Your Search Results
Use materials about this topic in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content - such as case studies and journal articles - for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!

Topic: Ubiquitous Computing
Results
2011 / IEEE
By: Banares-Alcantara, R.; Trefethen, A.; Min Chen; Schmidt, A.; Ertl, T.; Coecke, B.; Jirotka, M.;
By: Banares-Alcantara, R.; Trefethen, A.; Min Chen; Schmidt, A.; Ertl, T.; Coecke, B.; Jirotka, M.;
2012 / IEEE
By: Huot, S.; Beaudouin-Lafon, M.; Klokmose, C.; Gjerlufsen, T.; Eagan, J.R.; Mackay, W.; Nancel, M.; Chapuis, O.; Wagner, J.; Primet, R.; Pietriga, E.; Pillias, C.;
By: Huot, S.; Beaudouin-Lafon, M.; Klokmose, C.; Gjerlufsen, T.; Eagan, J.R.; Mackay, W.; Nancel, M.; Chapuis, O.; Wagner, J.; Primet, R.; Pietriga, E.; Pillias, C.;
2012 / IEEE
By: Calavia, L.; Carro, B.; Aguiar, J.M.; Baladron, C.; Sanchez-Esguevillas, A.; Cadenas, A.;
By: Calavia, L.; Carro, B.; Aguiar, J.M.; Baladron, C.; Sanchez-Esguevillas, A.; Cadenas, A.;
2012 / IEEE
By: Yoshihara, H.; Chihara, K.; Takemura, T.; Ohboshi, N.; Hori, K.; Kuroda, T.; Masuda, Y.; Suenaga, T.; Sasaki, H.; Yasumuro, Y.;
By: Yoshihara, H.; Chihara, K.; Takemura, T.; Ohboshi, N.; Hori, K.; Kuroda, T.; Masuda, Y.; Suenaga, T.; Sasaki, H.; Yasumuro, Y.;
2012 / IEEE
By: Demeester, P.; Dhoedt, B.; De Turck, F.; Simoens, P.; Vankeirsbilck, B.; Deboosere, L.;
By: Demeester, P.; Dhoedt, B.; De Turck, F.; Simoens, P.; Vankeirsbilck, B.; Deboosere, L.;
2012 / IEEE
By: Aiello, M.; Lazovik, A.; Tuan Anh Nguyen; Pagani, G.A.; Degeler, V.; Georgievski, I.;
By: Aiello, M.; Lazovik, A.; Tuan Anh Nguyen; Pagani, G.A.; Degeler, V.; Georgievski, I.;
2012 / IEEE
By: Jain, R.; Iftode, L.; Hong, K.; Ramachandran, U.; Kumar, R.; Sivakumar, R.; Junsuk Shin; Rothermel, K.;
By: Jain, R.; Iftode, L.; Hong, K.; Ramachandran, U.; Kumar, R.; Sivakumar, R.; Junsuk Shin; Rothermel, K.;
2012 / IEEE
By: Lieberg, K.; Sodt, R.; Chaudhri, R.; Cook, J.; Masuda, Y.J.; Borriello, G.; Chilton, J.;
By: Lieberg, K.; Sodt, R.; Chaudhri, R.; Cook, J.; Masuda, Y.J.; Borriello, G.; Chilton, J.;
2012 / IEEE
By: De Turck, F.; Dhoedt, B.; Ongenae, F.; Dauwe, S.; Demeester, P.; Van Laere, O.; Strobbe, M.; Luyten, K.;
By: De Turck, F.; Dhoedt, B.; Ongenae, F.; Dauwe, S.; Demeester, P.; Van Laere, O.; Strobbe, M.; Luyten, K.;
2010 / IEEE / 978-1-4244-9168-1
By: Cirilo, C.E.; Menezes, A.L.; do Prado, A.F.; de Souza, W.L.; de Moraes, J.L.C.;
By: Cirilo, C.E.; Menezes, A.L.; do Prado, A.F.; de Souza, W.L.; de Moraes, J.L.C.;