada, Y.; Ting Wang; Mateo, E.; Yaman, F.;
By: Ji, P.N.; Aoki, Y.; Shaoliang Zhang; Ming-Fang Huang; Dayou Qian; Yin Shao; Ogata, T.; Inada, Y.; Ting Wang; Mateo, E.; Yaman, F.;
2012 / IEEE / 978-1-55752-935-1
By: Yequn Zhang; Lei Xu; Dayou Qian; Mateo, E.; Yaman, F.; Ming-Fang Huang; Shaoliang Zhang; Aoki, Y.; Ogata, T.; Inoue, T.; Inada, Y.; Ting Wang; Djordjevic, I.B.; Yin Shao;
By: Yequn Zhang; Lei Xu; Dayou Qian; Mateo, E.; Yaman, F.; Ming-Fang Huang; Shaoliang Zhang; Aoki, Y.; Ogata, T.; Inoue, T.; Inada, Y.; Ting Wang; Djordjevic, I.B.; Yin Shao;
2012 / IEEE / 978-1-55752-935-1
By: Tanimura, T.; Rasmussen, J.C.; Zhenning Tao; Meng Yan; Oda, S.; Hoshida, T.; Aoki, Y.; Nakashima, H.; Akiyama, Y.; Yinwen Cao;
By: Tanimura, T.; Rasmussen, J.C.; Zhenning Tao; Meng Yan; Oda, S.; Hoshida, T.; Aoki, Y.; Nakashima, H.; Akiyama, Y.; Yinwen Cao;
2012 / IEEE / 978-1-55752-935-1
By: Inada, Y.; Ting Wang; Yin Shao; Ming-Fang Huang; Yaman, F.; Inoue, T.; Lei Xu; Mateo, E.; Shaoliang Zhang; Aoki, Y.; Ogata, T.;
By: Inada, Y.; Ting Wang; Yin Shao; Ming-Fang Huang; Yaman, F.; Inoue, T.; Lei Xu; Mateo, E.; Shaoliang Zhang; Aoki, Y.; Ogata, T.;
A 1V 357Mb/s-throughput transferjet" SoC with embedded transceiver and digital baseband in 90nm CMOS
2012 / IEEE / 978-1-4673-0377-4By: Kondo, F.; Tamura, M.; Maekawa, I.; Hisamura, R.; Uezono, I.; Nagase, I.; Watanabe, K.; Miyachi, H.; Nishiyama, F.; Hashimoto, Y.; Uchino, K.; Shinohe, Y.; Aoki, Y.;
2014 / IEEE
By: Aoki, Y.; Miyamoto, M.; Yoshida, H.; Maeda, J.; Morita, T.; Aoshima, H.; Kageyama, N.; Nagakura, T.; Torii, K.; Naito, H.; Higuchi, A.;
By: Aoki, Y.; Miyamoto, M.; Yoshida, H.; Maeda, J.; Morita, T.; Aoshima, H.; Kageyama, N.; Nagakura, T.; Torii, K.; Naito, H.; Higuchi, A.;
1991 / IEEE
By: Ishikawa, S.; Fukagai, K.; Sunohara, Y.; Saito, T.; Aoki, Y.; Fujita, S.; Henmi, N.;
By: Ishikawa, S.; Fukagai, K.; Sunohara, Y.; Saito, T.; Aoki, Y.; Fujita, S.; Henmi, N.;
1996 / IEEE / 0-7803-3216-4
By: Mitsuhashi, R.; Kojima, K.; Kojyo, K.; Nagase, H.; Aoki, Y.; Hatsuda, T.; Okuno, N.; Eohigo, H.; Takahata, F.;
By: Mitsuhashi, R.; Kojima, K.; Kojyo, K.; Nagase, H.; Aoki, Y.; Hatsuda, T.; Okuno, N.; Eohigo, H.; Takahata, F.;
1997 / IEEE / 0-7803-2651-2
By: Kato, K.; Ohashi, K.; Aoki, Y.; Shinbo, K.; Kaneko, F.; Kobayashi, S.;
By: Kato, K.; Ohashi, K.; Aoki, Y.; Shinbo, K.; Kaneko, F.; Kobayashi, S.;
1998 / IEEE / 0-7803-4766-8
By: Baba, M.; Aoki, Y.; Sato, M.; Murakami, S.; Kayano, M.; Saikusa, N.; Wakayama, Y.;
By: Baba, M.; Aoki, Y.; Sato, M.; Murakami, S.; Kayano, M.; Saikusa, N.; Wakayama, Y.;
1998 / IEEE / 84-89900-14-0
