Your Search Results
Use materials about this topic in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content - such as case studies and journal articles - for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!

Topic: Optical Waveguides
Results
2011 / IEEE
By: Nagai, M.; Minowa, Y.; Tanaka, K.; Averitt, R.D.; Xin Zhang; Strikwerda, A.C.; Kebin Fan; Hu Tao;
By: Nagai, M.; Minowa, Y.; Tanaka, K.; Averitt, R.D.; Xin Zhang; Strikwerda, A.C.; Kebin Fan; Hu Tao;
2011 / IEEE
By: Takeda, T.; Hajimiri, A.; Ohashi, S.; Hino, Y.; Fukuda, S.; Yamagishi, H.; Kawasaki, K.; Akiyama, Y.; Uno, M.; Komori, K.; Shinke, S.;
By: Takeda, T.; Hajimiri, A.; Ohashi, S.; Hino, Y.; Fukuda, S.; Yamagishi, H.; Kawasaki, K.; Akiyama, Y.; Uno, M.; Komori, K.; Shinke, S.;
2011 / IEEE
By: Ke Xu; Shu, C.; Xia Chen; Zhenzhou Cheng; Liang Wang; Yi Min Chen; Lei, G.K.P.; Hon Ki Tsang;
By: Ke Xu; Shu, C.; Xia Chen; Zhenzhou Cheng; Liang Wang; Yi Min Chen; Lei, G.K.P.; Hon Ki Tsang;
2011 / IEEE
By: Black, E.; Chabalko, M.; Yunchuan Kong; Yi Luo; Schlesinger, T.E.; Bain, J.A.; Powell, S.;
By: Black, E.; Chabalko, M.; Yunchuan Kong; Yi Luo; Schlesinger, T.E.; Bain, J.A.; Powell, S.;
2011 / IEEE
By: Loesch, R.; Zink, M.; Riessle, M.; Kallfass, I.; Kuri, M.; Massler, H.; Seelmann-Eggebert, M.; Hurm, V.; Leuther, A.; Tessmann, A.; Ambacher, O.; Schlechtweg, M.;
By: Loesch, R.; Zink, M.; Riessle, M.; Kallfass, I.; Kuri, M.; Massler, H.; Seelmann-Eggebert, M.; Hurm, V.; Leuther, A.; Tessmann, A.; Ambacher, O.; Schlechtweg, M.;
2011 / IEEE
By: Vyrsokinos, K.; Stamatiadis, C.; Avramopoulos, H.; Van Thourhout, D.; Zhen Sheng; De Heyn, P.; Wahlbrink, T.; Karl, M.; Bolten, J.; Maziotis, A.; Lazarou, I.; Stampoulidis, L.;
By: Vyrsokinos, K.; Stamatiadis, C.; Avramopoulos, H.; Van Thourhout, D.; Zhen Sheng; De Heyn, P.; Wahlbrink, T.; Karl, M.; Bolten, J.; Maziotis, A.; Lazarou, I.; Stampoulidis, L.;
2011 / IEEE
By: Kim, R.S.; Zhou Lin; Shouyuan Shi; Prather, D.; Abeysinghe, D.; Szep, A.; Haishan Sun; Antao Chen;
By: Kim, R.S.; Zhou Lin; Shouyuan Shi; Prather, D.; Abeysinghe, D.; Szep, A.; Haishan Sun; Antao Chen;
2011 / IEEE
By: Hamacher, M.; Syvridis, D.; Mesaritakis, C.; Stamataki, I.; Kapsalis, A.; Heidrich, H.;
By: Hamacher, M.; Syvridis, D.; Mesaritakis, C.; Stamataki, I.; Kapsalis, A.; Heidrich, H.;
2011 / IEEE
By: Chengyong Hu; Taverne, M.P.C.; Ivanov, P.S.; Nicol, M.F.J.; Engin, E.; Cryan, M.J.; Ho, Y.D.; Rarity, J.G.; Railton, C.J.; Craddock, I.J.;
By: Chengyong Hu; Taverne, M.P.C.; Ivanov, P.S.; Nicol, M.F.J.; Engin, E.; Cryan, M.J.; Ho, Y.D.; Rarity, J.G.; Railton, C.J.; Craddock, I.J.;
2011 / IEEE
By: Roelkens, G.; Tournie, E.; Rodriguez, J.-B.; Cerutti, L.; Gassenq, A.; Hattasan, N.;
By: Roelkens, G.; Tournie, E.; Rodriguez, J.-B.; Cerutti, L.; Gassenq, A.; Hattasan, N.;
