Your Search Results
Use materials by this author in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content such as case studies and journal articles for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!

Author: Abgrall, M.
Results
2012 / IEEE
By: Bize, S.; Clairon, A.; Gibble, K.; Ruoxin Li; Tobar, M.E.; Rosenbusch, P.; Abgrall, M.; Santarelli, G.; Lours, M.; Chupin, B.; Laurent, P.; Rovera, D.; Guena, J.;
By: Bize, S.; Clairon, A.; Gibble, K.; Ruoxin Li; Tobar, M.E.; Rosenbusch, P.; Abgrall, M.; Santarelli, G.; Lours, M.; Chupin, B.; Laurent, P.; Rovera, D.; Guena, J.;
2014 / IEEE
By: Rosenbusch, P.; Laurent, Ph.; Guena, J.; Chupin, B.; Bize, S.; Abgrall, M.; Rovera, G. D.; Uhrich, P.;
By: Rosenbusch, P.; Laurent, Ph.; Guena, J.; Chupin, B.; Bize, S.; Abgrall, M.; Rovera, G. D.; Uhrich, P.;
2014 / IEEE
By: Fridelance, P.; Exertier, P.; Courde, C.; Abgrall, M.; Rovera, G. D.; Guillemot, Ph.; Torre, J.-M.; Sherwood, R.; Samain, E.; Martin, N.; Laas-Bourez, M.; Uhrich, P.;
By: Fridelance, P.; Exertier, P.; Courde, C.; Abgrall, M.; Rovera, G. D.; Guillemot, Ph.; Torre, J.-M.; Sherwood, R.; Samain, E.; Martin, N.; Laas-Bourez, M.; Uhrich, P.;
2014 / IEEE
By: Abgrall, M.; Bize, S.; Rovera, G. D.; Uhrich, P.; Rosenbusch, P.; Laurent, Ph.; Guena, J.; Chupin, B.;
By: Abgrall, M.; Bize, S.; Rovera, G. D.; Uhrich, P.; Rosenbusch, P.; Laurent, Ph.; Guena, J.; Chupin, B.;
2013 / IEEE
By: Chanteau, B.; Argence, B.; Le Coq, Y.; Chardonnet, C.; Santarelli, G.; Darquie, B.; Daussy, C.; Tokunaga, S. K.; Mejri, S.; Sow, P. L. T.; Auguste, F.; Abgrall, M.; Nicolodi, D.; Zhang, W.; Lopez, O.; Amy-Klein, A.;
By: Chanteau, B.; Argence, B.; Le Coq, Y.; Chardonnet, C.; Santarelli, G.; Darquie, B.; Daussy, C.; Tokunaga, S. K.; Mejri, S.; Sow, P. L. T.; Auguste, F.; Abgrall, M.; Nicolodi, D.; Zhang, W.; Lopez, O.; Amy-Klein, A.;
1999 / IEEE / 0-7803-5400-1
By: Laurent, Ph.; Lemonde, P.; Abgrall, M.; Aubourg, M.; Dos Santos, F.P.; Clairon, A.; Petit, P.; Santarelli, G.;
By: Laurent, Ph.; Lemonde, P.; Abgrall, M.; Aubourg, M.; Dos Santos, F.P.; Clairon, A.; Petit, P.; Santarelli, G.;
2000 / IEEE / 0-7803-5744-2
By: Clairon, A.; Laurent, Ph.; Lemonde, P.; Zhang, S.; Abgrall, M.; Santarelli, G.;
By: Clairon, A.; Laurent, Ph.; Lemonde, P.; Zhang, S.; Abgrall, M.; Santarelli, G.;
2002 / IEEE / 0-7803-7242-5
By: Luiten, A.; Tobar, M.; Laurent, P.; Macsimovic, Y.; Marion, H.; Santarelli, G.; Calonico, D.; Zhang, S.; Abgrall, M.; Sortais, Y.; Bize, S.; Lemonde, P.; Clairon, A.; Salomon, C.;
