Your Search Results
Use materials about this topic in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content - such as case studies and journal articles - for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!

Topic: Plasma Density
Results
2011 / IEEE
By: Bernhardt, P.A.; Siefring, C.L.; Pedersen, T.R.; Larsen, M.F.; Erickson, P.J.; Bhatt, A.N.; Baumgardner, J.B.;
By: Bernhardt, P.A.; Siefring, C.L.; Pedersen, T.R.; Larsen, M.F.; Erickson, P.J.; Bhatt, A.N.; Baumgardner, J.B.;
2011 / IEEE
By: Wu, X.M.; Ge, S.B.; Zhuge, L.J.; Hu, J.S.; Ye, C.; Ji, H.T.; Zhao, Y.; Yu, T.; Jin, C.G.; Bo, Y.; Li, J.G.;
By: Wu, X.M.; Ge, S.B.; Zhuge, L.J.; Hu, J.S.; Ye, C.; Ji, H.T.; Zhao, Y.; Yu, T.; Jin, C.G.; Bo, Y.; Li, J.G.;
2011 / IEEE
By: Ryoukai, T.; Ishiguro, M.; Liu, H.Q.; Hanada, K.; Nishino, N.; Zushi, H.; Tashima, S.; Fujisawa, A.; Hasegawa, M.; Banerjee, S.; Idei, H.; Nakamura, K.;
By: Ryoukai, T.; Ishiguro, M.; Liu, H.Q.; Hanada, K.; Nishino, N.; Zushi, H.; Tashima, S.; Fujisawa, A.; Hasegawa, M.; Banerjee, S.; Idei, H.; Nakamura, K.;
2011 / IEEE
By: Reass, W.A.; Turchi, P.J.; Oro, D.M.; Griego, J.R.; Reinovsky, R.E.; Rousculp, C.L.;
By: Reass, W.A.; Turchi, P.J.; Oro, D.M.; Griego, J.R.; Reinovsky, R.E.; Rousculp, C.L.;
2012 / IEEE
By: Rosocha, L.A.; Yongho Kim; Sidorova, O.I.; Galanov, S.I.; Matveev, I.B.; Landl, N.V.; Frants, O.B.; Korolev, Y.D.; Kasyanov, V.S.;
By: Rosocha, L.A.; Yongho Kim; Sidorova, O.I.; Galanov, S.I.; Matveev, I.B.; Landl, N.V.; Frants, O.B.; Korolev, Y.D.; Kasyanov, V.S.;
2012 / IEEE
By: Kallenbach, A.; Zohm, H.; Braun, F.; Herrmann, A.; Hohnle, H.; McDermott, R.M.; Neu, R.; Noterdaeme, J.; Putterich, T.; Schweinzer, J.; Stober, J.; Strumberger, E.; Suttrop, W.; Wagner, D.; Bobkov, V.;
By: Kallenbach, A.; Zohm, H.; Braun, F.; Herrmann, A.; Hohnle, H.; McDermott, R.M.; Neu, R.; Noterdaeme, J.; Putterich, T.; Schweinzer, J.; Stober, J.; Strumberger, E.; Suttrop, W.; Wagner, D.; Bobkov, V.;
2012 / IEEE
By: Ahmed, I.; Roopesh, G.; Parmar, K.G.; Pandya, K.; Gahlaut, A.; Bansal, G.; Singh, M.J.; Bandyopadhyay, M.; Chakraborty, A.K.; Yadav, R.K.; Soni, J.; Phukan, A.; Shah, S.; Rotti, C.;
By: Ahmed, I.; Roopesh, G.; Parmar, K.G.; Pandya, K.; Gahlaut, A.; Bansal, G.; Singh, M.J.; Bandyopadhyay, M.; Chakraborty, A.K.; Yadav, R.K.; Soni, J.; Phukan, A.; Shah, S.; Rotti, C.;
2012 / IEEE
By: Welch, D.R.; Brockington, S.; Awe, T.J.; Hsu, S.C.; Witherspoon, F.D.; Case, A.; Tang, X.; Stanic, M.; Messer, S.J.; Kagan, G.; Cassibry, J.T.;
By: Welch, D.R.; Brockington, S.; Awe, T.J.; Hsu, S.C.; Witherspoon, F.D.; Case, A.; Tang, X.; Stanic, M.; Messer, S.J.; Kagan, G.; Cassibry, J.T.;
2012 / IEEE
By: Amano, Y.; Takahashi, T.; Sasaki, T.; Horioka, K.; Harada, N.; Kikuchi, T.; Miki, Y.;
By: Amano, Y.; Takahashi, T.; Sasaki, T.; Horioka, K.; Harada, N.; Kikuchi, T.; Miki, Y.;
2012 / IEEE
By: Altemara, S.D.; Papp, D.; Ivanov, V.V.; Anderson, A.A.; Astanovitskiy, A.A.; Nalajala, V.;
