Your Search Results
Use materials about this topic in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content - such as case studies and journal articles - for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!

Topic: Photomultipliers
Results
2011 / IEEE
By: Chapman, E.; Staples, C.J.; Johnson, E.; Chen, X.J.; Whitney, C.M.; Alberghini, G.; Shah, K.; Christian, J.F.; Glodo, J.; Loef, E.V.; Rines, R.;
By: Chapman, E.; Staples, C.J.; Johnson, E.; Chen, X.J.; Whitney, C.M.; Alberghini, G.; Shah, K.; Christian, J.F.; Glodo, J.; Loef, E.V.; Rines, R.;
2011 / IEEE
By: Shitao Liu; Hongdi Li; Shaohui An; Wai-Hoi Wong; Baghaei, H.; Chao Wang; Yuxuan Zhang; Ramirez, R.;
By: Shitao Liu; Hongdi Li; Shaohui An; Wai-Hoi Wong; Baghaei, H.; Chao Wang; Yuxuan Zhang; Ramirez, R.;
2012 / IEEE
By: Auffray, E.; Gundacker, S.; Lecoq, P.; Pauwels, K.; Meyer, T.; Jarron, P.; Hillemanns, H.; Frisch, B.;
By: Auffray, E.; Gundacker, S.; Lecoq, P.; Pauwels, K.; Meyer, T.; Jarron, P.; Hillemanns, H.; Frisch, B.;
2012 / IEEE
By: Robertson, F.; Derderian, G.; Breen, M.; Nickerson, P.; Bhandari, H.B.; Kudrolli, H.; Prekas, G.; Sabet, H.; Nagarkar, V.V.; Cool, S.;
By: Robertson, F.; Derderian, G.; Breen, M.; Nickerson, P.; Bhandari, H.B.; Kudrolli, H.; Prekas, G.; Sabet, H.; Nagarkar, V.V.; Cool, S.;
2012 / IEEE
By: Hongdi Li; Shaohui An; Shitao Liu; Wai-Hoi Wong; Chao Wang; Baghaei, H.; Yuxuan Zhang; Ramirez, R.A.;
By: Hongdi Li; Shaohui An; Shitao Liu; Wai-Hoi Wong; Chao Wang; Baghaei, H.; Yuxuan Zhang; Ramirez, R.A.;
2012 / IEEE
By: Retiere, F.; Berg, E.J.; Goertzen, A.L.; Thompson, C.J.; Kozlowski, P.; Sossi, V.; Stortz, G.; Ryner, L.;
By: Retiere, F.; Berg, E.J.; Goertzen, A.L.; Thompson, C.J.; Kozlowski, P.; Sossi, V.; Stortz, G.; Ryner, L.;
2012 / IEEE
By: Dendooven, P.; Vinke, R.; van Dam, H.T.; Seifert, S.; Schaart, D.R.; Beekman, F.J.; Lohner, H.;
By: Dendooven, P.; Vinke, R.; van Dam, H.T.; Seifert, S.; Schaart, D.R.; Beekman, F.J.; Lohner, H.;
2012 / IEEE
By: Abbisso, S.; Los, S.; Ronzhin, A.; Mazzillo, M.; Ramberg, E.; Sanfilippo, D.; Fallica, G.; Albrow, M.; Piana, A.; Carbone, B.; Valvo, G.;
By: Abbisso, S.; Los, S.; Ronzhin, A.; Mazzillo, M.; Ramberg, E.; Sanfilippo, D.; Fallica, G.; Albrow, M.; Piana, A.; Carbone, B.; Valvo, G.;
2012 / IEEE
By: Nardo, R.; Rossella, M.; Boca, G.; Valle, R.; Gatti, F.; Fratini, K.; Dussoni, D.; De Gerone, M.; Zanello, D.; Uchiyama, Y.; Cattaneo, P.W.; Nicolo, D.; Grassi, M.; Galli, L.;
