Your Search Results
Use materials about this topic in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content - such as case studies and journal articles - for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!
Not an educator but still interested in using this content? No problem! Visit our provider's page to contact the publisher and get permission directly.
Topic: Explosions
Results
2011 / IEEE
By: Reass, W.A.; Turchi, P.J.; Oro, D.M.; Griego, J.R.; Reinovsky, R.E.; Rousculp, C.L.;
By: Reass, W.A.; Turchi, P.J.; Oro, D.M.; Griego, J.R.; Reinovsky, R.E.; Rousculp, C.L.;
2012 / IEEE
By: Welch, D.R.; Brockington, S.; Awe, T.J.; Hsu, S.C.; Witherspoon, F.D.; Case, A.; Tang, X.; Stanic, M.; Messer, S.J.; Kagan, G.; Cassibry, J.T.;
By: Welch, D.R.; Brockington, S.; Awe, T.J.; Hsu, S.C.; Witherspoon, F.D.; Case, A.; Tang, X.; Stanic, M.; Messer, S.J.; Kagan, G.; Cassibry, J.T.;
2012 / IEEE
By: Qing Zhou; Lei Pang; Junping Zhao; Jun Zhang; Xuandong Liu; Wenyu Yan; Qiaogen Zhang;
By: Qing Zhou; Lei Pang; Junping Zhao; Jun Zhang; Xuandong Liu; Wenyu Yan; Qiaogen Zhang;
2012 / IEEE
By: Baird, J.; Shkuratov, S.I.; Altgilbers, L.L.; Stults, A.H.; Hackenberger, W.S.; Alberta, E.F.; Talantsev, E.F.;
By: Baird, J.; Shkuratov, S.I.; Altgilbers, L.L.; Stults, A.H.; Hackenberger, W.S.; Alberta, E.F.; Talantsev, E.F.;
2012 / IEEE
By: Batani, D.; Vauzour, B.; Santos, J.J.; Perez, F.; Koenig, M.; Baton, S.; Ramis, R.; Nicolai, P.; Volpe, L.;
By: Batani, D.; Vauzour, B.; Santos, J.J.; Perez, F.; Koenig, M.; Baton, S.; Ramis, R.; Nicolai, P.; Volpe, L.;
1992 / IEEE / 000-0-0000-0000-0
By: Cochrane, J.; Forman, P.; Bowers, R.; Benage, J.; Bartsch, R.; Parker, J.; Brownell, J.; Turchi, P.; Trainor, J.; Roderick, N.; Reinovsky, R.; Peterson, D.; Oona, H.; Ladish, J.; Kruse, H.; Greene, A.; Goforth, J.;
By: Cochrane, J.; Forman, P.; Bowers, R.; Benage, J.; Bartsch, R.; Parker, J.; Brownell, J.; Turchi, P.; Trainor, J.; Roderick, N.; Reinovsky, R.; Peterson, D.; Oona, H.; Ladish, J.; Kruse, H.; Greene, A.; Goforth, J.;
2000 / IEEE
By: Gorokhov, V.V.; Yermolovich, V.F.; Volkov, A.A.; Selyavsky, V.T.; Selemir, V.D.; Savchenko, R.V.; Repin, P.B.; Orlov, A.P.; Karelin, V.I.; Ivanovsky, A.V.; Ivanov, M.M.; Grebenev, E.V.;
By: Gorokhov, V.V.; Yermolovich, V.F.; Volkov, A.A.; Selyavsky, V.T.; Selemir, V.D.; Savchenko, R.V.; Repin, P.B.; Orlov, A.P.; Karelin, V.I.; Ivanovsky, A.V.; Ivanov, M.M.; Grebenev, E.V.;
2004 / IEEE / 978-5-87911-088-3
By: Kormilitsin, A.I.; Kononenko, V.Y.; Kovalev, V.P.; Kasyanov, N.Y.; Vedernikov, A.I.; Filatov, V.A.; Pavlenko, A.V.;
