Your Search Results
Use materials about this topic in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content - such as case studies and journal articles - for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!
Not an educator but still interested in using this content? No problem! Visit our provider's page to contact the publisher and get permission directly.
Topic: Icf
Results
2012 / IEEE
By: Peyssonneaux, O.; Bazzoli, S.; Sauvestre, J.-E.; Gazave, J.; Leray, J.-L.; Lubrano-Lavaderci, F.; Bourgade, J.-L.;
By: Peyssonneaux, O.; Bazzoli, S.; Sauvestre, J.-E.; Gazave, J.; Leray, J.-L.; Lubrano-Lavaderci, F.; Bourgade, J.-L.;
2004 / IEEE / 978-5-87911-088-3
By: Maslennikov, D.D.; Dolgachev, G.I.; Altukhov, A.A.; Khodeev, I.A.; Fedotkin, A.S.;
By: Maslennikov, D.D.; Dolgachev, G.I.; Altukhov, A.A.; Khodeev, I.A.; Fedotkin, A.S.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-0927-2
By: Peyssonneaux, Olivier; Bazzoli, Sebastien; Sauvestre, Jean-Etienne; Gazave, Julien; Leray, Jean-Luc; Lubrano-Lavaderci, Frederic; Bourgade, Jean-Luc;
By: Peyssonneaux, Olivier; Bazzoli, Sebastien; Sauvestre, Jean-Etienne; Gazave, Julien; Leray, Jean-Luc; Lubrano-Lavaderci, Frederic; Bourgade, Jean-Luc;
2013 / IEEE
By: Chen, Lieu-Hen; Yamaguchi, Toru; Takama, Yasufumi; Sato-Shimokawara, Eri; Hsieh, Wei-Fen;
By: Chen, Lieu-Hen; Yamaguchi, Toru; Takama, Yasufumi; Sato-Shimokawara, Eri; Hsieh, Wei-Fen;
2013 / IEEE
By: Gazave, J.; Raine, M.; Paillet, P.; Duhamel, O.; Bazzoli, S.; Leray, J.-L.; Bourgade, J.-L.;
By: Gazave, J.; Raine, M.; Paillet, P.; Duhamel, O.; Bazzoli, S.; Leray, J.-L.; Bourgade, J.-L.;
2013 / Lippincott Williams & Wilkins Journals
By: Ruth van Nispen; Dirk Knol; Ger van Rens; Janna E. Bruijning;
By: Ruth van Nispen; Dirk Knol; Ger van Rens; Janna E. Bruijning;
1991 / IEEE / 0-7803-0132-3
By: Weinstein, B.; Smith, J.R.; Tobin, M.T.; Klein, M.; Campbell, D.; Pendergrass, J.; Sullivan, J.A.; Wong, D.K.;
By: Weinstein, B.; Smith, J.R.; Tobin, M.T.; Klein, M.; Campbell, D.; Pendergrass, J.; Sullivan, J.A.; Wong, D.K.;
1991 / IEEE / 0-7803-0132-3
By: Rutledge, S.; Moses, G.A.; Mogahed, E.; Kulcinski, G.L.; MacFarlane, J.J.; Lovell, E.G.; Sawan, M.E.; Englestad, R.L.; Peterson, R.R.; Wittenberg, L.J.; Sviatoslavsky, G.; Sviatoslavsky, I.N.;
By: Rutledge, S.; Moses, G.A.; Mogahed, E.; Kulcinski, G.L.; MacFarlane, J.J.; Lovell, E.G.; Sawan, M.E.; Englestad, R.L.; Peterson, R.R.; Wittenberg, L.J.; Sviatoslavsky, G.; Sviatoslavsky, I.N.;
1995 / IEEE / 0-7803-2669-5
By: Velarde, G.; Miley, G.H.; Martinez-Val, J.M.; Hopfl, R.; Honrubia, J.J.; Eliezer, S.; Hora, H.;
