Your Search Results
Use materials about this topic in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content - such as case studies and journal articles - for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!
Not an educator but still interested in using this content? No problem! Visit our provider's page to contact the publisher and get permission directly.
Topic: Polarimeters
Results
2006 / American Institute of Physics
By: Vladimir V. Protopopov; Sunghoon Cho; Kwangso Kim; Sukwon Lee; Daesuk Kim; Hyuk Kim;
By: Vladimir V. Protopopov; Sunghoon Cho; Kwangso Kim; Sukwon Lee; Daesuk Kim; Hyuk Kim;
2007 / American Institute of Physics
By: V. N. Petrov; V. V. Grebenshikov; A. N. Andronov; P. G. Gabdullin; A. V. Maslevtcov;
By: V. N. Petrov; V. V. Grebenshikov; A. N. Andronov; P. G. Gabdullin; A. V. Maslevtcov;
Stokes-parameter photopolarimeter using an optically or mechanically rotatable two-detector assembly
1990 / IEEEBy: Azzam, R.M.A.; Nick, D.C.;
1991 / IEEE / 0-7803-0135-8
By: Bovet, C.; Castro-Garcia, P.; Dehning, B.; Crozon, M.; Blondel, A.; Badier, J.; Unser, K.; Schmidt, R.; Placidi, M.; Mann, J.; Lemeilleur, F.; Knudsen, L.; Jung, R.; Grunhagel, C.; Glaser, M.; Ferri, G.P.; De Vries, J.;
By: Bovet, C.; Castro-Garcia, P.; Dehning, B.; Crozon, M.; Blondel, A.; Badier, J.; Unser, K.; Schmidt, R.; Placidi, M.; Mann, J.; Lemeilleur, F.; Knudsen, L.; Jung, R.; Grunhagel, C.; Glaser, M.; Ferri, G.P.; De Vries, J.;
1991 / IEEE / 0-7803-0513-2
By: Raine, D., III; Koechner, D.; Pourang, R.; Perdrisat, C.F.; Day, A.; Kross, B.; Zorn, K.; Punjabi, V.; Wojcik, R.; Weisenberger, A.; Majewski, S.;
By: Raine, D., III; Koechner, D.; Pourang, R.; Perdrisat, C.F.; Day, A.; Kross, B.; Zorn, K.; Punjabi, V.; Wojcik, R.; Weisenberger, A.; Majewski, S.;
1993 / IEEE / 0-7803-1203-1
By: Schumm, B.; Steiner, H.; Kowitt, M.; Pripstein, D.; Fuzesy, R.; Chamberlain, O.; Bethke, S.; Shapiro, G.; Zapalac, G.; Maruyama, T.; King, R.; Junk, T.; Hughes, E.; Elia, R.; Calloway, D.; Lath, A.; Fero, M.; Settles, M.; Ogren, H.; Blockus, D.; Rowson, P.; Zolotorev, M.;
By: Schumm, B.; Steiner, H.; Kowitt, M.; Pripstein, D.; Fuzesy, R.; Chamberlain, O.; Bethke, S.; Shapiro, G.; Zapalac, G.; Maruyama, T.; King, R.; Junk, T.; Hughes, E.; Elia, R.; Calloway, D.; Lath, A.; Fero, M.; Settles, M.; Ogren, H.; Blockus, D.; Rowson, P.; Zolotorev, M.;
1994 / IEEE / 0-7803-2544-3
By: Schooneveld, E.M.; van den Bogaard, A.; Sarro, P.M.; van Klinken, J.; Hoogduin, J.M.; Hollander, R.W.; Van Eijk, C.W.E.;