By: Kormilitsin, A.I.; Kononenko, V.Y.; Kovalev, V.P.; Kasyanov, N.Y.; Vedernikov, A.I.; Filatov, V.A.; Pavlenko, A.V.;
2004 / IEEE / 978-5-87911-088-3
By: Korolev, V.D.; Ivanov, M.I.; Cai Hongchun; Chemenko, A.S.; Bakshaev, Y.L.; Blinov, P.I.; Korelsky, A.V.; Kubes, P.; Kravarik, J.; Klir, D.; Ustroev, G.I.; Shashkov, A.Y.; Kravchenko, E.V.;
By: Korolev, V.D.; Ivanov, M.I.; Cai Hongchun; Chemenko, A.S.; Bakshaev, Y.L.; Blinov, P.I.; Korelsky, A.V.; Kubes, P.; Kravarik, J.; Klir, D.; Ustroev, G.I.; Shashkov, A.Y.; Kravchenko, E.V.;
2004 / IEEE / 978-5-87911-088-3
By: Zhenhua Yang; Ning Ding; Wenbing Fan; Liu Quan; Cheng Ning; Shangwu Fu; Jiming Wu;
By: Zhenhua Yang; Ning Ding; Wenbing Fan; Liu Quan; Cheng Ning; Shangwu Fu; Jiming Wu;
2004 / IEEE / 978-5-87911-088-3
By: Ning Ding; Cun Guo; Jianlun Yang; Zeping Xu; Jianjun Deng; Yuanchao Gu; Cheng Ning; Zhenghong Li; Xinsheng Hua; Xianjue Peng; Rongkun Xu; Yongjian Tang;
By: Ning Ding; Cun Guo; Jianlun Yang; Zeping Xu; Jianjun Deng; Yuanchao Gu; Cheng Ning; Zhenghong Li; Xinsheng Hua; Xianjue Peng; Rongkun Xu; Yongjian Tang;
2004 / IEEE / 978-5-87911-088-3
By: Sasorov, P.V.; Alexandrov, V.V.; Zurin, M.V.; Zukakischvili, G.G.; Volkov, G.S.; Smirnov, V.P.; Frolov, I.N.; Samokhin, A.A.; Porofeev, I.Y.; Oleinik, G.M.; Nedoseev, S.L.; Mitrofanov, K.N.; Grabovsky, E.V.;
By: Sasorov, P.V.; Alexandrov, V.V.; Zurin, M.V.; Zukakischvili, G.G.; Volkov, G.S.; Smirnov, V.P.; Frolov, I.N.; Samokhin, A.A.; Porofeev, I.Y.; Oleinik, G.M.; Nedoseev, S.L.; Mitrofanov, K.N.; Grabovsky, E.V.;
Influence of a radial electrical field on the electrical breakdown along the exploding tungsten wire
2004 / IEEE / 978-5-87911-088-3By: Shishlov, A.V.; Oreshkin, V.I.; Labetsky, A.Yu.; Baksht, R.B.; Rousskikh, A.G.;
2004 / IEEE / 978-5-87911-088-3
By: Selemir, V.D.; Demidov, V.A.; Gaidash, S.V.; Duday, P.V.; Kotelnikov, D.V.; Ryaslov, E.A.; Karelin, V.I.; Dydykin, P.S.; Vlasov, Y.V.; Giterman, B.P.; Usenko, P.L.; Shapovalov, E.V.; Selyavsky, V.T.; Kazakov, S.A.; Tatsenko, O.M.; Boriskin, A.S.; Orlov, A.P.; Volkov, A.A.; Ivanovsky, A.V.; Ermolovich, V.F.; Spirov, G.M.; Repin, P.B.; Pikulin, I.V.;
By: Selemir, V.D.; Demidov, V.A.; Gaidash, S.V.; Duday, P.V.; Kotelnikov, D.V.; Ryaslov, E.A.; Karelin, V.I.; Dydykin, P.S.; Vlasov, Y.V.; Giterman, B.P.; Usenko, P.L.; Shapovalov, E.V.; Selyavsky, V.T.; Kazakov, S.A.; Tatsenko, O.M.; Boriskin, A.S.; Orlov, A.P.; Volkov, A.A.; Ivanovsky, A.V.; Ermolovich, V.F.; Spirov, G.M.; Repin, P.B.; Pikulin, I.V.;
2004 / IEEE / 978-5-87911-088-3
By: Sinars, D.B.; Stygar, W.A.; Douglas, M.R.; Deeney, C.E.; Mazarakis, M.G.; Cuneo, M.E.; Struve, K.W.; McDaniel, D.H.; Nash, T.J.; Chandler, G.A.; Chittenden, J.;
