Your Search Results
Use materials about this topic in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content - such as case studies and journal articles - for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!

Topic: Oceanographic Regions
Results
2012 / IEEE
By: Rivas, M.B.; Nogues-Correig, O.; Oliveras, S.; Ribo, S.; Semmling, M.; Cardellach, E.; Fabra, F.; Rius, A.; D'Addio, S.;
By: Rivas, M.B.; Nogues-Correig, O.; Oliveras, S.; Ribo, S.; Semmling, M.; Cardellach, E.; Fabra, F.; Rius, A.; D'Addio, S.;
2012 / IEEE
By: Palo, S.E.; Adler, J.J.; Maslanik, J.A.; Crocker, R.I.; Emery, W.J.; Herzfeld, U.C.;
By: Palo, S.E.; Adler, J.J.; Maslanik, J.A.; Crocker, R.I.; Emery, W.J.; Herzfeld, U.C.;
2012 / IEEE
By: Krabill, W.; Leuschen, C.; Gasiewski, A.J.; Heinrichs, J.F.; Maslanik, J.A.; Sturm, M.; Sonntag, J.; Miller, J.A.; Ivanoff, A.; Markus, T.; Cavalieri, D.J.; Brucker, L.;
By: Krabill, W.; Leuschen, C.; Gasiewski, A.J.; Heinrichs, J.F.; Maslanik, J.A.; Sturm, M.; Sonntag, J.; Miller, J.A.; Ivanoff, A.; Markus, T.; Cavalieri, D.J.; Brucker, L.;
2012 / IEEE
By: Markus, T.; Leuschen, C.; Kurtz, N.; Elder, B.C.; Connor, L.N.; McAdoo, D.C.; Farrell, S.L.; Sonntag, J.G.; Richter-Menge, J.; Panzer, B.;
By: Markus, T.; Leuschen, C.; Kurtz, N.; Elder, B.C.; Connor, L.N.; McAdoo, D.C.; Farrell, S.L.; Sonntag, J.G.; Richter-Menge, J.; Panzer, B.;
2010 / IEEE / 978-1-61284-986-7
By: Shriver, J.F.; Metzger, E.J.; Hurlburt, H.; Richman, J.G.; Smedstad, O.M.; Wallcraft, A.;
By: Shriver, J.F.; Metzger, E.J.; Hurlburt, H.; Richman, J.G.; Smedstad, O.M.; Wallcraft, A.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-0088-0
By: Villagarcia, M.; Llerandi-Garcia, C.; Cardona, L.; Cianca, A.; Santana, R.; Vega-Moreno, D.; Llinas, O.; Rueda, M.J.;
By: Villagarcia, M.; Llerandi-Garcia, C.; Cardona, L.; Cianca, A.; Santana, R.; Vega-Moreno, D.; Llinas, O.; Rueda, M.J.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-0088-0
By: Cianca, A.; Santana, R.; Perez-Marrero; Villagarcia, M.; Cardona, L.; Barrera, C.; Rueda, M.J.; Llinas, O.; Vega-Moreno, D.; Llerandi, C.;
By: Cianca, A.; Santana, R.; Perez-Marrero; Villagarcia, M.; Cardona, L.; Barrera, C.; Rueda, M.J.; Llinas, O.; Vega-Moreno, D.; Llerandi, C.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-0088-0
By: Cano, D.; Barrera, C.; Tel, E.; Garcia, M.J.; Gonzalez-Pola, C.; Rodriguez, C.; Carranza, J.; Lavin, A.; Marcos, E.; Viloria, A.; Somavilla, R.; Merino, A.; Molinero, J.;
By: Cano, D.; Barrera, C.; Tel, E.; Garcia, M.J.; Gonzalez-Pola, C.; Rodriguez, C.; Carranza, J.; Lavin, A.; Marcos, E.; Viloria, A.; Somavilla, R.; Merino, A.; Molinero, J.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-1005-6