By: Velarde, G.; Miley, G.H.; Martinez-Val, J.M.; Hopfl, R.; Honrubia, J.J.; Eliezer, S.; Hora, H.;
1993 / IEEE / 0-7803-1360-7
By: Smith, J.R.; Bernard, M.; Derzon, M.S.; Bacon, L.D.; Noack, D.D.; Nash, T.; Coats, R.S.; Filuk, A.B.; Welch, D.; Quintenz, J.P.; Olson, C.L.; Dejarlais, M.P.; Rosenthal, S.E.; Cueno, M.E.; Hanson, D.L.;
By: Smith, J.R.; Bernard, M.; Derzon, M.S.; Bacon, L.D.; Noack, D.D.; Nash, T.; Coats, R.S.; Filuk, A.B.; Welch, D.; Quintenz, J.P.; Olson, C.L.; Dejarlais, M.P.; Rosenthal, S.E.; Cueno, M.E.; Hanson, D.L.;
1997 / IEEE / 0-7803-3990-8
By: Il'kaev, R.I.; Bonuishkin, E.C.; Lashintsev, B.V.; Pavlovski, A.I.; Morovov, A.P.;
By: Il'kaev, R.I.; Bonuishkin, E.C.; Lashintsev, B.V.; Pavlovski, A.I.; Morovov, A.P.;
1998 / IEEE / 1-55752-339-0
By: Pennington, D.M.; Snavely, R.A.; Perry, M.D.; Parnell, T.; Johnson, J.; Fountain, W.; Takahashi; Wilks, S.; Singh, M.; Sefcik, J.A.; Cowan, T.; Sangster, C.; Phillips, T.; Moran, M.; Key, M.; Hunt, A.; Hatchett, S.; Brown, C.G.;
By: Pennington, D.M.; Snavely, R.A.; Perry, M.D.; Parnell, T.; Johnson, J.; Fountain, W.; Takahashi; Wilks, S.; Singh, M.; Sefcik, J.A.; Cowan, T.; Sangster, C.; Phillips, T.; Moran, M.; Key, M.; Hunt, A.; Hatchett, S.; Brown, C.G.;
1998 / IEEE / 1-55752-541-2
By: Snavely, R.A.; Wilks, S.; Pennington, D.M.; Cowan, T.; Perry, M.D.; Parnell, T.; Johnson, J.; Fountain, W.; Brown, C.G.; Singh, M.; Sefcik, J.A.; Sangster, C.; Phillips, T.; Moran, M.; Key, M.; Hunt, A.; Hatchett, S.;
By: Snavely, R.A.; Wilks, S.; Pennington, D.M.; Cowan, T.; Perry, M.D.; Parnell, T.; Johnson, J.; Fountain, W.; Brown, C.G.; Singh, M.; Sefcik, J.A.; Sangster, C.; Phillips, T.; Moran, M.; Key, M.; Hunt, A.; Hatchett, S.;
1997 / IEEE / 0-7803-4226-7
By: Powell, H.T.; Orth, C.D.; Marshall, C.D.; Krupke, W.F.; Emanual, M.A.; Honea, E.C.; Schaffers, K.I.; Ebbers, C.A.; Bibeau, C.; Beach, R.J.; Payne, S.A.; Sutton, S.B.; Skidmore, J.A.;
By: Powell, H.T.; Orth, C.D.; Marshall, C.D.; Krupke, W.F.; Emanual, M.A.; Honea, E.C.; Schaffers, K.I.; Ebbers, C.A.; Bibeau, C.; Beach, R.J.; Payne, S.A.; Sutton, S.B.; Skidmore, J.A.;
1997 / IEEE / 0-7803-4226-7
By: Sibille, G.; Gomme, J.C.; Jequier, F.; Jacquet, H.P.; Geille, A.; Fornier, A.; Thebault, J.P.; Dubern, C.; Cordillot, C.; Courchinoux, R.; Bianchi, L.; Schirmann, D.;
By: Sibille, G.; Gomme, J.C.; Jequier, F.; Jacquet, H.P.; Geille, A.; Fornier, A.; Thebault, J.P.; Dubern, C.; Cordillot, C.; Courchinoux, R.; Bianchi, L.; Schirmann, D.;
1998 / IEEE / 0-7803-4287-9