By: Sinars, D.B.; Stygar, W.A.; Douglas, M.R.; Deeney, C.E.; Mazarakis, M.G.; Cuneo, M.E.; Struve, K.W.; McDaniel, D.H.; Nash, T.J.; Chandler, G.A.; Chittenden, J.;
2004 / IEEE / 978-5-87911-088-3
By: Chaikovsky, S.A.; Fursov, F.I.; Fedunin, A.V.; Rousskikh, A.G.; Oreshkin, V.I.; Baksht, R.B.; Labetsky, A.Yu.; Kurmaev, N.E.; Kokshenev, V.A.; Koval'chuk, B.M.; Shishlov, A.V.;
By: Chaikovsky, S.A.; Fursov, F.I.; Fedunin, A.V.; Rousskikh, A.G.; Oreshkin, V.I.; Baksht, R.B.; Labetsky, A.Yu.; Kurmaev, N.E.; Kokshenev, V.A.; Koval'chuk, B.M.; Shishlov, A.V.;
2004 / IEEE / 978-5-87911-088-3
By: Zukakischvili, G.G.; Grabovsky, E.V.; Mitrofanov, K.N.; Smimov, V.P.; Porofeev, I.Yu.; Oleinik, G.M.;
By: Zukakischvili, G.G.; Grabovsky, E.V.; Mitrofanov, K.N.; Smimov, V.P.; Porofeev, I.Yu.; Oleinik, G.M.;
2004 / IEEE / 978-5-87911-088-3
By: Leschev, S.A.; Mokhov, V.N.; Kusyayev, A.I.; Kulagin, A.A.; Ivanovsky, A.V.; Gorbachev, Y.N.; Vasyukov, V.A.; Burenkov, O.M.; Buyko, A.M.; Olson, R.T.; Reinovsky, R.E.; Atchison, W.L.; Anderson, B.G.; Tatarin, V.A.; Polienko, G.A.; Petrukhin, A.A.;
By: Leschev, S.A.; Mokhov, V.N.; Kusyayev, A.I.; Kulagin, A.A.; Ivanovsky, A.V.; Gorbachev, Y.N.; Vasyukov, V.A.; Burenkov, O.M.; Buyko, A.M.; Olson, R.T.; Reinovsky, R.E.; Atchison, W.L.; Anderson, B.G.; Tatarin, V.A.; Polienko, G.A.; Petrukhin, A.A.;
2004 / IEEE / 978-5-87911-088-3
By: Harjes, C.; Lemke, R.W.; Knudson, M.D.; Pointon, T.D.; Hall, C.A.; Bliss, D.E.; Davis, J.-P.; Deeney, C.;
By: Harjes, C.; Lemke, R.W.; Knudson, M.D.; Pointon, T.D.; Hall, C.A.; Bliss, D.E.; Davis, J.-P.; Deeney, C.;
2004 / IEEE / 978-5-87911-088-3
By: Arinin, V.A.; Buyko, A.M.; Burenkov, O.M.; Yegorychev, B.T.; Vasyukov, V.A.; Gorbachev, Y.N.; Zmushko, V.V.; Ivanova, G.O.; Ivanovsky, A.V.; Kuzyayev, A.I.; Kulagin, A.A.; Morozov, I.V.; Mokhov, V.N.; Nadezhin, S.S.; Nizovtsev, P.N.; Pavliy, V.V.; Pak, S.V.; Polienko, G.A.; Petrukhin, A.A.; Startsev, A.I.; Skobelev, A.N.; Sokolova, N.V.; Sokolov, S.S.; Soloviev, V.P.; Sofronov, V.N.; Khoroshailo, E.S.; Chaika, T.I.; Yakubov, V.B.; Anderson, B.G.; Atchison, W.L.; Faehl, R.J.; Lindemuth, I.R.; McCulloch, Q.; Olson, R.T.; Oro, D.M.; Reinovsky, R.E.; Rodriguez, G.; Stokes, J.L.; Tabaka, L.J.; Westley, D.T.;
By: Arinin, V.A.; Buyko, A.M.; Burenkov, O.M.; Yegorychev, B.T.; Vasyukov, V.A.; Gorbachev, Y.N.; Zmushko, V.V.; Ivanova, G.O.; Ivanovsky, A.V.; Kuzyayev, A.I.; Kulagin, A.A.; Morozov, I.V.; Mokhov, V.N.; Nadezhin, S.S.; Nizovtsev, P.N.; Pavliy, V.V.; Pak, S.V.; Polienko, G.A.; Petrukhin, A.A.; Startsev, A.I.; Skobelev, A.N.; Sokolova, N.V.; Sokolov, S.S.; Soloviev, V.P.; Sofronov, V.N.; Khoroshailo, E.S.; Chaika, T.I.; Yakubov, V.B.; Anderson, B.G.; Atchison, W.L.; Faehl, R.J.; Lindemuth, I.R.; McCulloch, Q.; Olson, R.T.; Oro, D.M.; Reinovsky, R.E.; Rodriguez, G.; Stokes, J.L.; Tabaka, L.J.; Westley, D.T.;
