Your Search Results
Use materials about this topic in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content - such as case studies and journal articles - for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!

Topic: Unified Modeling Language
Results
2012 / IEEE
By: Swaminathan, R.; Jun Li; Karp, A.H.; Basu, S.; Pruyne, J.; Suermondt, J.; Singhal, S.; Rolia, J.;
By: Swaminathan, R.; Jun Li; Karp, A.H.; Basu, S.; Pruyne, J.; Suermondt, J.; Singhal, S.; Rolia, J.;
2012 / IEEE
By: Mendes Bizerra Junior, E.; Araujo Wanderley, F.J.; Lencastre Pinheiro Menezes Cruz, M.; Silva Silveira, D.;
By: Mendes Bizerra Junior, E.; Araujo Wanderley, F.J.; Lencastre Pinheiro Menezes Cruz, M.; Silva Silveira, D.;
2012 / IEEE
By: Bock, C.; Fenves, S.J.; Lee, J.H.; Sriram, R.D.; Fiorentini, X.; Rachuri, S.; Hyo-Won Suh;
By: Bock, C.; Fenves, S.J.; Lee, J.H.; Sriram, R.D.; Fiorentini, X.; Rachuri, S.; Hyo-Won Suh;
2010 / IEEE / 978-1-60558-719-6
By: Meyer, J.; Henkler, S.; Nickel, U.; von Detten, M.; Schafer, W.;
By: Meyer, J.; Henkler, S.; Nickel, U.; von Detten, M.; Schafer, W.;
2010 / IEEE / 978-1-4244-9168-1
By: Cirilo, C.E.; Menezes, A.L.; do Prado, A.F.; de Souza, W.L.; de Moraes, J.L.C.;
By: Cirilo, C.E.; Menezes, A.L.; do Prado, A.F.; de Souza, W.L.; de Moraes, J.L.C.;
2010 / IEEE / 978-1-60558-719-6
By: Edwards, G.; Popescu, D.; Jae young Bang; Padmanabhuni, S.; Rama, G.M.; Kulkarni, N.; Medvidovic, N.;
By: Edwards, G.; Popescu, D.; Jae young Bang; Padmanabhuni, S.; Rama, G.M.; Kulkarni, N.; Medvidovic, N.;
2010 / IEEE / 978-1-60558-719-6
By: Rathfelder, C.; Becker, S.; Huber, N.; Reussner, R.H.; Schweflinghaus, J.;
By: Rathfelder, C.; Becker, S.; Huber, N.; Reussner, R.H.; Schweflinghaus, J.;
2010 / IEEE / 978-1-60558-719-6
By: Egea, M.; Clavel, M.; Basin, D.; Schlapfer, M.; Dania, C.; Garcia de Dios, M.A.;
By: Egea, M.; Clavel, M.; Basin, D.; Schlapfer, M.; Dania, C.; Garcia de Dios, M.A.;
2010 / IEEE / 978-1-60558-719-6
By: Cimatti, A.; Chiappini, A.; Vittorini, B.; Tonetta, S.; Macchi, L.; Susi, A.; Roveri, M.; Rebollo, O.;
By: Cimatti, A.; Chiappini, A.; Vittorini, B.; Tonetta, S.; Macchi, L.; Susi, A.; Roveri, M.; Rebollo, O.;
2010 / IEEE / 978-1-60558-719-6
By: Malavolta, I.; Di Ruscio, D.; Pierantonio, A.; Pelliccione, P.; Muccini, H.;
By: Malavolta, I.; Di Ruscio, D.; Pierantonio, A.; Pelliccione, P.; Muccini, H.;
2010 / IEEE / 978-1-60558-719-6
By: Heymans, P.; Classen, A.; Raskin, J.-F.; Legay, A.; Schobbens, P.-Y.;
By: Heymans, P.; Classen, A.; Raskin, J.-F.; Legay, A.; Schobbens, P.-Y.;
2010 / IEEE / 978-1-4244-9168-1
By: De Backere, F.; Decruyenaere, J.; Danneels, C.; Colpaert, K.; De Turck, F.; Steurbaut, K.; Moens, H.;
By: De Backere, F.; Decruyenaere, J.; Danneels, C.; Colpaert, K.; De Turck, F.; Steurbaut, K.; Moens, H.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-0139-9
By: Vazquez-Poletti, J.L.; Castane, G.G.; Nunez, A.; Llorente, I.M.; Carretero, J.; Caminero, A.C.;
By: Vazquez-Poletti, J.L.; Castane, G.G.; Nunez, A.; Llorente, I.M.; Carretero, J.; Caminero, A.C.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-1190-9
By: Russell, M.; Chard, K.; Silverstein, J.C.; Mendonca, E.A.; Lussier, Y.A.;
By: Russell, M.; Chard, K.; Silverstein, J.C.; Mendonca, E.A.; Lussier, Y.A.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-0513-7
By: German, R.; Seyschab, T.; Heisig, F.; Hansen, M.; Damm, C.; Buttner, L.; Fuchs, G.;
By: German, R.; Seyschab, T.; Heisig, F.; Hansen, M.; Damm, C.; Buttner, L.; Fuchs, G.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-0642-4
By: Ost, L.; Moraes, F.; Robert, M.; Indrusiak, L.S.; Mandelli, M.; Sassatelli, G.; Varyani, S.; Wachter, E.; Almeida, G.M.;
By: Ost, L.; Moraes, F.; Robert, M.; Indrusiak, L.S.; Mandelli, M.; Sassatelli, G.; Varyani, S.; Wachter, E.; Almeida, G.M.;