Your Search Results
Use materials about this topic in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content - such as case studies and journal articles - for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!

Topic: Ontologies
Results
2011 / IEEE
By: Meer, H.; Paler, A.; Fischer, A.; Lefevre, L.; Rubio-Loyola, J.; Serrat, J.; Astorga, A.; Galis, A.;
By: Meer, H.; Paler, A.; Fischer, A.; Lefevre, L.; Rubio-Loyola, J.; Serrat, J.; Astorga, A.; Galis, A.;
2012 / IEEE
By: Lallee, S.; Pattacini, U.; Warneken, F.; Pipe, T.; Warnier, M.; Alami, R.; Guitton, J.; Metta, G.; Dominey, P.F.; Sisbot, E.A.; Steinwender, J.; Hamann, K.; Skachek, S.; Natale, L.; Melhuish, C.; Lenz, A.; Lemaignan, S.;
By: Lallee, S.; Pattacini, U.; Warneken, F.; Pipe, T.; Warnier, M.; Alami, R.; Guitton, J.; Metta, G.; Dominey, P.F.; Sisbot, E.A.; Steinwender, J.; Hamann, K.; Skachek, S.; Natale, L.; Melhuish, C.; Lenz, A.; Lemaignan, S.;
2012 / IEEE
By: Trigo, J.D.; Garcia, J.; Schreier, G.; Hayn, D.; Martinez, I.; Escayola, J.; Kollmann, A.; Alesanco, A.;
By: Trigo, J.D.; Garcia, J.; Schreier, G.; Hayn, D.; Martinez, I.; Escayola, J.; Kollmann, A.; Alesanco, A.;
2012 / IEEE
By: De Turck, F.; Dhoedt, B.; Ongenae, F.; Dauwe, S.; Demeester, P.; Van Laere, O.; Strobbe, M.; Luyten, K.;
By: De Turck, F.; Dhoedt, B.; Ongenae, F.; Dauwe, S.; Demeester, P.; Van Laere, O.; Strobbe, M.; Luyten, K.;
2012 / IEEE
By: Bock, C.; Fenves, S.J.; Lee, J.H.; Sriram, R.D.; Fiorentini, X.; Rachuri, S.; Hyo-Won Suh;
By: Bock, C.; Fenves, S.J.; Lee, J.H.; Sriram, R.D.; Fiorentini, X.; Rachuri, S.; Hyo-Won Suh;
2012 / IEEE
By: O'Hara, K.; Shadbolt, N.; Schraefel, M.C.; Hall, W.; Glaser, H.; Gibbins, N.; Berners-Lee, T.;
By: O'Hara, K.; Shadbolt, N.; Schraefel, M.C.; Hall, W.; Glaser, H.; Gibbins, N.; Berners-Lee, T.;
2010 / IEEE / 978-1-4244-9168-1
By: Cortes-Robles, G.; Gomez-Berbis, J.M.; Alor-Hernandez, G.; Mayer, M.A.; Rodriguez-Gonzalez, A.; Lemos, A.L.;
By: Cortes-Robles, G.; Gomez-Berbis, J.M.; Alor-Hernandez, G.; Mayer, M.A.; Rodriguez-Gonzalez, A.; Lemos, A.L.;
2010 / IEEE / 978-1-4244-9168-1
By: Ongenae, F.; Decruyenaere, J.; Benoit, D.; De Turck, F.; Dhaene, T.;
By: Ongenae, F.; Decruyenaere, J.; Benoit, D.; De Turck, F.; Dhaene, T.;
2011 / IEEE / 978-1-61284-709-2
By: Picariello, A.; Moscato, V.; Mazzeo, A.; Fasolino, A.R.; Amato, F.; Tramontana, P.; Romano, S.;
By: Picariello, A.; Moscato, V.; Mazzeo, A.; Fasolino, A.R.; Amato, F.; Tramontana, P.; Romano, S.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-1190-9
By: Clarysse, P.; Gibaud, B.; Benoit-Cattin, H.; Marion, A.; Forestier, G.; Friboulet, D.; Tabary, J.; Liebgott, H.; Lartizien, C.; Hugonnard, P.; Glatard, T.;
By: Clarysse, P.; Gibaud, B.; Benoit-Cattin, H.; Marion, A.; Forestier, G.; Friboulet, D.; Tabary, J.; Liebgott, H.; Lartizien, C.; Hugonnard, P.; Glatard, T.;