2004 / IEEE / 978-5-87911-088-3
By: Paduch, M.; Tomaszewski, K.; Scholz, M.; Barvir, P.; Klir, D.; Kravarik, J.; Kubes, P.; Schmidt, H.; Banaszak, A.; Jakubowski, L.; Sadowski, M.J.; Krasa, J.; Juha, L.; Karpinski, L.; Ivanova-Stanik, I.;
By: Paduch, M.; Tomaszewski, K.; Scholz, M.; Barvir, P.; Klir, D.; Kravarik, J.; Kubes, P.; Schmidt, H.; Banaszak, A.; Jakubowski, L.; Sadowski, M.J.; Krasa, J.; Juha, L.; Karpinski, L.; Ivanova-Stanik, I.;
2004 / IEEE / 978-5-87911-088-3
By: Commisso, R.J.; Hinshelwood, D.D.; Murphy, D.P.; Qi, N.; Young, F.C.; Mosher, D.; Weber, B.V.; Stephanakis, S.J.; Ponce, D.M.; Phipps, D.G.;
By: Commisso, R.J.; Hinshelwood, D.D.; Murphy, D.P.; Qi, N.; Young, F.C.; Mosher, D.; Weber, B.V.; Stephanakis, S.J.; Ponce, D.M.; Phipps, D.G.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-0856-5
By: Xiaolan Liu; Jingyin Wang; Guihua Wang; Yuanfang Cheng; Peng Xu; Lei Li;
By: Xiaolan Liu; Jingyin Wang; Guihua Wang; Yuanfang Cheng; Peng Xu; Lei Li;
2D radiation MHD model assessment of initial argon gas distributions to be imploded on the Z machine
2011 / IEEE / 978-1-61284-329-2By: Jones, B.; Ampleford, D.J.; Madden, R.E.; Coleman, P.L.; Krishnan, M.; Elliott, K.W.; Apruzese, J.P.; Dasgupta, A.; Velikovich, A.L.; Chong, Y.K.; Giuliani, J.L.; Thornhill, J.W.; Cuneo, M.E.; Jennings, C.; Coverdale, C.A.;
2011 / IEEE / 978-1-61284-329-2
By: Zucchini, F.; Calamy, H.; Sol, D.; d'Almeida, T.; Plouhinec, D.;
By: Zucchini, F.; Calamy, H.; Sol, D.; d'Almeida, T.; Plouhinec, D.;
2011 / IEEE / 978-1-61284-329-2
By: Le Pape, S.; Mackinnon, A.; Kilkenny, J.D.; Sangster, C.; Macphee, A.; Rinderknech, H.; Zylstra, A.; Rosenberg, M.; Petrasso, R.; Knauer, J.; Friedrich, S.; Bleuel, D.; Leeper, R.; Grimm, G.; Mcnanney, J.; Herrmann, H.; Frenje, J.; Glebov, V.; Caggianno, J.; Mckenty, P.; Craxton, S.; Janezic, S.; Nikroo, A.; Hoppe, M.; Moody, J.;
By: Le Pape, S.; Mackinnon, A.; Kilkenny, J.D.; Sangster, C.; Macphee, A.; Rinderknech, H.; Zylstra, A.; Rosenberg, M.; Petrasso, R.; Knauer, J.; Friedrich, S.; Bleuel, D.; Leeper, R.; Grimm, G.; Mcnanney, J.; Herrmann, H.; Frenje, J.; Glebov, V.; Caggianno, J.; Mckenty, P.; Craxton, S.; Janezic, S.; Nikroo, A.; Hoppe, M.; Moody, J.;
2011 / IEEE / 978-1-61284-329-2
By: Day, A.C.; Wallace, Z.R.; Hodge, K.C.; Caldwell, M.; Jorgenson, R.E.; Niederhaus, J.; Nissen, M.; Warne, L.K.; Lehr, J.M.;
