Your Search Results
Use materials about this topic in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content - such as case studies and journal articles - for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!

Topic: Squids
Results
1987 / IEEE
By: Kinoshita, Joji; Kawaji, Shinji; Wakabayashi, Jun-Ichi; Yoshihiro, Kazuo; Yamanouchi, Chikako; Endo, Tadashi; Murayama, Yasushi; Inagaki, Katsuya;
By: Kinoshita, Joji; Kawaji, Shinji; Wakabayashi, Jun-Ichi; Yoshihiro, Kazuo; Yamanouchi, Chikako; Endo, Tadashi; Murayama, Yasushi; Inagaki, Katsuya;
2012 / IEEE
By: Guedes, A.; Horsley, D.A.; Freitas, P.P.; Leitao, D.C.; Jaramillo, G.; Cardoso, S.; Vigevani, G.; Buffa, C.;
By: Guedes, A.; Horsley, D.A.; Freitas, P.P.; Leitao, D.C.; Jaramillo, G.; Cardoso, S.; Vigevani, G.; Buffa, C.;
2012 / IEEE
By: Higuchi, Y.; Hirata, T.; Watanabe, H.; Asai, M.; Bhuiya, A.K.; Enpuku, K.; Yoshida, T.;
By: Higuchi, Y.; Hirata, T.; Watanabe, H.; Asai, M.; Bhuiya, A.K.; Enpuku, K.; Yoshida, T.;
2012 / IEEE
By: Cros, A.; Gao, J.; Beyer, J.; Bruijn, M.P.; Mauskopf, P.D.; van der Kuur, J.; de Korte, P.A.J.; Jackson, B.D.; Withington, S.; van Weers, H.; Trappe, N.; Ravera, L.; Macculi, C.; van Leeuwen, B.; de Lange, G.; Kiviranta, M.; den Hartog, R.; Griffin, D.;
By: Cros, A.; Gao, J.; Beyer, J.; Bruijn, M.P.; Mauskopf, P.D.; van der Kuur, J.; de Korte, P.A.J.; Jackson, B.D.; Withington, S.; van Weers, H.; Trappe, N.; Ravera, L.; Macculi, C.; van Leeuwen, B.; de Lange, G.; Kiviranta, M.; den Hartog, R.; Griffin, D.;
2011 / IEEE / 978-1-4244-6051-9
By: Dabek, J.; Alanko, S.; Ilmoniemi, R.J.; Zevenhoven, K.; Lin, F.-H.; Vesanen, P.T.; Pollari, M.; Nieminen, J.O.;
By: Dabek, J.; Alanko, S.; Ilmoniemi, R.J.; Zevenhoven, K.; Lin, F.-H.; Vesanen, P.T.; Pollari, M.; Nieminen, J.O.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-1589-1
By: Sriram, B.; Vairavan, S.; Govindan, R.B.; Eswaran, H.; Preissl, H.; Wilson, J.D.;
By: Sriram, B.; Vairavan, S.; Govindan, R.B.; Eswaran, H.; Preissl, H.; Wilson, J.D.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-1589-1
By: Furdea, A.; Govindan, R.B.; Eswaran, H.; Lowery, C.L.; Preissl, H.;
By: Furdea, A.; Govindan, R.B.; Eswaran, H.; Lowery, C.L.; Preissl, H.;
2013 / IEEE
By: Xie, M.; Jonsson, M.; Oisjoen, F.; Schneiderman, J. F.; Kalabukhov, A.; Chukharkin, M.; Winkler, D.; Snigirev, O. V.;
By: Xie, M.; Jonsson, M.; Oisjoen, F.; Schneiderman, J. F.; Kalabukhov, A.; Chukharkin, M.; Winkler, D.; Snigirev, O. V.;
2006 / American Institute of Physics
By: N. Bergeal; J. Lesueur; G. Faini; M. Aprili; J. P. Contour;
By: N. Bergeal; J. Lesueur; G. Faini; M. Aprili; J. P. Contour;
2006 / American Institute of Physics
By: A. M. Glukhov; O. G. Turutanov; V. I. Shnyrkov; A. N. Omelyanchouk;
By: A. M. Glukhov; O. G. Turutanov; V. I. Shnyrkov; A. N. Omelyanchouk;
2015 / IEEE