By: Schooneveld, E.M.; van den Bogaard, A.; Sarro, P.M.; van Klinken, J.; Hoogduin, J.M.; Hollander, R.W.; Van Eijk, C.W.E.;
1995 / IEEE / 0-7803-3180-X
By: Gunji, S.; Noma, M.; Sakurai, H.; Sugeno, H.; Tamura, T.; Gertenbort;
By: Gunji, S.; Noma, M.; Sakurai, H.; Sugeno, H.; Tamura, T.; Gertenbort;
1995 / IEEE / 0-7803-2934-1
By: Witte, K.; Tang, H.; Prescott, G.; Mulhollan, G.; Miller, R.; Maruyama, T.; Saez, P.; Kirby, R.; Frisch, J.; Clendenin, J.; Alley, R.; Mair, R.;
By: Witte, K.; Tang, H.; Prescott, G.; Mulhollan, G.; Miller, R.; Maruyama, T.; Saez, P.; Kirby, R.; Frisch, J.; Clendenin, J.; Alley, R.; Mair, R.;
1995 / IEEE / 0-7803-2934-1
By: Walters, G.K.; Hanne, G.F.; Magugumela, M.; Johnson, B.; Gay, T.; Johnston, M.; Dunning, F.B.; Trantham, K.; Hopster, H.; Pang, A.W.; Tang, H.; Schultz, D.; Saez, P.; Clendenin, J.; Mulhollan, G.;
By: Walters, G.K.; Hanne, G.F.; Magugumela, M.; Johnson, B.; Gay, T.; Johnston, M.; Dunning, F.B.; Trantham, K.; Hopster, H.; Pang, A.W.; Tang, H.; Schultz, D.; Saez, P.; Clendenin, J.; Mulhollan, G.;
1996 / IEEE
By: Sakaguchi, H.; Tamii, A.; Togawa, H.; Tanaka, M.; Ogata, H.; Fujiwara, M.; Akimune, H.; Yosoi, M.; Takeda, H.;
By: Sakaguchi, H.; Tamii, A.; Togawa, H.; Tanaka, M.; Ogata, H.; Fujiwara, M.; Akimune, H.; Yosoi, M.; Takeda, H.;
1998 / IEEE
By: Watson, J.W.; Walter, R.; Stephenson, E.J.; Olson, M.; Niculescu, G.; Niboh, M.M.; Markowitz, P.; Manley, D.M.; Liu, H.; Lai, A.; Kelly, J.J.; Keane, D.; Howell, C.; Halli, C.; Foster, C.C.; Elaasar, M.; Chang, C.C.; Cameron, J.M.; Brown, W.R.; Baldwin, A.R.; Baker, O.K.; Anderson, J.E.; Anderson, B.D.; Eden, T.; Madey, R.; Suleiman, R.; Niculescu, I.; Zhang, W.-M.;
By: Watson, J.W.; Walter, R.; Stephenson, E.J.; Olson, M.; Niculescu, G.; Niboh, M.M.; Markowitz, P.; Manley, D.M.; Liu, H.; Lai, A.; Kelly, J.J.; Keane, D.; Howell, C.; Halli, C.; Foster, C.C.; Elaasar, M.; Chang, C.C.; Cameron, J.M.; Brown, W.R.; Baldwin, A.R.; Baker, O.K.; Anderson, J.E.; Anderson, B.D.; Eden, T.; Madey, R.; Suleiman, R.; Niculescu, I.; Zhang, W.-M.;
1997 / IEEE / 0-7803-4258-5
By: McClish, M.; Macri, J.; Forrest, D.J.; McConnell, M.L.; Osgood, M.; Zanes, C.; Vestrand, W.T.; Ryan, J.M.;
By: McClish, M.; Macri, J.; Forrest, D.J.; McConnell, M.L.; Osgood, M.; Zanes, C.; Vestrand, W.T.; Ryan, J.M.;
1997 / IEEE / 0-7803-4258-5
By: Sakurai, H.; Gunji, S.; Takamura, Y.; Geltenbortt, P.; Sugeno, H.; Noma, M.;
By: Sakurai, H.; Gunji, S.; Takamura, Y.; Geltenbortt, P.; Sugeno, H.; Noma, M.;