By: Luiten, A.; Tobar, M.; Laurent, P.; Macsimovic, Y.; Marion, H.; Santarelli, G.; Calonico, D.; Zhang, S.; Abgrall, M.; Sortais, Y.; Bize, S.; Lemonde, P.; Clairon, A.; Salomon, C.;
2003 / IEEE / 0-7803-7688-9
By: Salomon, C.; Pereira Dos Santos, F.; Laurent, P.; Santarelli, G.; Lemonde, P.; Rosenbuch, P.; Vian, C.; Mandache, C.; Clairon, A.; Grunert, J.; Calonico, D.; Maksimovic, I.; Bize, S.; Sortais, Y.; Zhang, S.; Abgrall, M.; Marion, H.;
By: Salomon, C.; Pereira Dos Santos, F.; Laurent, P.; Santarelli, G.; Lemonde, P.; Rosenbuch, P.; Vian, C.; Mandache, C.; Clairon, A.; Grunert, J.; Calonico, D.; Maksimovic, I.; Bize, S.; Sortais, Y.; Zhang, S.; Abgrall, M.; Marion, H.;
2005 / IEEE
By: Tobar, M.; Salomon, C.; Clairon, A.; Santarelli, G.; Laurent, P.; Maksimovic, I.; Luiten, A.; Chambon, D.; Abgrall, M.; Zhang, S.; Cacciapuoti, L.; Bize, S.; Marion, H.; Rosenbusch, P.; Vian, C.;
By: Tobar, M.; Salomon, C.; Clairon, A.; Santarelli, G.; Laurent, P.; Maksimovic, I.; Luiten, A.; Chambon, D.; Abgrall, M.; Zhang, S.; Cacciapuoti, L.; Bize, S.; Marion, H.; Rosenbusch, P.; Vian, C.;
2004 / IEEE / 0-7803-8493-8
By: Clairon, A.; Lemonde, P.; Abgrall, M.; Grunert, J.; Maksimovic, I.; Laurent, Ph.; Ladiette, N.; Behague, M.; Vega, J.F.; Guillier, L.; Chaubet, M.; Saccoccio, M.; Grosjean, O.; Delaroche, Dh.; Picard, P.; Sirmain, C.; Salomon, C.; Santarelli, G.;
By: Clairon, A.; Lemonde, P.; Abgrall, M.; Grunert, J.; Maksimovic, I.; Laurent, Ph.; Ladiette, N.; Behague, M.; Vega, J.F.; Guillier, L.; Chaubet, M.; Saccoccio, M.; Grosjean, O.; Delaroche, Dh.; Picard, P.; Sirmain, C.; Salomon, C.; Santarelli, G.;
2004 / IEEE / 0-7803-8493-8
By: Marion, H.; Bize, S.; Salomon, C.; Luiten, A.; Tobar, M.; Clairon, A.; Laurent, P.; Santarelli, G.; Dos Santos, F.P.; Rosenbusch, P.; Grunert, J.; Vian, C.; Cacciapuotti, L.; Maksimovic, I.; Abgrall, M.; Narbonneau, F.; Chambon, D.;
By: Marion, H.; Bize, S.; Salomon, C.; Luiten, A.; Tobar, M.; Clairon, A.; Laurent, P.; Santarelli, G.; Dos Santos, F.P.; Rosenbusch, P.; Grunert, J.; Vian, C.; Cacciapuotti, L.; Maksimovic, I.; Abgrall, M.; Narbonneau, F.; Chambon, D.;
2007 / IEEE / 978-1-4244-0646-3
By: Chapelet, F.; Abgrall, M.; Tobar, M.E.; Clairon, A.; Rovera, D.; Guena, J.; Santarelli, G.; Rosenbusch, P.; Laurent, P.; Bize, S.;
By: Chapelet, F.; Abgrall, M.; Tobar, M.E.; Clairon, A.; Rovera, D.; Guena, J.; Santarelli, G.; Rosenbusch, P.; Laurent, P.; Bize, S.;
2007 / IEEE / 978-1-4244-0646-3
