Your Search Results
Use materials about this topic in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content - such as case studies and journal articles - for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!

Topic: Phenomenological Model
Results
Phenomenological Model for Predicting the Energy Resolution of Neutron-Damaged Coaxial HPGe Detectors
2012 / IEEEBy: Wharton, C.J.; Seabury, E.H.; Van Siclen, C.D.; Caffrey, A.J.;
1993 / IEEE
By: Swirhun, S.E.; Quinn, W.E.; Parsons, C.; Kim, M.; Shtengel, G.; Uchida, T.; Brusenbach, P.; Temkin, H.;
By: Swirhun, S.E.; Quinn, W.E.; Parsons, C.; Kim, M.; Shtengel, G.; Uchida, T.; Brusenbach, P.; Temkin, H.;
1996 / IEEE / 0-7803-3393-4
By: List, S.; McNeil, V.; Saxena, S.; Vasanth, K.; Kapila, D.; Davis, J.;
By: List, S.; McNeil, V.; Saxena, S.; Vasanth, K.; Kapila, D.; Davis, J.;
1996 / IEEE
By: Abramov, V.V.; Ulimov, V.N.; Sogoyan, A.V.; Belyakov, V.V.; Shalnov, A.V.; Cherepko, S.V.; Pershenkov, V.S.; Rusanovsky, V.I.;
By: Abramov, V.V.; Ulimov, V.N.; Sogoyan, A.V.; Belyakov, V.V.; Shalnov, A.V.; Cherepko, S.V.; Pershenkov, V.S.; Rusanovsky, V.I.;
1996 / IEEE / 0-7803-3289-X
By: Tasch, Al.F.; Beardmore, K.M.; Snell, C.M.; Gronbech-Jensen, N.; Cai, D.; Morris, S.;
By: Tasch, Al.F.; Beardmore, K.M.; Snell, C.M.; Gronbech-Jensen, N.; Cai, D.; Morris, S.;
1997 / IEEE / 0-7803-4100-7
By: del Alamo, J.A.; Blanchard, R.; Somerville, M.H.; Chao, P.C.; Duh, G.;
By: del Alamo, J.A.; Blanchard, R.; Somerville, M.H.; Chao, P.C.; Duh, G.;
1999 / IEEE
By: Stroud, R.M.; Thrasher, J.B.; Pond, J.M.; Osofsky, M.S.; Qadri, S.B.; Horwitz, J.S.; Fritz, G.G.; Wood, K.S.; van Vechten, D.; Gulian, A.M.; Gyulamiryan, A.L.; Nikogosyan, V.R.; Kuzanyan, A.S.; Vartanyan, V.O.;
By: Stroud, R.M.; Thrasher, J.B.; Pond, J.M.; Osofsky, M.S.; Qadri, S.B.; Horwitz, J.S.; Fritz, G.G.; Wood, K.S.; van Vechten, D.; Gulian, A.M.; Gyulamiryan, A.L.; Nikogosyan, V.R.; Kuzanyan, A.S.; Vartanyan, V.O.;
2000 / IEEE / 0-7803-5931-3
By: Montanari, G.C.; Mazzanti, G.; Fabiani, D.; Cavallini, A.; Simoni, L.;
By: Montanari, G.C.; Mazzanti, G.; Fabiani, D.; Cavallini, A.; Simoni, L.;
2000 / IEEE / 0-7803-5982-8
By: Crumley, R.J.; Coleman, P.L.; Thompson, J.R.; Moschella, J.J.; Maron, Y.; Goodrich, P.J.; Waisman, E.M.; Steen, P.; Rauch, J.E.; Parks, D.E.; Goyer, J.R.;
By: Crumley, R.J.; Coleman, P.L.; Thompson, J.R.; Moschella, J.J.; Maron, Y.; Goodrich, P.J.; Waisman, E.M.; Steen, P.; Rauch, J.E.; Parks, D.E.; Goyer, J.R.;
2000 / IEEE / 0-7803-6392-2
By: Lin, M.H.; Chen, Y.F.; Fan, S.K.; Liu, C.H.; Lee, M.T.; Fu, K.Y.; Chang, Y.J.; Huang, S.C.; Chang, W.C.; Chou, C.H.;
By: Lin, M.H.; Chen, Y.F.; Fan, S.K.; Liu, C.H.; Lee, M.T.; Fu, K.Y.; Chang, Y.J.; Huang, S.C.; Chang, W.C.; Chou, C.H.;
2000 / IEEE / 0-7803-7117-8
By: Fadhel, A.; Kooli, S.; Farhat, A.; Belghith, A.; Maalej, M.; Kerkeni, C.;
By: Fadhel, A.; Kooli, S.; Farhat, A.; Belghith, A.; Maalej, M.; Kerkeni, C.;
2001 / IEEE / 1-55752-662-1
By: Roudas, I.; Lascar, N.M.; Kruse, A.E.; Hallock, B.S.; Sharma, M.; Vodhanel, R.S.; Antoniades, N.; Tomkos, I.; Chowdhury, D.Q.;
By: Roudas, I.; Lascar, N.M.; Kruse, A.E.; Hallock, B.S.; Sharma, M.; Vodhanel, R.S.; Antoniades, N.; Tomkos, I.; Chowdhury, D.Q.;
2001 / IEEE / 0-7803-7141-0
By: Kwek, K.H.; Chittenden, J.P.; Bland, S.N.; Beg, F.N.; Lebedev, S.V.; Haines, M.G.; Merialdo, S.;
By: Kwek, K.H.; Chittenden, J.P.; Bland, S.N.; Beg, F.N.; Lebedev, S.V.; Haines, M.G.; Merialdo, S.;
2002 / IEEE
By: Kamp, M.; Moosburger, R.; Min Qiu; Mulot, M.; Forchel, A.; Ferrini, R.; Leuenberger, D.; Houdre, R.; Anand, S.;
By: Kamp, M.; Moosburger, R.; Min Qiu; Mulot, M.; Forchel, A.; Ferrini, R.; Leuenberger, D.; Houdre, R.; Anand, S.;
Phenomenological models of Doppler-polarimetric microwave remote sensing of clouds and precipitation
2002 / IEEE / 0-7803-7536-XBy: Yanovsky, F.J.;
2002 / IEEE
By: Chmil, A.I.; Elliott, R.J.; Zilberman, P.E.; Ogrin, Y.F.; Krikunov, A.I.; Gulyaev, Y.V.; Epshtein, E.M.;
By: Chmil, A.I.; Elliott, R.J.; Zilberman, P.E.; Ogrin, Y.F.; Krikunov, A.I.; Gulyaev, Y.V.; Epshtein, E.M.;