By: Nardo, R.; Rossella, M.; Boca, G.; Valle, R.; Gatti, F.; Fratini, K.; Dussoni, D.; De Gerone, M.; Zanello, D.; Uchiyama, Y.; Cattaneo, P.W.; Nicolo, D.; Grassi, M.; Galli, L.;
Non-Proportionality of Electron Response and Energy Resolution of Compton Electrons in Scintillators
2012 / IEEEBy: Szczesniak, T.; Syntfeld-Kazuch, A.; Czarnacki, W.; Moszynski, M.; Szawlowski, M.; Pausch, G.; Swiderski, L.; Roemer, K.; Marcinkowski, R.; Plettner, C.;
2010 / IEEE / 978-1-4244-9105-6
By: Yongjie Jin; Yaqiang Liu; Xiaowen Kang; Zhaoxia Wu; Yan Xia; Shi Wang; Tianyu Ma; Qiangyang Wei;
By: Yongjie Jin; Yaqiang Liu; Xiaowen Kang; Zhaoxia Wu; Yan Xia; Shi Wang; Tianyu Ma; Qiangyang Wei;
2011 / IEEE / 978-1-4577-0708-7
By: Lombardo, S.; Corso, D.; Pagano, R.; Pappalardo, A.; Finocchiaro, P.; Libertino, S.; Fallica, P.G.; Russo, A.; Sanfilippo, D.; Valvo, G.;
By: Lombardo, S.; Corso, D.; Pagano, R.; Pappalardo, A.; Finocchiaro, P.; Libertino, S.; Fallica, P.G.; Russo, A.; Sanfilippo, D.; Valvo, G.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-1345-3
By: Urbano, F.; Real, D.; Emanuele, U.; Zuniga, J.; de Dios Zornoza, J.;
By: Urbano, F.; Real, D.; Emanuele, U.; Zuniga, J.; de Dios Zornoza, J.;
2011 / IEEE / 978-1-4673-0120-6
By: Miyaoka, R.S.; Lewellen, T.K.; Zahn, R.; Lingxiong Shao; Hunter, W.C.J.; McDougald, W.; Xiaoli Li; Griesmer, J.J.;
By: Miyaoka, R.S.; Lewellen, T.K.; Zahn, R.; Lingxiong Shao; Hunter, W.C.J.; McDougald, W.; Xiaoli Li; Griesmer, J.J.;
2011 / IEEE / 978-1-4673-0120-6
By: Loudos, G.; Bregou, A.; Fysikopoulos, E.; Papadimitroulas, P.; David, S.; Georgiou, M.; Georgoulias, P.;
By: Loudos, G.; Bregou, A.; Fysikopoulos, E.; Papadimitroulas, P.; David, S.; Georgiou, M.; Georgoulias, P.;
2011 / IEEE / 978-1-4673-0120-6
By: Proffitt, J.; Majewski, S.; Wojcik, R.; Xi, W.; Weisenberger, A.G.; Stolin, A.; Brefczynski-Lewis, J.;
By: Proffitt, J.; Majewski, S.; Wojcik, R.; Xi, W.; Weisenberger, A.G.; Stolin, A.; Brefczynski-Lewis, J.;
2011 / IEEE / 978-1-4673-0120-6
By: Stankova, V.; Solaz, C.; Raux, L.; Rafecas, M.; de La Taille, C.; Lacasta, C.; Torres-Espallardo, I.; Gillam, J.E.; Callier, S.; Cabello, J.; Barrio, J.; Llosa, G.;
By: Stankova, V.; Solaz, C.; Raux, L.; Rafecas, M.; de La Taille, C.; Lacasta, C.; Torres-Espallardo, I.; Gillam, J.E.; Callier, S.; Cabello, J.; Barrio, J.; Llosa, G.;
2011 / IEEE / 978-1-4673-0120-6
By: Oliver, J.F.; Lacasta, C.; Cabello, J.; Barrio, J.; Llosa, G.; Piemonte, C.; Rafecas, M.; Bisogni, M.G.; Del Guerra, A.; de La Taille, C.; Barrillon, P.; Solaz, C.;
