Your Search Results
Use materials about this topic in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content - such as case studies and journal articles - for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!

Topic: Risc
Results
2011 / IEEE / 978-1-4577-1846-5
By: Ventroux, N.; Berhault, A.; Bechara, C.; Etiemble, D.; David, R.; Lhuillier, Y.; Chevobbe, S.;
By: Ventroux, N.; Berhault, A.; Bechara, C.; Etiemble, D.; David, R.; Lhuillier, Y.; Chevobbe, S.;
2012 / IEEE / 978-1-4673-2036-8
By: Salim, Ahmad Jamal; Soo, Yewguan; Samsudin, Nur Raihana; Salim, Sani Irwan Md;
By: Salim, Ahmad Jamal; Soo, Yewguan; Samsudin, Nur Raihana; Salim, Sani Irwan Md;
2013 / IEEE
By: Seddiq, Yasser; Awedh, Mohammad; Al-Zahrani, Mosab; Al-Sharif, Tariq; Al-Obaisi, Hesham; Bahaidarah, Mazen;
By: Seddiq, Yasser; Awedh, Mohammad; Al-Zahrani, Mosab; Al-Sharif, Tariq; Al-Obaisi, Hesham; Bahaidarah, Mazen;
2015 / IEEE
By: Patel, D.A.; Abouzeid, F.; Clerc, S.; Girard, P.; Bosio, A.; Virazel, A.; Daveau, J-M.; Roche, P.; Wilson, R.; Meyer, D.; Giner, F.; Ciampolini, L.; Bottoni, C.; Naudet, S.;
By: Patel, D.A.; Abouzeid, F.; Clerc, S.; Girard, P.; Bosio, A.; Virazel, A.; Daveau, J-M.; Roche, P.; Wilson, R.; Meyer, D.; Giner, F.; Ciampolini, L.; Bottoni, C.; Naudet, S.;
2013 / IEEE
By: Sulaiman, Hamzah Asyrani; Md Salim, Sani Irwan; Salim, Ahmad Jamal; Zainudin, Muhammad Noorazlan Shah; Salahuddin, Lizawati; Jamaluddin, Rahimah;
By: Sulaiman, Hamzah Asyrani; Md Salim, Sani Irwan; Salim, Ahmad Jamal; Zainudin, Muhammad Noorazlan Shah; Salahuddin, Lizawati; Jamaluddin, Rahimah;
2014 / IEEE
By: Vu, Thanh; Dinh-Duc, Anh-Vu; Le-Huu, Khoi-Nguyen; Bui, Trong-Tu; Luu, Vy; Dang-Do, Quoc-Minh;
By: Vu, Thanh; Dinh-Duc, Anh-Vu; Le-Huu, Khoi-Nguyen; Bui, Trong-Tu; Luu, Vy; Dang-Do, Quoc-Minh;
Multiply-accumulator using modified booth encoders designed for application in 16-bit RISC processor
2013 / IEEEBy: Wen-tao, Yang; Yan-chao, Zhu; Li-li, Li; Jing-yu, He; Jian-hong, Yang;
1988 / IEEE
By: Frank, D.J.; Lamarche, J.; Lamoureux, J.P.; Sadler, S.P.; Torrance, R.R.; Leveille, F.;
By: Frank, D.J.; Lamarche, J.; Lamoureux, J.P.; Sadler, S.P.; Torrance, R.R.; Leveille, F.;
1988 / IEEE / 0-8186-0872-2
By: March, R.; Libby, J.; Kinsel, J.; Hsu, S.; Mills, M.; Riordan, T.; Scofield, R.; Grewal, G.P.; Ries, P.;
By: March, R.; Libby, J.; Kinsel, J.; Hsu, S.; Mills, M.; Riordan, T.; Scofield, R.; Grewal, G.P.; Ries, P.;
1989 / IEEE
By: Tumblin, H.; Stamm, R.; Morris, S.; Montanaro, J.; Ladd, M.; Kowaleski, J.; Witek, R.; Heye, R.; Gieseke, B.; Dobberpuhl, D.; Devlin, R.; Conrad, R.; Hoeppner, G.;
By: Tumblin, H.; Stamm, R.; Morris, S.; Montanaro, J.; Ladd, M.; Kowaleski, J.; Witek, R.; Heye, R.; Gieseke, B.; Dobberpuhl, D.; Devlin, R.; Conrad, R.; Hoeppner, G.;
1990 / IEEE / 0-8186-2028-5
