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Topic: Open Systems
Results
2011 / IEEE
By: del Valle, P.; Martinez, I.; Escayola, J.; Aragues, A.; Garcia, J.; Trigo, J.D.; Munoz, P.;
By: del Valle, P.; Martinez, I.; Escayola, J.; Aragues, A.; Garcia, J.; Trigo, J.D.; Munoz, P.;
2012 / IEEE
By: Hirth, R.; Elbakoury, H.; Mukai, H.; Hajduczenia, M.; Nishihara, S.; Kato, M.; Kimura, M.;
By: Hirth, R.; Elbakoury, H.; Mukai, H.; Hajduczenia, M.; Nishihara, S.; Kato, M.; Kimura, M.;
2012 / IEEE
By: Le Rouzic, E.; Mannersalo, P.; Correia, L.M.; Cardoso, F.D.; Frantti, T.; Genay, N.; Nunzi, G.; Serrador, A.;
By: Le Rouzic, E.; Mannersalo, P.; Correia, L.M.; Cardoso, F.D.; Frantti, T.; Genay, N.; Nunzi, G.; Serrador, A.;
2012 / IEEE
By: Tsuritani, T.; Lei Liu; Hayashi, R.; Kubo, K.; Yoshida, S.; Shaowei Huang; Nishioka, I.;
By: Tsuritani, T.; Lei Liu; Hayashi, R.; Kubo, K.; Yoshida, S.; Shaowei Huang; Nishioka, I.;
2012 / IEEE
By: Weibao Qiu; Yan Chen; Xiang Li; Yanyan Yu; Lei Sun; Fu Keung Tsang; Qifa Zhou; Shung, K.K.; Jiyan Dai; Wang Fai Cheng;
By: Weibao Qiu; Yan Chen; Xiang Li; Yanyan Yu; Lei Sun; Fu Keung Tsang; Qifa Zhou; Shung, K.K.; Jiyan Dai; Wang Fai Cheng;
2012 / IEEE
By: McInerney, D.; San-Miguel Ayanz, J.; Barredo, J.I.; Figueiredo, C.; Diaz, L.; Bastin, L.;
By: McInerney, D.; San-Miguel Ayanz, J.; Barredo, J.I.; Figueiredo, C.; Diaz, L.; Bastin, L.;
2012 / IEEE
By: Ray, N.; Mihon, D.; Bacu, V.; Gorgan, D.; Lehmann, A.; Stefanut, T.; Giuliani, G.; Abbaspour, K.; Cau, P.; Rodila, D.;
By: Ray, N.; Mihon, D.; Bacu, V.; Gorgan, D.; Lehmann, A.; Stefanut, T.; Giuliani, G.; Abbaspour, K.; Cau, P.; Rodila, D.;
2012 / IEEE
By: Ranchin, T.; Blanc, P.; Wald, L.; Gschwind, B.; Beloin-Saint-Pierre, D.; Blanc, I.; Hischier, R.; Grassin, C.; Gilles, M.; Menard, L.; Smolders, S.; Gianfranceschi, S.;
By: Ranchin, T.; Blanc, P.; Wald, L.; Gschwind, B.; Beloin-Saint-Pierre, D.; Blanc, I.; Hischier, R.; Grassin, C.; Gilles, M.; Menard, L.; Smolders, S.; Gianfranceschi, S.;
2012 / IEEE
By: Fugazza, C.; Perego, A.; Schade, S.; Kanellopoulos, I.; Smits, P.; Lutz, M.; Vaccari, L.;
By: Fugazza, C.; Perego, A.; Schade, S.; Kanellopoulos, I.; Smits, P.; Lutz, M.; Vaccari, L.;
2012 / IEEE
By: O'Hara, K.; Shadbolt, N.; Schraefel, M.C.; Hall, W.; Glaser, H.; Gibbins, N.; Berners-Lee, T.;
By: O'Hara, K.; Shadbolt, N.; Schraefel, M.C.; Hall, W.; Glaser, H.; Gibbins, N.; Berners-Lee, T.;
2009 / IEEE / 978-1-4577-0236-5
By: Demente, G.; Bruno, R.; Cabrai, A.; Silva, L.; Barros, E.; Prado, B.;
By: Demente, G.; Bruno, R.; Cabrai, A.; Silva, L.; Barros, E.; Prado, B.;
2010 / IEEE / 978-1-4244-9168-1
By: Cirilo, C.E.; Menezes, A.L.; do Prado, A.F.; de Souza, W.L.; de Moraes, J.L.C.;
By: Cirilo, C.E.; Menezes, A.L.; do Prado, A.F.; de Souza, W.L.; de Moraes, J.L.C.;
2011 / IEEE / 978-1-86135-373-3
By: Maciejewski, M.; Argos, C.G.; de Dios, O.G.; Masip-Bruin, X.; Yannuzzi, M.; Altmann, J.;
By: Maciejewski, M.; Argos, C.G.; de Dios, O.G.; Masip-Bruin, X.; Yannuzzi, M.; Altmann, J.;
2011 / IEEE / 978-1-61284-709-2
By: Picariello, A.; Moscato, V.; Mazzeo, A.; Fasolino, A.R.; Amato, F.; Tramontana, P.; Romano, S.;
By: Picariello, A.; Moscato, V.; Mazzeo, A.; Fasolino, A.R.; Amato, F.; Tramontana, P.; Romano, S.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-0088-0
By: Toma, D.M.; del Rio, J.; Edgington, D.; Headley, K.L.; Manuel, A.; Broring, A.H.; O'reilly, T.C.;
By: Toma, D.M.; del Rio, J.; Edgington, D.; Headley, K.L.; Manuel, A.; Broring, A.H.; O'reilly, T.C.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-0088-0
By: Edgington, D.; Broring, A.; Manuel, A.; Headley, K.; del Rio, J.; O'Reilly, T.; Toma, D.M.;
By: Edgington, D.; Broring, A.; Manuel, A.; Headley, K.; del Rio, J.; O'Reilly, T.; Toma, D.M.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-1174-9
By: Mozzaquatro, B.A.; Fiorin, A.; Freitas, L.O.; Librelotto, G.R.; Pasetto, L.; Pereira, R.T.; de Azevedo, R.P.; Martini, R.G.;
By: Mozzaquatro, B.A.; Fiorin, A.; Freitas, L.O.; Librelotto, G.R.; Pasetto, L.; Pereira, R.T.; de Azevedo, R.P.; Martini, R.G.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-0842-8
By: Alexander, J.; Deichl, K.; Wei Tan; Madduri, R.; Jia Zhang; Foster, I.;
By: Alexander, J.; Deichl, K.; Wei Tan; Madduri, R.; Jia Zhang; Foster, I.;