By: Picket, W.G.; Xiaofeng Yang; Weizhong Zheng; Xiaofeng Li; Ziwei Li;
By: Picket, W.G.; Xiaofeng Yang; Weizhong Zheng; Xiaofeng Li; Ziwei Li;
2011 / IEEE / 978-1-4577-1005-6
By: Vespe, M.; Perkovic, M.; Greidanus, H.; Posada, M.; Ferraro, G.;
By: Vespe, M.; Perkovic, M.; Greidanus, H.; Posada, M.; Ferraro, G.;
2011 / IEEE / 978-1-4244-9644-0
By: Boeva, A.A.; Tsymbal, V.N.; Yefimov, V.B.; Bychkov, D.M.; Matveyev, O.Y.; Boev, A.G.;
By: Boeva, A.A.; Tsymbal, V.N.; Yefimov, V.B.; Bychkov, D.M.; Matveyev, O.Y.; Boev, A.G.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-1005-6
By: Suwa, K.; Yamaoka, T.; Tsuji, M.; Tsuchida, M.; Kumagae, N.; Tatsumi, K.; Kawamura, K.; Furuhata, M.;
By: Suwa, K.; Yamaoka, T.; Tsuji, M.; Tsuchida, M.; Kumagae, N.; Tatsumi, K.; Kawamura, K.; Furuhata, M.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-1005-6
By: Zhang, H.-M.; Peng, G.; Hankins, W.; Higaki, M.; Bidlof, J.-R.; Frank, H.P.;
By: Zhang, H.-M.; Peng, G.; Hankins, W.; Higaki, M.; Bidlof, J.-R.; Frank, H.P.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-1005-6
By: Kitamura, A.; Yonezawa, C.; Saito, G.; Kato, M.; Kosugi, Y.; Ogawa, S.;
By: Kitamura, A.; Yonezawa, C.; Saito, G.; Kato, M.; Kosugi, Y.; Ogawa, S.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-1005-6
By: Leinonen, J.; Moisseev, D.; von Lerber, A.; Hallikainen, M.T.; Chandrasekar, V.; Tyynela, J.;
By: Leinonen, J.; Moisseev, D.; von Lerber, A.; Hallikainen, M.T.; Chandrasekar, V.; Tyynela, J.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-1425-2
By: Giuliani, G.; Mihon, D.; Bacu, V.; Cau, P.; Ray, N.; Gorgan, D.; Abbaspour, K.; Lehmann, A.;
By: Giuliani, G.; Mihon, D.; Bacu, V.; Cau, P.; Ray, N.; Gorgan, D.; Abbaspour, K.; Lehmann, A.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-2201-1
By: Andricevic, R.; Kisevic, M.; Gray, K.T.; Smailbegovic, A.; Craft, J.D.; Dragicevic, I.; Brajcic, D.; Petrov, V.;
By: Andricevic, R.; Kisevic, M.; Gray, K.T.; Smailbegovic, A.; Craft, J.D.; Dragicevic, I.; Brajcic, D.; Petrov, V.;
2011 / IEEE / 978-0-933957-39-8
By: Dhanak, M.R.; Hanson, H.P.; Rauchenstein, L.T.; VanZwieten, J.H.;
By: Dhanak, M.R.; Hanson, H.P.; Rauchenstein, L.T.; VanZwieten, J.H.;
2011 / IEEE / 978-0-933957-39-8
By: Williams, S.; Goff, J.; Prasetya, G.; Wilson, T.; Chague-Goff, C.; Davies, T.; Kwok Fai Cheung;
By: Williams, S.; Goff, J.; Prasetya, G.; Wilson, T.; Chague-Goff, C.; Davies, T.; Kwok Fai Cheung;
2011 / IEEE / 978-0-933957-39-8