By: Oliver, J.F.; Lacasta, C.; Cabello, J.; Barrio, J.; Llosa, G.; Piemonte, C.; Rafecas, M.; Bisogni, M.G.; Del Guerra, A.; de La Taille, C.; Barrillon, P.; Solaz, C.;
2011 / IEEE / 978-1-4673-0120-6
By: Matarrese, G.; Sportelli, G.; Foresta, M.; Corsi, F.; Marzocca, C.; Ambrosi, G.; Collazuol, G.; Bisogni, M.G.; Belcari, N.; Marcatili, S.; Morrocchi, M.; Del Guerra, A.; Santos, A.; Guerra, P.;
By: Matarrese, G.; Sportelli, G.; Foresta, M.; Corsi, F.; Marzocca, C.; Ambrosi, G.; Collazuol, G.; Bisogni, M.G.; Belcari, N.; Marcatili, S.; Morrocchi, M.; Del Guerra, A.; Santos, A.; Guerra, P.;
2011 / IEEE / 978-1-4673-0120-6
By: Wieland, O.; Pellegri, L.; Nicolini, R.; Million, B.; Giaz, A.; Camera, F.; Crespi, F.C.L.; Boiano, C.; Brambilla, S.; Blasi, N.; Riboldi, S.;
By: Wieland, O.; Pellegri, L.; Nicolini, R.; Million, B.; Giaz, A.; Camera, F.; Crespi, F.C.L.; Boiano, C.; Brambilla, S.; Blasi, N.; Riboldi, S.;
2011 / IEEE / 978-1-4673-0120-6
By: Martin-Chassard, G.; Dulucq, F.; de La Taille, C.; Dagoret-Campagne, S.; Blin-Bondil, S.; Barrillon, P.; Kawasaki, Y.; Kajino, F.; Iguchi, T.; Ahmad, S.; Ikeda, H.; Miyamoto, H.;
By: Martin-Chassard, G.; Dulucq, F.; de La Taille, C.; Dagoret-Campagne, S.; Blin-Bondil, S.; Barrillon, P.; Kawasaki, Y.; Kajino, F.; Iguchi, T.; Ahmad, S.; Ikeda, H.; Miyamoto, H.;
2011 / IEEE / 978-1-4673-0120-6
By: Travaglini, R.; Tosi, N.; Torromeo, G.; Montanari, A.; Lax, I.; Giordano, V.; Balbi, G.; Ferri, A.; Fabbri, F.; D'Antone, I.; Cafaro, V.; Boldini, M.;
By: Travaglini, R.; Tosi, N.; Torromeo, G.; Montanari, A.; Lax, I.; Giordano, V.; Balbi, G.; Ferri, A.; Fabbri, F.; D'Antone, I.; Cafaro, V.; Boldini, M.;
2011 / IEEE / 978-1-4673-0120-6
By: Chen, S.; Banks, L.; Dey, S.; Rudell, J.; Miyaoka, R.S.; Lewellen, T.K.; Wenbin Xu;
By: Chen, S.; Banks, L.; Dey, S.; Rudell, J.; Miyaoka, R.S.; Lewellen, T.K.; Wenbin Xu;
2011 / IEEE / 978-1-4673-0120-6
By: Valvo, G.; Sanfilippo, D.; Ramberg, E.; Condorelli, G.; Abbisso, S.; Mazzillo, M.; Carbone, B.; Zatserklyaniy, A.; Los, S.; Ronzhin, A.; Fallica, G.; Piana, A.;
By: Valvo, G.; Sanfilippo, D.; Ramberg, E.; Condorelli, G.; Abbisso, S.; Mazzillo, M.; Carbone, B.; Zatserklyaniy, A.; Los, S.; Ronzhin, A.; Fallica, G.; Piana, A.;
2011 / IEEE / 978-1-4673-0120-6
By: Jingjing Liu; Daoming Xi; Qingguo Xie; Peng Xiao; Ming Niu; Jun Zhu; Yanzhao Li;
By: Jingjing Liu; Daoming Xi; Qingguo Xie; Peng Xiao; Ming Niu; Jun Zhu; Yanzhao Li;