By: Quintenz, J.P.; Adams, R.G.; Allshouse, G.O.; Bailey, J.E.; Bloomquist, D.D.; Chandler, G.A.; Coats, R.S.; Cook, D.L.; Cuneo, M.E.; Deeney, C.; Derzon, M.S.; Desjarlais, M.P.; Douglas, M.R.; Fehl, D.L.; Filuk, A.B.; Haill, T.A.; Hanson, D.L.; Johnson, D.J.; Kiefer, M.L.; Lash, J.S.; Leeper, R.J.; Marder, B.M.; Matzen, M.K.; McDaniel, D.H.; McGuire, E.J.; Mehlhorn, T.A.; Mix, L.P.; Moats, A.R.; Nash, T.J.; Olson, C.L.; Olson, R.E.; Pointon, T.D.; Porter, J.L.; Ruiz, C.L.; Sanford, T.W.L.; Seamen, J.F.; Seidel, D.B.; Slutz, S.A.; Spielman, R.B.; Stygar, W.A.; Sweeney, M.A.; Vesey, R.A.; Wenger, D.F.;
By: Quintenz, J.P.; Adams, R.G.; Allshouse, G.O.; Bailey, J.E.; Bloomquist, D.D.; Chandler, G.A.; Coats, R.S.; Cook, D.L.; Cuneo, M.E.; Deeney, C.; Derzon, M.S.; Desjarlais, M.P.; Douglas, M.R.; Fehl, D.L.; Filuk, A.B.; Haill, T.A.; Hanson, D.L.; Johnson, D.J.; Kiefer, M.L.; Lash, J.S.; Leeper, R.J.; Marder, B.M.; Matzen, M.K.; McDaniel, D.H.; McGuire, E.J.; Mehlhorn, T.A.; Mix, L.P.; Moats, A.R.; Nash, T.J.; Olson, C.L.; Olson, R.E.; Pointon, T.D.; Porter, J.L.; Ruiz, C.L.; Sanford, T.W.L.; Seamen, J.F.; Seidel, D.B.; Slutz, S.A.; Spielman, R.B.; Stygar, W.A.; Sweeney, M.A.; Vesey, R.A.; Wenger, D.F.;
1998 / IEEE / 0-7803-4287-9
By: Peterson, R.R.; Quintenz, J.P.; Deeney, C.; Spielman, R.B.; McDaniel, D.H.; Olson, R.E.; Ramirez, J.J.; Porter, J.L.; Leeper, R.J.; Matzen, M.K.; Rochau, G.E.; Raglin, P.S.; Cook, D.L.;
By: Peterson, R.R.; Quintenz, J.P.; Deeney, C.; Spielman, R.B.; McDaniel, D.H.; Olson, R.E.; Ramirez, J.J.; Porter, J.L.; Leeper, R.J.; Matzen, M.K.; Rochau, G.E.; Raglin, P.S.; Cook, D.L.;
1999 / IEEE / 0-7803-5498-2
By: Nedoseev, S.L.; Oleinik, G.M.; Grabovsky, E.V.; Alikhanov, S.G.; Azizov, E.A.; Alexandrov, V.V.; Sasorov, P.V.; Pechersky, O.P.; Kuchinsky, V.C.; Glumhih, V.A.; Lototsky, A.P.; Velikhov, E.P.; Zhitlukhin, A.M.; Yagnov, V.A.; Smimov, V.P.;
By: Nedoseev, S.L.; Oleinik, G.M.; Grabovsky, E.V.; Alikhanov, S.G.; Azizov, E.A.; Alexandrov, V.V.; Sasorov, P.V.; Pechersky, O.P.; Kuchinsky, V.C.; Glumhih, V.A.; Lototsky, A.P.; Velikhov, E.P.; Zhitlukhin, A.M.; Yagnov, V.A.; Smimov, V.P.;
1999 / IEEE / 0-7803-5224-6
By: Qi, N.; Brown, I.; Krishnan, M.; Prasad, R.R.; Gensler, S.; Schein, J.;
By: Qi, N.; Brown, I.; Krishnan, M.; Prasad, R.R.; Gensler, S.; Schein, J.;
1999 / IEEE / 0-7803-5224-6
By: Kasuya, K.; Yamashita, T.; Kishi, Y.; Tamamura, S.; Wu, C.; Kamiya, T.; Funatsu, M.; Saitoh, S.; Koinuma, H.; Renk, T.; Hanson, D.; Lamppa, K.; Torres, G.; Turman, B.; Mehrhorn, T.; Leeper, R.; Quintenz, J.; Thompson, M.;
By: Kasuya, K.; Yamashita, T.; Kishi, Y.; Tamamura, S.; Wu, C.; Kamiya, T.; Funatsu, M.; Saitoh, S.; Koinuma, H.; Renk, T.; Hanson, D.; Lamppa, K.; Torres, G.; Turman, B.; Mehrhorn, T.; Leeper, R.; Quintenz, J.; Thompson, M.;