By: Bechstein, S.; Ruede, F.; Schurig, T.; Hao, L.; Gallop, J.C.; Cox, D.; Li, B.; Patel, T.; Weimann, T.; Kohlmann, J.; Kieler, O.F.; Kohn, C.; Storm, J.; Drung, D.;
By: Bechstein, S.; Ruede, F.; Schurig, T.; Hao, L.; Gallop, J.C.; Cox, D.; Li, B.; Patel, T.; Weimann, T.; Kohlmann, J.; Kieler, O.F.; Kohn, C.; Storm, J.; Drung, D.;
2015 / IEEE
By: Gallop, J.; Li, B.; Patel, T.; Hao, L.; Cox, D.; Chen, J.; Romans, E.; Kirkby, K.; Nisbet, A.;
By: Gallop, J.; Li, B.; Patel, T.; Hao, L.; Cox, D.; Chen, J.; Romans, E.; Kirkby, K.; Nisbet, A.;
2015 / IEEE
By: Akamatsu, H.; Gottardi, L.; Wassell, E.; Kiviranta, M.; Smith, S.; Sadleir, J.; Porter, F.; van den Linden, A.; van der Kuur, J.; Lee, S.J.; Kilbourne, C.; Adams, J.; Bandler, S.; Bruijn, M.; Chervenak, J.; Eckart, M.; Finkbeiner, F.; den Hartog, R.; den Herder, J.; Hoevers, H.; Jambunathan, M.; Kelley, R.;
By: Akamatsu, H.; Gottardi, L.; Wassell, E.; Kiviranta, M.; Smith, S.; Sadleir, J.; Porter, F.; van den Linden, A.; van der Kuur, J.; Lee, S.J.; Kilbourne, C.; Adams, J.; Bandler, S.; Bruijn, M.; Chervenak, J.; Eckart, M.; Finkbeiner, F.; den Hartog, R.; den Herder, J.; Hoevers, H.; Jambunathan, M.; Kelley, R.;
2015 / IEEE
By: Akhtar, N.; Zheng, Y.; Wu, Y.; Deng, H.; Fan, J.; Jin, Y.; Li, J.; Zhu, X.; Zheng, D.;
By: Akhtar, N.; Zheng, Y.; Wu, Y.; Deng, H.; Fan, J.; Jin, Y.; Li, J.; Zhu, X.; Zheng, D.;
2015 / IEEE
By: Mates, J.A.B.; Bennett, D.A.; Ullom, J.N.; Vale, L.R.; Gard, J.D.; Reintsema, C.D.; Rabin, M.W.; Hoover, A.S.; Schmidt, D.R.;
By: Mates, J.A.B.; Bennett, D.A.; Ullom, J.N.; Vale, L.R.; Gard, J.D.; Reintsema, C.D.; Rabin, M.W.; Hoover, A.S.; Schmidt, D.R.;
2014 / IEEE
By: Krause, Christian; Drung, Dietmar; Ahlers, Franz J.; Scherer, Hansjorg; Becker, Ulrich;
By: Krause, Christian; Drung, Dietmar; Ahlers, Franz J.; Scherer, Hansjorg; Becker, Ulrich;
2014 / IEEE
By: Regin, M.; Kirste, A.; Ruede, F.; Storm, J.-H.; Schurig, T.; Luis, F.; Sese, J.; Repolles, A. M.; Drung, D.;
By: Regin, M.; Kirste, A.; Ruede, F.; Storm, J.-H.; Schurig, T.; Luis, F.; Sese, J.; Repolles, A. M.; Drung, D.;
SQUID arrays for simultaneous magnetic measurements: calibration and source localization performance
1988 / IEEEBy: Kaufman, L.; Williamson, S.J.; Ribeiro, P.C.;
1988 / IEEE
By: Katila, T.; Maniewski, R.; Wikswo, J.P., Jr.; Varpula, T.; Siltanen, P.; Poutanen, T.;
By: Katila, T.; Maniewski, R.; Wikswo, J.P., Jr.; Varpula, T.; Siltanen, P.; Poutanen, T.;
1988 / IEEE
By: Obradors, X.; Labarta, A.; Ruiz, A.; Moreu, M.A.; Martinez, B.; Tejada, J.; Briones, F.;
By: Obradors, X.; Labarta, A.; Ruiz, A.; Moreu, M.A.; Martinez, B.; Tejada, J.; Briones, F.;
1988 / IEEE
By: Ohno, E.; Shintaku, H.; Nagata, M.; Kita, R.; Hashizume, N.; Tsuchimoto, S.; Kataoka, S.; Nojima, H.;
By: Ohno, E.; Shintaku, H.; Nagata, M.; Kita, R.; Hashizume, N.; Tsuchimoto, S.; Kataoka, S.; Nojima, H.;