2011 / IEEE / 978-1-4673-0120-6
By: Deschamps, P.; Couture, M.; Berard, P.; Dautet, H.; Laforce, F.;
By: Deschamps, P.; Couture, M.; Berard, P.; Dautet, H.; Laforce, F.;
2011 / IEEE / 978-1-4673-0120-6
By: Wheadon, R.; Peroni, C.; Moehrs, S.; Magazzu, G.; Llosa, G.; Lacasta, C.; Pennazio, F.; De Luca, G.; Cerello, P.; Bisogni, M.G.; Barrio, J.; Del Guerra, A.;
By: Wheadon, R.; Peroni, C.; Moehrs, S.; Magazzu, G.; Llosa, G.; Lacasta, C.; Pennazio, F.; De Luca, G.; Cerello, P.; Bisogni, M.G.; Barrio, J.; Del Guerra, A.;
2011 / IEEE / 978-1-4673-0120-6
By: Phelps, M.E.; Taschereau, R.; Gu, Z.; Chatziioannou, A.F.; Vu, N.T.; Stout, D.B.; Silverman, R.W.; Prout, D.L.; Wang, H.;
By: Phelps, M.E.; Taschereau, R.; Gu, Z.; Chatziioannou, A.F.; Vu, N.T.; Stout, D.B.; Silverman, R.W.; Prout, D.L.; Wang, H.;
2011 / IEEE / 978-1-4673-0120-6
By: Pellegrini, R.; Cinti, M.N.; Bennati, P.; Pani, R.; Scafe, R.; Ridolfi, S.; Orlandi, C.; Fabbri, A.;
By: Pellegrini, R.; Cinti, M.N.; Bennati, P.; Pani, R.; Scafe, R.; Ridolfi, S.; Orlandi, C.; Fabbri, A.;
2011 / IEEE / 978-1-4673-0120-6
By: Menge, P.R.; Ziegler, W.; Shestakova, I.; Roscoe, B.; Radtke, R.J.; Philip, O.; Miles, J.; Madio, D.; Lorente, M.; Jorion, B.; Herron, S.; Hackbart, M.; Grau, J.; Fricke, S.; Crowder, B.; Crary, S.; Clevinger, P.; Brill, T.; Berheide, M.; Adolph, B.; Stoller, C.;
By: Menge, P.R.; Ziegler, W.; Shestakova, I.; Roscoe, B.; Radtke, R.J.; Philip, O.; Miles, J.; Madio, D.; Lorente, M.; Jorion, B.; Herron, S.; Hackbart, M.; Grau, J.; Fricke, S.; Crowder, B.; Crary, S.; Clevinger, P.; Brill, T.; Berheide, M.; Adolph, B.; Stoller, C.;
2011 / IEEE / 978-1-4673-0120-6
By: Solovov, V.N.; Walker, R.J.; Akimov, D.Y.; Araujo, H.M.; Barnes, E.J.; Burenkov, A.A.; Chepel, V.; Currie, A.; DeViveiros, L.; Edwards, B.; Ghag, C.; Hollingsworth, A.; Horn, M.; Kalmus, G.E.; Kobyakin, A.S.; Kovalenko, A.G.; Lebedenko, V.N.; Lindote, A.; Lopes, M.I.; Luscher, R.; Majewski, P.; Murphy, A.S.J.; Neves, F.; Paling, S.M.; Pinto da Cunha, J.; Preece, R.; Quenby, J.J.; Reichhart, L.; Scovell, P.R.; Silva, C.; Smith, N.J.T.; Smith, P.F.; Stekhanov, V.N.; Sumner, T.J.; Thorne, C.; Belov, V.A.;
By: Solovov, V.N.; Walker, R.J.; Akimov, D.Y.; Araujo, H.M.; Barnes, E.J.; Burenkov, A.A.; Chepel, V.; Currie, A.; DeViveiros, L.; Edwards, B.; Ghag, C.; Hollingsworth, A.; Horn, M.; Kalmus, G.E.; Kobyakin, A.S.; Kovalenko, A.G.; Lebedenko, V.N.; Lindote, A.; Lopes, M.I.; Luscher, R.; Majewski, P.; Murphy, A.S.J.; Neves, F.; Paling, S.M.; Pinto da Cunha, J.; Preece, R.; Quenby, J.J.; Reichhart, L.; Scovell, P.R.; Silva, C.; Smith, N.J.T.; Smith, P.F.; Stekhanov, V.N.; Sumner, T.J.; Thorne, C.; Belov, V.A.;