1996 / IEEE / 1-55752-443-2
By: Powell, H.T.; Nguyen, H.; Herman, S.; Everett, M.; Boyd, R.; Shore, B.W.; Miller, J.; Tietbohl, G.; Stuart, B.C.; Perry, M.D.; Britten, J.A.;
By: Powell, H.T.; Nguyen, H.; Herman, S.; Everett, M.; Boyd, R.; Shore, B.W.; Miller, J.; Tietbohl, G.; Stuart, B.C.; Perry, M.D.; Britten, J.A.;
1996 / IEEE / 1-55752-443-2
By: Letzring, S.A.; McCrory, R.L.; Kremens, R.L.; Kessler, T.J.; Kumpan, S.A.; Kelly, J.H.; Keck, R.L.; Jaanimagi, P.A.; Craxton, R.S.; Boehly, T.R.; Verdon, C.P.; Tracy, M.D.; Soures, J.M.; Skupsky, S.; Seka, W.; Morse, S.F.B.;
By: Letzring, S.A.; McCrory, R.L.; Kremens, R.L.; Kessler, T.J.; Kumpan, S.A.; Kelly, J.H.; Keck, R.L.; Jaanimagi, P.A.; Craxton, R.S.; Boehly, T.R.; Verdon, C.P.; Tracy, M.D.; Soures, J.M.; Skupsky, S.; Seka, W.; Morse, S.F.B.;
1996 / IEEE / 1-55752-443-2
By: Owadano, Y.; Tomie, T.; Miura, E.; Matsumoto, Y.; Okuda, I.; Takahashi, E.; Yashiro, H.; Matsushima, I.;
By: Owadano, Y.; Tomie, T.; Miura, E.; Matsumoto, Y.; Okuda, I.; Takahashi, E.; Yashiro, H.; Matsushima, I.;
2002 / IEEE / 1-55752-706-7
By: Bayramian, A.; Bibeau, C.; Marozas, J.A.; Babushkin, A.; Beach, R.; Kelly, J.H.; Waxer, L.J.; Payne, S.;
By: Bayramian, A.; Bibeau, C.; Marozas, J.A.; Babushkin, A.; Beach, R.; Kelly, J.H.; Waxer, L.J.; Payne, S.;
2004 / IEEE / 0-7803-8439-3
By: Tarassenko, L.; Ebden, M.J.; Price, J.D.; Darowski, A.; Payne, S.J.;
By: Tarassenko, L.; Ebden, M.J.; Price, J.D.; Darowski, A.; Payne, S.J.;
2006 / IEEE / 1-4244-0125-9
By: Nalajala, V.; Douglass, J.D.; Esaulov, A.; Fedin, D.; Hoppe, T.; Ouart, N.; Yilmaz, F.; Osborne, G.; Kantsyrev, V.; Safronova, A.; Apruzese, J.; Shrestha, I.; Hammer, D.; McBride, R.D.;
By: Nalajala, V.; Douglass, J.D.; Esaulov, A.; Fedin, D.; Hoppe, T.; Ouart, N.; Yilmaz, F.; Osborne, G.; Kantsyrev, V.; Safronova, A.; Apruzese, J.; Shrestha, I.; Hammer, D.; McBride, R.D.;
2006 / IEEE / 1-4244-0125-9
By: Chunxiao Su; Jie Feng; Cunbang Yang; Lixin Bai; Yiyun Zhang; Zhiyuan Liang;
By: Chunxiao Su; Jie Feng; Cunbang Yang; Lixin Bai; Yiyun Zhang; Zhiyuan Liang;
2005 / IEEE / 0-7803-9300-7
By: Campbell, K.M.; Glenzer, S.; Landen, O.; Turner, R.; Dewald, E.; Schein, J.;
By: Campbell, K.M.; Glenzer, S.; Landen, O.; Turner, R.; Dewald, E.; Schein, J.;
2005 / IEEE / 0-7803-9300-7
By: Landen, O.L.; Hammel, B.A.; Bradley, D.K.; Braun, D.G.; Callahan, D.; Campbell, K.; Celliers, P.M.; Collins, G.W.; Dewald, E.L.; Divol, L.; Edwards, M.J.; Glenzer, S.H.; Gunter, J.; Haan, S.W.; Holder, J.; Froula, D.; Izumi, N.; Jones, O.S.; Kalantar, D.H.; Kauffman, R.L.; Kirkwood, R.K.; Koch, J.A.; Langer, S.H.; MacGowan, B.J.; Mackinnon, A.J.; McDonald, J.W.; Moody, J.M.; Meezan, N.; Niemann, C.; Pollaine, S.M.; Rosen, M.D.; Schein, J.; Suter, L.J.; Turner, R.E.; Wallace, R.J.; Young, B.; Amendt, P.A.;