By: Carlson, T.J.; Deng, Z.D.; Jones, M.E.; Myers, J.R.; Mueller, R.P.; Weiland, M.A.; Martinez, J.; Jinshan Xu;
By: Carlson, T.J.; Deng, Z.D.; Jones, M.E.; Myers, J.R.; Mueller, R.P.; Weiland, M.A.; Martinez, J.; Jinshan Xu;
2011 / IEEE / 978-0-933957-39-8
By: Korner, H.-M.; Thiede, C.; Preradovic, O.; Korner, G.; Olenew, E.; Mischnick, D.; Lehr, H.; Gelze, J.; Schmidt, T.; Yakovlev, S.; Kebkal, A.; Bannasch, R.; Huth, H.; Kruger, S.;
By: Korner, H.-M.; Thiede, C.; Preradovic, O.; Korner, G.; Olenew, E.; Mischnick, D.; Lehr, H.; Gelze, J.; Schmidt, T.; Yakovlev, S.; Kebkal, A.; Bannasch, R.; Huth, H.; Kruger, S.;
Application of VHF high resolution radar to evaluating circulation around a seawater intake facility
2011 / IEEE / 978-0-933957-39-8By: Prytz, A.; Heron, M.L.; Steinberg, C.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-2201-1
By: Piera, J.; Torrecilla, E.; Bernhardt, A.; Taylor, B.B.; Bracher, A.;
By: Piera, J.; Torrecilla, E.; Bernhardt, A.; Taylor, B.B.; Bracher, A.;
2011 / IEEE / 978-0-933957-39-8
By: Ericksen, M.; Sevadjian, J.; Tuthill, L.; McManus, M.; Pawlak, G.; Rocheleau, A.;
By: Ericksen, M.; Sevadjian, J.; Tuthill, L.; McManus, M.; Pawlak, G.; Rocheleau, A.;
2011 / IEEE / 978-0-933957-39-8
By: Myers, J.R.; Carlson, T.J.; Martinez, J.J.; Deng, Z.D.; Jinshan Xu; Jones, M.E.; Weiland, M.A.;
By: Myers, J.R.; Carlson, T.J.; Martinez, J.J.; Deng, Z.D.; Jinshan Xu; Jones, M.E.; Weiland, M.A.;
2011 / IEEE / 978-0-933957-39-8
By: Hibbins, R.; Lawrence-Slavas, N.; Meinig, C.; Tagawa, D.; Ingham, B.; Stalin, S.; Graham, D.; Lawson, R.A.;
By: Hibbins, R.; Lawrence-Slavas, N.; Meinig, C.; Tagawa, D.; Ingham, B.; Stalin, S.; Graham, D.; Lawson, R.A.;
2011 / IEEE / 978-0-933957-39-8
By: Lowings, M.; Bornhold, B.D.; Fissel, D.; McLean, S.; Taylor, S.M.;
By: Lowings, M.; Bornhold, B.D.; Fissel, D.; McLean, S.; Taylor, S.M.;
2011 / IEEE / 978-0-933957-39-8
By: Rufu Qin; Changwei Xu; Huiping Xu; Yanwei Zhang; Shangqin Luo; Yang Yu;
By: Rufu Qin; Changwei Xu; Huiping Xu; Yanwei Zhang; Shangqin Luo; Yang Yu;
2011 / IEEE / 978-0-933957-39-8
By: Pascaud, S.; Sherrell, A.; Rothenbeck, M.; Dennett, M.; Packard, G.; Gallo, D.; Purcell, M.;
By: Pascaud, S.; Sherrell, A.; Rothenbeck, M.; Dennett, M.; Packard, G.; Gallo, D.; Purcell, M.;
2011 / IEEE / 978-0-933957-39-8
By: Allard, R.; Campbell, T.; Gravois, U.; Rogers, W.E.; Jensen, T.G.;
By: Allard, R.; Campbell, T.; Gravois, U.; Rogers, W.E.; Jensen, T.G.;
2011 / IEEE / 978-0-933957-39-8
By: Shellito, S.; Vandemark, D.; Hyde, A.; DeGrandpre, M.; Irish, J.; Salisbury, J.;
By: Shellito, S.; Vandemark, D.; Hyde, A.; DeGrandpre, M.; Irish, J.; Salisbury, J.;