By: Day, A.C.; Wallace, Z.R.; Hodge, K.C.; Caldwell, M.; Jorgenson, R.E.; Niederhaus, J.; Nissen, M.; Warne, L.K.; Lehr, J.M.;
2011 / IEEE / 978-1-61284-329-2
By: Astanovitskiy, O.C.A.; Mariscal, D.; Paudel, Y.; Burris-Mog, T.; Plechaty, C.; Covington, J.K.A.; Wiewior, P.; Renard-LeGalloudec, N.; Stein, S.; Presura, R.; Chittenden, J.P.; Beg, F.N.; Gunasekera, K.; Peebles, J.; Kim, J.; Wei, M.S.; Bott, S.C.;
By: Astanovitskiy, O.C.A.; Mariscal, D.; Paudel, Y.; Burris-Mog, T.; Plechaty, C.; Covington, J.K.A.; Wiewior, P.; Renard-LeGalloudec, N.; Stein, S.; Presura, R.; Chittenden, J.P.; Beg, F.N.; Gunasekera, K.; Peebles, J.; Kim, J.; Wei, M.S.; Bott, S.C.;
2011 / IEEE / 978-1-61284-329-2
By: Flicker, D.G.; Coverdale, C.A.; Kueny, C.S.; Coleman, P.L.; Krishnan, K.;
By: Flicker, D.G.; Coverdale, C.A.; Kueny, C.S.; Coleman, P.L.; Krishnan, K.;
2011 / IEEE / 978-1-61284-329-2
By: Flicker, D.G.; Coverdale, C.A.; Giuliani, J.; Thornhill, J.W.; Velikovich, A.L.; Chong, Y.K.; Clark, R.W.;
By: Flicker, D.G.; Coverdale, C.A.; Giuliani, J.; Thornhill, J.W.; Velikovich, A.L.; Chong, Y.K.; Clark, R.W.;
2011 / IEEE / 978-1-61284-329-2
By: Mack, J.M.; Evans, S.C.; Young, C.S.; Wilson, D.C.; Herrmann, H.W.; Kim, Y.H.; Hoffman, N.M.; Duffy, T.; Glebov, V.Yu.; Miller, E.K.; Grafil, E.; Stoeffl, W.; Horsfield, C.J.; Rubery, M.S.; Sedillo, T.J.;
By: Mack, J.M.; Evans, S.C.; Young, C.S.; Wilson, D.C.; Herrmann, H.W.; Kim, Y.H.; Hoffman, N.M.; Duffy, T.; Glebov, V.Yu.; Miller, E.K.; Grafil, E.; Stoeffl, W.; Horsfield, C.J.; Rubery, M.S.; Sedillo, T.J.;
2011 / IEEE / 978-1-61284-329-2
By: Coverdale, C.A.; Jones, M.C.; Hansen, S.B.; Jones, B.; Jennings, C.A.; Ampleford, D.J.; Giuliani, J.L.; Thornhill, J.W.; Apruzese, J.P.; Cuneo, M.E.; Zarnitsky, Y.; Fisher, V.; Bernshtam, B.; Maron, Y.;
By: Coverdale, C.A.; Jones, M.C.; Hansen, S.B.; Jones, B.; Jennings, C.A.; Ampleford, D.J.; Giuliani, J.L.; Thornhill, J.W.; Apruzese, J.P.; Cuneo, M.E.; Zarnitsky, Y.; Fisher, V.; Bernshtam, B.; Maron, Y.;
2011 / IEEE / 978-1-61284-329-2
By: Yu, E.P.; Starobinets, A.; Maron, Y.; Zalesak, S.T.; Giuliani, J.L.; Velikovich, A.L.;
By: Yu, E.P.; Starobinets, A.; Maron, Y.; Zalesak, S.T.; Giuliani, J.L.; Velikovich, A.L.;
Diagnosing copper wire array implosions on refurbished Z with detailed radiation-hydrodynamic models
2011 / IEEE / 978-1-61284-329-2By: Dasgupta, A.; Clark, R.W.; Hansen, S.B.; Coverdale, C.A.; Ampleford, D.J.; Jones, B.; Giuliani, J.L.;
2011 / IEEE / 978-1-61284-329-2
By: Altemara, S.D.; Anderson, A.A.; Haboub, A.; Ivanov, V.I.; Papp, D.; Chittenden, J.P.; Jones, B.;