By: Landen, O.L.; Hammel, B.A.; Bradley, D.K.; Braun, D.G.; Callahan, D.; Campbell, K.; Celliers, P.M.; Collins, G.W.; Dewald, E.L.; Divol, L.; Edwards, M.J.; Glenzer, S.H.; Gunter, J.; Haan, S.W.; Holder, J.; Froula, D.; Izumi, N.; Jones, O.S.; Kalantar, D.H.; Kauffman, R.L.; Kirkwood, R.K.; Koch, J.A.; Langer, S.H.; MacGowan, B.J.; Mackinnon, A.J.; McDonald, J.W.; Moody, J.M.; Meezan, N.; Niemann, C.; Pollaine, S.M.; Rosen, M.D.; Schein, J.; Suter, L.J.; Turner, R.E.; Wallace, R.J.; Young, B.; Amendt, P.A.;
2005 / IEEE / 0-7803-9300-7
By: Haynam, C.; Dixit, S.; Mackinnon, A.J.; Niemann, C.; McDonald, J.W.; Glenzer, S.H.; Kalantar, D.H.; Holder, J.; Schneider, M.S.; Campbell, K.; Schein, J.; Landen, O.L.; Suter, L.J.; Dewald, E.L.; Foster, J.;
By: Haynam, C.; Dixit, S.; Mackinnon, A.J.; Niemann, C.; McDonald, J.W.; Glenzer, S.H.; Kalantar, D.H.; Holder, J.; Schneider, M.S.; Campbell, K.; Schein, J.; Landen, O.L.; Suter, L.J.; Dewald, E.L.; Foster, J.;
2005 / IEEE / 0-7803-9300-7
By: Cuneo, M.; Starck, J.L.; Won, K.; Afeyan, B.; Stephens, R.; Bennet, G.;
By: Cuneo, M.; Starck, J.L.; Won, K.; Afeyan, B.; Stephens, R.; Bennet, G.;
2005 / IEEE / 0-7803-9300-7
By: Haill, T.A.; McDaniel, D.H.; Harjes, H.C.; Cuneo, M.E.; Mazarakis, M.G.; Stygar, W.A.; Struve, K.W.; Nash, T.J.; Deeney, C.; Sinars, D.B.;
By: Haill, T.A.; McDaniel, D.H.; Harjes, H.C.; Cuneo, M.E.; Mazarakis, M.G.; Stygar, W.A.; Struve, K.W.; Nash, T.J.; Deeney, C.; Sinars, D.B.;
2005 / IEEE / 0-7803-9300-7
By: Barrera, C.A.; Koch, J.; Lerche, R.A.; Moran, M.J.; Glebov, V.; Morse, E.C.;
By: Barrera, C.A.; Koch, J.; Lerche, R.A.; Moran, M.J.; Glebov, V.; Morse, E.C.;
2005 / IEEE / 0-7803-9300-7
By: Phillips, T.W.; Koch, J.A.; Schmid, G.J.; Lerche, R.A.; Glebov, V.Yu.; Mileham, C.; Sangster, T.C.; Stoeckl, C.; Roberts, S.;
By: Phillips, T.W.; Koch, J.A.; Schmid, G.J.; Lerche, R.A.; Glebov, V.Yu.; Mileham, C.; Sangster, T.C.; Stoeckl, C.; Roberts, S.;
2007 / IEEE / 978-1-4244-0915-0
By: Le Galloudec, B.; Nalajala, V.; Batie, S.; Osborne, G.; Quart, N.; Yilmaz, F.; Shrestha, I.; Williamson, K.; Esaulov, A.; Safronova, A.; Rudakov, L.; Kantsyrev, V.; Astanovitsky, A.; Velikovich, A.; Chuvatin, A.; Coverdale, C.; Jones, B.; Cuneo, M.;
By: Le Galloudec, B.; Nalajala, V.; Batie, S.; Osborne, G.; Quart, N.; Yilmaz, F.; Shrestha, I.; Williamson, K.; Esaulov, A.; Safronova, A.; Rudakov, L.; Kantsyrev, V.; Astanovitsky, A.; Velikovich, A.; Chuvatin, A.; Coverdale, C.; Jones, B.; Cuneo, M.;