By: Clairon, A.; Guillemot, P.; Jentsch, C.; Laurent, P.; Salomon, C.; Ladiette, N.; Zenone, I.; Vega, J.F.; Lemonde, P.; Chaubet, M.; Blonde, D.; Grosjean, O.; Delaroche, C.; Picard, F.; Sirmain, C.; Abgrall, M.; Santarelli, G.;
By: Clairon, A.; Guillemot, P.; Jentsch, C.; Laurent, P.; Salomon, C.; Ladiette, N.; Zenone, I.; Vega, J.F.; Lemonde, P.; Chaubet, M.; Blonde, D.; Grosjean, O.; Delaroche, C.; Picard, F.; Sirmain, C.; Abgrall, M.; Santarelli, G.;
2007 / IEEE / 978-1-4244-0930-3
By: Abgrall, M.; Laurent, P.; Ladiette, N.; Zenone; Vega, J.F.; Leger, B.; Chaubet, M.; Blonde, D.; Grosjean, O.; Delaroche, Ch.; Picard, F.; Sirmain, C.; Salomon, C.; Santarelli, G.; Lemonde, P.; Clairon, A.; Jentsch, Ch.;
By: Abgrall, M.; Laurent, P.; Ladiette, N.; Zenone; Vega, J.F.; Leger, B.; Chaubet, M.; Blonde, D.; Grosjean, O.; Delaroche, Ch.; Picard, F.; Sirmain, C.; Salomon, C.; Santarelli, G.; Lemonde, P.; Clairon, A.; Jentsch, Ch.;
2007 / IEEE / 978-1-4244-1173-3
By: Baillard, X.; Schnatz, H.; Grosche, G.; Lipphardt, B.; Lemonde, P.; Clairon, A.; Rovera, G.D.; Lecoq, Y.; Laurent, P.; Abgrall, M.; Rosenbusch, P.; Bize, S.; Chapelet, F.; Lecallier, A.; Westergaard, P.G.; Le Targat, R.; Fouche, M.;
By: Baillard, X.; Schnatz, H.; Grosche, G.; Lipphardt, B.; Lemonde, P.; Clairon, A.; Rovera, G.D.; Lecoq, Y.; Laurent, P.; Abgrall, M.; Rosenbusch, P.; Bize, S.; Chapelet, F.; Lecallier, A.; Westergaard, P.G.; Le Targat, R.; Fouche, M.;
2008 / IEEE / 978-1-4244-2399-6
By: Abgrall, M.; Clairon, A.; Zhangu, S.; Santarelli, G.; Chapelet, F.; Bize, S.; Rosenbusch, P.; Laurent, P.; Guena, J.; Rovera, G.D.;
By: Abgrall, M.; Clairon, A.; Zhangu, S.; Santarelli, G.; Chapelet, F.; Bize, S.; Rosenbusch, P.; Laurent, P.; Guena, J.; Rovera, G.D.;
2009 / IEEE / 978-1-4244-3511-1
By: Laurent, P.; Rosenbusch, P.; Guena, J.; Tobar, M.E.; Abgrall, M.; Clairon, A.; Bize, S.; Santarelli, G.; Rovera, G.D.;
By: Laurent, P.; Rosenbusch, P.; Guena, J.; Tobar, M.E.; Abgrall, M.; Clairon, A.; Bize, S.; Santarelli, G.; Rovera, G.D.;
2010 / IEEE
By: Rosenbusch, P.; Guena, J.; Clairon, A.; Bize, S.; Laurent, P.; Tobar, M.E.; Santarelli, G.; Rovera, D.; Abgrall, M.;
By: Rosenbusch, P.; Guena, J.; Clairon, A.; Bize, S.; Laurent, P.; Tobar, M.E.; Santarelli, G.; Rovera, D.; Abgrall, M.;
2011 / IEEE / 978-1-61284-112-0
By: Laurent, P.; Guena, J.; Tobar, M.; Clairon, A.; Bize, S.; Abgrall, M.; Santarelli, G.; Lours, M.; Chupin, B.; Rosenbusch, P.; Rovera, D.;
By: Laurent, P.; Guena, J.; Tobar, M.; Clairon, A.; Bize, S.; Abgrall, M.; Santarelli, G.; Lours, M.; Chupin, B.; Rosenbusch, P.; Rovera, D.;