By: Altemara, S.D.; Papp, D.; Ivanov, V.V.; Anderson, A.A.; Astanovitskiy, A.A.; Nalajala, V.;
2012 / IEEE
By: Jeong-Ho Kim; Sumida, T.; Toyoda, K.; Masui, H.; Hatta, S.; Mengu Cho; Bao Hoang; Wong, F.K.;
By: Jeong-Ho Kim; Sumida, T.; Toyoda, K.; Masui, H.; Hatta, S.; Mengu Cho; Bao Hoang; Wong, F.K.;
2012 / IEEE
By: Tudisco, O.; Gaudio, P.; Murari, A.; Gelfusa, M.; Boboc, A.; Orsitto, F.P.; Lupelli, I.; Avino, F.; Mazon, D.;
By: Tudisco, O.; Gaudio, P.; Murari, A.; Gelfusa, M.; Boboc, A.; Orsitto, F.P.; Lupelli, I.; Avino, F.; Mazon, D.;
2012 / IEEE
By: Chun-Sheng Ren; Mu-Yang Qian; Jia-Liang Zhang; Xiao-Qiong Wen; Qiu-Yue Nie; Qian-Qian Fan; De-Zhen Wang;
By: Chun-Sheng Ren; Mu-Yang Qian; Jia-Liang Zhang; Xiao-Qiong Wen; Qiu-Yue Nie; Qian-Qian Fan; De-Zhen Wang;
2012 / IEEE
By: Hao Wu; He-Ping Li; Pei-Si Le; Nan Ge; Zhi-Bin Wang; Yuan Lu; Xin-Hui Xing; Cheng-Yu Bao; Chong Zhang; Li-Yan Wang;
By: Hao Wu; He-Ping Li; Pei-Si Le; Nan Ge; Zhi-Bin Wang; Yuan Lu; Xin-Hui Xing; Cheng-Yu Bao; Chong Zhang; Li-Yan Wang;
2012 / IEEE
By: Batani, D.; Vauzour, B.; Santos, J.J.; Perez, F.; Koenig, M.; Baton, S.; Ramis, R.; Nicolai, P.; Volpe, L.;
By: Batani, D.; Vauzour, B.; Santos, J.J.; Perez, F.; Koenig, M.; Baton, S.; Ramis, R.; Nicolai, P.; Volpe, L.;
1992 / IEEE / 000-0-0000-0000-0
By: Krasik, Y.E.; Sarfaty, M.; Fisher, A.; Maron, Y.; Shkolnikova, S.; Weingarten, A.; Arad, R.;
By: Krasik, Y.E.; Sarfaty, M.; Fisher, A.; Maron, Y.; Shkolnikova, S.; Weingarten, A.; Arad, R.;
1992 / IEEE / 000-0-0000-0000-0
By: Coulter, M.C.; LePell, P.D.; Deeney, C.; Thornhill, J.W.; Whitney, K.G.;
By: Coulter, M.C.; LePell, P.D.; Deeney, C.; Thornhill, J.W.; Whitney, K.G.;
1992 / IEEE / 000-0-0000-0000-0
By: Wilson, A.; Waisman, E.; Thompson, J.; Robertson, K.; Rix, W.; Parks, D.; Miller, A.R.; Coleman, M.;
By: Wilson, A.; Waisman, E.; Thompson, J.; Robertson, K.; Rix, W.; Parks, D.; Miller, A.R.; Coleman, M.;
1992 / IEEE / 000-0-0000-0000-0
By: Goodrich, P.J.; Commisse, R.J.; Weber, B.V.; Hinshelwood, D.; Kellogg, J.C.; Grossmann, J.M.;
By: Goodrich, P.J.; Commisse, R.J.; Weber, B.V.; Hinshelwood, D.; Kellogg, J.C.; Grossmann, J.M.;
2004 / IEEE / 978-5-87911-088-3
By: Sasorov, P.V.; Alexandrov, V.V.; Zurin, M.V.; Zukakischvili, G.G.; Volkov, G.S.; Smirnov, V.P.; Frolov, I.N.; Samokhin, A.A.; Porofeev, I.Y.; Oleinik, G.M.; Nedoseev, S.L.; Mitrofanov, K.N.; Grabovsky, E.V.;
By: Sasorov, P.V.; Alexandrov, V.V.; Zurin, M.V.; Zukakischvili, G.G.; Volkov, G.S.; Smirnov, V.P.; Frolov, I.N.; Samokhin, A.A.; Porofeev, I.Y.; Oleinik, G.M.; Nedoseev, S.L.; Mitrofanov, K.N.; Grabovsky, E.V.;
2004 / IEEE / 978-5-87911-088-3
By: Kruglyakov, E.P.; Burmasov, V.S.; Kandaurov, I.V.; Vyacheslavov, L.N.; Sanin, A.L.; Popov, S.S.;
By: Kruglyakov, E.P.; Burmasov, V.S.; Kandaurov, I.V.; Vyacheslavov, L.N.; Sanin, A.L.; Popov, S.S.;
Equilibria and dynamics of nonquasineutral electron current filaments on different space-time scales
