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Topic: Teleconferencing
Results
2012 / IEEE
By: Schafer, R.W.; Said, A.; Lee, B.; Biscainho, L.W.P.; Tygel, A.F.; Avila, F.R.; Nunes, L.O.;
By: Schafer, R.W.; Said, A.; Lee, B.; Biscainho, L.W.P.; Tygel, A.F.; Avila, F.R.; Nunes, L.O.;
2012 / IEEE
By: Gaedke, M.; Gebhardt, H.; Wilson, S.; Iglesias, C.A.; Casati, F.; Soi, S.; Daniel, F.;
By: Gaedke, M.; Gebhardt, H.; Wilson, S.; Iglesias, C.A.; Casati, F.; Soi, S.; Daniel, F.;
2012 / IEEE
By: Nakatani, T.; Maas, R.; Kinoshita, K.; Delcroix, M.; Sehr, A.; Yoshioka, T.; Kellermann, W.;
By: Nakatani, T.; Maas, R.; Kinoshita, K.; Delcroix, M.; Sehr, A.; Yoshioka, T.; Kellermann, W.;
2011 / IEEE / 978-1-61284-350-6
By: Shirmohammandi, S.; Omidyeganeh, M.; Javdtalab, A.; Hosseini, M.;
By: Shirmohammandi, S.; Omidyeganeh, M.; Javdtalab, A.; Hosseini, M.;
2011 / IEEE / 978-1-61284-350-6
By: Malzbender, Tom; Jung, Claudio R.; Fickel, Guilherme P.; Parolin, Alessandro; Samadani, Ramin;
By: Malzbender, Tom; Jung, Claudio R.; Fickel, Guilherme P.; Parolin, Alessandro; Samadani, Ramin;
2011 / IEEE / 978-1-4577-0836-7
By: Rodriguez, P.; Escribano, F.; Cervino, J.; Salvachua, J.; Trajkovska, I.;
By: Rodriguez, P.; Escribano, F.; Cervino, J.; Salvachua, J.; Trajkovska, I.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-0234-1
By: Almenarez Mendoza, F.; Diaz-Sanchez, D.; Marin, A.; Sanvido, F.; Sanchez Guerrero, R.; Arias Cabarcos, P.;
By: Almenarez Mendoza, F.; Diaz-Sanchez, D.; Marin, A.; Sanvido, F.; Sanchez Guerrero, R.; Arias Cabarcos, P.;
2011 / IEEE / 978-3-943024-05-0
By: Mari, S.; Colobrans, J.; Benavent, J.; Castro, J.C.; Colome, J.M.;
By: Mari, S.; Colobrans, J.; Benavent, J.; Castro, J.C.; Colome, J.M.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-1589-1
By: Grant, A.; Corriveau, H.; Briere, S.; Boissy, P.; Michaud, F.; Lauria, M.;
By: Grant, A.; Corriveau, H.; Briere, S.; Boissy, P.; Michaud, F.; Lauria, M.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-1589-1
By: Barman, J.; Gilmore, B.M.; Taub, E.; Uswatte, G.; Lum, P.S.; Brennan, D.M.;
By: Barman, J.; Gilmore, B.M.; Taub, E.; Uswatte, G.; Lum, P.S.; Brennan, D.M.;
2011 / IEEE / 978-1-4244-9500-9
By: Iso, K.; Matsuura, N.; Ozawa, S.; Andoh, Y.; Takada, H.; Date, M.;
By: Iso, K.; Matsuura, N.; Ozawa, S.; Andoh, Y.; Takada, H.; Date, M.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-0693-6
By: Wada, T.S.; Wung, J.; Schafer, R.W.; Trott, M.; Bowon Lee; Biing-Hwang Juang;
By: Wada, T.S.; Wung, J.; Schafer, R.W.; Trott, M.; Bowon Lee; Biing-Hwang Juang;
2011 / IEEE / 978-89-88678-49-7
By: Zunchao Li; Shiu, S.; Liwei Jia; Yuan Wang; Liu, J.N.K.; Yuan Rao;
By: Zunchao Li; Shiu, S.; Liwei Jia; Yuan Wang; Liu, J.N.K.; Yuan Rao;
2011 / IEEE / 978-1-4577-1498-6
By: Sijakov, D.; Andelkovic, A.; Andelic, T.; Davidovic, M.; Zivkov, D.;
By: Sijakov, D.; Andelkovic, A.; Andelic, T.; Davidovic, M.; Zivkov, D.;
2011 / IEEE / 978-1-4673-0431-3
By: Kaufmann, M.; Rothbucher, M.; Diepold, K.; Feldmaier, J.; Habigt, T.;
By: Kaufmann, M.; Rothbucher, M.; Diepold, K.; Feldmaier, J.; Habigt, T.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-2015-4
By: Han Zhao; Chai Wah Wu; Westerink, P.; Schaffa, F.A.; Nogima, J.; Dettori, P.; Smilkov, D.;
By: Han Zhao; Chai Wah Wu; Westerink, P.; Schaffa, F.A.; Nogima, J.; Dettori, P.; Smilkov, D.;
2012 / IEEE / 978-1-4577-0231-0
By: Chavarrias, M.; Garrido, M.J.; Juarez, E.; Jaureguizar, F.; Pescador, F.;
By: Chavarrias, M.; Garrido, M.J.; Juarez, E.; Jaureguizar, F.; Pescador, F.;
2012 / IEEE / 978-1-4673-0961-5
By: Kitawaki, N.; Fukui, Y.; Takahashi, S.; Kameyama, K.; Nakamura, M.; Kamiya, Y.; Su Wei Tan;
By: Kitawaki, N.; Fukui, Y.; Takahashi, S.; Kameyama, K.; Nakamura, M.; Kamiya, Y.; Su Wei Tan;
2012 / IEEE / 978-1-4673-1356-8
By: Seung-Jin Baek; Misun Yu; Ji-Young Kwak; Seon-Tae Kim; Sung-Jea Ko;
By: Seung-Jin Baek; Misun Yu; Ji-Young Kwak; Seon-Tae Kim; Sung-Jea Ko;
2012 / IEEE / 978-1-4673-0790-1
By: Daras, P.; Izquierdo, E.; Vegas, J.M.; Agapito, J.D.; Apostolakis, K.C.; Kordelas, G.; Alexiadis, D.S.;
By: Daras, P.; Izquierdo, E.; Vegas, J.M.; Agapito, J.D.; Apostolakis, K.C.; Kordelas, G.; Alexiadis, D.S.;
2012 / IEEE / 978-1-4673-2713-8
By: Santos, T.P.C.; Marcondes, C.A.C.; Teixeira, C.A.C.; Viel, C.C.; Godoy, A.P.;
By: Santos, T.P.C.; Marcondes, C.A.C.; Teixeira, C.A.C.; Viel, C.C.; Godoy, A.P.;