Your Search Results
Use materials about this topic in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content - such as case studies and journal articles - for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!

Topic: Superconducting Transition Edge Sensor
Results
1995 / IEEE
By: Welty, R.P.; Park, G.S.; Chugg, B.; Cabrera, B.; Nam, S.W.; Irwin, K.D.; Martinis, J.M.;
By: Welty, R.P.; Park, G.S.; Chugg, B.; Cabrera, B.; Nam, S.W.; Irwin, K.D.; Martinis, J.M.;
1999 / IEEE
By: Sae Woo Nam; Romani, R.W.; Miller, A.J.; Figueroa-Feficiano, E.; Clarke, R.M.; Colling, P.; Cabrera, B.;
By: Sae Woo Nam; Romani, R.W.; Miller, A.J.; Figueroa-Feficiano, E.; Clarke, R.M.; Colling, P.; Cabrera, B.;
2001 / IEEE
By: Deiker, S.; Chervenak, J.; Hilton, G.C.; Irwin, K.D.; Martinis, J.M.; Nam, S.; Wollman, D.A.;
By: Deiker, S.; Chervenak, J.; Hilton, G.C.; Irwin, K.D.; Martinis, J.M.; Nam, S.; Wollman, D.A.;
2003 / IEEE
By: Bruijn, M.P.; Krouwer, E.; Ridder, M.L.; Baars, N.H.R.; Tiest, W.M.B.; Kiviranta, M.; de Korte, P.A.J.; van der Kuur, J.; Hoevers, H.F.C.; Seppa, H.;
By: Bruijn, M.P.; Krouwer, E.; Ridder, M.L.; Baars, N.H.R.; Tiest, W.M.B.; Kiviranta, M.; de Korte, P.A.J.; van der Kuur, J.; Hoevers, H.F.C.; Seppa, H.;
2003 / IEEE
By: Ataka, M.; Ohno, M.; Fukuda, D.; Nakazawa, M.; Takahashi, H.; Ohkubo, M.; Inou, T.; Kunieda, Y.;
By: Ataka, M.; Ohno, M.; Fukuda, D.; Nakazawa, M.; Takahashi, H.; Ohkubo, M.; Inou, T.; Kunieda, Y.;
2009 / IEEE
By: McMahon, J.; Chang, C.L.; Bleem, L.; Novosad, V.; Yefremenko, V.; Gensheng Wang; Datesman, A.; Meyer, S.S.; Crites, A.T.; Carlstrom, J.E.; Downes, T.; Divan, R.; Pearson, J.;
By: McMahon, J.; Chang, C.L.; Bleem, L.; Novosad, V.; Yefremenko, V.; Gensheng Wang; Datesman, A.; Meyer, S.S.; Crites, A.T.; Carlstrom, J.E.; Downes, T.; Divan, R.; Pearson, J.;
2009 / IEEE / 978-1-4244-4079-5
By: Fukuda, D.; Tsujino, K.; Sasaki, M.; Inoue, S.; Fujiwra, M.; Takeoka, M.; Fujii, G.;
By: Fukuda, D.; Tsujino, K.; Sasaki, M.; Inoue, S.; Fujiwra, M.; Takeoka, M.; Fujii, G.;
2011 / IEEE
By: George, E.M.; Lueker, M.; Holzapfel, W.L.; Irwin, K.D.; Yoon, K.W.; Ullom, J.N.; Shirokoff, E.; Niemack, M.D.; Lowell, P.; Hubmayr, J.; Cho, H.-M.; Schmidt, D.R.; O'Neil, G.C.;
By: George, E.M.; Lueker, M.; Holzapfel, W.L.; Irwin, K.D.; Yoon, K.W.; Ullom, J.N.; Shirokoff, E.; Niemack, M.D.; Lowell, P.; Hubmayr, J.; Cho, H.-M.; Schmidt, D.R.; O'Neil, G.C.;
2011 / IEEE
By: McMahon, J.; Sayre, J.; Mehl, J.; Crites, A.T.; Bleem, L.; Natoli, T.; Chang, C.L.; Divan, R.; Pearson, J.; Datesman, A.; Novosad, V.; Yefremenko, V.; Wang, G.; Carlstrom, J.E.; Meyer, S.S.; Ruhl, J.;
By: McMahon, J.; Sayre, J.; Mehl, J.; Crites, A.T.; Bleem, L.; Natoli, T.; Chang, C.L.; Divan, R.; Pearson, J.; Datesman, A.; Novosad, V.; Yefremenko, V.; Wang, G.; Carlstrom, J.E.; Meyer, S.S.; Ruhl, J.;
Analytical solutions for the design and evaluation of absorber-coupled waveguide bolometer detectors
2011 / IEEE / 978-1-61284-757-3By: Novosad, V.; Gensheng Wang; Yefremenko, V.; Weikle, R.; Bleem, L.; McMahon, J.; Chang, C.; Carlstrom, J.; Meyer, S.; Datesman, A.; Mehl, J.; Crites, A.;