Your Search Results
Use materials by this author in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content such as case studies and journal articles for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!

Author: Adesida, I.
Results
1988 / IEEE
By: Laskar, J.; Adesida, I.; Kolodzev, J.; Sivco, D.; Boor, S.; Fischer, R.; Cho, A.Y.; Ketterson, A.; Reis, S.;
By: Laskar, J.; Adesida, I.; Kolodzev, J.; Sivco, D.; Boor, S.; Fischer, R.; Cho, A.Y.; Ketterson, A.; Reis, S.;
1989 / IEEE
By: Coleman, J.J.; Adesida, I.; DeTemple, T.A.; Bryan, R.; Tang, T.K.; Swanson, P.D.; Cockerill, T.; Andideh, E.; Miller, L.M.;
By: Coleman, J.J.; Adesida, I.; DeTemple, T.A.; Bryan, R.; Tang, T.K.; Swanson, P.D.; Cockerill, T.; Andideh, E.; Miller, L.M.;
1989 / IEEE
By: Ketterson, A.A.; Hier, H.; Aina, O.A.; Kolodzey, J.; Adesida, I.; Brock, T.L.; Laskar, J.;
By: Ketterson, A.A.; Hier, H.; Aina, O.A.; Kolodzey, J.; Adesida, I.; Brock, T.L.; Laskar, J.;
1989 / IEEE
By: Baillargeon, J.N.; Ketterson, A.A.; Laskar, J.; Kolodzey, J.; Cheng, K.Y.; Adesida, I.; Brock, T.;
By: Baillargeon, J.N.; Ketterson, A.A.; Laskar, J.; Kolodzey, J.; Cheng, K.Y.; Adesida, I.; Brock, T.;
1991 / IEEE
By: Adesida, I.; Ketterson, A.; Tong, M.; Meerschaert, A.; Aina, L.; O'Connor, J.M.; Mattingly, M.; Burgess, M.;
By: Adesida, I.; Ketterson, A.; Tong, M.; Meerschaert, A.; Aina, L.; O'Connor, J.M.; Mattingly, M.; Burgess, M.;
1992 / IEEE
By: Seo, J.-W.; Tong, M.; Keterson, A.A.; Adesida, I.; Kang, S.-M.; Morikuni, J.J.; Nummila, K.;
By: Seo, J.-W.; Tong, M.; Keterson, A.A.; Adesida, I.; Kang, S.-M.; Morikuni, J.J.; Nummila, K.;
1992 / IEEE
By: Aina, O.; Mattingly, M.; Meerschaert, A.; O'Connor, J.M.; Tong, M.; Ketterson, A.; Adesida, I.; Burgess, M.;
By: Aina, O.; Mattingly, M.; Meerschaert, A.; O'Connor, J.M.; Tong, M.; Ketterson, A.; Adesida, I.; Burgess, M.;
1992 / IEEE
By: Ballegeer, D.G.; Ketterson, A.A.; Seo, J.-W.; Gessert, T.; Li, X.; Adesida, I.; Cheng, K.-Y.;
By: Ballegeer, D.G.; Ketterson, A.A.; Seo, J.-W.; Gessert, T.; Li, X.; Adesida, I.; Cheng, K.-Y.;
1991 / IEEE
By: Tong, M.; Meerschaert, A.; Mattingly, M.; O'Connor, J.; Ketterson, A.; Burgess, M.; Aina, L.; Adesida, I.;
By: Tong, M.; Meerschaert, A.; Mattingly, M.; O'Connor, J.; Ketterson, A.; Burgess, M.; Aina, L.; Adesida, I.;
1992 / IEEE
By: Cheng, K.Y.; Kang, S.-M.; Ballegeer, D.; Nummila, K.; Adesida, I.; Seo, J.-W.; Tong, M.; Ketterson, A.;
By: Cheng, K.Y.; Kang, S.-M.; Ballegeer, D.; Nummila, K.; Adesida, I.; Seo, J.-W.; Tong, M.; Ketterson, A.;
1991 / IEEE / 0-7803-0491-8
By: Kolodzey, J.; Feng, M.; Adesida, I.; Ketterson, A.; Kruse, J.; Maranowski, S.; Laskar, J.;
By: Kolodzey, J.; Feng, M.; Adesida, I.; Ketterson, A.; Kruse, J.; Maranowski, S.; Laskar, J.;
1993 / IEEE
By: Morikuni, J.J.; Nummila, K.L.; Tong, M.H.; Seo, J.-W.; Cheng, K.-Y.; Ketterson, A.A.; Adesida, I.; Kang, S.-M.;