2011 / IEEE
By: Dingshan Gao; Cassan, E.; Xu Zhou; Huaming Wu; Jin Hou; Changjing Bao; Xinliang Zhang;
By: Dingshan Gao; Cassan, E.; Xu Zhou; Huaming Wu; Jin Hou; Changjing Bao; Xinliang Zhang;
2011 / IEEE
By: Cassan, E.; Duan, G.; Fedeli, J.; Sanchis, P.; Campo, A.M.G.; Vivien, L.; Marris-Morini, D.; Ziebell, M.; Rasigade, G.; Brimont, A.;
By: Cassan, E.; Duan, G.; Fedeli, J.; Sanchis, P.; Campo, A.M.G.; Vivien, L.; Marris-Morini, D.; Ziebell, M.; Rasigade, G.; Brimont, A.;
2011 / IEEE
By: Xinliang Zhang; Yvind, K.; Jing Xu; Haiyan Ou; Dexiu Huang; Peucheret, C.; Liu Liu; Yunhong Ding;
By: Xinliang Zhang; Yvind, K.; Jing Xu; Haiyan Ou; Dexiu Huang; Peucheret, C.; Liu Liu; Yunhong Ding;
2011 / IEEE
By: Kintaka, K.; Nagase, M.; Suda, S.; Shoji, Y.; Kawashima, H.; Ishikawa, H.; Hasama, T.; Kuwatsuka, H.; Akimoto, R.;
By: Kintaka, K.; Nagase, M.; Suda, S.; Shoji, Y.; Kawashima, H.; Ishikawa, H.; Hasama, T.; Kuwatsuka, H.; Akimoto, R.;
2011 / IEEE
By: Masuda, H.; Shibata, T.; Takai, T.; Lee, Y.; Hamamura, S.; Chujo, N.; Adachi, K.; Kawamura, D.; Matsuoka, Y.; Sugawara, T.;
By: Masuda, H.; Shibata, T.; Takai, T.; Lee, Y.; Hamamura, S.; Chujo, N.; Adachi, K.; Kawamura, D.; Matsuoka, Y.; Sugawara, T.;
2011 / IEEE
By: Kai Wang; Kandulski, W.; Calver, J.; Rygate, J.; Zakariyah, S.S.; Selviah, D.R.; Hutt, D.A.; Conway, P.P.;
By: Kai Wang; Kandulski, W.; Calver, J.; Rygate, J.; Zakariyah, S.S.; Selviah, D.R.; Hutt, D.A.; Conway, P.P.;
2011 / IEEE
By: Jenkins, M.; Keeley, J.; Shuo Liu; Holmes, M.R.; Hawkins, A.R.; Schmidt, H.; Leake, K.;
By: Jenkins, M.; Keeley, J.; Shuo Liu; Holmes, M.R.; Hawkins, A.R.; Schmidt, H.; Leake, K.;
2011 / IEEE
By: Herczfeld, P.; Bowers, J.E.; Coldren, L.A.; Sheilei Jin; Renyuan Wang; Bhardwaj, A.; Yifei Li;
By: Herczfeld, P.; Bowers, J.E.; Coldren, L.A.; Sheilei Jin; Renyuan Wang; Bhardwaj, A.; Yifei Li;
2012 / IEEE
By: Chunle Xiong; Monat, C.; Collins, M.J.; Tranchant, L.; Petiteau, D.; Clark, A.S.; Eggleton, B.J.; Marshall, G.D.; Steel, M.J.; Juntao Li; O'Faolain, L.; Krauss, T.F.; Grillet, C.;
By: Chunle Xiong; Monat, C.; Collins, M.J.; Tranchant, L.; Petiteau, D.; Clark, A.S.; Eggleton, B.J.; Marshall, G.D.; Steel, M.J.; Juntao Li; O'Faolain, L.; Krauss, T.F.; Grillet, C.;
2012 / IEEE
By: Parker, J.S.; Guzzon, R.S.; Norberg, E.J.; Mingzhi Lu; Binetti, P.R.A.; Sivananthan, A.; Coldren, L.A.; Rodwell, M.J.; Johansson, L.A.; Bhardwaj, A.;
By: Parker, J.S.; Guzzon, R.S.; Norberg, E.J.; Mingzhi Lu; Binetti, P.R.A.; Sivananthan, A.; Coldren, L.A.; Rodwell, M.J.; Johansson, L.A.; Bhardwaj, A.;
2012 / IEEE
By: Holmes, C.; Chong Wu Yi; Sandoghchi, S.R.; Adikan, F.R.M.; Simpson, R.E.; Gates, J.C.; Webb, A.S.; Mahdi, M.A.;
By: Holmes, C.; Chong Wu Yi; Sandoghchi, S.R.; Adikan, F.R.M.; Simpson, R.E.; Gates, J.C.; Webb, A.S.; Mahdi, M.A.;
