Your Search Results
Use materials about this topic in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content - such as case studies and journal articles - for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!

Topic: Mos Memory Circuits
Results
2012 / IEEE
By: Kihwan Choi; Jongwook Jeon; Wookghee Hahn; Myounggon Kang; Il Han Park; Sunghee Yun; Chilhee Chung; Young-Kwan Park; Keun-Ho Lee; Gi-Young Yang;
By: Kihwan Choi; Jongwook Jeon; Wookghee Hahn; Myounggon Kang; Il Han Park; Sunghee Yun; Chilhee Chung; Young-Kwan Park; Keun-Ho Lee; Gi-Young Yang;
2011 / IEEE / 978-1-61284-857-0
By: Sangjin Lee; Kyoungrok Cho; Kavehei, O.; Eshraghian, K.; Abbott, D.; Al-Sarawi, S.; Sung-Jin Kim;
By: Sangjin Lee; Kyoungrok Cho; Kavehei, O.; Eshraghian, K.; Abbott, D.; Al-Sarawi, S.; Sung-Jin Kim;
2011 / IEEE / 978-1-61284-418-3
By: Yamaguchi, K.; Shigeta, Y.; Shiraishi, K.; Kamiya, K.; Otake, A.;
By: Yamaguchi, K.; Shigeta, Y.; Shiraishi, K.; Kamiya, K.; Otake, A.;
2012 / IEEE / 978-1-4577-2084-0
By: Chen, I.C.; Colombeau, B.; Gossmann, H.-J.; Lu, S.; Guo, B.N.; Cheng, O.; Cheng, Y.C.; Wu, J.Y.; Chan, M.; Huang, C.T.; Hsu, B.C.; Wang, H.Y.; Lu, T.Y.; Fu, C.; Huang, Y.S.; Tsai, C.H.; Chen, W.J.; Lin, G.P.; Li, C.I.; Yang, C.L.;
By: Chen, I.C.; Colombeau, B.; Gossmann, H.-J.; Lu, S.; Guo, B.N.; Cheng, O.; Cheng, Y.C.; Wu, J.Y.; Chan, M.; Huang, C.T.; Hsu, B.C.; Wang, H.Y.; Lu, T.Y.; Fu, C.; Huang, Y.S.; Tsai, C.H.; Chen, W.J.; Lin, G.P.; Li, C.I.; Yang, C.L.;
2012 / IEEE
By: Qin-Tian Zou; Huang, R.; Yin-Yin Lin; Ling-Ming Yang; Ya-Li Song; Yan-Liang Wang; Jin-Gang Wu;
By: Qin-Tian Zou; Huang, R.; Yin-Yin Lin; Ling-Ming Yang; Ya-Li Song; Yan-Liang Wang; Jin-Gang Wu;
1994 / IEEE / 0-7803-2111-1
By: Ahn, S.T.; Kim, J.D.; Hong, C.G.; Ko, J.H.; Ahn, S.J.; Park, T.; Lee, M.Y.;
By: Ahn, S.T.; Kim, J.D.; Hong, C.G.; Ko, J.H.; Ahn, S.J.; Park, T.; Lee, M.Y.;
1994 / IEEE / 0-7803-2111-1
By: Hwang, C.G.; Ahn, S.J.; Ahn, D.H.; Lee, M.Y.; Griffin, P.B.; Ahn, S.T.; Lee, W.S.; Hwang, M.W.;
By: Hwang, C.G.; Ahn, S.J.; Ahn, D.H.; Lee, M.Y.; Griffin, P.B.; Ahn, S.T.; Lee, W.S.; Hwang, M.W.;
1994 / IEEE / 0-7803-2111-1
By: Mori, H.; Shibahara, K.; Koyama, K.; Hamada, T.; Watanabe, H.; Oikawa, R.; Ohnishi, S.; Itoh, K.; Yamashita, H.; Kojima, Y.; Nakajima, K.; Kamiyama, S.;