2007 / IEEE / 978-1-4244-0930-3
By: Yaping Dai; Yuan Gu; Jianqiang Zhu; Zunqi Lin; Tao Wang; Guang Xu;
By: Yaping Dai; Yuan Gu; Jianqiang Zhu; Zunqi Lin; Tao Wang; Guang Xu;
2008 / IEEE / 978-1-4244-1929-6
By: Kawata, S.; Lizuka, Y.; Klimo, O.; Limpouch, J.; Ogoyski, A.I.; Kikuchi, T.;
By: Kawata, S.; Lizuka, Y.; Klimo, O.; Limpouch, J.; Ogoyski, A.I.; Kikuchi, T.;
2008 / IEEE / 978-1-4244-1929-6
By: Suzuki-Vidal, F.A.; Hall, G.N.; Lebedev, S.V.; Bland, S.N.; Jennings, C.; Harvey-Thompson, A.; Grant, D.; Ampleford, D.J.; Chittenden, J.P.; Swaddling, G.; Marocchino, A.;
By: Suzuki-Vidal, F.A.; Hall, G.N.; Lebedev, S.V.; Bland, S.N.; Jennings, C.; Harvey-Thompson, A.; Grant, D.; Ampleford, D.J.; Chittenden, J.P.; Swaddling, G.; Marocchino, A.;
2009 / IEEE / 978-1-4244-3829-7
By: Shunxing Tang; Zunqi Lin; Baoqiang Zhu; Kuixi Huang; Xiaoping Ouyang;
By: Shunxing Tang; Zunqi Lin; Baoqiang Zhu; Kuixi Huang; Xiaoping Ouyang;
2010 / IEEE / 978-1-4244-5513-3
By: Lu Zhi-wei; Wang Xin; Hu Jian-nan; Liu Xiao-yan; Jiang Zhen-hua;
By: Lu Zhi-wei; Wang Xin; Hu Jian-nan; Liu Xiao-yan; Jiang Zhen-hua;
2007 / Springer Science+Business Media / 0962-9343
By: G. Stucki; G. Grimby; B. Kollerits; S. Geyh; A. Cieza;
By: G. Stucki; G. Grimby; B. Kollerits; S. Geyh; A. Cieza;
2007 / Springer Science+Business Media / 0937-4477
By: U. Tschiesner; A. Cieza; S. Rogers; J. Piccirillo; G. Funk; G. Stucki; A. Berghaus;
By: U. Tschiesner; A. Cieza; S. Rogers; J. Piccirillo; G. Funk; G. Stucki; A. Berghaus;
2007 / Springer Science+Business Media / 0770-3198
By: Gerold Stucki; Annelies Boonen; Johannes Rasker;
By: Gerold Stucki; Annelies Boonen; Johannes Rasker;
2008 / Springer Science+Business Media / 1053-0487
By: Jan Geertzen; Johan Groothoff; Michiel Reneman; Remko Soer; Cees Schans;
By: Jan Geertzen; Johan Groothoff; Michiel Reneman; Remko Soer; Cees Schans;
2008 / Springer Science+Business Media / 0770-3198
By: S. Schwarzkopf; T. Ewert; K. Dreinhöfer; A. Cieza; G. Stucki;
By: S. Schwarzkopf; T. Ewert; K. Dreinhöfer; A. Cieza; G. Stucki;
2009 / Springer Science+Business Media / 0933-7954
By: María Carmen Lara-Muñoz; Rosalía Tenorio-Martínez; María Medina-Mora;
By: María Carmen Lara-Muñoz; Rosalía Tenorio-Martínez; María Medina-Mora;
2009 / Springer Science+Business Media / 1613-9372
By: Synneve Dahlin-Ivanoff; Boo Johansson; Susanne Gustafsson; Anna-Karin Edberg;
By: Synneve Dahlin-Ivanoff; Boo Johansson; Susanne Gustafsson; Anna-Karin Edberg;
Next Page
Follow Us
Copyright © 2014 SharedBook. All rights reserved. Customer Service ·
Privacy Policy
·
User Agreement ·
Accessibility ·
Sitemap