2011 / IEEE / 978-1-4673-0120-6
By: Bernstein, A.; Blackburn, B.W.; Hynes, M.V.; Lanza, R.C.; Erickson, A.S.; Dazeley, S.;
By: Bernstein, A.; Blackburn, B.W.; Hynes, M.V.; Lanza, R.C.; Erickson, A.S.; Dazeley, S.;
2011 / IEEE / 978-1-4673-0120-6
By: Berube, B.-L.; Therrien, A.C.; Pratte, J.-F.; Fontaine, R.; Lecomte, R.; Charlebois, S.; Thibaudeau, C.;
By: Berube, B.-L.; Therrien, A.C.; Pratte, J.-F.; Fontaine, R.; Lecomte, R.; Charlebois, S.; Thibaudeau, C.;
2011 / IEEE / 978-1-4673-0120-6
By: Serra, N.; Pro, T.; Picciotto, A.; Gola, A.; Piemonte, C.; Zorzi, N.; Tarolli, A.;
By: Serra, N.; Pro, T.; Picciotto, A.; Gola, A.; Piemonte, C.; Zorzi, N.; Tarolli, A.;
2011 / IEEE / 978-1-4673-0120-6
By: Vedia, V.; Vaquero, J.J.; Udias, J.M.; Sanchez, J.J.; Fraile, L.M.; Picado, E.; Paziy, V.; Olaizola, B.; Mach, H.;
By: Vedia, V.; Vaquero, J.J.; Udias, J.M.; Sanchez, J.J.; Fraile, L.M.; Picado, E.; Paziy, V.; Olaizola, B.; Mach, H.;
2011 / IEEE / 978-1-4673-0120-6
By: Pausch, G.; Scherwinski, F.; Plettner, C.; Stein, J.; Kong, Y.; Lentering, R.;
By: Pausch, G.; Scherwinski, F.; Plettner, C.; Stein, J.; Kong, Y.; Lentering, R.;
2011 / IEEE / 978-1-4673-0120-6
By: Dunet, V.; Demartines, N.; Magro, P.; Bruschini, C.; Mester, C.; Grigoriev, E.; Prior, J.O.; Charbon, E.; Matter, M.; Talanov, V.; Konoplyannikov, A.;
By: Dunet, V.; Demartines, N.; Magro, P.; Bruschini, C.; Mester, C.; Grigoriev, E.; Prior, J.O.; Charbon, E.; Matter, M.; Talanov, V.; Konoplyannikov, A.;
2011 / IEEE / 978-1-4673-0120-6
By: Howell, C.R.; Crowell, A.S.; Xi, W.; McKisson, J.E.; Zorn, C.; McKisson, J.; Lee, S.J.; Kross, B.; Dong, H.; Weisenberger, A.G.; Stolin, A.; Smith, M.F.; Reid, C.D.; Cumberbatch, L.;
By: Howell, C.R.; Crowell, A.S.; Xi, W.; McKisson, J.E.; Zorn, C.; McKisson, J.; Lee, S.J.; Kross, B.; Dong, H.; Weisenberger, A.G.; Stolin, A.; Smith, M.F.; Reid, C.D.; Cumberbatch, L.;
2011 / IEEE / 978-1-4673-0120-6
By: Matteuzzi, C.; Maino, M.; Gotti, C.; Giachero, A.; Calvi, M.; Pessina, G.; Millefanti, A.;
By: Matteuzzi, C.; Maino, M.; Gotti, C.; Giachero, A.; Calvi, M.; Pessina, G.; Millefanti, A.;
2011 / IEEE / 978-1-4673-0120-6