By: Mori, H.; Shibahara, K.; Koyama, K.; Hamada, T.; Watanabe, H.; Oikawa, R.; Ohnishi, S.; Itoh, K.; Yamashita, H.; Kojima, Y.; Nakajima, K.; Kamiyama, S.;
1994 / IEEE / 0-7803-2111-1
By: Shirota, R.; Hemink, G.J.; Watanabe, H.; Shuto, S.; Watanabe, S.; Maruyama, T.; Satoh, S.; Aritome, S.; Masuoka, F.;
By: Shirota, R.; Hemink, G.J.; Watanabe, H.; Shuto, S.; Watanabe, S.; Maruyama, T.; Satoh, S.; Aritome, S.; Masuoka, F.;
1996 / IEEE
By: Mori, S.; Sakagami, E.; Arai, N.; Yoshikawa, K.; Kamiya, E.; Tsunoda, H.; Meguro, H.; Sato, M.; Araki, Y.Y.;
By: Mori, S.; Sakagami, E.; Arai, N.; Yoshikawa, K.; Kamiya, E.; Tsunoda, H.; Meguro, H.; Sato, M.; Araki, Y.Y.;
1996 / IEEE / 0-7803-2753-5
By: Gladstone, S.M., IV; Runnion, E.F.; Mitros, J.; Lie, L.; Dumin, D.J.; Scott, R.S.;
By: Gladstone, S.M., IV; Runnion, E.F.; Mitros, J.; Lie, L.; Dumin, D.J.; Scott, R.S.;
1995 / IEEE / 0-7803-2700-4
By: Shengwen Luan; Hsu, J.; Jian Chen; Jih Lien; Yuan Tang; Longcor, S.; Chi Chang; Haddad, S.; Liu, D.;
By: Shengwen Luan; Hsu, J.; Jian Chen; Jih Lien; Yuan Tang; Longcor, S.; Chi Chang; Haddad, S.; Liu, D.;
A 0.54 /spl mu/m/sup 2/ self-aligned, HSG floating gate cell (SAHF cell) for 256 Mbit flash memories
1995 / IEEE / 0-7803-2700-4By: Shirai, H.; Okazawa, T.; Ono, H.; Watanabe, H.; Honma, I.; Kubota, T.;
1995 / IEEE / 0-7803-2700-4
By: Hanafi, H.I.; Matsushita, K.; Garg, N.; Thomas, A.; Kocon, W.; Burns, S.; Tiwari, S.;
By: Hanafi, H.I.; Matsushita, K.; Garg, N.; Thomas, A.; Kocon, W.; Burns, S.; Tiwari, S.;
1995 / IEEE / 0-7803-2700-4
By: Nakasugi, T.; Shibata, T.; Takashima, D.; Hamamoto, T.; Niiyama, H.; Shino, T.; Ishibashi, Y.; Aoki, H.; Habu, M.; Noauchi, M.; Ozaki, T.; Sugihara, K.; Yamaguchi, H.; Sato, S.; Magoshi, T.; Hattori, K.; Nishimura, E.; Kato, Y.;
By: Nakasugi, T.; Shibata, T.; Takashima, D.; Hamamoto, T.; Niiyama, H.; Shino, T.; Ishibashi, Y.; Aoki, H.; Habu, M.; Noauchi, M.; Ozaki, T.; Sugihara, K.; Yamaguchi, H.; Sato, S.; Magoshi, T.; Hattori, K.; Nishimura, E.; Kato, Y.;
1995 / IEEE / 0-7803-2700-4
By: Fukano, T.; Nara, Y.; Asano, K.; Horie, H.; Nakamura, S.; Sasaki, N.;
By: Fukano, T.; Nara, Y.; Asano, K.; Horie, H.; Nakamura, S.; Sasaki, N.;
1996 / IEEE / 0-7803-3339-X
By: Tsukude, M.; Morishita, F.; Tomishima, S.; Arimoto, K.; Yamagata, T.;
By: Tsukude, M.; Morishita, F.; Tomishima, S.; Arimoto, K.; Yamagata, T.;
1996 / IEEE / 0-7803-3342-X
