Your Search Results
Use materials about this topic in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content - such as case studies and journal articles - for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!

Topic: Nonlinear Response
Results
2011 / IEEE / 978-1-4244-8340-2
By: Matres, J.; Fedeli, J.M.; Ratin, C.; Colonna, J.P.; Oton, C.J.; Marti, J.; Martinez, A.;
By: Matres, J.; Fedeli, J.M.; Ratin, C.; Colonna, J.P.; Oton, C.J.; Marti, J.; Martinez, A.;
2011 / IEEE / 978-1-4244-6051-9
By: Abd-Alhameed, R.; Karkhaneh, H.; Sadeghpour, T.; Dama, Y.A.S.; Elfergani, I.T.E.; Ghorbani, A.;
By: Abd-Alhameed, R.; Karkhaneh, H.; Sadeghpour, T.; Dama, Y.A.S.; Elfergani, I.T.E.; Ghorbani, A.;
1993 / IEEE
By: Read, M.E.; Opie, D.B.; McAlford, N.; Button, T.W.; Schone, H.E.; Kossler, W.J.; Brown, M.J.; Remillard, S.K.;
By: Read, M.E.; Opie, D.B.; McAlford, N.; Button, T.W.; Schone, H.E.; Kossler, W.J.; Brown, M.J.; Remillard, S.K.;
1996 / IEEE / 0-7803-3615-1
By: Jimenez, B.; Alguero, M.; Calzada, M.L.; James, A.; Wolny, W.W.; Pardo, L.;
By: Jimenez, B.; Alguero, M.; Calzada, M.L.; James, A.; Wolny, W.W.; Pardo, L.;
1997 / IEEE
By: Valdmanis, J.; Williamson, S.; Esman, R.D.; Williams, K.J.; Rudd, J.V.; Al-Hemyari, K.;
By: Valdmanis, J.; Williamson, S.; Esman, R.D.; Williams, K.J.; Rudd, J.V.; Al-Hemyari, K.;
1997 / IEEE / 0-7803-3895-2
By: Dohler, G.H.; Seilmaier, A.; Hauenstein, H.; Welker, M.; Knupfer, B.; Streb, D.; Malzer, S.; Kiesel, P.;
By: Dohler, G.H.; Seilmaier, A.; Hauenstein, H.; Welker, M.; Knupfer, B.; Streb, D.; Malzer, S.; Kiesel, P.;
1997 / IEEE / 1-55752-480-7
By: Bollond, P.G.; Barry, L.P.; Dudley, J.M.; Leonhardt, R.; Harvey, J.D.;
By: Bollond, P.G.; Barry, L.P.; Dudley, J.M.; Leonhardt, R.; Harvey, J.D.;
1999 / IEEE / 0-7803-5674-8
By: Hart, R.T.; Thompson, H.W.; Thomas, K.A.; Burgoyne, C.F.; Downs, J.C.;
By: Hart, R.T.; Thompson, H.W.; Thomas, K.A.; Burgoyne, C.F.; Downs, J.C.;
1999 / IEEE / 0-7803-5634-9
By: Merriam, A.J.; Sharpe, S.J.; Harris, S.E.; Yin, G.Y.; Manuszak, D.; Xia, H.;
By: Merriam, A.J.; Sharpe, S.J.; Harris, S.E.; Yin, G.Y.; Manuszak, D.; Xia, H.;
1999 / IEEE / 1-55752-595-1
By: Merriam, A.J.; Harris, S.E.; Yin, G.Y.; Manuszak, D.; Xia, H.; Sharpe, S.;
By: Merriam, A.J.; Harris, S.E.; Yin, G.Y.; Manuszak, D.; Xia, H.; Sharpe, S.;
1999 / IEEE / 1-55752-595-1
