Your Search Results
Use materials about this topic in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content - such as case studies and journal articles - for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!

Topic: Read-out
Results
2012 / IEEE / 978-1-4673-0387-3
By: Salit, K.; Nelson, K.; Sebby-Strabley, J.; Sandquist, D.; Kriz, J.;
By: Salit, K.; Nelson, K.; Sebby-Strabley, J.; Sandquist, D.; Kriz, J.;
2014 / IEEE
By: Sutula, S.; Serra-Graells, F.; Teres, L.; Munoz-Pascual, F. X.; Gonzalo-Ruiz, J.; Pallares Cuxart, J.;
By: Sutula, S.; Serra-Graells, F.; Teres, L.; Munoz-Pascual, F. X.; Gonzalo-Ruiz, J.; Pallares Cuxart, J.;
1997 / IEEE / 0-7803-3885-5
By: Wang, M.M.; Cokgor, I.; Dvornikov, A.S.; McCormick, F.B.; Kim, N.; Rentzepis, P.M.; Esener, S.C.; Coblentz, K.;
By: Wang, M.M.; Cokgor, I.; Dvornikov, A.S.; McCormick, F.B.; Kim, N.; Rentzepis, P.M.; Esener, S.C.; Coblentz, K.;
YAP-PET: first results of a small animal positron emission tomograph based on YAP:Ce finger crystals
1998 / IEEEBy: Di Domenico, G.; Del Guerra, A.; Zavattini, G.; Scandola, M.;
2000 / IEEE
By: Zavattini, G.; Sartori, L.; Sabba, N.; Piffanelli, A.; Marchesini, R.; Del Guerra, A.; Motta, A.; Di Domenico, G.; Damiani, C.; Giganti, M.;
By: Zavattini, G.; Sartori, L.; Sabba, N.; Piffanelli, A.; Marchesini, R.; Del Guerra, A.; Motta, A.; Di Domenico, G.; Damiani, C.; Giganti, M.;
2007 / IEEE
By: Torres, F.; Brugger, J.; Serra-Graells, F.; van den Boogaart, M.A.F.; Abadal, G.; Misischi, B.; Arcamone, J.; Perez-Murano, F.; Barniol, N.;
By: Torres, F.; Brugger, J.; Serra-Graells, F.; van den Boogaart, M.A.F.; Abadal, G.; Misischi, B.; Arcamone, J.; Perez-Murano, F.; Barniol, N.;
2011 / IEEE
By: George, E.M.; Lueker, M.; Holzapfel, W.L.; Irwin, K.D.; Yoon, K.W.; Ullom, J.N.; Shirokoff, E.; Niemack, M.D.; Lowell, P.; Hubmayr, J.; Cho, H.-M.; Schmidt, D.R.; O'Neil, G.C.;
By: George, E.M.; Lueker, M.; Holzapfel, W.L.; Irwin, K.D.; Yoon, K.W.; Ullom, J.N.; Shirokoff, E.; Niemack, M.D.; Lowell, P.; Hubmayr, J.; Cho, H.-M.; Schmidt, D.R.; O'Neil, G.C.;
2011 / IEEE
By: de Ridder, R.M.; van Wolferen, H.A.G.M.; Dijkstra, M.; Kauppinen, L.J.; Pham, S.V.; Hoekstra, H.J.W.M.;
By: de Ridder, R.M.; van Wolferen, H.A.G.M.; Dijkstra, M.; Kauppinen, L.J.; Pham, S.V.; Hoekstra, H.J.W.M.;