By: Jong-Woo Park; Ki-Nam Kim; Jae-Kwan Park; Seung-Kuk Lee; Sang-Hoon Lee; Dong-Uk Choi; Hyoung-Sub Kim;
By: Jong-Woo Park; Ki-Nam Kim; Jae-Kwan Park; Seung-Kuk Lee; Sang-Hoon Lee; Dong-Uk Choi; Hyoung-Sub Kim;
1995 / IEEE / 0-7803-2031-X
By: Chen, T.; Tahui Wang; Chimoon Huang; Shone, F.C.; Chang, A.; Peng, N.C.;
By: Chen, T.; Tahui Wang; Chimoon Huang; Shone, F.C.; Chang, A.; Peng, N.C.;
1995 / IEEE / 0-7803-2065-4
By: Mitsuhashi, J.; Katsumata, M.; Koyama, H.; Mashiko, Y.; Kobayashi, K.;
By: Mitsuhashi, J.; Katsumata, M.; Koyama, H.; Mashiko, Y.; Kobayashi, K.;
1995 / IEEE / 0-7803-2065-4
By: Himeno, T.; Miyamoto, J.; Itoh, Y.; Kanda, K.; Masuda, K.; Oshikiri, M.; Sakui, K.; Hazama, H.; Matsukawa, N.;
By: Himeno, T.; Miyamoto, J.; Itoh, Y.; Kanda, K.; Masuda, K.; Oshikiri, M.; Sakui, K.; Hazama, H.; Matsukawa, N.;
1995 / IEEE / 0-7800-2599-0
By: Takashima, D.; Inaba, T.; Ohuchi, K.; Watanabe, S.; Ozaki, T.; Oowaki, Y.;
By: Takashima, D.; Inaba, T.; Ohuchi, K.; Watanabe, S.; Ozaki, T.; Oowaki, Y.;
1995 / IEEE / 0-7803-2773-X
By: Jiann Liu; Richardson, W.F.; Coleman, D.J., Jr.; Teng, C.W.; Yin Hu; Aur, S.; Chi-Chien Ho;
By: Jiann Liu; Richardson, W.F.; Coleman, D.J., Jr.; Teng, C.W.; Yin Hu; Aur, S.; Chi-Chien Ho;
1996 / IEEE / 0-7803-3315-2
By: Mandelman, J.A.; Hanafi, H.I.; Gautier, J.; Kalter, H.L.; Dennard, R.H.; DeBrosse, J.K.; Barth, J.E.;
By: Mandelman, J.A.; Hanafi, H.I.; Gautier, J.; Kalter, H.L.; Dennard, R.H.; DeBrosse, J.K.; Barth, J.E.;
1996 / IEEE / 0-7803-3393-4
By: Takada, H.; Ohnakado, T.; Abe, H.; Satoh, S.; Sugahara, K.; Hayashi, K.;
By: Takada, H.; Ohnakado, T.; Abe, H.; Satoh, S.; Sugahara, K.; Hayashi, K.;
1996 / IEEE / 0-7803-3393-4
By: Yamaguchi, H.; Nakajima, K.; Iwao, S.; Saino, K.; Mori, H.; Tatsumi, T.; Hada, H.; Kasai, N.; Koga, H.; Koyama, K.; Takemura, K.; Kato, Y.; Ando, K.; Hashimoto, T.; Nishizawa, A.; Yoshida, K.; Hirasawa, S.; Tokunaga, K.; Yamada, Y.;
By: Yamaguchi, H.; Nakajima, K.; Iwao, S.; Saino, K.; Mori, H.; Tatsumi, T.; Hada, H.; Kasai, N.; Koga, H.; Koyama, K.; Takemura, K.; Kato, Y.; Ando, K.; Hashimoto, T.; Nishizawa, A.; Yoshida, K.; Hirasawa, S.; Tokunaga, K.; Yamada, Y.;
1996 / IEEE / 0-7803-3393-4
By: Lee, J.G.; Park, J.W.; Kim, D.H.; Kim, J.S.; Lee, J.Y.; Shin, Y.C.; Kim, K.N.; Lee, K.H.;
By: Lee, J.G.; Park, J.W.; Kim, D.H.; Kim, J.S.; Lee, J.Y.; Shin, Y.C.; Kim, K.N.; Lee, K.H.;
1997 / IEEE / 0-7803-3737-9