2004 / IEEE / 978-5-87911-088-3By: Gordeev, A.V.; Losseva, T.V.;
2004 / IEEE / 978-5-87911-088-3
By: Vrba, P.; Sakamoto, N.; Vrbova, M.; Jancarek, A.; Kolacek, K.; Kondo, K.; Horioka, K.; Hotta, E.; Kawamura, T.; Nakajima, M.; Masnavi, M.;
By: Vrba, P.; Sakamoto, N.; Vrbova, M.; Jancarek, A.; Kolacek, K.; Kondo, K.; Horioka, K.; Hotta, E.; Kawamura, T.; Nakajima, M.; Masnavi, M.;
2004 / IEEE / 978-5-87911-088-3
By: Commisso, R.J.; Hinshelwood, D.D.; Murphy, D.P.; Qi, N.; Young, F.C.; Mosher, D.; Weber, B.V.; Stephanakis, S.J.; Ponce, D.M.; Phipps, D.G.;
By: Commisso, R.J.; Hinshelwood, D.D.; Murphy, D.P.; Qi, N.; Young, F.C.; Mosher, D.; Weber, B.V.; Stephanakis, S.J.; Ponce, D.M.; Phipps, D.G.;
2011 / IEEE / 978-1-61284-329-2
By: Tan, T.L.; Verma, R.; Rawat, R.S.; Shyam, A.; Springham, S.V.; Shariff, H.B.M.; Talebitaher, A.; Lee, P.;
By: Tan, T.L.; Verma, R.; Rawat, R.S.; Shyam, A.; Springham, S.V.; Shariff, H.B.M.; Talebitaher, A.; Lee, P.;
2011 / IEEE / 978-1-61284-329-2
By: Koldanov, V.A.; Kalynov, Y.K.; Bratman, V.L.; Zorin, V.G.; Litvak, A.G.; Skalyga, V.A.; Sidorov, A.V.; Razin, S.V.;
By: Koldanov, V.A.; Kalynov, Y.K.; Bratman, V.L.; Zorin, V.G.; Litvak, A.G.; Skalyga, V.A.; Sidorov, A.V.; Razin, S.V.;
2011 / IEEE / 978-1-61284-329-2
By: Williamson, K.M.; Stafford, A.; Esaulov, A.A.; Kantsyrev, V.L.; Safronova, A.S.; Shrestha, I.; Hansen, S.B.; Keim, S.; Weller, M.E.; Shlyaptseva, V.; Osborne, G.C.;
By: Williamson, K.M.; Stafford, A.; Esaulov, A.A.; Kantsyrev, V.L.; Safronova, A.S.; Shrestha, I.; Hansen, S.B.; Keim, S.; Weller, M.E.; Shlyaptseva, V.; Osborne, G.C.;
2011 / IEEE / 978-1-61284-329-2
By: Grabowski, C.; Degnan, J.H.; Roderick, N.F.; Lynn, A.G.; Bauer, B.S.; Fueling, S.; Siemon, R.E.; Weber, T.; Waganaar, W.J.; Turchi, P.J.; Sears, J.; Wurden, G.A.; Intrator, T.P.; Coffey, S.K.; Camacho, J.F.; Frese, S.D.; Amdahl, D.J.; Delaney, R.; Domonkos, M.; Lehr, F.M.; Magallanes, R.; Robinson, P.R.; Ruden, E.L.; White, W.; Wood, H.; Gale, D.; Kostora, M.; McCullough, J.; Sommars, W.; Frese, M.H.;
By: Grabowski, C.; Degnan, J.H.; Roderick, N.F.; Lynn, A.G.; Bauer, B.S.; Fueling, S.; Siemon, R.E.; Weber, T.; Waganaar, W.J.; Turchi, P.J.; Sears, J.; Wurden, G.A.; Intrator, T.P.; Coffey, S.K.; Camacho, J.F.; Frese, S.D.; Amdahl, D.J.; Delaney, R.; Domonkos, M.; Lehr, F.M.; Magallanes, R.; Robinson, P.R.; Ruden, E.L.; White, W.; Wood, H.; Gale, D.; Kostora, M.; McCullough, J.; Sommars, W.; Frese, M.H.;
2011 / IEEE / 978-1-61284-329-2
By: Zucchini, F.; Calamy, H.; Sol, D.; d'Almeida, T.; Plouhinec, D.;
By: Zucchini, F.; Calamy, H.; Sol, D.; d'Almeida, T.; Plouhinec, D.;
2011 / IEEE / 978-1-61284-329-2
By: Brates, N.; Sato, A.; Kushner, M.J.; Babaeva, N.Y.; Yamamoto, S.;
By: Brates, N.; Sato, A.; Kushner, M.J.; Babaeva, N.Y.; Yamamoto, S.;
2011 / IEEE / 978-1-61284-329-2
By: Sung Hee Lee; Eun Ha Choi; Han Sup Uhm; Duk In Choi; Young June Hong;
By: Sung Hee Lee; Eun Ha Choi; Han Sup Uhm; Duk In Choi; Young June Hong;