2012 / IEEE
By: Changming Chen; Daming Zhang; Zhanchen Cui; Zuosen Shi; Hui Wang; Feng Zhang; Fei Wang; Xiaoqiang Sun;
By: Changming Chen; Daming Zhang; Zhanchen Cui; Zuosen Shi; Hui Wang; Feng Zhang; Fei Wang; Xiaoqiang Sun;
2012 / IEEE
By: Ermakov, I.V.; Verschaffelt, G.; Leijtens, X.J.M.; Bolk, J.; Docter, B.; Danckaert, J.; Ashour, M.; Beri, S.;
By: Ermakov, I.V.; Verschaffelt, G.; Leijtens, X.J.M.; Bolk, J.; Docter, B.; Danckaert, J.; Ashour, M.; Beri, S.;
2012 / IEEE
By: Jackel, H.; Holzman, J.F.; Beck, M.; Kappeler, R.; Fedoryshyn, Y.; Faist, J.; Ping Ma; Kaspar, P.;
By: Jackel, H.; Holzman, J.F.; Beck, M.; Kappeler, R.; Fedoryshyn, Y.; Faist, J.; Ping Ma; Kaspar, P.;
2012 / IEEE
By: Hvam, J.M.; Hua Ji; Oxenlowe, L.K.; Jeppesen, P.; Clausen, A.T.; Galili, M.; Yvind, K.; Mulvad, H.C.H.; Hao Hu; Minhao Pu;
By: Hvam, J.M.; Hua Ji; Oxenlowe, L.K.; Jeppesen, P.; Clausen, A.T.; Galili, M.; Yvind, K.; Mulvad, H.C.H.; Hao Hu; Minhao Pu;
2012 / IEEE
By: Agarwal, A.; Beausoleil, R.G.; Yang Yue; Yan Yan; Kimerling, L.C.; Qiang Lin; Lin Zhang; Willner, A.E.; Michel, J.;
By: Agarwal, A.; Beausoleil, R.G.; Yang Yue; Yan Yan; Kimerling, L.C.; Qiang Lin; Lin Zhang; Willner, A.E.; Michel, J.;
2011 / IEEE
By: Carta, P.; Angeloni, G.; Girardin, E.; Calbucci, V.; Giuliani, A.; Di Gregorio, G.M.; Manescu, A.; Albertini, G.;
By: Carta, P.; Angeloni, G.; Girardin, E.; Calbucci, V.; Giuliani, A.; Di Gregorio, G.M.; Manescu, A.; Albertini, G.;
2012 / IEEE
By: Baoxi Xu; Chengwu An; Kaidong Ye; Jing Zhang; Jianming Li; Cheow Wee Chia; Yeow Teck Toh;
By: Baoxi Xu; Chengwu An; Kaidong Ye; Jing Zhang; Jianming Li; Cheow Wee Chia; Yeow Teck Toh;
2012 / IEEE
By: Liu, F.Y.; Patil, D.; Lexau, J.; Amberg, P.; Dayringer, M.; Ho, R.; Moghadam, H.F.; Xuezhe Zheng; Cunningham, J.E.; Krishnamoorthy, A.V.; Alon, E.; Gainsley, J.;
By: Liu, F.Y.; Patil, D.; Lexau, J.; Amberg, P.; Dayringer, M.; Ho, R.; Moghadam, H.F.; Xuezhe Zheng; Cunningham, J.E.; Krishnamoorthy, A.V.; Alon, E.; Gainsley, J.;
2012 / IEEE
By: Viktorovitch, P.; Fedeli, J.M.; Letartre, X.; Orobtchouk, R.; Mandorlo, F.; Ferrier, L.; Olivier, N.; Romeo, P.R.;
By: Viktorovitch, P.; Fedeli, J.M.; Letartre, X.; Orobtchouk, R.; Mandorlo, F.; Ferrier, L.; Olivier, N.; Romeo, P.R.;
2012 / IEEE
By: Ahn, J.H.; Schreiber, R.; Muralimanohar, N.; McLaren, M.; Jouppi, N.; Davis, A.; Binkert, N.;
By: Ahn, J.H.; Schreiber, R.; Muralimanohar, N.; McLaren, M.; Jouppi, N.; Davis, A.; Binkert, N.;
2012 / IEEE
By: Gachev, I.G.; Denisov, G.G.; Samsonov, S.V.; Sokolov, E.V.; Mishakin, S.V.; Eremeev, A.G.; Manuilov, V.N.; Kalynova, G.I.; Kholoptsev, V.V.; Fiks, A.S.;
By: Gachev, I.G.; Denisov, G.G.; Samsonov, S.V.; Sokolov, E.V.; Mishakin, S.V.; Eremeev, A.G.; Manuilov, V.N.; Kalynova, G.I.; Kholoptsev, V.V.; Fiks, A.S.;