Your Search Results
Use materials about this topic in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content - such as case studies and journal articles - for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!

Topic: Production
Results
2011 / IEEE
By: Hallam, B.; Fath, P.P.; Jordan, D.; Edwards, M.; Wenham, S.; Chong, C.; Mai, L.; Sugianto, A.;
By: Hallam, B.; Fath, P.P.; Jordan, D.; Edwards, M.; Wenham, S.; Chong, C.; Mai, L.; Sugianto, A.;
2012 / IEEE
By: Rezac, K.; Paduch, M.; Klir, D.; Kubes, P.; Zielinska, E.; Tomaszewski, K.; Sadowski, M.J.; Karpinski, L.; Kravarik, J.; Ivanova-Stanik, I.; Bienkowska, B.; Chodukowski, T.; Scholz, M.; Pisarczyk, T.;
By: Rezac, K.; Paduch, M.; Klir, D.; Kubes, P.; Zielinska, E.; Tomaszewski, K.; Sadowski, M.J.; Karpinski, L.; Kravarik, J.; Ivanova-Stanik, I.; Bienkowska, B.; Chodukowski, T.; Scholz, M.; Pisarczyk, T.;
2012 / IEEE
By: Miller, C.L.; Flicker, D.G.; Webb, T.J.; Oliver, B.V.; Campbell, R.B.; Rose, D.V.; Welch, D.R.;
By: Miller, C.L.; Flicker, D.G.; Webb, T.J.; Oliver, B.V.; Campbell, R.B.; Rose, D.V.; Welch, D.R.;
2012 / IEEE
By: Zielinska, E.; Kubes, P.; Sadowski, M.J.; Karpinski, L.; Ivanova-Stanik, I.; Bienkowska, B.; Kortanek, J.; Hitschfel, J.; Tomaszewski, K.; Kravarik, J.; Rezac, K.; Kalinowska, Z.; Chodukowski, T.; Scholz, M.; Pisarczyk, T.; Paduch, M.; Klir, D.;
By: Zielinska, E.; Kubes, P.; Sadowski, M.J.; Karpinski, L.; Ivanova-Stanik, I.; Bienkowska, B.; Kortanek, J.; Hitschfel, J.; Tomaszewski, K.; Kravarik, J.; Rezac, K.; Kalinowska, Z.; Chodukowski, T.; Scholz, M.; Pisarczyk, T.; Paduch, M.; Klir, D.;
2012 / IEEE
By: Vostner, A.; Pong, I.; Mitchell, N.; Jewell, M.; Devred, A.; Bevillard, G.; Bessette, D.; Backbier, I.; Gardner, M.;
By: Vostner, A.; Pong, I.; Mitchell, N.; Jewell, M.; Devred, A.; Bevillard, G.; Bessette, D.; Backbier, I.; Gardner, M.;
2012 / IEEE
By: Gheller, J.M.; Dechambre, T.; Nunio, F.; Payn, A.; Schild, T.; Vedrine, P.; Gilgrass, G.; Kanithi, H.; Juster, F.P.; Bermond, S.; Berriaud, C.;
By: Gheller, J.M.; Dechambre, T.; Nunio, F.; Payn, A.; Schild, T.; Vedrine, P.; Gilgrass, G.; Kanithi, H.; Juster, F.P.; Bermond, S.; Berriaud, C.;
2012 / IEEE
By: Hebert, P.; Jones, R.K.; Ermer, J.H.; Karam, N.; Kinsey, G.S.; Pien, P.; Fetzer, C.; Al-Taher, O.; Brandt, R.; Bhusari, D.; King, R.R.;
By: Hebert, P.; Jones, R.K.; Ermer, J.H.; Karam, N.; Kinsey, G.S.; Pien, P.; Fetzer, C.; Al-Taher, O.; Brandt, R.; Bhusari, D.; King, R.R.;
Distributed Interruptible Load Shedding and Micro-Generator Dispatching to Benefit System Operations
2012 / IEEEBy: Tironi, E.; Pievatolo, A.; Faranda, R.; Argiento, R.;
2012 / IEEE
By: Roveta, G.; Roveta, M.; Valori, D.; Seri, M.; Scoccini, G.; Bragagni, A.; Turtu, S.; Quagliata, F.; Reccia, L.; Polli, G.M.; Muzzi, L.; Morici, L.; Di Zenobio, A.; Chiarelli, S.; Besi Vetrella, U.; Affinito, L.; della Corte, A.;
By: Roveta, G.; Roveta, M.; Valori, D.; Seri, M.; Scoccini, G.; Bragagni, A.; Turtu, S.; Quagliata, F.; Reccia, L.; Polli, G.M.; Muzzi, L.; Morici, L.; Di Zenobio, A.; Chiarelli, S.; Besi Vetrella, U.; Affinito, L.; della Corte, A.;
1992 / IEEE / 000-0-0000-0000-0
By: Kasuya, K.; Ohshita, E.; Kawakita, Y.; Miyai, Y.; Nakata, K.; Miyoshi, T.; Matsuura, N.; Hushiki, T.; Horioka, K.;
By: Kasuya, K.; Ohshita, E.; Kawakita, Y.; Miyai, Y.; Nakata, K.; Miyoshi, T.; Matsuura, N.; Hushiki, T.; Horioka, K.;
2002 / IEEE / 978-0-7354-0107-5
By: L'Eplattenier, P.; Lassalle, F.; Mangeant, C.; Hamann, F.; Bavay, M.; Bayol, F.; Huet, D.; Lalle, B.; Avrillaud, G.; Morell, A.; Monjaux, P.;
By: L'Eplattenier, P.; Lassalle, F.; Mangeant, C.; Hamann, F.; Bavay, M.; Bayol, F.; Huet, D.; Lalle, B.; Avrillaud, G.; Morell, A.; Monjaux, P.;
2004 / IEEE / 978-5-87911-088-3
By: Bluhm, H.; Weisenburger, A.; Baumung, K.; Brenner, P.; Buth, L.; Engelko, V.; Frey, W.; Giese, H.; Gusbeth, C.; Heinzel, A.; Hoppe, P.; Mueller, G.; Sack, M.; Schultheiss, C.; Singer, J.; Strassner, R.; An, V.;
By: Bluhm, H.; Weisenburger, A.; Baumung, K.; Brenner, P.; Buth, L.; Engelko, V.; Frey, W.; Giese, H.; Gusbeth, C.; Heinzel, A.; Hoppe, P.; Mueller, G.; Sack, M.; Schultheiss, C.; Singer, J.; Strassner, R.; An, V.;
An empirical study of reported bugs in server software with implications for automated bug diagnosis
2010 / IEEE / 978-1-60558-719-6By: Sahoo, S.K.; Adve, V.; Criswell, J.;
2010 / IEEE / 978-83-921315-8-8
By: de la Rosa, J.J.G.; Rodriguez, M.A.L.; Munoz, A.M.; Gil-de-Castro, A.;
By: de la Rosa, J.J.G.; Rodriguez, M.A.L.; Munoz, A.M.; Gil-de-Castro, A.;
2010 / IEEE / 978-83-921315-8-8
By: Okraszewski, Z.; Miedzinski, B.; Kukhmistrov, Y.; Karabanov, S.;
By: Okraszewski, Z.; Miedzinski, B.; Kukhmistrov, Y.; Karabanov, S.;
2010 / IEEE / 978-0-7695-4471-7
By: da Silva, A.R.; Trigo, P.; Ferreira, J.C.; Afonso, J.L.; Coelho, H.;
By: da Silva, A.R.; Trigo, P.; Ferreira, J.C.; Afonso, J.L.; Coelho, H.;