Your Search Results
Use materials about this topic in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content - such as case studies and journal articles - for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!

Topic: Multiphoton Ionization
Results
2012 / IEEE
By: Zerega, Y.; Taylor, S.; Ducros, G.; Pontillon, Y.; Andre, J.; Janulyte, A.; Bignan, G.; Lyoussi, A.; Brkic, B.; Carette, M.; Parrat, D.; Reynard-Carette, C.;
By: Zerega, Y.; Taylor, S.; Ducros, G.; Pontillon, Y.; Andre, J.; Janulyte, A.; Bignan, G.; Lyoussi, A.; Brkic, B.; Carette, M.; Parrat, D.; Reynard-Carette, C.;
1996 / IEEE
By: Rockwell, B.A.; Noojin, G.D.; Thomas, R.J.; Hammer, D.X.; Roach, W.P.; Kennedy, P.K.;
By: Rockwell, B.A.; Noojin, G.D.; Thomas, R.J.; Hammer, D.X.; Roach, W.P.; Kennedy, P.K.;
1996 / IEEE / 0-7803-3160-5
By: Hagelstein, P.L.; Hodge, W.; Muendel, M.H.; Fleury, M.; Chatterji, S.K.;
By: Hagelstein, P.L.; Hodge, W.; Muendel, M.H.; Fleury, M.; Chatterji, S.K.;
1996 / IEEE
By: Mammini, B.M.; Perry, M.D.; Feit, M.D.; Glinsky, M.E.; Small, W., IV; Rubenchik, A.M.; Da Silva, L.B.; Oraevsky, A.A.; Stuart, B.C.;
By: Mammini, B.M.; Perry, M.D.; Feit, M.D.; Glinsky, M.E.; Small, W., IV; Rubenchik, A.M.; Da Silva, L.B.; Oraevsky, A.A.; Stuart, B.C.;
1998 / IEEE / 1-55752-339-0
By: Ripoche, J.-F.; Mysyrowicz, A.; Prade, B.S.; Franco, M.A.; Lange, R.;
By: Ripoche, J.-F.; Mysyrowicz, A.; Prade, B.S.; Franco, M.A.; Lange, R.;
2000 / IEEE / 1-55752-634-6
By: Catherinot, A.; Laporte, P.; Audouard, E.; Baubeau, E.; Jonin, C.; Garrelie, F.; Champeaux, C.;
By: Catherinot, A.; Laporte, P.; Audouard, E.; Baubeau, E.; Jonin, C.; Garrelie, F.; Champeaux, C.;
2001 / IEEE / 1-55752-662-1
By: Coric, D.; Zhang, J.; Ng, S.; Chen, K.P.; Corkum, P.; Rayner, D.; Herman, P.R.; Naumov, A.; Mehendale, M.;
By: Coric, D.; Zhang, J.; Ng, S.; Chen, K.P.; Corkum, P.; Rayner, D.; Herman, P.R.; Naumov, A.; Mehendale, M.;
2002 / IEEE / 0-7803-7407-X
By: Pepin, H.; Johnston, T.W.; La Fontaine, B.; Chien, C.Y.; Comtois, D.; Gallimberti, I.; Lalande, P.; Bondiou-Clergerie, A.; Mercure, H.P.; Martin, F.; Couture, P.; Potvin, C.; Vidal, F.; Rizk, F.A.M.; Kieffer, J.-C.;
By: Pepin, H.; Johnston, T.W.; La Fontaine, B.; Chien, C.Y.; Comtois, D.; Gallimberti, I.; Lalande, P.; Bondiou-Clergerie, A.; Mercure, H.P.; Martin, F.; Couture, P.; Potvin, C.; Vidal, F.; Rizk, F.A.M.; Kieffer, J.-C.;
2004 / IEEE / 1-55752-777-6
By: Rudolph, W.; Liu, J.; Mero, M.; Jasapara, J.; Sabbah, A.J.; McIver, J.K.; Afsing, P.M.; Zeller, J.;
By: Rudolph, W.; Liu, J.; Mero, M.; Jasapara, J.; Sabbah, A.J.; McIver, J.K.; Afsing, P.M.; Zeller, J.;
2007 / IEEE / 978-1-55752-834-6
By: von der Linde, D.; El-Khamhawy, A.; Zhou, P.; Sokolowski-Tinten, K.; Temnov, V.V.;
By: von der Linde, D.; El-Khamhawy, A.; Zhou, P.; Sokolowski-Tinten, K.; Temnov, V.V.;
2008 / IEEE / 978-1-55752-859-9
By: Pfeifer, T.; Abel, M.J.; Leone, S.R.; Neumark, D.M.; Bell, J.; Nagel, P.M.; Jullien, A.;