By: Tezuka, H.; Emura, K.; Aoki, Y.; Suzaki, T.; Arai, N.; Asahi, T.; Matsuoka, I.;
By: Tezuka, H.; Emura, K.; Aoki, Y.; Suzaki, T.; Arai, N.; Asahi, T.; Matsuoka, I.;
1999 / IEEE
By: Aoki, Y.; Koizumi, T.; Hasegawa, T.; Togano, K.; Kumakura, H.; Miao, H.; Kitaguchi, H.;
By: Aoki, Y.; Koizumi, T.; Hasegawa, T.; Togano, K.; Kumakura, H.; Miao, H.; Kitaguchi, H.;
1999 / IEEE / 0-7803-5639-x
By: Maekawa, Y.; Takahata, F.; Echigo, H.; Aoki, Y.; Mitsuhashi, R.; Hatsuda, T.; Fujisaki, K.;
By: Maekawa, Y.; Takahata, F.; Echigo, H.; Aoki, Y.; Mitsuhashi, R.; Hatsuda, T.; Fujisaki, K.;
1999 / IEEE / 0-7803-5610-1
By: Mitsuhashi, R.; Sugio, N.; Hashimoto, A.; Li, J.; Tanahashi, S.; Aoki, Y.; Hatsuda, T.;
By: Mitsuhashi, R.; Sugio, N.; Hashimoto, A.; Li, J.; Tanahashi, S.; Aoki, Y.; Hatsuda, T.;
1999 / IEEE / 0-7803-5573-3
By: Endo, S.; Okada, Y.; Yorozu, M.; Yang, J.; Aoki, Y.; Kozawa, T.; Wang, X.; Ben-Zvi, I.; Washio, M.; Tagawa, S.; Yoshida, Y.;
By: Endo, S.; Okada, Y.; Yorozu, M.; Yang, J.; Aoki, Y.; Kozawa, T.; Wang, X.; Ben-Zvi, I.; Washio, M.; Tagawa, S.; Yoshida, Y.;
1999 / IEEE / 0-7803-5573-3
By: Yang, J.; Aoki, Y.; Tsunemi, A.; Okada, Y.; Yorozu, M.; Sakai, F.; Endo, A.;
By: Yang, J.; Aoki, Y.; Tsunemi, A.; Okada, Y.; Yorozu, M.; Sakai, F.; Endo, A.;
1999 / IEEE / 1-890843-02-4
By: Kohno, Y.; Ogawa, T.; Muranaka, M.; Aoki, Y.; Taura, T.; Yamada, Y.; Yamada, T.;
By: Kohno, Y.; Ogawa, T.; Muranaka, M.; Aoki, Y.; Taura, T.; Yamada, Y.; Yamada, T.;
1999 / IEEE / 0-7803-5661-6
By: Yang, J.; Aoki, Y.; Tsunemi, A.; Sakai, F.; Yorozu, M.; Okada, Y.; Endo, A.;
By: Yang, J.; Aoki, Y.; Tsunemi, A.; Sakai, F.; Yorozu, M.; Okada, Y.; Endo, A.;
2000 / IEEE / 0-7803-5853-8
By: Hirose, T.; Watanabe, Y.; Okubo, N.; Aoki, Y.; Aoki, S.; Ohashi, Y.; Uchino, H.;
By: Hirose, T.; Watanabe, Y.; Okubo, N.; Aoki, Y.; Aoki, S.; Ohashi, Y.; Uchino, H.;
1999 / IEEE / 0-7803-5722-1
By: Koh, K.; Hohakawa, K.; Komine, K.; Hong, C.; Aoki, Y.; Kaneshiro, C.;
By: Koh, K.; Hohakawa, K.; Komine, K.; Hong, C.; Aoki, Y.; Kaneshiro, C.;
2000 / IEEE / 0-7803-6280-2
By: Hirata, M.; Mimino, Y.; Kuroda, S.; Aoki, Y.; Sakamoto, K.; Nakamura, K.;
By: Hirata, M.; Mimino, Y.; Kuroda, S.; Aoki, Y.; Sakamoto, K.; Nakamura, K.;
2000 / IEEE / 0-7803-5687-X
By: Nakamura, K.; Hirata, M.; Mimino, Y.; Kuroda, S.; Aoki, Y.; Sakamoto, K.;
By: Nakamura, K.; Hirata, M.; Mimino, Y.; Kuroda, S.; Aoki, Y.; Sakamoto, K.;
2000 / IEEE / 0-7803-6369-8
By: Hatsuda, T.; Aoki, Y.; Kato, T.; Kobayasi, T.; Osada, J.; Yamada, Y.;
By: Hatsuda, T.; Aoki, Y.; Kato, T.; Kobayasi, T.; Osada, J.; Yamada, Y.;