By: Morikuni, J.J.; Nummila, K.L.; Tong, M.H.; Seo, J.-W.; Cheng, K.-Y.; Ketterson, A.A.; Adesida, I.; Kang, S.-M.;
1992 / IEEE / 0-7803-0593-0
By: Ketterson, A.A.; Morikuni, J.J.; Cheng, K.Y.; Adesida, I.; Tong, M.; Kang, S.M.; Nummila, K.; Seo, J.-M.;
By: Ketterson, A.A.; Morikuni, J.J.; Cheng, K.Y.; Adesida, I.; Tong, M.; Kang, S.M.; Nummila, K.; Seo, J.-M.;
1992 / IEEE / 0-7803-0522-1
By: Mattingly, M.; Aina, L.; Adesida, I.; Nummila, K.; Ketterson, A.A.; Tong, M.;
By: Mattingly, M.; Aina, L.; Adesida, I.; Nummila, K.; Ketterson, A.A.; Tong, M.;
1992 / IEEE / 0-7803-0522-1
By: Nummila, K.; Tong, M.; Adesida, I.; Mattingly, M.; Aina, L.; Ketterson, A.A.;
By: Nummila, K.; Tong, M.; Adesida, I.; Mattingly, M.; Aina, L.; Ketterson, A.A.;
1993 / IEEE / 0-7803-0987-1
By: Morikuni, J.J.; Tong, M.H.; Nummila, K.; Seo, J.-W.; Ketterson, A.A.; Kang, S.-M.; Adesida, I.;
By: Morikuni, J.J.; Tong, M.H.; Nummila, K.; Seo, J.-W.; Ketterson, A.A.; Kang, S.-M.; Adesida, I.;
1994 / IEEE / 0-7803-1476-X
By: Chang, H.; Reuter, E.; Panepucci, R.; Xu, Q.; Chen, A.C.; Gu, S.Q.; Bishop, S.G.; Cheng, K.Y.; Adesida, I.;
By: Chang, H.; Reuter, E.; Panepucci, R.; Xu, Q.; Chen, A.C.; Gu, S.Q.; Bishop, S.G.; Cheng, K.Y.; Adesida, I.;
1993 / IEEE / 0-7803-1263-5
By: Seo, J.W.; Ketterson, A.A.; Tong, M.; Morikuni, J.J.; Adesida, I.; Kang, S.M.; Nummila, K.;
By: Seo, J.W.; Ketterson, A.A.; Tong, M.; Morikuni, J.J.; Adesida, I.; Kang, S.M.; Nummila, K.;
1995 / IEEE / 0-7803-2788-8
By: Ismail, K.; Fay, P.; Arafa, M.; Adesida, I.; Meyerson, B.S.; Chu, J.O.;
By: Ismail, K.; Fay, P.; Arafa, M.; Adesida, I.; Meyerson, B.S.; Chu, J.O.;
1996 / IEEE
By: Caneau, C.; Rajhel, A.; Andreadakis, N.C.; Leblanc, H.P.; Amersfoort, M.R.; Bhat, R.; Adesida, I.; Soole, J.B.D.; Youtsey, C.; Koza, M.A.;
By: Caneau, C.; Rajhel, A.; Andreadakis, N.C.; Leblanc, H.P.; Amersfoort, M.R.; Bhat, R.; Adesida, I.; Soole, J.B.D.; Youtsey, C.; Koza, M.A.;
1996 / IEEE / 0-7803-3358-6
By: Moeller, D.F.; Adesida, I.; Mahajan, A.; Harris, G.L.; Diogu, K.K.; Bertram, R.A.;
By: Moeller, D.F.; Adesida, I.; Mahajan, A.; Harris, G.L.; Diogu, K.K.; Bertram, R.A.;
1997 / IEEE
By: Adesida, I.; Youtsey, C.; Rajhel, A.; Andreadakis, N.C.; LeBlanc, H.P.; Caneau, C.; Soole, J.B.D.;
By: Adesida, I.; Youtsey, C.; Rajhel, A.; Andreadakis, N.C.; LeBlanc, H.P.; Caneau, C.; Soole, J.B.D.;
1996 / IEEE / 0-7803-3160-5
By: Soole, J.B.D.; Amersfoort, M.R.; LeBlanc, H.P.; Rajhel, A.; Caneau, C.; Youtsey, C.; Adesida, I.;
By: Soole, J.B.D.; Amersfoort, M.R.; LeBlanc, H.P.; Rajhel, A.; Caneau, C.; Youtsey, C.; Adesida, I.;
1997 / IEEE / 0-7803-3895-2
By: Roh, S.D.; Hughes, J.S.; Youtsey, C.T.; Jones, A.M.; Lammert, R.M.; Coleman, J.J.; Adesida, I.;
By: Roh, S.D.; Hughes, J.S.; Youtsey, C.T.; Jones, A.M.; Lammert, R.M.; Coleman, J.J.; Adesida, I.;
1997 / IEEE
By: Jones, A.M.; Lammert, R.M.; Coleman, J.J.; Adesida, I.; Roh, S.D.; Hughes, J.S.; Youtsey, C.T.;