By: Stine, B.E.; Kibarian, J.K.; Ciplickas, D.; Chung, J.E.; Boning, D.S.;
By: Stine, B.E.; Kibarian, J.K.; Ciplickas, D.; Chung, J.E.; Boning, D.S.;
1997 / IEEE / 0-7803-4100-7
By: Maeguchi, K.; Yamazaki, K.; Sawada, S.; Momose, H.; Yoshida, T.; Matsuo, K.; Tomioka, K.; Takato, H.; Ishiuchi, H.;
By: Maeguchi, K.; Yamazaki, K.; Sawada, S.; Momose, H.; Yoshida, T.; Matsuo, K.; Tomioka, K.; Takato, H.; Ishiuchi, H.;
1997 / IEEE / 0-7803-4100-7
By: Morimoto, R.; Honda, H.; Maki, Y.; Miyoshi, H.; Sato, H.; Tsutsumi, K.; Arita, Y.; Wada, T.; Nagaoka, H.;
By: Morimoto, R.; Honda, H.; Maki, Y.; Miyoshi, H.; Sato, H.; Tsutsumi, K.; Arita, Y.; Wada, T.; Nagaoka, H.;
1997 / IEEE / 0-7803-4100-7
By: Murai, F.; Mine, T.; Sano, T.; Yano, K.; Ishii, T.; Seki, K.; Kure, T.;
By: Murai, F.; Mine, T.; Sano, T.; Yano, K.; Ishii, T.; Seki, K.; Kure, T.;
1997 / IEEE / 0-7803-4100-7
By: Shapiro, F.; Hollstein, R.; Arbaugh, L.; Swenson, M.S.; Drowley, C.I.; Domer, S.; Lee, P.P.K.; Lee, T.-H.; Guidash, R.M.; Sackett, D.H.;
By: Shapiro, F.; Hollstein, R.; Arbaugh, L.; Swenson, M.S.; Drowley, C.I.; Domer, S.; Lee, P.P.K.; Lee, T.-H.; Guidash, R.M.; Sackett, D.H.;
1998 / IEEE
By: Miyoshi, H.; Eimori, T.; Inuishi, M.; Komori, S.; Inoue, Y.; Arimoto, K.; Sakashita, N.; Nishimura, T.; Shimano, H.; Shimomura, K.; Okuda, F.; Yamaguchi, Y.; Iwamatsu, T.; Morishita, F.; Oashi, T.;
By: Miyoshi, H.; Eimori, T.; Inuishi, M.; Komori, S.; Inoue, Y.; Arimoto, K.; Sakashita, N.; Nishimura, T.; Shimano, H.; Shimomura, K.; Okuda, F.; Yamaguchi, Y.; Iwamatsu, T.; Morishita, F.; Oashi, T.;
1998 / IEEE / 0-7803-4344-1
By: Ohkuma, S.; Nagai, R.; Nanri, S.; Nakamura, M.; Hasegawa, M.; Nakagome, Y.; Horiguchi, M.; Kajigaya, K.; Miyaoka, S.; Kawase, Y.; Tadaki, Y.; Asano, S.; Sekiguchi, T.; Yamada, S.; Yoshida, M.; Kawakita, K.; Akiba, T.; Miyatake, S.; Endoh, H.;
By: Ohkuma, S.; Nagai, R.; Nanri, S.; Nakamura, M.; Hasegawa, M.; Nakagome, Y.; Horiguchi, M.; Kajigaya, K.; Miyaoka, S.; Kawase, Y.; Tadaki, Y.; Asano, S.; Sekiguchi, T.; Yamada, S.; Yoshida, M.; Kawakita, K.; Akiba, T.; Miyatake, S.; Endoh, H.;
1998 / IEEE / 0-7803-4348-4
By: Ajika, N.; Nakashima, M.; Kanno, H.; Ujiie, K.; Manabe, Y.; Nozoe, A.; Kubota, K.; Okuyama, K.; Karashima, T.;
By: Ajika, N.; Nakashima, M.; Kanno, H.; Ujiie, K.; Manabe, Y.; Nozoe, A.; Kubota, K.; Okuyama, K.; Karashima, T.;