By: Ridolfi, S.; De Vincentis, G.; Amendola, G.; Baroncelli, A.; Sacco, D.; Scafe, R.; de Notaristefani, F.; Fabbri, A.; Cencelli, V.O.; Pellegrini, R.; Bennati, P.; Cinti, M.N.; Pani, R.; Navarria, F.; Lo Meo, S.; Lanconelli, N.; Moschini, G.; Boccaccio, P.; Mattioli, M.; Di Castro, E.;
By: Ridolfi, S.; De Vincentis, G.; Amendola, G.; Baroncelli, A.; Sacco, D.; Scafe, R.; de Notaristefani, F.; Fabbri, A.; Cencelli, V.O.; Pellegrini, R.; Bennati, P.; Cinti, M.N.; Pani, R.; Navarria, F.; Lo Meo, S.; Lanconelli, N.; Moschini, G.; Boccaccio, P.; Mattioli, M.; Di Castro, E.;
2011 / IEEE / 978-1-4673-0120-6
By: Wei Liu; Yuanbao Chen; Anwen Long; Jun Zhu; Ming Niu; Xin Chen; Peng Xiao; Qingguo Xie; Zhongyi Wu; Daoming Xi;
By: Wei Liu; Yuanbao Chen; Anwen Long; Jun Zhu; Ming Niu; Xin Chen; Peng Xiao; Qingguo Xie; Zhongyi Wu; Daoming Xi;
2011 / IEEE / 978-1-4673-0120-6
By: Schulz, V.; Marsden, P.K.; Lodomez, S.; Haagen, R.; Duppenbecker, P.M.;
By: Schulz, V.; Marsden, P.K.; Lodomez, S.; Haagen, R.; Duppenbecker, P.M.;
2011 / IEEE / 978-1-4673-0120-6
By: Swiderski, L.; Schotanus, P.; Roemer, K.; Plettner, C.; Pausch, G.; Szczesniak, T.; Szawlowski, M.; Czarnacki, W.; Moszynski, M.;
By: Swiderski, L.; Schotanus, P.; Roemer, K.; Plettner, C.; Pausch, G.; Szczesniak, T.; Szawlowski, M.; Czarnacki, W.; Moszynski, M.;
2011 / IEEE / 978-1-4673-0120-6
By: Cinti, M.N.; Pellegrini, R.; Bennati, P.; Pani, R.; de Notaristefani, F.; Cencelli, V.; Scafe', R.; Fabbri, A.; Lo Meo, S.; Di Castro, E.; De Vincentis, G.; Stefano, R.;
By: Cinti, M.N.; Pellegrini, R.; Bennati, P.; Pani, R.; de Notaristefani, F.; Cencelli, V.; Scafe', R.; Fabbri, A.; Lo Meo, S.; Di Castro, E.; De Vincentis, G.; Stefano, R.;
2011 / IEEE / 978-1-4673-0120-6
By: da Ponte, E.; Carimatto, A.; Belzunce, M.; Estryk, D.; Garbino, L.M.; Venialgo, E.; Verrastro, C.; Alarcon, J.;
By: da Ponte, E.; Carimatto, A.; Belzunce, M.; Estryk, D.; Garbino, L.M.; Venialgo, E.; Verrastro, C.; Alarcon, J.;
2011 / IEEE / 978-1-4673-0120-6
By: Boyle, P.J.; MacLeod, A.M.L.; Seywerd, H.C.J.; Sinclair, L.E.; Hanna, D.S.; Saull, P.R.B.;
By: Boyle, P.J.; MacLeod, A.M.L.; Seywerd, H.C.J.; Sinclair, L.E.; Hanna, D.S.; Saull, P.R.B.;
2011 / IEEE / 978-1-4673-0120-6
By: Lo Meo, S.; Cinti, M.N.; Pani, R.; Fabbri, A.; Bennati, P.; Marchioni, C.; Bettiol, M.; Scafe, R.; Pellegrini, R.;
By: Lo Meo, S.; Cinti, M.N.; Pani, R.; Fabbri, A.; Bennati, P.; Marchioni, C.; Bettiol, M.; Scafe, R.; Pellegrini, R.;
2011 / IEEE / 978-1-4673-0120-6
By: Mase, K.; Kubo, M.; Kishi, Y.; Kawai, H.; Nakayama, H.; Sato, T.; Wada, M.; Ono, M.;