1998 / IEEE / 1-55752-339-0
By: Clemenceau, P.; Breugnot, S.; Collot, L.; Larive, M.; Kerboull-Le Clerc, F.;
By: Clemenceau, P.; Breugnot, S.; Collot, L.; Larive, M.; Kerboull-Le Clerc, F.;
1998 / IEEE
By: Osgood, M.; Forrest, D.J.; McClish, M.; Macri, J.; Ryan, J.M.; McConnell, M.L.; Zanes, C.; Vestrand, W.T.;
By: Osgood, M.; Forrest, D.J.; McClish, M.; Macri, J.; Ryan, J.M.; McConnell, M.L.; Zanes, C.; Vestrand, W.T.;
1997 / IEEE / 1-55752-480-7
By: Siddiqui, A.S.; Shan, X.; Schuh, R.E.; Ellison, J.G.; Bebbington, D.H.O.; Walker, S.D.;
By: Siddiqui, A.S.; Shan, X.; Schuh, R.E.; Ellison, J.G.; Bebbington, D.H.O.; Walker, S.D.;
1998 / IEEE / 0-7803-5021-9
By: Vestrand, W.T.; Forrest, D.J.; Ryan, J.; McClish, M.; Macri, J.R.; McConnell, M.L.;
By: Vestrand, W.T.; Forrest, D.J.; Ryan, J.; McClish, M.; Macri, J.R.; McConnell, M.L.;
1999 / IEEE / 0-7803-5573-3
By: Huang, H.; Bai, M.; Bunce, G.; Makdisi, Y.; Roser, T.; Imai, K.; Nakamura, M.; Tojo, J.; Yamamoto, K.; Zhu, L.; Bassalleck, B.; Eilerts, S.; Fields, D.E.; Lewis, B.; Smith, B.; Thomas, T.L.; Wolfe, D.; Goto, Y.; Hayoshi, N.; Ishihara, M.; Kurita, K.; Okamura, M.; Saito, N.; Taketani, A.; Underwood, D.; Doskow, J.; Kwiatkowski, K.; Lozowski, B.; Meyer, H.O.; Przewoski, B.V.; Rinckel, T.; Nurushev, S.B.; Strikhanov, M.N.; Runtzo, M.F.; Alekseev, I.G.; Svirida, D.N.; Deshpande, A.; Hughes, V.;
By: Huang, H.; Bai, M.; Bunce, G.; Makdisi, Y.; Roser, T.; Imai, K.; Nakamura, M.; Tojo, J.; Yamamoto, K.; Zhu, L.; Bassalleck, B.; Eilerts, S.; Fields, D.E.; Lewis, B.; Smith, B.; Thomas, T.L.; Wolfe, D.; Goto, Y.; Hayoshi, N.; Ishihara, M.; Kurita, K.; Okamura, M.; Saito, N.; Taketani, A.; Underwood, D.; Doskow, J.; Kwiatkowski, K.; Lozowski, B.; Meyer, H.O.; Przewoski, B.V.; Rinckel, T.; Nurushev, S.B.; Strikhanov, M.N.; Runtzo, M.F.; Alekseev, I.G.; Svirida, D.N.; Deshpande, A.; Hughes, V.;
2000 / IEEE / 0-7803-5846-5
By: Jensen, G.; Greenman, M.; Kristl, J.A.; LePage, A.J.; Stair, A.T., Jr.; Peterson, J.; Devore, J.; Joss, P.C.; Rappaport, S.A.; Beeler, C.J.;
By: Jensen, G.; Greenman, M.; Kristl, J.A.; LePage, A.J.; Stair, A.T., Jr.; Peterson, J.; Devore, J.; Joss, P.C.; Rappaport, S.A.; Beeler, C.J.;
2000 / IEEE / 0-7803-5947-X
By: Nowinoski-Kruszelnicki, E.; Szymanska, A.; Wolinski, T.R.; Wojcik, J.; Domanski, A.; Dabrowski, R.; Sierakowski, M.; Roszko, M.; Karpierz, M.;
By: Nowinoski-Kruszelnicki, E.; Szymanska, A.; Wolinski, T.R.; Wojcik, J.; Domanski, A.; Dabrowski, R.; Sierakowski, M.; Roszko, M.; Karpierz, M.;