By: Jones, A.M.; Lammert, R.M.; Coleman, J.J.; Adesida, I.; Roh, S.D.; Hughes, J.S.; Youtsey, C.T.;
1998 / IEEE
By: Sullivan, G.J.; Adesida, I.; Ping, A.T.; Higgings, J.A.; Sailor, A.L.; Chen, Q.; Shur, M.S.; Khan, M.A.; Gaska, R.; Yang, J.W.;
By: Sullivan, G.J.; Adesida, I.; Ping, A.T.; Higgings, J.A.; Sailor, A.L.; Chen, Q.; Shur, M.S.; Khan, M.A.; Gaska, R.; Yang, J.W.;
1998 / IEEE / 0-7803-4947-4
By: Bulman, G.; Romano, L.T.; Khan, F.; Ping, A.T.; Youtsey, C.; Adesida, I.;
By: Bulman, G.; Romano, L.T.; Khan, F.; Ping, A.T.; Youtsey, C.; Adesida, I.;
1999 / IEEE
By: Hammond, R.; Wang, X.W.; Lu, W.; Adesida, I.; Kuliev, A.; Ma, T.P.; Ismail, K.; Chu, J.O.; Koester, S.;
By: Hammond, R.; Wang, X.W.; Lu, W.; Adesida, I.; Kuliev, A.; Ma, T.P.; Ismail, K.; Chu, J.O.; Koester, S.;
1999 / IEEE / 0-7803-5410-9
By: Chu, J.O.; Wang, X.W.; Koester, S.J.; Hammond, R.; Lu, W.; Adesida, I.; Ma, T.P.;
By: Chu, J.O.; Wang, X.W.; Koester, S.J.; Hammond, R.; Lu, W.; Adesida, I.; Ma, T.P.;
2000 / IEEE / 0-7803-6472-4
By: Jang, J.-H.; Cueva, G.; Adesida, I.; Hoke, W.E.; Lemonias, P.J.; Dumka, D.C.;
By: Jang, J.-H.; Cueva, G.; Adesida, I.; Hoke, W.E.; Lemonias, P.J.; Dumka, D.C.;
1996 / IEEE / 1-55752-422-X
By: Soole, J.B.D.; Amersfoort, M.R.; Adesida, I.; Youtsey, C.; Andreadakis, N.C.; LeBlanc, H.P.; Koza, M.A.; Caneau, C.; Rajhel, A.; Bhat, R.;
By: Soole, J.B.D.; Amersfoort, M.R.; Adesida, I.; Youtsey, C.; Andreadakis, N.C.; LeBlanc, H.P.; Koza, M.A.; Caneau, C.; Rajhel, A.; Bhat, R.;
2001 / IEEE / 0-7803-7014-7
By: Lemonias, P.J.; Hoke, W.E.; Dumka, D.C.; Adesida, I.; Cueva, G.; Schwindt, R.;
By: Lemonias, P.J.; Hoke, W.E.; Dumka, D.C.; Adesida, I.; Cueva, G.; Schwindt, R.;
2001 / IEEE
By: Hoke, W.E.; Dumka, D.C.; Cueva, G.; Jang, J.H.; Adesida, I.; Fay, P.; Lemonias, P.J.;
By: Hoke, W.E.; Dumka, D.C.; Cueva, G.; Jang, J.H.; Adesida, I.; Fay, P.; Lemonias, P.J.;
2001 / IEEE / 0-7803-7105-4
By: Hoke, W.E.; Fay, P.; Adesida, I.; Cueva, G.; Jang, J.H.; Lemonias, P.J.;
By: Hoke, W.E.; Fay, P.; Adesida, I.; Cueva, G.; Jang, J.H.; Lemonias, P.J.;
1993 / IEEE / 0-7803-1377-1
By: Magini, R.L.; LaValle, L.; Peck, T.L.; Lauterbur, P.C.; Wheeler, B.C.; Adesida, I.;
By: Magini, R.L.; LaValle, L.; Peck, T.L.; Lauterbur, P.C.; Wheeler, B.C.; Adesida, I.;
2002 / IEEE
By: Schwindt, R.; Lu, W.; Kumar, V.; Adesida, I.; Asif Khan, M.; Yang, J.; Simin, G.; Kuliev, A.;
By: Schwindt, R.; Lu, W.; Kumar, V.; Adesida, I.; Asif Khan, M.; Yang, J.; Simin, G.; Kuliev, A.;
2002 / IEEE / 0-7803-7581-5
By: Leoni, R.E.; Marsh, P.F.; Whelan, C.S.; Torabi, A.; Kennedy, T.D.; Jang, J.H.; Hsieh, K.C.; Hoke, W.E.; Chang, K.L.; Adesida, I.;
By: Leoni, R.E.; Marsh, P.F.; Whelan, C.S.; Torabi, A.; Kennedy, T.D.; Jang, J.H.; Hsieh, K.C.; Hoke, W.E.; Chang, K.L.; Adesida, I.;
2002 / IEEE / 0-7803-7447-9
By: Adesida, I.; Hoke, W.E.; Fay, P.; Sankaralingam, R.; Cueva, G.; Jang, J.H.;
By: Adesida, I.; Hoke, W.E.; Fay, P.; Sankaralingam, R.; Cueva, G.; Jang, J.H.;