By: Altemara, S.D.; Anderson, A.A.; Haboub, A.; Ivanov, V.I.; Papp, D.; Chittenden, J.P.; Jones, B.;
2011 / IEEE / 978-1-61284-329-2
By: Burdiak, G.; Niasse, N.; Bocchi, M.; Harvey-Thompson, A.J.; Suzuki-Vidal, F.; Hall, G.N.; Khoory, E.; Lebedev, S.V.; Swadling, G.F.; Subtle, L.; Bland, S.N.; de Grouchi, P.; Pickworth, L.;
By: Burdiak, G.; Niasse, N.; Bocchi, M.; Harvey-Thompson, A.J.; Suzuki-Vidal, F.; Hall, G.N.; Khoory, E.; Lebedev, S.V.; Swadling, G.F.; Subtle, L.; Bland, S.N.; de Grouchi, P.; Pickworth, L.;
2011 / IEEE / 978-1-61284-329-2
By: Shrestha, I.; Keim, S.F.; Stafford, A.; Esaulov, A.A.; Shlyaptseva, V.V.; Weller, M.E.; Osborne, G.C.; Kantsyrev, V.L.; Safronova, A.S.; Rudakov, L.I.; Coverdale, C.A.; Williamson, K.M.;
By: Shrestha, I.; Keim, S.F.; Stafford, A.; Esaulov, A.A.; Shlyaptseva, V.V.; Weller, M.E.; Osborne, G.C.; Kantsyrev, V.L.; Safronova, A.S.; Rudakov, L.I.; Coverdale, C.A.; Williamson, K.M.;
2011 / IEEE / 978-1-61284-329-2
By: LePell, P.D.; Coverdale, C.A.; Jennings, C.A.; Maron, Y.; Chittenden, J.P.; Ampleford, D.J.; Cuneo, M.E.; Yu, E.P.; Jones, B.; Hansen, S.B.;
By: LePell, P.D.; Coverdale, C.A.; Jennings, C.A.; Maron, Y.; Chittenden, J.P.; Ampleford, D.J.; Cuneo, M.E.; Yu, E.P.; Jones, B.; Hansen, S.B.;
2011 / IEEE / 978-1-61284-329-2
By: Hammer, D.A.; Kusse, B.R.; Greenly, J.B.; Shelkovenko, T.A.; Hoyt, C.L.; Pikuz, S.A.; Gourdain, P.-A.; Knapp, P.F.;
By: Hammer, D.A.; Kusse, B.R.; Greenly, J.B.; Shelkovenko, T.A.; Hoyt, C.L.; Pikuz, S.A.; Gourdain, P.-A.; Knapp, P.F.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-0399-7
By: Zviagintseva, E.S.; Nazarenko, O.B.; Root, L.O.; Ilyin, A.P.; Kwon, Y.S.; Smorygina, K.S.;
By: Zviagintseva, E.S.; Nazarenko, O.B.; Root, L.O.; Ilyin, A.P.; Kwon, Y.S.; Smorygina, K.S.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-0860-2
By: Lipeng Wang; Hongren Zhan; Cuihua Wang; Xiangfu Zeng; Jinping Zhang;
By: Lipeng Wang; Hongren Zhan; Cuihua Wang; Xiangfu Zeng; Jinping Zhang;
2011 / IEEE / 978-90-75815-14-6
By: Sarraute, E.; Blaquiere, J.-M.; Zhifeng Dou; Richardeau, F.; Mosser, F.; Flumian, D.;
By: Sarraute, E.; Blaquiere, J.-M.; Zhifeng Dou; Richardeau, F.; Mosser, F.; Flumian, D.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-0399-7
By: Startseva, E.V.; Tikhonov, D.V.; Root, L.O.; Nazarenko, O.B.; Ilyin, A.P.; Young-Soon Kwon;
By: Startseva, E.V.; Tikhonov, D.V.; Root, L.O.; Nazarenko, O.B.; Ilyin, A.P.; Young-Soon Kwon;
Next Page
Follow Us
Copyright © 2014 SharedBook. All rights reserved. Customer Service ·
Privacy Policy
·
User Agreement ·
Accessibility ·
Sitemap