By: Kini, V.; Ebersole, R.; Carson, D.; Johnson, D.; Lai, K.; Stacey, S.; Pollack, F.; Silvernail, B.;
By: Kini, V.; Ebersole, R.; Carson, D.; Johnson, D.; Lai, K.; Stacey, S.; Pollack, F.; Silvernail, B.;
1989 / IEEE / 0-8186-1984-8
By: Aikawa, T.; Okamura, M.; Matoba, T.; Takamiya, T.; Maeda, K.; Saito, M.; Minagawa, K.;
By: Aikawa, T.; Okamura, M.; Matoba, T.; Takamiya, T.; Maeda, K.; Saito, M.; Minagawa, K.;
1990 / IEEE
By: Cox, S.; Duschatko, D.; Tsuji, K.; Takagi, Y.; Watari, S.; Kuninobu, S.; Edamatsu, H.; Yamaguchi, S.; Tainguchi, T.; Katsura, J.; Nishimichi, Y.; Maeda, T.; Miyake, J.; MacGregor, D.;
By: Cox, S.; Duschatko, D.; Tsuji, K.; Takagi, Y.; Watari, S.; Kuninobu, S.; Edamatsu, H.; Yamaguchi, S.; Tainguchi, T.; Katsura, J.; Nishimichi, Y.; Maeda, T.; Miyake, J.; MacGregor, D.;
1992 / IEEE
By: Nishida, T.; Shukuri, S.; Hiraki, M.; Yano, K.; Seki, K.; Hanawa, M.; Ohki, N.; Kawamata, A.; Morita, S.; Suzuki, M.;
By: Nishida, T.; Shukuri, S.; Hiraki, M.; Yano, K.; Seki, K.; Hanawa, M.; Ohki, N.; Kawamata, A.; Morita, S.; Suzuki, M.;
1991 / IEEE
By: Okada, Y.; Kosaka, S.; Aoyagi, M.; Kurosawa, I.; Nakagawa, H.; Takada, S.; Hamazaki, Y.;
By: Okada, Y.; Kosaka, S.; Aoyagi, M.; Kurosawa, I.; Nakagawa, H.; Takada, S.; Hamazaki, Y.;
1992 / IEEE / 0-8186-2482-5
By: McDonald, J.F.; Greub, H.; Nah, K.; Dabral, S.; Van Etten, J.S.; Philhower, R.;
By: McDonald, J.F.; Greub, H.; Nah, K.; Dabral, S.; Van Etten, J.S.; Philhower, R.;
1992 / IEEE / 0-7803-0573-6
By: Leary, M.; Madden, L.; Kuchler, K.; Kowaleski, J.; Hoeppner, G.; Gieseke, B.; Ladd, M.; Dever, D.; Conrad, R.; Chao, L.; Britton, S.; Anglin, R.; Allmon, R.; Witek, R.; Dobberpuhl, D.; Santhanam, S.; Samudrala, S.; Rajagopalan, V.; Priore, D.; Montanaro, J.; Meyer, D.; McLellan, E.;
By: Leary, M.; Madden, L.; Kuchler, K.; Kowaleski, J.; Hoeppner, G.; Gieseke, B.; Ladd, M.; Dever, D.; Conrad, R.; Chao, L.; Britton, S.; Anglin, R.; Allmon, R.; Witek, R.; Dobberpuhl, D.; Santhanam, S.; Samudrala, S.; Rajagopalan, V.; Priore, D.; Montanaro, J.; Meyer, D.; McLellan, E.;
1992 / IEEE / 0-7803-0573-6
By: Abu-Nofal, F.; Avra, R.; Bhabuthmal, K.; Bhamidipaty, R.; Blanck, G.; Charnas, A.; DelVecchio, P.; Grass, J.; Grinberg, J.; Hayes, N.; Haber, G.; Hunt, J.; Kizhepat, G.; Malamy, A.; Marston, A.; Mehta, K.; Nanda, S.; Van Nguyen, H.; Patel, R.; Ray, A.; Reaves, J.; Rogers, A.; Rusu, S.; Shay, T.; Sidharta, I.; Tham, T.; Tong, P.; Trauben, R.; Wong, A.; Yee, D.; Maan, N.; Steiss, D.; Youngs, L.;
By: Abu-Nofal, F.; Avra, R.; Bhabuthmal, K.; Bhamidipaty, R.; Blanck, G.; Charnas, A.; DelVecchio, P.; Grass, J.; Grinberg, J.; Hayes, N.; Haber, G.; Hunt, J.; Kizhepat, G.; Malamy, A.; Marston, A.; Mehta, K.; Nanda, S.; Van Nguyen, H.; Patel, R.; Ray, A.; Reaves, J.; Rogers, A.; Rusu, S.; Shay, T.; Sidharta, I.; Tham, T.; Tong, P.; Trauben, R.; Wong, A.; Yee, D.; Maan, N.; Steiss, D.; Youngs, L.;