By: Pfeifer, T.; Abel, M.J.; Leone, S.R.; Neumark, D.M.; Bell, J.; Nagel, P.M.; Jullien, A.;
2008 / IEEE / 978-1-55752-859-9
By: Faccio, D.; Averchi, A.; Tzortzakis, S.; Papazoglou, D.; Couairon, A.; Di Trapani, P.; Lotti, A.;
By: Faccio, D.; Averchi, A.; Tzortzakis, S.; Papazoglou, D.; Couairon, A.; Di Trapani, P.; Lotti, A.;
2006 / IEEE / 978-1-55752-813-1
By: Zaitsu, S.; Imasaka, T.; Uchimura, T.; Kira, F.; Yamaguchi, S.; Miyoshi, Y.;
By: Zaitsu, S.; Imasaka, T.; Uchimura, T.; Kira, F.; Yamaguchi, S.; Miyoshi, Y.;
2006 / IEEE / 978-1-55752-813-1
By: Buersing, H.; Couairon, A.; Mysyrowicz, A.; Franco, M.; Eberle, B.; Vasseur, O.; Prade, B.; Seiffer, D.; Krenz, M.;
By: Buersing, H.; Couairon, A.; Mysyrowicz, A.; Franco, M.; Eberle, B.; Vasseur, O.; Prade, B.; Seiffer, D.; Krenz, M.;
2009 / IEEE / 978-1-55752-869-8
By: Ximao Feng; Gilbertson, S.; Zenghu Chang; He Wang; Chini, M.; Khan, S.;
By: Ximao Feng; Gilbertson, S.; Zenghu Chang; He Wang; Chini, M.; Khan, S.;
2009 / IEEE / 978-1-55752-869-8
By: Grojo, D.; Gertsvolf, M.; Corkum, P.B.; Rayner, D.M.; Ramunno, L.; Lei, S.;
By: Grojo, D.; Gertsvolf, M.; Corkum, P.B.; Rayner, D.M.; Ramunno, L.; Lei, S.;
2010 / IEEE / 978-1-4244-6918-5
By: Marcano, A.; Melikechi, N.; Kecman, V.; Pokrajac, D.; Markushin, Y.; Reljin, N.; Vance, T.; Lazarevic, A.; McDaniel, S.;
By: Marcano, A.; Melikechi, N.; Kecman, V.; Pokrajac, D.; Markushin, Y.; Reljin, N.; Vance, T.; Lazarevic, A.; McDaniel, S.;
2012 / IEEE
By: Poluektov, N.P.; Fedorov, M.V.; Volkova, E.A.; Kharin, V.Y.; Tikhonova, O.V.; Popov, A.M.;
By: Poluektov, N.P.; Fedorov, M.V.; Volkova, E.A.; Kharin, V.Y.; Tikhonova, O.V.; Popov, A.M.;
2011 / IEEE / 978-1-55752-911-4
By: Rayner, D.M.; Golin, S.; Kirkwood, S.E.; Corkum, P.B.; Chalus, O.; Klug, D.D.; Biegert, J.; Thai, A.;
By: Rayner, D.M.; Golin, S.; Kirkwood, S.E.; Corkum, P.B.; Chalus, O.; Klug, D.D.; Biegert, J.; Thai, A.;
2011 / IEEE / 978-1-55752-911-4
By: Berrah, N.; Fang, L.; Tarantelli, F.; Ehara, M.; Tashiro, M.; Piancastelli, M.; Wada, S.; Bostedt, C.; Bozek, J.D.; Prince, K.C.; Richter, R.; Larsson, M.; Thomas, R.; Schmidt, H.; Salen, P.; van der Meulen, P.; Feifel, R.; Ueda, K.; Kukk, E.; Juranic, P.; Murphy, B.; Osipov, T.;
By: Berrah, N.; Fang, L.; Tarantelli, F.; Ehara, M.; Tashiro, M.; Piancastelli, M.; Wada, S.; Bostedt, C.; Bozek, J.D.; Prince, K.C.; Richter, R.; Larsson, M.; Thomas, R.; Schmidt, H.; Salen, P.; van der Meulen, P.; Feifel, R.; Ueda, K.; Kukk, E.; Juranic, P.; Murphy, B.; Osipov, T.;
2009 / Springer Science+Business Media / 1618-2642
By: Christoph Logé; Ulrich Boesl; Alexander Bornschlegl;
By: Christoph Logé; Ulrich Boesl; Alexander Bornschlegl;
2011 / Springer Science+Business Media / 1432-881X
By: Alicia Palacios; Fernando Martín; Alberto González-Castrillo; Jhon Pérez-Torres;
By: Alicia Palacios; Fernando Martín; Alberto González-Castrillo; Jhon Pérez-Torres;