2001 / IEEE / 0-7803-7191-7
By: Jacobs, K.; Goldberg, D.A.; Cameron, P.; Conte, M.; Barry, W.; Luccio, A.; Zwart, T.; MacKay, W.; Rossmanith, R.; Pusterla, M.; Palazzi, M.;
By: Jacobs, K.; Goldberg, D.A.; Cameron, P.; Conte, M.; Barry, W.; Luccio, A.; Zwart, T.; MacKay, W.; Rossmanith, R.; Pusterla, M.; Palazzi, M.;
2001 / IEEE / 0-7803-7191-7
By: Huang, H.; Alekseev, I.; Zhao, L.; Zhang, W.; Wang, H.; Underwood, D.; Tojo, J.; Dvirida, D.; Spinka, H.; Saito, N.; Roser, T.; Rescia, S.; Makdisi, Y.; Mahler, G.; MacKay, W.; Lozowski, B.; Li, Z.; Kurita, K.; Kanavets, V.; Ishihara, M.; Imai, K.; Fields, D.; Goto, Y.; Deshpande, A.; Bruner, N.; Bunce, G.;
By: Huang, H.; Alekseev, I.; Zhao, L.; Zhang, W.; Wang, H.; Underwood, D.; Tojo, J.; Dvirida, D.; Spinka, H.; Saito, N.; Roser, T.; Rescia, S.; Makdisi, Y.; Mahler, G.; MacKay, W.; Lozowski, B.; Li, Z.; Kurita, K.; Kanavets, V.; Ishihara, M.; Imai, K.; Fields, D.; Goto, Y.; Deshpande, A.; Bruner, N.; Bunce, G.;
2001 / IEEE / 0-7803-7191-7
By: Kiselev, V.A.; Tumaikin, G.M.; Karnaev, S.E.; Bogomyagkov, A.V.; Blinov, V.E.; Zinevich, N.I.; Zhilich, V.N.; Levichev, E.B.; Toporkov, D.K.; Tikhonov, Yu.A.; Protopopov, I.Ya.; Nikolenko, D.M.; Nikolaev, I.B.; Nikitin, S.A.; Mishnev, S.I.;
By: Kiselev, V.A.; Tumaikin, G.M.; Karnaev, S.E.; Bogomyagkov, A.V.; Blinov, V.E.; Zinevich, N.I.; Zhilich, V.N.; Levichev, E.B.; Toporkov, D.K.; Tikhonov, Yu.A.; Protopopov, I.Ya.; Nikolenko, D.M.; Nikolaev, I.B.; Nikitin, S.A.; Mishnev, S.I.;
2001 / IEEE / 0-7803-7191-7
By: Zwart, T.; Six, E.; Dow, K.; Farkhondeh, M.; Franklin, W.A.; Kolster, H.; Ihloff, E.; Jacobs, K.; van der Laan, J.B.; Matthews, J.L.; Sirca, S.; Smith, T.; Tschalar, C.; Tsentalovich, E.; Turchinetz, W.; Vriegg, J.; Wang, F.; Ziskin, V.; Booth, E.C.; Anferov, V.A.; Blinov, B.B.; Krisch, A.D.; Lorenzon, W.; Morozov, V.S.; Peters, C.C.; Yonehara, K.; Shatunov, Y.M.; Akdogan, T.;
By: Zwart, T.; Six, E.; Dow, K.; Farkhondeh, M.; Franklin, W.A.; Kolster, H.; Ihloff, E.; Jacobs, K.; van der Laan, J.B.; Matthews, J.L.; Sirca, S.; Smith, T.; Tschalar, C.; Tsentalovich, E.; Turchinetz, W.; Vriegg, J.; Wang, F.; Ziskin, V.; Booth, E.C.; Anferov, V.A.; Blinov, B.B.; Krisch, A.D.; Lorenzon, W.; Morozov, V.S.; Peters, C.C.; Yonehara, K.; Shatunov, Y.M.; Akdogan, T.;
Next Page
Follow Us
Copyright © 2014 SharedBook. All rights reserved. Customer Service ·
Privacy Policy
·
User Agreement ·
Accessibility ·
Sitemap