By: Komai, Y.; Kasai, H.; Matsuda, H.; Yamada, S.; Okada, S.; Nakanishi, H.; Rangel-Rojo, R.; Oikawa, H.;
By: Komai, Y.; Kasai, H.; Matsuda, H.; Yamada, S.; Okada, S.; Nakanishi, H.; Rangel-Rojo, R.; Oikawa, H.;
2000 / IEEE / 0-7803-5947-X
By: Ji, W.; Hua, C.H.A.; Wee, A.T.S.; Jie, Y.X.; Lam, Y.L.; Kam, C.H.; Li, H.P.;
By: Ji, W.; Hua, C.H.A.; Wee, A.T.S.; Jie, Y.X.; Lam, Y.L.; Kam, C.H.; Li, H.P.;
2000 / IEEE / 1-55752-608-7
By: Lenihan, A.S.; Stievater, T.H.; Park, D.; Katzer, D.S.; Gammon, D.; Steel, D.G.;
By: Lenihan, A.S.; Stievater, T.H.; Park, D.; Katzer, D.S.; Gammon, D.; Steel, D.G.;
2001 / IEEE / 1-55752-663-X
By: Schuhmacher, D.; Martemyanov, M.G.; Aktsipetrov, O.A.; Fedyanin, A.A.; Marowsky, G.; Dolgova, T.V.; Mattei, G.; Yakovlev, V.A.;
By: Schuhmacher, D.; Martemyanov, M.G.; Aktsipetrov, O.A.; Fedyanin, A.A.; Marowsky, G.; Dolgova, T.V.; Mattei, G.; Yakovlev, V.A.;
2001 / IEEE / 1-55752-663-X
By: Siegner, U.; Keller, U.; Morier-Genoud, F.; Arlt, S.; Baumann, B.; Kunde, J.;
By: Siegner, U.; Keller, U.; Morier-Genoud, F.; Arlt, S.; Baumann, B.; Kunde, J.;
2002 / IEEE / 1-55752-706-7
By: Shirk, J.S.; Carlo, S.R.; Flom, S.R.; Baer, E.; Hiltner, A.; Pong, R.G.S.;
By: Shirk, J.S.; Carlo, S.R.; Flom, S.R.; Baer, E.; Hiltner, A.; Pong, R.G.S.;
2002 / IEEE / 0-7803-7500-9
By: Twichell, J.C.; Williamson, R.C.; Donnelly, J.P.; Missaggia, L.J.; Molvar, K.M.; Mahoney, L.J.; Juodawlkis, P.W.; Groves, S.H.; Napoleone, A.; Oakley, D.C.; Hargreaves, J.J.; O'Donnell, F.J.;
By: Twichell, J.C.; Williamson, R.C.; Donnelly, J.P.; Missaggia, L.J.; Molvar, K.M.; Mahoney, L.J.; Juodawlkis, P.W.; Groves, S.H.; Napoleone, A.; Oakley, D.C.; Hargreaves, J.J.; O'Donnell, F.J.;
2002 / IEEE / 0-7803-7414-2
By: Pirogov, Yu.; Ovtchinnikova, G.; Bystrova, N.; Bystrov, V.; Dekhtyar, Yu.;
By: Pirogov, Yu.; Ovtchinnikova, G.; Bystrova, N.; Bystrov, V.; Dekhtyar, Yu.;
A computational model of the Nucleus accumbens: network properties and their functional implications
2003 / IEEE / 0-7803-7579-3By: Wolf, J.A.; Finkel, L.H.;
2003 / IEEE
By: Zaitsev, A.G.; Geerk, J.; Smithey, R.; Ratzel, F.; Tao, B.W.; Linker, G.; Schneider, R.;
By: Zaitsev, A.G.; Geerk, J.; Smithey, R.; Ratzel, F.; Tao, B.W.; Linker, G.; Schneider, R.;
2003 / IEEE
By: Sang Young Lee; Booth, J.C.; Oh, B.; Moon, S.H.; Leong, K.T.; Lee, H.N.; Lim, J.; Lee, J.H.;
By: Sang Young Lee; Booth, J.C.; Oh, B.; Moon, S.H.; Leong, K.T.; Lee, H.N.; Lim, J.; Lee, J.H.;