Your Search Results
Use materials about this topic in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content - such as case studies and journal articles - for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!

Topic: Ferromagnetic Materials
Results
2011 / IEEE
By: Shuxia Wang; Guangli Liu; Ching Tsang; Weidong Li; Simon Liao; Yimin Hsu; Chando Park; Zheng Gao;
By: Shuxia Wang; Guangli Liu; Ching Tsang; Weidong Li; Simon Liao; Yimin Hsu; Chando Park; Zheng Gao;
2011 / IEEE
By: Naganuma, H.; Watanabe, D.; Zhang, X.; Kubota, T.; Oogane, M.; Mizukami, S.; Miyazaki, T.; Ando, Y.;
By: Naganuma, H.; Watanabe, D.; Zhang, X.; Kubota, T.; Oogane, M.; Mizukami, S.; Miyazaki, T.; Ando, Y.;
2011 / IEEE
By: Lee, H.Y.; Hsu, J.H.; Lin, H.M.; Yao, Y.D.; Mei, J.K.; Liao, W.M.; Yuan, F.T.; Sun, A.C.;
By: Lee, H.Y.; Hsu, J.H.; Lin, H.M.; Yao, Y.D.; Mei, J.K.; Liao, W.M.; Yuan, F.T.; Sun, A.C.;
2011 / IEEE
By: Jin, X.H.; Ge, H.L.; Jin, D.F.; Hong, B.; Wang, X.Q.; Xu, J.C.; Huang, B.; Chen, M.; Peng, X.L.;
By: Jin, X.H.; Ge, H.L.; Jin, D.F.; Hong, B.; Wang, X.Q.; Xu, J.C.; Huang, B.; Chen, M.; Peng, X.L.;
2011 / IEEE
By: Russek, S.E.; Xiaolu Yin; Liou, S.H.; Shen, J.; Heindl, R.; Yuan, L.; Pappas, D.P.; Moreland, J.; Da Silva, F.C.S.;
By: Russek, S.E.; Xiaolu Yin; Liou, S.H.; Shen, J.; Heindl, R.; Yuan, L.; Pappas, D.P.; Moreland, J.; Da Silva, F.C.S.;
2011 / IEEE
By: Suzuki, T.; Fukami, S.; Tanigawa, H.; Ueda, K.; Chiba, D.; Ohshima, N.; Ono, T.; Koyama, T.; Nakatani, Y.; Ishiwata, N.;
By: Suzuki, T.; Fukami, S.; Tanigawa, H.; Ueda, K.; Chiba, D.; Ohshima, N.; Ono, T.; Koyama, T.; Nakatani, Y.; Ishiwata, N.;
2011 / IEEE
By: Raabe, J.; Kaneko, Y.; Nozaki, H.; Manabe, A.; Kato, A.; Ono, K.; Miyamoto, N.; Yano, M.; Araki, T.; Shoji, T.;
By: Raabe, J.; Kaneko, Y.; Nozaki, H.; Manabe, A.; Kato, A.; Ono, K.; Miyamoto, N.; Yano, M.; Araki, T.; Shoji, T.;
2011 / IEEE
By: Serrano-Guisan, S.; Liebing, N.; Schumacher, H.W.; Muller, A.; Caprile, A.; Pasquale, M.; Celegato, F.; Olivetti, E.S.;
By: Serrano-Guisan, S.; Liebing, N.; Schumacher, H.W.; Muller, A.; Caprile, A.; Pasquale, M.; Celegato, F.; Olivetti, E.S.;
2011 / IEEE
By: No-Cheol Park; Young Jun Hur; Jun-Ho Yoon; Jung-Hyun Woo; Kyoung-Su Park; Young-Pil Park;
By: No-Cheol Park; Young Jun Hur; Jun-Ho Yoon; Jung-Hyun Woo; Kyoung-Su Park; Young-Pil Park;
2011 / IEEE
By: Panina, L.V.; Peng, H.X.; Qin, F.X.; Gonzalez, J.; Zhukov, A.; Zhukova, V.; Ipatov, M.;
By: Panina, L.V.; Peng, H.X.; Qin, F.X.; Gonzalez, J.; Zhukov, A.; Zhukova, V.; Ipatov, M.;
2012 / IEEE
By: Ying-De Zhang; Kyeong-Sub Kim; Kwang-Pyo Chae; Jae-Kwang Lee; Byung-Sub Kang; Suhk-Kun Oh; Seong-Cho Yu;
By: Ying-De Zhang; Kyeong-Sub Kim; Kwang-Pyo Chae; Jae-Kwang Lee; Byung-Sub Kang; Suhk-Kun Oh; Seong-Cho Yu;
2012 / IEEE
By: Fengping Li; Pagonakis, I.G.; Darbos, C.; Henderson, M.; Kem, S.; Hogge, J.-P.; Alberti, S.; Piosczyk, B.; Illy, S.;
By: Fengping Li; Pagonakis, I.G.; Darbos, C.; Henderson, M.; Kem, S.; Hogge, J.-P.; Alberti, S.; Piosczyk, B.; Illy, S.;
2012 / IEEE
By: Cremon, P.; Bisero, D.; Adeyeye, A.O.; Carlotti, G.; Gubbiotti, G.; Tacchi, S.; Madami, M.;
By: Cremon, P.; Bisero, D.; Adeyeye, A.O.; Carlotti, G.; Gubbiotti, G.; Tacchi, S.; Madami, M.;
2011 / IEEE
By: Sotelo, G.G.; Dias, D.H.N.; Motta, E.S.; Stephan, R.M.; Norman, J.H.; Ramos, H.O.C.;
By: Sotelo, G.G.; Dias, D.H.N.; Motta, E.S.; Stephan, R.M.; Norman, J.H.; Ramos, H.O.C.;
2012 / IEEE
By: Niemier, M.; Hu, X.S.; Csaba, G.; Sankar, V.K.; Peng Li; Bernstein, G.H.; Porod, W.;
By: Niemier, M.; Hu, X.S.; Csaba, G.; Sankar, V.K.; Peng Li; Bernstein, G.H.; Porod, W.;
2012 / IEEE
By: Yefremenko, V.; Karapetrov, G.; Longobardi, M.; Moore, S.A.; Novosad, V.; Bobba, F.; Scarfato, A.; Iavarone, M.; Cucolo, A.M.;
By: Yefremenko, V.; Karapetrov, G.; Longobardi, M.; Moore, S.A.; Novosad, V.; Bobba, F.; Scarfato, A.; Iavarone, M.; Cucolo, A.M.;