By: Mase, K.; Kubo, M.; Kishi, Y.; Kawai, H.; Nakayama, H.; Sato, T.; Wada, M.; Ono, M.;
2011 / IEEE / 978-1-4673-0120-6
By: Shaohui An; Chao Wang; Shitao Liu; Ramirez, R.A.; Wai-Hoi Wong; Yuxuan Zhang; Baghaei, H.; Hongdi Li;
By: Shaohui An; Chao Wang; Shitao Liu; Ramirez, R.A.; Wai-Hoi Wong; Yuxuan Zhang; Baghaei, H.; Hongdi Li;
2011 / IEEE / 978-1-4673-0120-6
By: Stortz, G.; Goertzen, A.L.; Thompson, C.J.; Sossi, V.; Berg, E.J.; Ryner, L.; Kozlowski, P.; Retiere, F.;
By: Stortz, G.; Goertzen, A.L.; Thompson, C.J.; Sossi, V.; Berg, E.J.; Ryner, L.; Kozlowski, P.; Retiere, F.;
2011 / IEEE / 978-1-4673-0120-6
By: Ranieri, A.; Perrino, R.; Pappalardo, A.; Monno, E.; Meddi, F.; Marzocca, C.; Lucentini, M.; Loddo, F.; Licciulli, F.; Gricia, M.; Giuliani, F.; Giorgi, F.; Garibaldi, F.; Gabrielli, A.; Finocchiaro, P.; De Leo, R.; Cusanno, F.; Corsi, F.; Cosentino, L.; Musico, P.; Turisini, M.;
By: Ranieri, A.; Perrino, R.; Pappalardo, A.; Monno, E.; Meddi, F.; Marzocca, C.; Lucentini, M.; Loddo, F.; Licciulli, F.; Gricia, M.; Giuliani, F.; Giorgi, F.; Garibaldi, F.; Gabrielli, A.; Finocchiaro, P.; De Leo, R.; Cusanno, F.; Corsi, F.; Cosentino, L.; Musico, P.; Turisini, M.;
2011 / IEEE / 978-1-4244-9289-3
By: Matter, M.; Talanov, V.; Konoplyannikov, A.; Grigoriev, E.; Dunet, V.; Prior, J.O.; Demartines, N.; Magro, P.; Bruschini, C.; Mester, C.; Charbon, E.;
By: Matter, M.; Talanov, V.; Konoplyannikov, A.; Grigoriev, E.; Dunet, V.; Prior, J.O.; Demartines, N.; Magro, P.; Bruschini, C.; Mester, C.; Charbon, E.;
2011 / IEEE / 978-1-4673-0120-6
By: Zorn, C.; McKisson, J.E.; McKisson, J.; Lee, S.; Xi, W.; Kross, B.; Dong, H.; Weisenberger, A.G.;
By: Zorn, C.; McKisson, J.E.; McKisson, J.; Lee, S.; Xi, W.; Kross, B.; Dong, H.; Weisenberger, A.G.;
2011 / IEEE / 978-1-4673-0120-6
By: Stoppa, D.; Seifert, S.; Veerappan, C.; Meijlink, J.R.; Schaart, D.R.; Charbon, E.; Henderson, R.K.;
By: Stoppa, D.; Seifert, S.; Veerappan, C.; Meijlink, J.R.; Schaart, D.R.; Charbon, E.; Henderson, R.K.;
2011 / IEEE / 978-1-4673-0120-6
By: Shaohui An; Shitao Liu; Wai-Hoi Wong; Baghaei, H.; Yuxuan Zhang; Ramirez, R.A.; Chao Wang; Hongdi Li;
By: Shaohui An; Shitao Liu; Wai-Hoi Wong; Baghaei, H.; Yuxuan Zhang; Ramirez, R.A.; Chao Wang; Hongdi Li;
2011 / IEEE / 978-1-4673-0120-6
By: Udias, J.M.; Lage, E.; Sanchez, J.J.; Vaquero, J.J.; Desco, M.; Guerra, P.;
By: Udias, J.M.; Lage, E.; Sanchez, J.J.; Vaquero, J.J.; Desco, M.; Guerra, P.;